JPS61181051A - 電子線装置 - Google Patents

電子線装置

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JPS61181051A
JPS61181051A JP2071985A JP2071985A JPS61181051A JP S61181051 A JPS61181051 A JP S61181051A JP 2071985 A JP2071985 A JP 2071985A JP 2071985 A JP2071985 A JP 2071985A JP S61181051 A JPS61181051 A JP S61181051A
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JP
Japan
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signal
scanning
circuit
sample
switching
Prior art date
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JP2071985A
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English (en)
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JPH0334184B2 (ja
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Hiroshi Uchiumi
内海 博
Takashi Ito
喬 伊藤
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Jeol Ltd
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Jeol Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は陰極線管等に試料の走査像に重畳してマークを
表示し、このマークを分析しようとする像上の位置に移
動した後、スポットモードに切換えて電子線をマークに
対応した試料上の位置に照射して試料を分析する電子線
装置に関する。 ・[従来の技術] 第3図は従来の装置を説明するためのもので、図中1は
水平走査信号発生回路であり、この回路1よりの水平走
査信号は第1の切換回路2の端子aを介して倍率切換回
路3に供給されていると共に、増幅器4を介して陰極線
管5の水平走査コイル5xに供給されている。倍率設定
回路6よりの信号に基づいて倍率切換回路3により所定
の増幅率で増幅された走査信号は、増幅器7を介してX
方向偏向コイル8Xに送られている。9は細く絞られた
電子線を表わし−ており、電子線9は偏向コイル8xに
よって偏向され試料10上に照射される。11は電子線
9の照射によって試料10より発生した二次電子を検出
するための二次電子検出器であり、二次電子検出器11
よりの信号は増幅器12.加算回路13を介して陰極線
管5のグリッド5qに送られている。14は試料10よ
り発生したX線を検出するためのX線検出器であり、X
線検出器74よりの信号は信号処理回路15を介して記
録計16に送られている。17は水平方向用可変直流信
号発生回路であり、回路17よりの可変直流信号は増幅
器18を介して第1の切換回路2の端子すに送られてい
ると共に、第2の切換回路1つの端子aを介して比較器
20に送られている。この比較器20の他方の入力端に
は前記水平走査信号発生回路1よりの走査信号も送られ
ている。比較器20の出力信号は加算回路13に送られ
ている。21は第1.第2の切換回路2゜19に切換信
号を送るためのモード切換回路であり、22は走査速度
を設定するための設定信号を前記水平走査信号発生回路
1に送るための走査速度設定回路である。尚、図示して
いないが、垂直走査信号発生回路や垂直方向用の可変直
流信号発生回路も水平方向と全く対称的に備えられてい
る。
次にこのような従来装置の動作を説明するが、垂直方向
に対しても全く同様のため、水平方向についてのみ説明
する。
まず、モード設定回路21を操作して、第1゜第2の切
換回路が端子a側に接続されるようにした後、走査速度
設定回路22を操作して走査速度を低速走査に設定する
。その結果、水平走査信号発生回路1より第4図(a)
の実線イで示す如き水平走査信号が発生する。この水平
走査信号は増幅器4を介して陰極線管5の偏向コイル5
Xに供給され、第4図(a)の点線口で示す如き信号と
して偏向コイル5xを流れる。一方この水平走査信号は
第4図(a)の一点鎖線ハで示す如き信号として偏向コ
イル8Xを流れ、その結果、電子線9が試料10上を走
査し、その際の検出器11よりの信号が陰極線管5に送
られるため、陰極線管5には第5図(a)に示すような
試料像が表示される。そこで、直流信号発生回路17を
操作して第4図(a)においてRで示す如き直流信号を
発生させれば、比較器20より第4図(b)に示す如き
一致パルスが発生し、加算回路13を介してグリッド5
Qに送られるため、陰極線管5の画面には第5図(b)
においてPで示す如き分析点を示す輝点が試料像に重畳
して表示される。そこで、モード設定回路21を操作し
て、モードをスポットモードに切換えれば、第1.第2
の切換回路2゜19がb端子側に接続され、直流信号発
生回路17よりの信号が偏向コイル8xに送られると共
に陰極線管5の偏向コイル5xに送られ、陰極線管両面
上にスポット照射点を示す第5図(d)に示す如き輝点
P−が表示されると共に、P−に対応した試料10上の
点に電子線9が固定して照射される。そこで、この電子
線の照射に基づいて試料10より発生した特性X線をX
線検出器14により検出し、その検出信号を信号処理回
路15により処理し、その処理信号に基づいてX線スペ
クトルを記録計16に表示すれば、輝点Pに対応した分
析点のX線分析結果を得ることができる。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、分析点を設定するための段階において、
走査速度設定回路22を操作して、走査速度を高速の例
えばSfに切換えると、水平走査信号発生回路1より発
生する水平走査信号が第4図(C)の実線イで示すよう
に変化するが、陰極線管5の偏向コイル5xに流れる電
流が同図において点線口に示すように変化するのに対し
て偏向コイル8Xに流れる走査信号は同図において一点
鎖線ハで示すように変化し、両者の間に71分のレベル
差が生じる。これは、偏向コイル5Xには増幅器4のみ
を介して走査信号が供給されるのに対して、偏向コイル
8Xには倍率切換回路3や増幅器7等の多くの回路を介
して走査信号が供給されるため、走査信号の周波数が高
くなるに伴い、両経路の時間遅れの差が顕著になるため
である。
尚、第4図においてAは非ブランキング明間を示してい
る。その結果、陰極線管5の画面に表示される像は第5
図(C)に示すようにVrに対応しただけ平行移動し、
輝点Pが最初に設定した試料上の位置を示さなくなる。
本発明は、このような従来の欠点を解決し、走査速度を
高速に切換えても試料像が移動せず、同一の分析点を正
確に表示することのできる電子線を装置を提供すること
を目的としている。
[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するため、本発明は細く絞られた
電子線を偏向するための偏向コイルと、該電子線を試料
上において走査するための走査信号を発生する走査信号
発生回路と、該走査信号発生回路を制御し走査速度を切
換えるための手段と、該走査信号に基づいて走査され該
電子線の走査に基づく検出信号の供給に基づいて試料像
を表示するための陰極線管と、電子線を試料上の点に固
定して黒用するための可変直流信号を発生する直流信号
発生手段と、該直流信号発生手段よりの信号に基づいて
該直流信号に対応した該表示手段の画面位置に該試料像
に重畳してマークを表示する手段と、該偏向コイルに該
走査信号と該直流信号を切換えて供給する手段とを備え
た装置において、走査速度を速くした際に該偏向コイル
側に送られる走査信号の直流レベルを自動的に補正する
手段を具備することを特徴としている。
[実施例1 以下、図面に基づき本発明の実施例を詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示すもので、第1図におい
ては、第3図と同一の構成要素に対しては同一番号を付
している。第1図において、23は補正信号発生回路で
あり、この補正信号発生回路23には走査速度設定回路
22より走査速度Sを表わす信号が供給されている。補
正信号発生回路23は走査速度Sを表わす信号に基づい
てその絶対値が走査速度Sの関数として単調に増加する
負の直流補正信号V(S)を発生する。走査速度として
前記Sfが選択された場合には、この補正信号は丁度−
Vfに一致するようになっている。
この補正信号発生回路23よりの補正信号は加算回路2
4に送られている。従来と異なり、第1の切換回路2よ
りの信号は直接倍率切換回路3に送られず、この加算回
路24を介して倍率切換回路3に送られている。
このような構成において、モード設定回路21よりの信
号に基づいて第1.第2の切換回路2゜19をa端子に
接続して走査像モードを設定した後、直流信号発生回路
17を操作して、陰極線管5の画面に第5図(b)に示
すように分析点を示す輝点Pを試料像と重畳表示する。
そこで、走査速度設定回路22を操作して走査速度を高
速のSfに切換えると、補正信号発生回路23より発生
する補正信号V(S)は第2図(a)に示すように−v
fとなるため、加算回路24を介して倍率切換回路3に
送られる走査信号は第2図(b)において実線イで示す
ものから実線イ′で示すものに変化する。その結果、偏
向コイル8xと陰極線管5の偏向コイル5Xに流れる走
査信号は第2図1)の二点鎖線二で示す如きものとなり
、両コイルを流れる走査信号の位相差は解消される。そ
のため、走査速度を変化させても像の移動は生ぜず、最
初に設定した分析点のうえに輝点Pを引き続いて表示で
きる。
本発明は、上述した実施例に限定されることなく幾多の
変形が可能である。
例えば、上述した実施例においては、走査速度に応じて
レベルの変化する補正信号を発生させるようにしたが、
走査速度が速い時のみ像の移動が顕著になるため、走査
速度が一定基準値より速くなった際のみ、一定レベルの
補正信号を走査信号に加算するようにしても良い。
又、上述した実施例においては、分析位■を示すための
マークとして輝点を表示するようにしたが、輝点に限ら
ずクロスマーク等でも良い。
[発明の効果] 上述した説明から明らかなように、本発明においては走
査速度を速くした際に、試料を走査する偏向コイル側に
送られる走査信号の直流レベルを自動的に補正するよう
にしているため、陰極線管の走査に対する試料上の走査
の位相遅れが解消でき、分析点を示すマークを走査速度
の切換えにかかわらず、試料像の同一位置に表示できる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すための図、第2図は第
1図に示した一実施例装置の動作を説明するための信号
波形を示すための図、第3図は従来装置を説明するため
の図、第4図は従来装置の動作を説明するための信号波
形を示すための図、第5図は従来の欠点を説明するため
の図である。 1:水平走査信号発生回路 2.19:切換回路 3:倍率切換回路4.7.12.
18:増幅器 5:陰極線管    6:倍率設定回路8X=偏向コイ
ル  9:電子線 10:試料     11:二次電子検出器13.24
:加算回路 14:X線検出器 15:信号処理回路 16:記録計 17:直流信号発生回路 20:比較器    21:モード設定回路22:走査
速度設定回路 23:補正信号発生回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 細く絞られた電子線を偏向するための偏向コイルと、該
    電子線を試料上において走査するための走査信号を発生
    する走査信号発生回路と、該走査信号発生回路を制御し
    走査速度を切換えるための手段と、該走査信号に基づい
    て走査され該電子線の走査に基づく検出信号の供給に基
    づいて試料像を表示するための陰極線管と、電子線を試
    料上の点に固定して照射するための可変直流信号を発生
    する直流信号発生手段と、該直流信号発生手段よりの信
    号に基づいて該直流信号に対応した該表示手段の画面位
    置に該試料像に重畳してマークを表示する手段と、該偏
    向コイルに該走査信号と該直流信号を切換えて供給する
    手段とを備えた装置において、走査速度を速くした際に
    該偏向コイル側に送られる走査信号の直流レベルを自動
    的に補正する手段を具備することを特徴とする電子線装
    置。
JP2071985A 1985-02-05 1985-02-05 電子線装置 Granted JPS61181051A (ja)

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JP2071985A JPS61181051A (ja) 1985-02-05 1985-02-05 電子線装置

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JPS61181051A true JPS61181051A (ja) 1986-08-13
JPH0334184B2 JPH0334184B2 (ja) 1991-05-21

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JP (1) JPS61181051A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0393140A (ja) * 1989-09-05 1991-04-18 Jeol Ltd 走査電子顕微鏡像と光学顕微鏡像の対応装置
JPH0537810U (ja) * 1991-07-05 1993-05-21 東レ株式会社 排紙集積装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0393140A (ja) * 1989-09-05 1991-04-18 Jeol Ltd 走査電子顕微鏡像と光学顕微鏡像の対応装置
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