JPH0332020A - 縦型拡散炉 - Google Patents
縦型拡散炉Info
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- JPH0332020A JPH0332020A JP16525989A JP16525989A JPH0332020A JP H0332020 A JPH0332020 A JP H0332020A JP 16525989 A JP16525989 A JP 16525989A JP 16525989 A JP16525989 A JP 16525989A JP H0332020 A JPH0332020 A JP H0332020A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、半導体の熱処理工程に用いる縦型拡散炉に
関するものである。
関するものである。
従来の技術
従来、半導体の熱処理工程、例えば酸化、拡散、アニー
ル等の熱処理工程用に縦型拡散炉が開発されていた。縦
型拡散炉の特徴としては、温度分布が横型炉に比べて均
一なこと、ガスの流れが横型炉よりも良好でウェハ中の
膜厚分布精度が向上すること、Si ウェハが大口径化
するに連れて横型炉での処理が困難であること等を挙げ
ることができる。 縦型拡散炉に使用されるライナーチ
ューブとしては、当初は石英ガラス製のものが主流であ
ったが、石英ガラスはヒータの輻射熱をそのまま通過さ
せることから、均熱管としてのSiCチューブの有効性
が見直されつつある。また、SiCチューブは高温状態
のヒータから排出される金属蒸気(Na、Fe、Cu、
A1等)が炉芯管を通過して処理空間を汚染することを
防止する効果も持つ。
ル等の熱処理工程用に縦型拡散炉が開発されていた。縦
型拡散炉の特徴としては、温度分布が横型炉に比べて均
一なこと、ガスの流れが横型炉よりも良好でウェハ中の
膜厚分布精度が向上すること、Si ウェハが大口径化
するに連れて横型炉での処理が困難であること等を挙げ
ることができる。 縦型拡散炉に使用されるライナーチ
ューブとしては、当初は石英ガラス製のものが主流であ
ったが、石英ガラスはヒータの輻射熱をそのまま通過さ
せることから、均熱管としてのSiCチューブの有効性
が見直されつつある。また、SiCチューブは高温状態
のヒータから排出される金属蒸気(Na、Fe、Cu、
A1等)が炉芯管を通過して処理空間を汚染することを
防止する効果も持つ。
発明が解決しようとする問題点
しかし、単に均熱管としてSiCチューブを用いただけ
では微量の金属蒸気の侵入は防ぎきれず改善が望まれて
いた。
では微量の金属蒸気の侵入は防ぎきれず改善が望まれて
いた。
発明の目的
このような従来技術の問題点に鑑み、本発明は均熱管と
炉芯管の間に金属の侵入を防止するためのガスを導入で
き、しかもその導入空間内を気密に保つことができる縦
型拡散炉を提供することを目的としている。
炉芯管の間に金属の侵入を防止するためのガスを導入で
き、しかもその導入空間内を気密に保つことができる縦
型拡散炉を提供することを目的としている。
発明の要旨
前述の目的を達成するために、この発明は請求項1に記
載の縦型拡散炉を要旨としている。
載の縦型拡散炉を要旨としている。
問題点を解決するための手段
本発明の縦型拡散炉は、下方に開口した炉芯管と、炉芯
管の外側に設けた均熱管と、均熱管の外側に設けた加熱
用のヒータと、ヒータの外側に設けた断熱体とを持つ縦
型拡散炉において、均熱管の上部に先細の湾曲部を設け
、均熱管と炉芯管の間の空間にガスを導入するガス導入
手段を設け、導入したガスを排気するガス排気管を均熱
管に設け、このガス排気管の外側に多数の放熱フィンを
設けたことを特徴とする。
管の外側に設けた均熱管と、均熱管の外側に設けた加熱
用のヒータと、ヒータの外側に設けた断熱体とを持つ縦
型拡散炉において、均熱管の上部に先細の湾曲部を設け
、均熱管と炉芯管の間の空間にガスを導入するガス導入
手段を設け、導入したガスを排気するガス排気管を均熱
管に設け、このガス排気管の外側に多数の放熱フィンを
設けたことを特徴とする。
作用効果
ガス導入手段を用いて均熱管と炉芯管の間の空間にガス
を導入する。導入ガスとしては、N202 不活性ガス
等を用いる。また、塩酸ガスをこれらのガスと共に導入
することにより、より有効に金属蒸気の侵入を防ぐこと
ができる。ガス導入の際にはガスの温度と流量を最適の
値に設定する。温度と流量を多段階に渡ってステップ的
に変えてもよい。また、冷却時にはガスを多量に流すこ
とにより冷却効果を高めることができる。ガス流量は熱
処理中は1〜101 /+nin 1冷却時は10〜2
001 /min程度が効果的である。熱処理中におけ
るガス流量が111/minより少ないと、金属蒸気の
侵入を防ぐ効果が得られず、lQI/minより多いと
炉内の温度を安定に保ちにくい。
を導入する。導入ガスとしては、N202 不活性ガス
等を用いる。また、塩酸ガスをこれらのガスと共に導入
することにより、より有効に金属蒸気の侵入を防ぐこと
ができる。ガス導入の際にはガスの温度と流量を最適の
値に設定する。温度と流量を多段階に渡ってステップ的
に変えてもよい。また、冷却時にはガスを多量に流すこ
とにより冷却効果を高めることができる。ガス流量は熱
処理中は1〜101 /+nin 1冷却時は10〜2
001 /min程度が効果的である。熱処理中におけ
るガス流量が111/minより少ないと、金属蒸気の
侵入を防ぐ効果が得られず、lQI/minより多いと
炉内の温度を安定に保ちにくい。
また、ガス排気管の外側に設けた放熱フィンによって熱
を放出し、排気管端部の温度を下げる。それにより、均
熱管に設けたガス排気管にガス管を接続する際、テフロ
ン製のパツキンやOリングを使用することができ、気密
性を高めることができる。つまり、装置内にガスが漏れ
ると、金属部分を腐食させてしまう塩酸ガスを含むガス
を流すこともできる。
を放出し、排気管端部の温度を下げる。それにより、均
熱管に設けたガス排気管にガス管を接続する際、テフロ
ン製のパツキンやOリングを使用することができ、気密
性を高めることができる。つまり、装置内にガスが漏れ
ると、金属部分を腐食させてしまう塩酸ガスを含むガス
を流すこともできる。
実 施 例
以下、図面を参照して本発明による縦型拡散炉の実施例
を説明する。
を説明する。
第1図は縦型拡散炉10を示す概略図である。縦型拡散
炉10は全体的に円筒形状の炉芯管12(反応管又はプ
ロセスチューブとも呼ばれる)を備えている。炉芯管1
2は下方に開口していて、その開口から半導体ウェハ9
を出し入れする構成になっている。炉芯管12は石英ガ
ラスで構成してあり、その内部が処理空間8を形成して
いる。処理空間8にはウェハ保持部材28によって多数
の半導体ウェハ9が設置しである。
炉10は全体的に円筒形状の炉芯管12(反応管又はプ
ロセスチューブとも呼ばれる)を備えている。炉芯管1
2は下方に開口していて、その開口から半導体ウェハ9
を出し入れする構成になっている。炉芯管12は石英ガ
ラスで構成してあり、その内部が処理空間8を形成して
いる。処理空間8にはウェハ保持部材28によって多数
の半導体ウェハ9が設置しである。
処理空間内には石英ガラス製の処理ガス導入管33が設
けてあり、所定の処理用ガスを導入できる構成になって
いる。同様に処理ガス排出管34が設けてあり、処理用
のガスを排出する構成になっている。
けてあり、所定の処理用ガスを導入できる構成になって
いる。同様に処理ガス排出管34が設けてあり、処理用
のガスを排出する構成になっている。
ウェハ保持部材28は複数の遮熱板24を持つ。また、
保持したウェハを鉛直軸を中心に回転させる構成になっ
ている。ウェハ保持部材28は炉蓋16に設置してあり
、炉蓋16はベース17に固定しである。ベース17の
一端にはナツト(図示せず)が固定しである。ナツトは
送りねじ18とかみ合っている送りねじ18が回転する
とベース17は鉛直方向(矢印C)に送られる。このよ
うに送りねじ18を回転することによりウェハの移動を
行う。なお、送りねじは1本、ガイドシャフトが1本設
けてあり、第1図ではガイドシャフト1本は前の送りね
じの後ろに位置している。
保持したウェハを鉛直軸を中心に回転させる構成になっ
ている。ウェハ保持部材28は炉蓋16に設置してあり
、炉蓋16はベース17に固定しである。ベース17の
一端にはナツト(図示せず)が固定しである。ナツトは
送りねじ18とかみ合っている送りねじ18が回転する
とベース17は鉛直方向(矢印C)に送られる。このよ
うに送りねじ18を回転することによりウェハの移動を
行う。なお、送りねじは1本、ガイドシャフトが1本設
けてあり、第1図ではガイドシャフト1本は前の送りね
じの後ろに位置している。
炉芯管12の外側には均熱管11が設けである。均熱管
11は全体的に円筒形状をしていて、下方に開口してい
る。均熱管11の上部には先細の湾曲部が設けてあり、
いわゆるR形状を呈している。この湾曲部は均熱管本体
と一体的に構成してもよいし、蓋として別に製造して嵌
合又は接着してもよい。ガスシール性を考慮した場合に
は、嵌合よりは接着型が望ましい。このように均熱管上
部をR形状にすることにより、フラット形状の場合より
耐熱衝撃性を向上できる。また、熱効率も向上できる。
11は全体的に円筒形状をしていて、下方に開口してい
る。均熱管11の上部には先細の湾曲部が設けてあり、
いわゆるR形状を呈している。この湾曲部は均熱管本体
と一体的に構成してもよいし、蓋として別に製造して嵌
合又は接着してもよい。ガスシール性を考慮した場合に
は、嵌合よりは接着型が望ましい。このように均熱管上
部をR形状にすることにより、フラット形状の場合より
耐熱衝撃性を向上できる。また、熱効率も向上できる。
均熱管11はSiCまたはSt含浸質SiCで構成する
。耐酸化性、ガス透過性等を考慮するとSi含浸質Si
Cが望ましい。
。耐酸化性、ガス透過性等を考慮するとSi含浸質Si
Cが望ましい。
均熱管11の上部には、排気管20が設けである。排気
管20の端部にはフランジ21が設けである。このフラ
ンジ21にテフロン製の0リングを介してガス管(図示
せず)を接続できる。排気管20の外側には多数の冷却
フィン22が設置されている。
管20の端部にはフランジ21が設けである。このフラ
ンジ21にテフロン製の0リングを介してガス管(図示
せず)を接続できる。排気管20の外側には多数の冷却
フィン22が設置されている。
均熱管11の下端部外周部にはステンレス製の架台■5
が設けである。
が設けである。
架台15の下にはステンレス製の部材29がネジ止めさ
れ設置しである。部材29の上には均熱管11が設置さ
れ、均熱管11と部材29の接触部分にはテフーロン製
のOリング30が設けてあり、炉の気密性を高めている
。
れ設置しである。部材29の上には均熱管11が設置さ
れ、均熱管11と部材29の接触部分にはテフーロン製
のOリング30が設けてあり、炉の気密性を高めている
。
部材29にはガス導入手段としてガス導入管23が設置
してあり、炉芯管と均熱管の間の空間26にガスを導入
する構成になっている(矢印A)。この実施例ではガス
導入管23が対向する2ケ所に設けである。ガス導入管
23によって導入されたガス、例えば塩酸ガスを含んだ
窒素ガスは均熱管11上部に設けた排気管20からガス
管(図示せず)を通して排出される(矢印B)。
してあり、炉芯管と均熱管の間の空間26にガスを導入
する構成になっている(矢印A)。この実施例ではガス
導入管23が対向する2ケ所に設けである。ガス導入管
23によって導入されたガス、例えば塩酸ガスを含んだ
窒素ガスは均熱管11上部に設けた排気管20からガス
管(図示せず)を通して排出される(矢印B)。
部材29と炉蓋16の間には、ステンレス製の部材25
が配置してあり部材29にネジ止めされている。部材2
9と部材25の間、部材25と炉蓋16の間にはテフロ
ン製のOリング31.19が設けてあり、炉の気密性を
高めている。
が配置してあり部材29にネジ止めされている。部材2
9と部材25の間、部材25と炉蓋16の間にはテフロ
ン製のOリング31.19が設けてあり、炉の気密性を
高めている。
部材25の上には、炉芯管12が設置され炉芯管12と
部材25の接触部分にはテフロン製のOリング31が設
けである。炉芯管のみ交換する場合には、部材25を部
材29に止めているネジをとり、炉蓋16とともに下方
へ移動させることにより交換できる。
部材25の接触部分にはテフロン製のOリング31が設
けである。炉芯管のみ交換する場合には、部材25を部
材29に止めているネジをとり、炉蓋16とともに下方
へ移動させることにより交換できる。
架台15、部材29、部材25、及び炉蓋16は中空に
して、冷却する構造にしてもよい。
して、冷却する構造にしてもよい。
均熱管11の外側にはヒータ13が配置されている。ヒ
ータ13の外側には例えば断熱ファイバからなる断熱体
14が形成しである。
ータ13の外側には例えば断熱ファイバからなる断熱体
14が形成しである。
ガス流量は使用する条件によって調節できる。
ガスを流す効果を明らかにするために、塩酸ガスを含ん
だ窒素ガスを5A’/l1in流し、酸化処理を行った
場合とガスを何も流さず酸化処理を行った場合のシリコ
ンウェハ酸化膜中のナトリウム、ニッケルの含有量を測
定した。酸化膜は約100CIA (オングストローム
)形成した。その結果を第1表に示す。第1表から、炉
芯管と均熱管の間にガスを流すことにより、金属蒸気の
侵入を防ぐことができることが明らかになった。
だ窒素ガスを5A’/l1in流し、酸化処理を行った
場合とガスを何も流さず酸化処理を行った場合のシリコ
ンウェハ酸化膜中のナトリウム、ニッケルの含有量を測
定した。酸化膜は約100CIA (オングストローム
)形成した。その結果を第1表に示す。第1表から、炉
芯管と均熱管の間にガスを流すことにより、金属蒸気の
侵入を防ぐことができることが明らかになった。
次に、放熱フィンの効果を明らかにするために、放熱フ
ィンを有するガス排気管とフィンを持たないガス管にお
けるフランジ端面における温度を測定した。その結果を
第2表に示す。第2表から、フィンを設けることにより
ガス排気管におけるフランジ部の温度を大幅に低下でき
ることが明らかになった。
ィンを有するガス排気管とフィンを持たないガス管にお
けるフランジ端面における温度を測定した。その結果を
第2表に示す。第2表から、フィンを設けることにより
ガス排気管におけるフランジ部の温度を大幅に低下でき
ることが明らかになった。
第1図は本発明による縦型拡散炉の実施例を示す概略図
、第2図は第1図に示した炉においてウェハの出入れの
ために炉蓋やベースを下方に移動したところを示す概略
図である。 10・・・縦型拡散炉 2・・・炉芯管 1・・・均熱管 3・・・ヒータ 4・・・断熱体 3・・・ガス導入手段 0・・・ガス排気管 2・・・放熱フィン 代 理 人
、第2図は第1図に示した炉においてウェハの出入れの
ために炉蓋やベースを下方に移動したところを示す概略
図である。 10・・・縦型拡散炉 2・・・炉芯管 1・・・均熱管 3・・・ヒータ 4・・・断熱体 3・・・ガス導入手段 0・・・ガス排気管 2・・・放熱フィン 代 理 人
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 下方に開口した炉芯管と、炉芯管の外側に 設けた均熱管と、均熱管の外側に設けたヒータと、ヒー
タの外側に設けた断熱体とを持つ縦型拡散炉において、
均熱管の上部に先細の湾曲部を設け、均熱管と炉芯管の
間の空間にガスを導入するガス導入手段を設け、導入さ
れたガスを排気するガス排気管を均熱管に設け、このガ
ス排気管の外側に多数の放熱フィンを設けたことを特徴
とする縦型拡散炉。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1165259A JP2764436B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 縦型拡散炉 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1165259A JP2764436B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 縦型拡散炉 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0332020A true JPH0332020A (ja) | 1991-02-12 |
| JP2764436B2 JP2764436B2 (ja) | 1998-06-11 |
Family
ID=15808926
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1165259A Expired - Fee Related JP2764436B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 縦型拡散炉 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2764436B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07509345A (ja) * | 1992-06-15 | 1995-10-12 | サームテック インコーポレイテッド | 高性能水平拡散炉装置 |
| JP2002164298A (ja) * | 2000-11-29 | 2002-06-07 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 熱処理装置 |
| JP2004332039A (ja) * | 2003-05-07 | 2004-11-25 | Cotec Co Ltd | Cvd用反応容器 |
| JP2010056287A (ja) * | 2008-08-28 | 2010-03-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 熱処理装置 |
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| JPS54130876A (en) * | 1978-04-03 | 1979-10-11 | Cho Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai | Method of heating semiconductor |
| JPS5648130A (en) * | 1979-09-26 | 1981-05-01 | Toshiba Ceramics Co Ltd | Structure of furnace core tube for semiconductor diffusion |
| JPS58418U (ja) * | 1981-06-24 | 1983-01-05 | 沖電気工業株式会社 | 半導体熱処理装置 |
| JPS58172471U (ja) * | 1982-05-14 | 1983-11-17 | 株式会社東芝 | 拡散炉 |
| JPS61183525U (ja) * | 1984-12-26 | 1986-11-15 | ||
| JPS62272525A (ja) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Hitachi Ltd | 熱処理装置 |
-
1989
- 1989-06-29 JP JP1165259A patent/JP2764436B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2764436B2 (ja) | 1998-06-11 |
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