JPH03276059A - 挿入式センサプローブ - Google Patents
挿入式センサプローブInfo
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- JPH03276059A JPH03276059A JP2078316A JP7831690A JPH03276059A JP H03276059 A JPH03276059 A JP H03276059A JP 2078316 A JP2078316 A JP 2078316A JP 7831690 A JP7831690 A JP 7831690A JP H03276059 A JPH03276059 A JP H03276059A
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Landscapes
- Measuring Oxygen Concentration In Cells (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、ボイラ、焼結炉及び自動車等から排出される
高温排ガス中の水素又は水蒸気の濃度を測定するために
使用される挿入式センサプローブに関し、特にガルバニ
起電力の基準として固体基準物質を使用した挿入式セン
サプローブに関する。
高温排ガス中の水素又は水蒸気の濃度を測定するために
使用される挿入式センサプローブに関し、特にガルバニ
起電力の基準として固体基準物質を使用した挿入式セン
サプローブに関する。
[従来の技術]
高温排ガス中の水素及び水蒸気濃度を測定することは、
ボイラ、燃焼炉及び自動車エンジン等の燃焼効率を正確
に求めるために不可欠である。このため、高温排ガス中
において安定に作動し、信頼性が高い水素及び水蒸気濃
度測定装置の開発が要望されている。
ボイラ、燃焼炉及び自動車エンジン等の燃焼効率を正確
に求めるために不可欠である。このため、高温排ガス中
において安定に作動し、信頼性が高い水素及び水蒸気濃
度測定装置の開発が要望されている。
そこで、従来、酸化ストロンチウム及び酸化セリウム(
SrCeO3)等のペロブスカイト型酸化物からなるプ
ロトン導電性を有する固体電解質をセンサ素子として使
用する水素又は水蒸気センサが提案されている(特開昭
58−50458゜11i0−211i3853、8l
−2011i4、81−3054 、 flft−14
58G号公報)。この固体電解質は400℃以上の温度
においてプロトン導電性を有し、この固体電解質からな
るセンサ素子を一端閉塞型に形成し、その内表面及び外
表面に夫々多孔質の内面電極及び外面電極を被着して構
成されている。そして、このセンサ素子内にガルバニ起
電力の基準となる基準ガス、即ち所定濃度の水素又は水
蒸気を含有するガスが封入されている。
SrCeO3)等のペロブスカイト型酸化物からなるプ
ロトン導電性を有する固体電解質をセンサ素子として使
用する水素又は水蒸気センサが提案されている(特開昭
58−50458゜11i0−211i3853、8l
−2011i4、81−3054 、 flft−14
58G号公報)。この固体電解質は400℃以上の温度
においてプロトン導電性を有し、この固体電解質からな
るセンサ素子を一端閉塞型に形成し、その内表面及び外
表面に夫々多孔質の内面電極及び外面電極を被着して構
成されている。そして、このセンサ素子内にガルバニ起
電力の基準となる基準ガス、即ち所定濃度の水素又は水
蒸気を含有するガスが封入されている。
このペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質を使用
して水素又は水蒸気の濃度を測定するセンサプローブを
被測定ガス中に挿入すると、基準ガスと被測定ガスとの
間の水素又は水蒸気濃度の差により、内面電極と外面電
極との間に起電力が発生する。そして、この起電力を検
出することにより、被測定ガス中の水素又は水蒸気の濃
度を測定することができる。
して水素又は水蒸気の濃度を測定するセンサプローブを
被測定ガス中に挿入すると、基準ガスと被測定ガスとの
間の水素又は水蒸気濃度の差により、内面電極と外面電
極との間に起電力が発生する。そして、この起電力を検
出することにより、被測定ガス中の水素又は水蒸気の濃
度を測定することができる。
しかしながら、上述の従来技術は、基準物質として所定
濃度の水素又は水蒸気を含有するガスを使用するので、
以下に示す問題点がある。
濃度の水素又は水蒸気を含有するガスを使用するので、
以下に示す問題点がある。
■ 固体電解質又はガス導入管等が破損した場合、基準
ガスが測定雰囲気中に漏出してしまい、測定不能になる
か、又は測定誤差が発生する。まり、コノ場合には、漏
出した基準ガスにより測定雰囲気が汚染される。
ガスが測定雰囲気中に漏出してしまい、測定不能になる
か、又は測定誤差が発生する。まり、コノ場合には、漏
出した基準ガスにより測定雰囲気が汚染される。
■ 基準ガスをプローブに供給して循環させるために、
ガス循環機等が必要になり、コンパクトな装置にするこ
とができない。
ガス循環機等が必要になり、コンパクトな装置にするこ
とができない。
そこで、本発明者等は高温で安定した水素活量を示す固
体基準物質を開発し、この固体基準物質を水素又は水蒸
気センサに使用する提案を行った(特開昭63−269
053号公報)。
体基準物質を開発し、この固体基準物質を水素又は水蒸
気センサに使用する提案を行った(特開昭63−269
053号公報)。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、特に測定雰囲気中に挿入して設置される
挿入式水素又は水蒸気センサの場合は、センサ自体が高
温に曝されるため、固体基準物質と測定雰囲気との間を
完全にシールすることが困難である。このため、この固
体基準物質を使用する挿入式水素又は水蒸気センサは実
用化されるに至っていない。
挿入式水素又は水蒸気センサの場合は、センサ自体が高
温に曝されるため、固体基準物質と測定雰囲気との間を
完全にシールすることが困難である。このため、この固
体基準物質を使用する挿入式水素又は水蒸気センサは実
用化されるに至っていない。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
高温下で使用される挿入式水素又は水蒸気センサにおい
て、固体基準物質を測定雰囲気から十分にシールするこ
とができ、この固体基準物質を高温下でも実用的に使用
することができ、従来の基準ガスを使用するセンサの欠
点を解消することができる挿入式センサプローブを提供
することを目的とする。
高温下で使用される挿入式水素又は水蒸気センサにおい
て、固体基準物質を測定雰囲気から十分にシールするこ
とができ、この固体基準物質を高温下でも実用的に使用
することができ、従来の基準ガスを使用するセンサの欠
点を解消することができる挿入式センサプローブを提供
することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本願の第1発明に係る挿入式センサプローブは、ペロブ
スカイト型プロトン導電性固体電解質により形成された
一端閉塞型のセンサ素子と、このセンサ素子内に充填さ
れガルバニ起電力の基準となる固体基準物質と、前記セ
ンサ素子の内側面に前記固体基準物質に接触して形成さ
れた基準極と、前記センサ素子の外側面に形成された測
定極と、少なくとも前記測定極を被覆する多孔質保護層
と、前記センサ素子の他端側に設置され前記固体基準物
質及び前記基準極を測定雰囲気から気密的にシールする
シール部とを有し、前記シール部は熱膨張係数が300
乃至800℃の範囲で8.OX 10−6乃至10、O
X 10−6/℃であることを特徴とする。
スカイト型プロトン導電性固体電解質により形成された
一端閉塞型のセンサ素子と、このセンサ素子内に充填さ
れガルバニ起電力の基準となる固体基準物質と、前記セ
ンサ素子の内側面に前記固体基準物質に接触して形成さ
れた基準極と、前記センサ素子の外側面に形成された測
定極と、少なくとも前記測定極を被覆する多孔質保護層
と、前記センサ素子の他端側に設置され前記固体基準物
質及び前記基準極を測定雰囲気から気密的にシールする
シール部とを有し、前記シール部は熱膨張係数が300
乃至800℃の範囲で8.OX 10−6乃至10、O
X 10−6/℃であることを特徴とする。
また、本願の第2発明に係る挿入式センサプローブは、
ペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質により形成
された一端閉塞型のセンサ素子と、このセンサ素子内に
充填されガルバニ起電力の基準となる固体基準物質と、
前記センサ素子の内側面に前記固体基準物質に接触して
形成された基準極と、前記センサ素子の外側面に形成さ
れた測定極と、少なくとも前記測定極を被覆する多孔質
保護層と、前記センサ素子の他端部を閉塞するシール材
とを有し、前記シール材はセンサの所定の使用温度以下
の軟化温度を有し、前記使用温度以上の流動点を有して
いて、センサ使用時に測定雰囲気により加熱されること
により前記センサ素子の他端部に融着して前記固体基準
物質及び前記基準極を測定雰囲気から気密的にシールす
ることを特徴とする。
ペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質により形成
された一端閉塞型のセンサ素子と、このセンサ素子内に
充填されガルバニ起電力の基準となる固体基準物質と、
前記センサ素子の内側面に前記固体基準物質に接触して
形成された基準極と、前記センサ素子の外側面に形成さ
れた測定極と、少なくとも前記測定極を被覆する多孔質
保護層と、前記センサ素子の他端部を閉塞するシール材
とを有し、前記シール材はセンサの所定の使用温度以下
の軟化温度を有し、前記使用温度以上の流動点を有して
いて、センサ使用時に測定雰囲気により加熱されること
により前記センサ素子の他端部に融着して前記固体基準
物質及び前記基準極を測定雰囲気から気密的にシールす
ることを特徴とする。
[作用コ
本願の第1発明においては、一端閉塞型のセンサ素子内
に充填された固体基準物質は、センサ素子内の基準極と
共に、シール部によりセンサ素子外部の測定雰囲気から
気密的にシールされている。
に充填された固体基準物質は、センサ素子内の基準極と
共に、シール部によりセンサ素子外部の測定雰囲気から
気密的にシールされている。
そして、このシール部はセンサの使用温度である300
乃至800℃の範囲で熱膨張係数が8.OX 10−6
乃至10.OX 10−8/’Cであるので、通常8.
5X 10−8乃至9.8X 10−8/”Cの熱膨張
係数を有する固体電解質と略同様の熱膨張係数を有する
。従って、プローブが高温の測定雰囲気におかれた場合
に、センサ素子を構成する固体電解質が熱膨張しても、
シール部もセンサ素子と略同様の大きさの熱膨張をして
いるので、このシール部とセンサ素子との間で隙間が生
じたり、固体電解質が破損したりして、ガスがセンサ内
部に侵入したりすることはない。このため、このセンサ
素子内部の固体基準物質を測定雰囲気から確実にシール
して保護することができる。
乃至800℃の範囲で熱膨張係数が8.OX 10−6
乃至10.OX 10−8/’Cであるので、通常8.
5X 10−8乃至9.8X 10−8/”Cの熱膨張
係数を有する固体電解質と略同様の熱膨張係数を有する
。従って、プローブが高温の測定雰囲気におかれた場合
に、センサ素子を構成する固体電解質が熱膨張しても、
シール部もセンサ素子と略同様の大きさの熱膨張をして
いるので、このシール部とセンサ素子との間で隙間が生
じたり、固体電解質が破損したりして、ガスがセンサ内
部に侵入したりすることはない。このため、このセンサ
素子内部の固体基準物質を測定雰囲気から確実にシール
して保護することができる。
また、このシール部として、流動点がセンサ使用温度以
上の緻密質ガラスシール材を使用すると、センサ使用温
度下での耐熱性が優れており、流動化することなく十分
な強度を有し、緻密なシール部を形成することができる
。更に、この緻密質ガラスシール材はセンサ素子を構成
する固体電解質との間で反応性がなく、また固体電解質
との間の濡れ性が優れていて接合性がよい。
上の緻密質ガラスシール材を使用すると、センサ使用温
度下での耐熱性が優れており、流動化することなく十分
な強度を有し、緻密なシール部を形成することができる
。更に、この緻密質ガラスシール材はセンサ素子を構成
する固体電解質との間で反応性がなく、また固体電解質
との間の濡れ性が優れていて接合性がよい。
一方、本願の第2発明に係るセンサプローブにおいては
、一端閉塞型のセンサ素子内に充填された固体基準物質
は、センサ素子内の基準極と共に、センサ素子の他端部
に以下のようにして形成されるシール部によりセンサ素
子外部の測定雰囲気から気密的にシールされる。
、一端閉塞型のセンサ素子内に充填された固体基準物質
は、センサ素子内の基準極と共に、センサ素子の他端部
に以下のようにして形成されるシール部によりセンサ素
子外部の測定雰囲気から気密的にシールされる。
即ち、このセンサプローブは、センサ素子の他端部がシ
ール材により閉塞されており、このシール材はセンサの
所定の使用温度以下の軟化点と、この使用温度以上の流
動点とを有する。このため、このセンサプローブを水素
又は水蒸気濃度を測定せんする雰囲気に挿入すると、測
定雰囲気からセンサプローブ自体が加熱され、前記シー
ル材が昇温する。そして、この昇温の過程で、前記シー
ル材は軟化温度を超え、前記センサ素子の他端部に融着
する。これにより、固体基準物質及び基準極は、シール
材の軟化により形成されたシール部によって、測定雰囲
気から気密的にシールされる。
ール材により閉塞されており、このシール材はセンサの
所定の使用温度以下の軟化点と、この使用温度以上の流
動点とを有する。このため、このセンサプローブを水素
又は水蒸気濃度を測定せんする雰囲気に挿入すると、測
定雰囲気からセンサプローブ自体が加熱され、前記シー
ル材が昇温する。そして、この昇温の過程で、前記シー
ル材は軟化温度を超え、前記センサ素子の他端部に融着
する。これにより、固体基準物質及び基準極は、シール
材の軟化により形成されたシール部によって、測定雰囲
気から気密的にシールされる。
従って、センサプローブを測定雰囲気に挿入する際に、
シール材が軟化してセンサ素子に融着するので、シール
材の軟化により形成されたシール部は、センサ雲子が所
定の使用温度に加熱されて熱膨張している状態でセンサ
素子の他端部に密着する。このため、このシール部は、
センサプローブの使用状態で、センサ素子の他端部に密
着して固体基準物質及び基、単極を測定雰囲気から気密
的にシールするので、室温でシール部を形成した後セン
サプローブを測定時の使用温度まで昇温させる場合と異
なり、そのシール性が極めて優れている。
シール材が軟化してセンサ素子に融着するので、シール
材の軟化により形成されたシール部は、センサ雲子が所
定の使用温度に加熱されて熱膨張している状態でセンサ
素子の他端部に密着する。このため、このシール部は、
センサプローブの使用状態で、センサ素子の他端部に密
着して固体基準物質及び基、単極を測定雰囲気から気密
的にシールするので、室温でシール部を形成した後セン
サプローブを測定時の使用温度まで昇温させる場合と異
なり、そのシール性が極めて優れている。
また、このシール材としては、例えば、軟化後の組成が
緻密質ガラスになるものがある。この緻密質ガラスシー
ル材は、センサ使用温度で耐熱性が優れており、流動化
することなく十分な強度を有し、緻密なシール部を形成
することができる。
緻密質ガラスになるものがある。この緻密質ガラスシー
ル材は、センサ使用温度で耐熱性が優れており、流動化
することなく十分な強度を有し、緻密なシール部を形成
することができる。
また、この緻密質ガラスシール材は、センサ素子を構成
する固体電解質との間で反応性がなく、固体電解質との
間の濡れ性が優れていて接合性がよい。
する固体電解質との間で反応性がなく、固体電解質との
間の濡れ性が優れていて接合性がよい。
なお、本発明におけるプロトン導電性固体電解質とは、
Cat S r及びBaからなる群から選択された少な
くとも工種の元素をA成分とし、Ce。
Cat S r及びBaからなる群から選択された少な
くとも工種の元素をA成分とし、Ce。
Zr+Ti及びHfからなる群から選択された少なくと
も1種の元素をB成分とし、Yb、Y。
も1種の元素をB成分とし、Yb、Y。
Sc+ Zn+ NcL Mg+ In+ Sm+
Dy+Eul HO+ Gd+ Tm+ Ca及びLa
からなる群から選択された少なくとも1種の元素をM成
分とした場合に、−数式AB□−X MX 03−Yに
て表されるペロブスカイト型複合酸化物である。但し、
X及びYはいずれも0乃至0.5の範囲の数値である。
Dy+Eul HO+ Gd+ Tm+ Ca及びLa
からなる群から選択された少なくとも1種の元素をM成
分とした場合に、−数式AB□−X MX 03−Yに
て表されるペロブスカイト型複合酸化物である。但し、
X及びYはいずれも0乃至0.5の範囲の数値である。
このようなペロブスカイト型複合酸化物としては、例え
ば、S r Ce o、elsY b O,0503−
Y I B aCe o、e N d o、s 03−
Y及びCaZro、eI no、x 03−Y等がある
。
ば、S r Ce o、elsY b O,0503−
Y I B aCe o、e N d o、s 03−
Y及びCaZro、eI no、x 03−Y等がある
。
更に、本願の第1発明及び第2発明のいずれにおいても
、測定極上には少なくともこの測定極を被覆する多孔質
保護層が形成されている。このように測定極が多孔質保
護層により被覆されているため、ダスト等が浮遊する測
定雰囲気中にセンサプローブを挿入した場合に、多孔質
の測定極にダスト等が付着しないので、測定極の劣化を
防止することができる。また、この保護層及び測定極は
多孔質により形成されているので、これらを介して測定
雰囲気がセンサ素子に十分に供給される。
、測定極上には少なくともこの測定極を被覆する多孔質
保護層が形成されている。このように測定極が多孔質保
護層により被覆されているため、ダスト等が浮遊する測
定雰囲気中にセンサプローブを挿入した場合に、多孔質
の測定極にダスト等が付着しないので、測定極の劣化を
防止することができる。また、この保護層及び測定極は
多孔質により形成されているので、これらを介して測定
雰囲気がセンサ素子に十分に供給される。
これにより、センサ素子1の検出能力を低下させること
なく、センサの耐久性をより一層向上させることができ
る。
なく、センサの耐久性をより一層向上させることができ
る。
また、この多孔質保護層の材質としては、例えばセラミ
ックスがある。この場合、保護層としてのセラミックス
層の厚さが10μm未満の場合は、ダストがセラミック
ス層を介して測定極に到達し、測定極が劣化する虞があ
る。一方、保護層としてのセラミックス層の厚さが50
0μmを超える場合には、測定雰囲気が測定極に接触し
にくくなり、測定に誤差が発生する。このため、多孔質
保護層は厚さがlO乃至500μmのセラミックスから
なることがザましい。そして、このようなセラミックス
層はプラズマ溶射法等により測定極上にアルミナ又はス
ピネル等のセラミックスを被着することにより形成する
ことができる。
ックスがある。この場合、保護層としてのセラミックス
層の厚さが10μm未満の場合は、ダストがセラミック
ス層を介して測定極に到達し、測定極が劣化する虞があ
る。一方、保護層としてのセラミックス層の厚さが50
0μmを超える場合には、測定雰囲気が測定極に接触し
にくくなり、測定に誤差が発生する。このため、多孔質
保護層は厚さがlO乃至500μmのセラミックスから
なることがザましい。そして、このようなセラミックス
層はプラズマ溶射法等により測定極上にアルミナ又はス
ピネル等のセラミックスを被着することにより形成する
ことができる。
[実施例]
以下、本発明の実施例について、添付の図面を参照して
具体的に説明する。
具体的に説明する。
第1図は本発明の第1の実施例に係るセンサプローブを
示す断面図である。
示す断面図である。
センサ素子1は一端が閉塞された管状をなし、S r
Ceo、e5Ybo、oIso3−y + Ca Z
ro、eI no、+ 03−Y + B a Ce
o、e5Yo、oI50a−y等のペロブスカイト型複
合酸化物からなるプロトン導電性固体電解質から成形さ
れている。このセンサ素子1の閉塞端側の略半分の外面
及び内面には、P t * N i又は酸化物導電体等
の多孔質材料を焼き付けることにより夫々測定極3及び
基準極4が形成されている。即ち、これらの測定極3及
び基準極4はセンサ素子1の閉塞端側の略半分を被覆し
ている。
Ceo、e5Ybo、oIso3−y + Ca Z
ro、eI no、+ 03−Y + B a Ce
o、e5Yo、oI50a−y等のペロブスカイト型複
合酸化物からなるプロトン導電性固体電解質から成形さ
れている。このセンサ素子1の閉塞端側の略半分の外面
及び内面には、P t * N i又は酸化物導電体等
の多孔質材料を焼き付けることにより夫々測定極3及び
基準極4が形成されている。即ち、これらの測定極3及
び基準極4はセンサ素子1の閉塞端側の略半分を被覆し
ている。
センサ素子1の内部には、固体基準物質2が充填されて
おり、この固体基準物質2をセンサ素子1内に封入する
ようにしてセンサ素子1の開放端側に円柱状をなすセラ
ミックチップ5aが挿入されている。この固体基準物質
2としては、例えば特開昭[13−2Ei9053号に
示されるような、硫酸セリウムとアルカリ炭酸塩との混
合塩にNi粉末を混合したものがある。一方、セラミッ
クチップ5aの中心には基準極4に接続されたリード線
8が挿通していて、このリード線8により基準極4がセ
ンサ素子1の外部に電気的に導出されている。このリー
ド線8としては、Pt線又はNi線等の通常の導線を使
用すればよい。また、セラミックチップ5aとセンサ素
子1の内面との間には、多孔質の基準極4とリード線8
との電気的導通を確保するために、金属ペースト6が介
装されている。
おり、この固体基準物質2をセンサ素子1内に封入する
ようにしてセンサ素子1の開放端側に円柱状をなすセラ
ミックチップ5aが挿入されている。この固体基準物質
2としては、例えば特開昭[13−2Ei9053号に
示されるような、硫酸セリウムとアルカリ炭酸塩との混
合塩にNi粉末を混合したものがある。一方、セラミッ
クチップ5aの中心には基準極4に接続されたリード線
8が挿通していて、このリード線8により基準極4がセ
ンサ素子1の外部に電気的に導出されている。このリー
ド線8としては、Pt線又はNi線等の通常の導線を使
用すればよい。また、セラミックチップ5aとセンサ素
子1の内面との間には、多孔質の基準極4とリード線8
との電気的導通を確保するために、金属ペースト6が介
装されている。
この金属ペーストeはpt又はNi等を含有し、導電性
を有していて、セラミックチップ5aの周面に塗付した
後、このセラミックチップ5aをセンサ素子1内に嵌入
することにより両者間に介装される。
を有していて、セラミックチップ5aの周面に塗付した
後、このセラミックチップ5aをセンサ素子1内に嵌入
することにより両者間に介装される。
センサ素子1の開放端には、センサ素子1の内面とセラ
ミックチップ5aとの間、及びセラミックチップ5aと
リード線8との間を気密的にシールするために、ガラス
シール材7aが盛り付ケラれている。このガラスシール
材7aとセンサ素子1内に充填された固体基準物質2と
はセラミックチップ5aによって離隔されているので、
高温下において両者が融合することが防止される。
ミックチップ5aとの間、及びセラミックチップ5aと
リード線8との間を気密的にシールするために、ガラス
シール材7aが盛り付ケラれている。このガラスシール
材7aとセンサ素子1内に充填された固体基準物質2と
はセラミックチップ5aによって離隔されているので、
高温下において両者が融合することが防止される。
ガラスシール材7aはNaa Oa ”B20aSi0
2等の組成を有する緻密質ガラスを使用すればよい。こ
の場合に、この緻密質ガラスは、その熱膨張係数が30
0乃至800℃の温度範囲で8.OX 10−6乃至1
0.OX 10−’/’Cであって、流動点がセンサ使
用温度以上のものを選択する。そして、このガラスシー
ル材7aは例えば電気炉内で850℃に加熱して融着す
ることにより、センサ素子1に被着することができる。
2等の組成を有する緻密質ガラスを使用すればよい。こ
の場合に、この緻密質ガラスは、その熱膨張係数が30
0乃至800℃の温度範囲で8.OX 10−6乃至1
0.OX 10−’/’Cであって、流動点がセンサ使
用温度以上のものを選択する。そして、このガラスシー
ル材7aは例えば電気炉内で850℃に加熱して融着す
ることにより、センサ素子1に被着することができる。
一方、センサ素子1の閉塞端側の略半分の外周面に形成
された測定極3を被覆するように多孔質保護層9がこの
センサ素子1の外周面上に被着して形成されている。こ
の多孔質保護層は8は、プラズマ溶射法等により測定極
3上に例えば厚さがlO乃至500μmのアルミナ又は
スピネル等のセラミックス層を被着することにより形成
することができる。
された測定極3を被覆するように多孔質保護層9がこの
センサ素子1の外周面上に被着して形成されている。こ
の多孔質保護層は8は、プラズマ溶射法等により測定極
3上に例えば厚さがlO乃至500μmのアルミナ又は
スピネル等のセラミックス層を被着することにより形成
することができる。
このように構成された挿入式センサプローブにおいては
、その固体電解質で形成されたセンサ素子1の先端部を
測定雰囲気中に挿入すると、測定雰囲気は多孔質の保護
層9を通過して固体電解質からなるセンサ素子1に接触
する。そうすると、水素又は水蒸気を含有する測定雰囲
気と接触する固体電解質の外面と、固体基準物質2と接
触する固体電解質の内面との間を、測定雰囲気中の水素
又は水蒸気濃度と、固体基準物質2の基準濃度との間の
相違に起因して、プロトンが移動する。このプロトンの
移動により、測定極3と基準極4との間には、ガルバニ
起電力が発生する。この起電力を、リード線8等を介し
て検出することにより、測定雰囲気における水素又は水
蒸気濃度を検出することができる。
、その固体電解質で形成されたセンサ素子1の先端部を
測定雰囲気中に挿入すると、測定雰囲気は多孔質の保護
層9を通過して固体電解質からなるセンサ素子1に接触
する。そうすると、水素又は水蒸気を含有する測定雰囲
気と接触する固体電解質の外面と、固体基準物質2と接
触する固体電解質の内面との間を、測定雰囲気中の水素
又は水蒸気濃度と、固体基準物質2の基準濃度との間の
相違に起因して、プロトンが移動する。このプロトンの
移動により、測定極3と基準極4との間には、ガルバニ
起電力が発生する。この起電力を、リード線8等を介し
て検出することにより、測定雰囲気における水素又は水
蒸気濃度を検出することができる。
この場合に、本実施例においては、固体基準物質2及び
基準極4は、シール部7aにより気密的にシールされて
センサ素子1内に収納されているから、固体基準物質2
及び基準極4は測定雰囲気中のガスが侵入しないように
測定雰囲気から遮断されている。このため、このセンサ
プローブを測定雰囲気に挿入しても、固体基準物質2が
測定雰囲気中のガスと反応してその濃度が変動してしま
うことはない。
基準極4は、シール部7aにより気密的にシールされて
センサ素子1内に収納されているから、固体基準物質2
及び基準極4は測定雰囲気中のガスが侵入しないように
測定雰囲気から遮断されている。このため、このセンサ
プローブを測定雰囲気に挿入しても、固体基準物質2が
測定雰囲気中のガスと反応してその濃度が変動してしま
うことはない。
また、このシール部7aは、3oo乃至s o o ”
cのセンサフローブ使用温度域で8.OX 10−’乃
至10.0XIO−6/”Cの熱膨張係数を有し、セン
サ素子1を構成する固体電解質の熱膨張係数(8,5X
lO−”乃至9.8X 10−6/℃)と同様の熱膨張
係数を有しているから、センサプローブが高温の測定雰
囲気に挿入されても、シール部7aとセンサ素子1との
間の熱膨張係数の差に起因してシール部7a又はセンサ
素子1に割れが発生したり、剥離が発生したりすること
はない。従って、このシール部7aにより高温下でも固
体基準物質2を完全にシールすることができる。
cのセンサフローブ使用温度域で8.OX 10−’乃
至10.0XIO−6/”Cの熱膨張係数を有し、セン
サ素子1を構成する固体電解質の熱膨張係数(8,5X
lO−”乃至9.8X 10−6/℃)と同様の熱膨張
係数を有しているから、センサプローブが高温の測定雰
囲気に挿入されても、シール部7aとセンサ素子1との
間の熱膨張係数の差に起因してシール部7a又はセンサ
素子1に割れが発生したり、剥離が発生したりすること
はない。従って、このシール部7aにより高温下でも固
体基準物質2を完全にシールすることができる。
更に、このシール部7aはこのセンサ使用温度以上の流
動点を有する緻密質のガラス(N a 203・BaO
3・SiO2等)で成形されているから、例えば300
乃至800℃のセンサ使用温度域にて流動化せず、十分
な強度を有すると共に、緻密であって十分な耐熱性も有
している。また、この種のガラスは固体電解質との間で
反応せず、その性質が劣化することがないと共に、固体
電解質に対して濡れ性がよいため、固体電解質であるセ
ンサ素子1に十分な強度で被着される。
動点を有する緻密質のガラス(N a 203・BaO
3・SiO2等)で成形されているから、例えば300
乃至800℃のセンサ使用温度域にて流動化せず、十分
な強度を有すると共に、緻密であって十分な耐熱性も有
している。また、この種のガラスは固体電解質との間で
反応せず、その性質が劣化することがないと共に、固体
電解質に対して濡れ性がよいため、固体電解質であるセ
ンサ素子1に十分な強度で被着される。
また、本実施例においては、測定極3が多孔質保護層9
により被覆されているので、ダスト等が浮遊する測定雰
囲気中にこのセンサプローブを挿入した場合に、多孔質
の測定極3にダスト等が付着することはない。これによ
り、測定極3の劣化を防止することができ、センサの耐
久性をより一層向上させることができる。
により被覆されているので、ダスト等が浮遊する測定雰
囲気中にこのセンサプローブを挿入した場合に、多孔質
の測定極3にダスト等が付着することはない。これによ
り、測定極3の劣化を防止することができ、センサの耐
久性をより一層向上させることができる。
なお、本実施例にわいては、固体電解質及び基準極を測
定雰囲気から気密的にシールするシール部は、センサ素
子1の他端部に粉末状等のガラスシール材7aを被着し
、加熱炉等に装入することによりシール材7aを加熱し
て、このシール材7aをセンサプローブの使用に先立ち
予め融着させであるが、粉末状等のシール材を被着した
後、センサプローブを測定雰囲気に挿入し、センサプロ
ーブ使用時に測定雰囲気により加熱することによってセ
ンサ素子1の他端部にシール材を融着させて形成するも
のであってもよい。この場合、ガラスシール材には、セ
ンサ使用温度以下の軟化温度を有し、センサ使用温度以
上の流動点を有するものを使用し、センサ使用前にこの
ガラスシール材によってセンサ素子1の他端部を閉塞す
る。そして、センサ使用時にセンサ素子1を測定雰囲気
中に挿入すると、センサ素子1が測定雰囲気から加熱さ
れて昇温すると共に、センサ素子1の他端部に盛り付け
られてこの他端部を閉塞するガラスシール材が昇温する
。そして、このガラスシール材はその昇温過程でその軟
化温度を超えて軟化し、緻密なガラス質となってセンサ
素子1の他端部に融着する。これにより、センサ素子1
の他端部に緻密なガラス質からなるシール部が形成され
る。
定雰囲気から気密的にシールするシール部は、センサ素
子1の他端部に粉末状等のガラスシール材7aを被着し
、加熱炉等に装入することによりシール材7aを加熱し
て、このシール材7aをセンサプローブの使用に先立ち
予め融着させであるが、粉末状等のシール材を被着した
後、センサプローブを測定雰囲気に挿入し、センサプロ
ーブ使用時に測定雰囲気により加熱することによってセ
ンサ素子1の他端部にシール材を融着させて形成するも
のであってもよい。この場合、ガラスシール材には、セ
ンサ使用温度以下の軟化温度を有し、センサ使用温度以
上の流動点を有するものを使用し、センサ使用前にこの
ガラスシール材によってセンサ素子1の他端部を閉塞す
る。そして、センサ使用時にセンサ素子1を測定雰囲気
中に挿入すると、センサ素子1が測定雰囲気から加熱さ
れて昇温すると共に、センサ素子1の他端部に盛り付け
られてこの他端部を閉塞するガラスシール材が昇温する
。そして、このガラスシール材はその昇温過程でその軟
化温度を超えて軟化し、緻密なガラス質となってセンサ
素子1の他端部に融着する。これにより、センサ素子1
の他端部に緻密なガラス質からなるシール部が形成され
る。
そして、センサ素子1内の固体基準物質2及び基準極4
はこのシール部により外部測定雰囲気から気密的にシー
ルされる。
はこのシール部により外部測定雰囲気から気密的にシー
ルされる。
第2図は本発明の他の実施例を示す断面図である。本実
施例は第1図に示す実施例と、セラミックチップ及びガ
ラスシール材のみが異なり、他の構成は同一であるので
、同一物には同一符号を付してその詳細な説明は省略す
る。
施例は第1図に示す実施例と、セラミックチップ及びガ
ラスシール材のみが異なり、他の構成は同一であるので
、同一物には同一符号を付してその詳細な説明は省略す
る。
即ち、このセラミックチップ5bは第1図のセラミック
チップ5aよりも短寸であり、センサ素子工におけるセ
ラミックチップ5bよりも開放端側に形成される凹部に
は粉末ガラスシール材7bが充填されている。従って、
この粉末ガラスシール材7bはセンサ素子1の内部に詰
め込まれているので、その内面に対して被着される。こ
のため、ガラスシール材がセンサ素子1の外面に被着さ
れる第1の実施例の場合よりも、本実施例においてはガ
ラスシール材7bをセンサ素子1に更に一層密着させて
設けることができる。
チップ5aよりも短寸であり、センサ素子工におけるセ
ラミックチップ5bよりも開放端側に形成される凹部に
は粉末ガラスシール材7bが充填されている。従って、
この粉末ガラスシール材7bはセンサ素子1の内部に詰
め込まれているので、その内面に対して被着される。こ
のため、ガラスシール材がセンサ素子1の外面に被着さ
れる第1の実施例の場合よりも、本実施例においてはガ
ラスシール材7bをセンサ素子1に更に一層密着させて
設けることができる。
次に、上述の本実施例に係るセンサプローブを使用して
実際に水素濃度を測定した結果について説明する。
実際に水素濃度を測定した結果について説明する。
この水素濃度測定には第2図に示す構成のセンサプロー
ブを使用した。このセンサブローブノセンサ素子1はS
r Ce O,E15Y b O,0503−Yの組
成を有するペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質
で成形されている。また、このセンサ素子1の外径は4
mm 、内径は2.5mm N長さが20mmである。
ブを使用した。このセンサブローブノセンサ素子1はS
r Ce O,E15Y b O,0503−Yの組
成を有するペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質
で成形されている。また、このセンサ素子1の外径は4
mm 、内径は2.5mm N長さが20mmである。
このセンサ素子1の内面及び外面に白金多孔質電極(基
準極4.測定極3)を900°Cで焼き付けた後、所定
の成分組成に調整した固体基準物質2をセンサ素子1内
に10mmの長さで充填した。
準極4.測定極3)を900°Cで焼き付けた後、所定
の成分組成に調整した固体基準物質2をセンサ素子1内
に10mmの長さで充填した。
そして、線径が0.2■のpt線を通したムライトチッ
プ(セラミックチップ5b)に白金ペースト6を塗付し
てセンサ素子1内に挿入した。このムライトチップの直
径は2mm 、長さは7mmである。
プ(セラミックチップ5b)に白金ペースト6を塗付し
てセンサ素子1内に挿入した。このムライトチップの直
径は2mm 、長さは7mmである。
次いで、組成がNa2O3” B203” S i 0
2の粉末ガラスシール材7bをセンサ素子1内に充填し
た。このガラスシール材7bは熱膨張係数が9.5X
10−8/”Cであり、軟化点が695℃、流動点が8
80℃である。このようにして組み立てたちのを、電気
炉に装入して加熱し、粉末ガラスシール材7bをセンサ
素子1に融着した。この場合に、電気炉における昇温速
度及び降温速度はいずれも5℃/分であり、850℃に
10分間保持した。
2の粉末ガラスシール材7bをセンサ素子1内に充填し
た。このガラスシール材7bは熱膨張係数が9.5X
10−8/”Cであり、軟化点が695℃、流動点が8
80℃である。このようにして組み立てたちのを、電気
炉に装入して加熱し、粉末ガラスシール材7bをセンサ
素子1に融着した。この場合に、電気炉における昇温速
度及び降温速度はいずれも5℃/分であり、850℃に
10分間保持した。
次に、第3図に示すように、センサ素子1の他端部側の
一部を、アルミナ挿入管10の先端部内に挿入し、測定
極3の部分が外部に出るようにして無機接着剤12によ
り固定した。この挿入管10にはその外面に白金ペース
トを焼き付けることにより、センサ素子1の外面の測定
極3に電気的に接続されたプリントリード配線11が形
成されている。また、挿入管10の外径はG、5mm
z内径は4.5mm 、長さは300■である。
一部を、アルミナ挿入管10の先端部内に挿入し、測定
極3の部分が外部に出るようにして無機接着剤12によ
り固定した。この挿入管10にはその外面に白金ペース
トを焼き付けることにより、センサ素子1の外面の測定
極3に電気的に接続されたプリントリード配線11が形
成されている。また、挿入管10の外径はG、5mm
z内径は4.5mm 、長さは300■である。
次に、プラズマ溶射法によりアルミナ挿入管10の外部
に露出している測定極3上にアルミナを被着して厚さが
100μmの多孔質保護層9を形成した。
に露出している測定極3上にアルミナを被着して厚さが
100μmの多孔質保護層9を形成した。
そして、第4図に示すように、管状炉21の炉芯管22
の中央にセンサ素子1が配置されるようにアルミナ挿入
管10を炉芯管22内に挿入設置した。この管状炉21
においては、水素ガスボンベ24及び窒素ガスボンベ2
5から供給される水素ガス及び窒素ガスがガス混合器2
3に一旦集められ、このガス混合器23にて所定の配合
量に混合された後、配管29を介して炉芯管22内に導
入されるようになっている。また、炉芯管22内には熱
電対26が挿入されており、その熱電対26の出力はア
ナライジングレコーダ27に入力されて記録される。こ
れにより、炉芯管22内のセンサ素子1の近傍の温度が
測定されて記録される。
の中央にセンサ素子1が配置されるようにアルミナ挿入
管10を炉芯管22内に挿入設置した。この管状炉21
においては、水素ガスボンベ24及び窒素ガスボンベ2
5から供給される水素ガス及び窒素ガスがガス混合器2
3に一旦集められ、このガス混合器23にて所定の配合
量に混合された後、配管29を介して炉芯管22内に導
入されるようになっている。また、炉芯管22内には熱
電対26が挿入されており、その熱電対26の出力はア
ナライジングレコーダ27に入力されて記録される。こ
れにより、炉芯管22内のセンサ素子1の近傍の温度が
測定されて記録される。
更に、炉芯管22内のガスは炉芯管22の下端部から取
り出されてガスクロマトグラフ分析装置28に供給され
るようになっている。
り出されてガスクロマトグラフ分析装置28に供給され
るようになっている。
このように構成された装置を使用して、水素分圧とセン
サプローブにおける起電力との関係を求めた。但し、管
状炉21により加熱した炉芯管22内の雰囲気温度は8
00℃であり、ガス混合器23により水素量を0.1乃
至100%の範囲で変動させた。
サプローブにおける起電力との関係を求めた。但し、管
状炉21により加熱した炉芯管22内の雰囲気温度は8
00℃であり、ガス混合器23により水素量を0.1乃
至100%の範囲で変動させた。
その結果を第5図に示す。第5図の横軸はガスクロマト
グラフ分析装置28により測定された水素分圧であり、
縦軸はセンサプローブの測定極3と基準極4との間に発
生したガルバニ起電力である。但し、第5図の横軸は対
数目盛りである。雰囲気温度は前述の如<800°Cで
あり、熱電対26により雰囲気温度を検出してその検出
結果を管状炉21の駆動電力の制御にフィードバックす
ることにより、この雰囲気温度を一定に調節した。
グラフ分析装置28により測定された水素分圧であり、
縦軸はセンサプローブの測定極3と基準極4との間に発
生したガルバニ起電力である。但し、第5図の横軸は対
数目盛りである。雰囲気温度は前述の如<800°Cで
あり、熱電対26により雰囲気温度を検出してその検出
結果を管状炉21の駆動電力の制御にフィードバックす
ることにより、この雰囲気温度を一定に調節した。
この第5図から明らかなように、水素分圧の対数と起電
力との間には直線性がよい比例関係が存在する。このた
め、この第5図のように、特定の雰囲気温度における既
知の水素分圧と起電力との関係を予め求めておき、これ
をキャリプレーシロンとすることにより、起電力の測定
値から測定雰囲気中の未知の水素量を測定することがで
きる。
力との間には直線性がよい比例関係が存在する。このた
め、この第5図のように、特定の雰囲気温度における既
知の水素分圧と起電力との関係を予め求めておき、これ
をキャリプレーシロンとすることにより、起電力の測定
値から測定雰囲気中の未知の水素量を測定することがで
きる。
また、本実施例においては、水素量測定と同様にして、
水蒸気濃度未知の測定雰囲気についての水蒸気量測定が
可能であることは勿論である。
水蒸気濃度未知の測定雰囲気についての水蒸気量測定が
可能であることは勿論である。
[発明の効果コ
本発明によれば、高温においても基準極及び固体基準物
質を測定雰囲気から確実にソールすることができるので
、水素又は水蒸気の測定に固体基準物質を使用したセン
サを使用することが可能になり、従来のような基準ガス
を基準物質とするセンサと異なって基準ガスを循環させ
るための装置が不要になり、小型で信頼性が高い挿入式
センサプローブを得ることができる。
質を測定雰囲気から確実にソールすることができるので
、水素又は水蒸気の測定に固体基準物質を使用したセン
サを使用することが可能になり、従来のような基準ガス
を基準物質とするセンサと異なって基準ガスを循環させ
るための装置が不要になり、小型で信頼性が高い挿入式
センサプローブを得ることができる。
また、本発明においては、測定極を被覆する多孔質保護
層が設けられているので、前記測定極の劣化を防止でき
、センサプローブの耐久性を向上させることができると
いう効果も奏する。
層が設けられているので、前記測定極の劣化を防止でき
、センサプローブの耐久性を向上させることができると
いう効果も奏する。
第1図は本発明の実施例に係るセンサプローブを示す断
面図、第2図は同じく本発明の他の実施例に係るセンサ
プローブを示す断面図、第3図はこのセンサプローブが
組み込まれた検出部材を示す側面図、第4図は水素濃度
分析装置を示す模式図、第5図はその水素濃度分析の結
果を示すグラフ図である。 1;センサ素子、2;固体基準物質、3;測定極、 4 ;基準極、 5 a 。 5b:セラミックチップ、 7a。 7b;ガラスシール材、 ;多孔質保護層
面図、第2図は同じく本発明の他の実施例に係るセンサ
プローブを示す断面図、第3図はこのセンサプローブが
組み込まれた検出部材を示す側面図、第4図は水素濃度
分析装置を示す模式図、第5図はその水素濃度分析の結
果を示すグラフ図である。 1;センサ素子、2;固体基準物質、3;測定極、 4 ;基準極、 5 a 。 5b:セラミックチップ、 7a。 7b;ガラスシール材、 ;多孔質保護層
Claims (7)
- (1)ペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質によ
り形成された一端閉塞型のセンサ素子と、このセンサ素
子内に充填されガルバニ起電力の基準となる固体基準物
質と、前記センサ素子の内側面に前記固体基準物質に接
触して形成された基準極と、前記センサ素子の外側面に
形成された測定極と、少なくとも前記測定極を被覆する
多孔質保護層と、前記センサ素子の他端側に設置され前
記固体基準物質及び前記基準極を測定雰囲気から気密的
にシールするシール部とを有し、前記シール部は熱膨張
係数が300乃至800℃の範囲で8.0×10^−^
6乃至10.0×10^−^6/℃であることを特徴と
する挿入式センサプローブ。 - (2)前記シール部は流動点が所定の使用温度以上の緻
密質ガラスシール材であることを特徴とする請求項1に
記載の挿入式センサプローブ。 - (3)ペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質によ
り形成された一端閉塞型のセンサ素子と、このセンサ素
子内に充填されガルバニ起電力の基準となる固体基準物
質と、前記センサ素子の内側面に前記固体基準物質に接
触して形成された基準極と、前記センサ素子の外側面に
形成された測定極と、少なくとも前記測定極を被覆する
多孔質保護層と、前記センサ素子の他端部を閉塞するシ
ール材とを有し、前記シール材はセンサの所定の使用温
度以下の軟化温度を有し、前記使用温度以上の流動点を
有していて、センサ使用時に測定雰囲気により加熱され
ることにより前記センサ素子の他端部に融着して前記固
体基準物質及び前記基準極を測定雰囲気から気密的にシ
ールすることを特徴とする挿入式センサプローブ。 - (4)前記シール材は前記軟化温度以上の温度で緻密質
ガラスになる組成を有することを特徴とする請求項3に
記載の挿入式センサプローブ。 - (5)前記多孔質保護層は厚さが10乃至500μmの
セラミックスからなることを特徴とする請求項1乃至4
のいずれか1項に記載の挿入式センサプローブ。 - (6)前記ペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質
は、ストロンチウムとセリウムとの複合酸化物、バリウ
ムとセリウムとの複合酸化物及びカルシウムとジルコニ
ウムとの複合酸化物からなる群から選択されたいずれか
1種を主成分とすることを特徴とする請求項1乃至5の
いずれか1項に記載の挿入式センサプローブ。 - (7)前記ペロブスカイト型プロトン導電性固体電解質
は、インジウム、スカンジウム、イッテルビウム、マグ
ネシウム、ビスマス、アルミニウム、ガリウム、イット
リウム及びネオジムからなる群から選択された少なくと
も1種の元素を含有することを特徴とする請求項6に記
載の挿入式センサプローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2078316A JPH03276059A (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | 挿入式センサプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2078316A JPH03276059A (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | 挿入式センサプローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03276059A true JPH03276059A (ja) | 1991-12-06 |
Family
ID=13658534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2078316A Pending JPH03276059A (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | 挿入式センサプローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03276059A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016530544A (ja) * | 2013-09-12 | 2016-09-29 | コリア・アドバンスト・インスティテュート・オブ・サイエンス・アンド・テクノロジー | 液体内の溶存水素ガス濃度測定用水素センサ素子およびこれを用いた水素ガス濃度測定方法 |
-
1990
- 1990-03-27 JP JP2078316A patent/JPH03276059A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016530544A (ja) * | 2013-09-12 | 2016-09-29 | コリア・アドバンスト・インスティテュート・オブ・サイエンス・アンド・テクノロジー | 液体内の溶存水素ガス濃度測定用水素センサ素子およびこれを用いた水素ガス濃度測定方法 |
US9977006B2 (en) | 2013-09-12 | 2018-05-22 | Korea Advanced Institute Of Science And Technology | Hydrogen sensor element for measuring concentration of hydrogen gas dissolved in liquid and method for measuring concentration of hydrogen gas using same |
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