JPH03263875A - 量子干渉トランジスタ - Google Patents

量子干渉トランジスタ

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JPH03263875A
JPH03263875A JP6367490A JP6367490A JPH03263875A JP H03263875 A JPH03263875 A JP H03263875A JP 6367490 A JP6367490 A JP 6367490A JP 6367490 A JP6367490 A JP 6367490A JP H03263875 A JPH03263875 A JP H03263875A
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JP
Japan
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channel
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gaas
quit
depletion layer
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Toshiaki Kinosada
紀之定 俊明
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、電子のアハラノフ・ボーム (Aharanov−Bohm; A−B)効果を用い
た量子干渉トランジスタ(Quan、tum Inte
rfere+nce Transistor : Q 
U I T )の特性を改良する構成に関するものであ
る。
〈従来の技術〉 従来の静電A−B効果を用いたQUITの構成について
、第5図を参照して説明する。この第5図(a)は従来
構造のQUITの平崩図であシ、第5図fb)、 fc
lはそれぞれ同図[a)のA−A’、B−B’断面図で
ある。この第5図+blから分るように、ソ分離層24
を介した積層構成で2つのチャンネルM28a、28b
に分離されている。更に、この分離層24上に形成した
GaAsチャンネル層23の上にAfflGaAsの分
離膜25を介してn+GaAsゲート電極26を形成し
た構成である。
以上の構成のQUITの動作は、原理的には次のように
なっている。このソース電極21からチャンネル層を進
行する電子波はゲート部で分離層24により2つに分割
され、その一方はゲート電極26による静電ポテンシャ
ルによって電子波の位相が変調され、ドレイン電極付近
で2つの電子波が合流して、干渉するのでその電子波間
に位相差がない同相のときドレイン電流は極大になシ、
それが逆相のとき極小になる。
以上のようにゲート電圧の制御により相互コンダクタン
スの変調が可能なことから、上記構成によるトランジス
タ動作が可能になる。
上記の構成からQUITは、極めて、低い消費電力で高
速動作するデバイスとして期待され、更にその動作の特
性から種々の分野へ応用が考えられている。
〈発明が解消しようとする課題〉 しかし上記のQUITも現在はそのドレイン電流の変調
特性が悪く、ドレイン電流の最大と最小の差がよくても
10係程度にとど1っていた。この変調特性が悪い原因
として次のことが考えられる。
即ち、前記のQUITの動作で説明したようにA−B効
果によシトレイン電流を100ダ近く変調するためには
、前記の2つに分離されたチャンネル中の電子波にその
チャンネル中で、散乱などによる位相の乱れを生じさせ
ないことが必要である。
以上のためにチャンネル長も充分短くすると共に、電子
波の横方向への拡がシを押えるため、チャンネル幅も充
分狭くした量子fiiB線化を行ない電子波がチャンネ
ルのドレイン方向のみに波動成分をもち、その位相が乱
れないようにして釦く必要がある。
しかし、この細線化には、加工精度の問題から加工損傷
が避けられない反応性イオンエツチング(RIE)等の
異方性エツチングによる微細加工技術を用いていた。従
って、第5図[clにQUITのチャンネル方向に対し
垂直な断面を示したチャンネル幅を量子細線化の効果が
でる5 0 nm程度迄RI Eで加工すると、そのチ
ャンネルの側面28a、28bには加工による結晶欠陥
ができてその結晶欠陥によりチャンネルの電子波が散乱
され、位相を乱すことになる。従って、チャンネル中の
電子波に位相の乱れが生じるのでドレイン近辺で合流し
た2つのチャンネlしの電子波は干渉性が低くなり、そ
の結果としてQUITの変調特性を低くしていた。
本発明は従来のQUITがもつ問題点を解消し静電A−
B効果による高い変調特性のQUITを提供することを
目的としている。
〈課題を解決するための手段〉 本発明では、上記の目的を達成するため、QUITのチ
ャンネ/l/M線化加工によジそのチャンネルの両側面
に生じた加工での結晶欠陥によるチャンネル中の電子波
の散乱を避けるため、細線化加工をしたチャンネルの両
側面に電極を形成して、その電極にチャンネルの中央に
向って空乏層を拡げる電圧を印加しておくものである。
以上で形成された空乏層によpQUITのチャンネ/し
は細線化されたチャンネルの中央部のみを電子波が流れ
ることになり、その電子波は細線化加工による結晶欠陥
の影響は受けなくなう、チャンネル中の電子波の位相は
乱れなくなる。
〈作 用〉 以上で説明したように、本発明はチャンネル中の電子波
の位相を乱す主要因であった。チャンネ/l/M線化加
工によって生じた結晶欠陥1表面率位。
微小凹凸の影響を受けないチャンネルの形成がで、きる
と共に、チャンネルを加工精度以上に細くシた量子化細
線の形成を図ることができ、チャンネル中で干渉性が低
下しない、特性のよいQUITを得ることができる。
〈実施例〉 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図に示したのは、本発明による静電A−B効果のQ
UITの基本構造を示す一実施例である。
この第1図(a)は実施例のQUITの平面図で、この
図のQUITのチャンネルに垂直なA−A’断何と、チ
ャンネルに沿ったB−B’断面図を、この第1図の(b
)と(c)に示した。この第1図から分るように、本実
施例のQUITは、従来のものと同じ動作原理である。
上記の本発明の実施例のチャンネル沿ったその中央部の
断面図を示した第1図[b)は、従来例で示した第5図
(blと同じである;この実施例では、第1図fclに
示した断面構成のように、半絶縁性GaAs基板10に
形成されている。このGaAs基板10にAJGaAs
層17、GaAs層13a1AJGaAs層14、Ga
As層18 b、 /1fflGaAs層15、及びn
十GaAs層16が順次積層された構成である。但し、
以上のうちAJGaAs層14を2つのチャンネル層で
あるGaAs層18a及びisbに分離する埋込み層に
なっている。従ってソース電極11からの電子は一度チ
ヤンネル層18aと18bに分割されて通った後、ドレ
イン電極12に流れ込む。又、本発明の特徴である空乏
層の形成でチャンネル幅を狭窄して細線化する空乏層電
極19a及び19bは、第1図(al、及びfc)に示
したようにチャンネルの両側匍に形成されている。この
空乏層電極19a及び19bによシチャンネル部の側面
から負バイアヌを印加することで、第1図fa)又は(
c)に示した空乏層18a及び18bがそれぞれ拡がっ
て、チャンネルの量子細線がバイアス電圧値により形成
されると共に、構造的にもチャンネル形成の加工での結
晶欠陥による電子波の散乱源には空乏層の形成で電子が
流れなくなるので、電子波の位相が乱されることがなく
な、9、QUITの特性向上を図ることになる。
続いて、上記実施例のQUITの製造工程について説明
する。先ず第2図に示したように半絶縁性GaAs基板
10に、MBE(分子線成長法)又は、MOCVD(有
機金属気相成長法)などによシアンドープAj!GaA
s層17を250nm。
r)−GaAs層18a(Si ドープ、2X10”c
gl−3)を20 nm%アンドープAJG a A 
s層14を20nmの膜厚にして順次積層して成長させ
る。
次に、第3図に示したように、第2図で示した最上層の
A1GaAs層14を選択的にエツチングして電子分離
層14を成形した上、更に、n−GaAs層18b(S
iドープ、2X1016fi−3)を20 nm1アン
ドープAfflG a A s層15を50 nmS 
n十−GaAs層16’  (Si  ドープ、5xx
ox”m−3)を200 nmの膜厚にして積層して成
長させる。続いて、第4図talに平面図を示したよう
にQUITを形成する部分以外は、前記第2図と第8図
で説明した成長層を、RIE等で除去した上、更に最上
層のn+−GaAs層16′をA−B効果の静電ポテン
シャルを印加するゲート電極16の形状に加工している
。この第4図faJのA−A’断面図とB−B断面図を
、それぞれ同図のfblと[c)に示している。更に続
いて、第1図falとfblに示されたソース領域11
とドレイン領域12をSiイオンの選択的注入と、その
活性化熱処理によ−て形成する。次に、成形したチャン
ネルの両側楠にA7!等のショットキ接合を形成する金
属膜を蒸着し空乏層電極19a及び19bを形成する。
最後にソース11.ドレイン12及びゲート16に図示
しないオーミ・り接合を形成するAu−Ge系などの金
属の蒸着と合金化熱処理及びリード線のボンディングな
どでQUITの作製が完了する。
な訃、以上で説明した空乏層電極部にはショットキー接
合を用いたが、pn接合のゲートにしてもよい。即ち、
実施例のチャンネル部の両側面にp層をイオン注入法で
形成し、チャンネル部との間にpn接合を形成し、形成
したp層上に作製した電極19a及び19bによって、
前記のpn接合に逆バイアスを印加することでそのpn
接合からの空乏層をチャンネル中央の方向に拡げること
で、チャンネルの量子細線化を行なうものである。
以上実施例での説明からも分るように、本発明は、チャ
ンネルの微細化加工によって生じた結晶の欠陥部を空乏
層化することで、チャンネル内の電子波に影響させない
構成にすると共に、チャンネル幅をバイアスの電圧値に
よ−て任意に制御することで、QUITの特性を向上さ
せるものである。
〈発明の効果〉 以上で説明したように、本発明による静電へ−B効果の
QUITはチャンネル形成による結晶欠陥に影響されな
いよう空乏層に挾筐れて軸線化されたチャンネルの中央
部、を電子が走行するので、チャンネル中で電子波が散
乱されないからドレイン郁での電子波の干渉がよシ完全
に行なわれる。
従って、ドレイン電流変調特性がよいQUITにするこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のQUITの基本的な実施例の構成図、
第2図、第8図及び第4図は実施例のQUITの製造工
程を示す図、第5図は従来のQUITの構成図である。 10・・・基板、11.21・・・ソース、12゜22
・・・ドレイン、18.28・・・チャンネ1VFtl
、14゜24・・・分離層、15.17.25.27・
・・分離膜、16.26・・・ゲート電極、18・・・
空乏層、28・・・チャンネル側面、19・・・空乏層
電極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1分離層を介した積層構成で2つに分離した部分のチャ
    ンネル部上に、上層のチャンネルの電子波の位相を制御
    する静電ポテンシャルを印加するゲート電極を設けると
    共に、前記積層構成のチャンネル部の両側面に電圧印加
    による空乏層の形成でチャンネル幅を細線化する空乏層
    電極を設けたことを特徴とする量子干渉トランジスタ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06244211A (ja) * 1993-02-12 1994-09-02 Nec Corp 半導体装置

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JPH06244211A (ja) * 1993-02-12 1994-09-02 Nec Corp 半導体装置

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