JPH0325815B2 - - Google Patents
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- JPH0325815B2 JPH0325815B2 JP59268089A JP26808984A JPH0325815B2 JP H0325815 B2 JPH0325815 B2 JP H0325815B2 JP 59268089 A JP59268089 A JP 59268089A JP 26808984 A JP26808984 A JP 26808984A JP H0325815 B2 JPH0325815 B2 JP H0325815B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error
- processing
- jcl
- section
- test program
- Prior art date
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 52
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0706—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野）
本発明は、マイクロテストプログラムによる試
験処理方式、特にマイクロテストプログラムで検
出したエラーの情報に関する処理を、モニタの管
理下で行うことにより、エラー出力形式の統一お
よびロギング処理を可能としたマイクロテストプ
ログラムによる試験処理方式に関するものであ
る。
験処理方式、特にマイクロテストプログラムで検
出したエラーの情報に関する処理を、モニタの管
理下で行うことにより、エラー出力形式の統一お
よびロギング処理を可能としたマイクロテストプ
ログラムによる試験処理方式に関するものであ
る。
一般に、データ処理装置において各種ハードウ
エアの試験を行うとき、モニタプログラムの制御
の下に、いわゆるマイロ命令を用いて作成された
テストプログラムにより試験を行う場合と、スー
パバイザやモニタプログラムとは独立に、マイク
ロ命令を用いて作成されたマイクロテストプログ
ラムにより試験を行う場合とがある。
エアの試験を行うとき、モニタプログラムの制御
の下に、いわゆるマイロ命令を用いて作成された
テストプログラムにより試験を行う場合と、スー
パバイザやモニタプログラムとは独立に、マイク
ロ命令を用いて作成されたマイクロテストプログ
ラムにより試験を行う場合とがある。
従来、マイクロテストプログラムにより試験を
行う場合、マイクロテストプログラムは、スーパ
バイザおよびモニタプログラムの制御をうけない
で、直接的にハードウエアを診断するため、診断
からエラー処理まで、マイクロテストプログラム
自身が独自に処理する必要があつた。そのため、
モニタプログラムの管理下で試験を行う場合と、
マイクロテストプログラムにより試験を行う場合
とでは、エラー情報の出力形式が異なり、エラー
出力形式の統一性に欠くという問題があつた。
行う場合、マイクロテストプログラムは、スーパ
バイザおよびモニタプログラムの制御をうけない
で、直接的にハードウエアを診断するため、診断
からエラー処理まで、マイクロテストプログラム
自身が独自に処理する必要があつた。そのため、
モニタプログラムの管理下で試験を行う場合と、
マイクロテストプログラムにより試験を行う場合
とでは、エラー情報の出力形式が異なり、エラー
出力形式の統一性に欠くという問題があつた。
また、磁気デイスク装置やフロツピイ・デイス
ク装置等の外部記憶装置へのエラー情報のロギン
グ処理は、モニタプログラムの制御下でないと実
行できないため、例えば通電試験等、マイクロテ
ストプログラムにより長時間ランニングする試験
を行う場合には、検出されたエラー情報の保存が
できず、試験に支障をきたすという問題があつ
た。
ク装置等の外部記憶装置へのエラー情報のロギン
グ処理は、モニタプログラムの制御下でないと実
行できないため、例えば通電試験等、マイクロテ
ストプログラムにより長時間ランニングする試験
を行う場合には、検出されたエラー情報の保存が
できず、試験に支障をきたすという問題があつ
た。
本発明は、スーパバイザおよびモニタのプログ
ラムによる処理機能を停止し、マイクロテストプ
ログラムにより試験を実行している際に、スーパ
バイザおよびモニタのプログラムが、メモリ上に
残存していることに着目し、マイクロテストプロ
グラムにより検出したエラー情報に関するエラー
処理およびロギング処理については、マイクロテ
ストプログラム実行の延長上で、モニタのプログ
ラムにより実行することにより、上記問題点の解
決を図つている。即ち、本発明のマイクロテスト
プログラムによる試験処理方式は、エラー処理用
マクロ命令によつて起動されるエラー処理部と、
ログ情報をロギング格納フアイルに格納するロギ
ング処理部とを有するモニタを備えた処理装置に
おいて、マイクロテストプログラムにより、割込
み禁止状態にして上記モニタの制御とは独立にテ
ストを実行し、エラーを検出するテスト実行部
と、指定されたマイクロテストプログラムをロー
ドし上記テスト実行部を起動する起動部とを備
え、上記テスト実行部は、エラー検出時に当該エ
ラー情報を所定の領域に設定し、該領域のアドレ
スを指定して上記エラー処理用マクロ命令を発行
することにより、上記モニタ管理下において動作
するプログラムが出力するエラー情報の出力形式
と同じ出力形式で、上記エラー処理部にエラー情
報を出力させるように構成されていることを特徴
とするもである。以下、図面を参照しつつ、実施
例に従つて説明する。
ラムによる処理機能を停止し、マイクロテストプ
ログラムにより試験を実行している際に、スーパ
バイザおよびモニタのプログラムが、メモリ上に
残存していることに着目し、マイクロテストプロ
グラムにより検出したエラー情報に関するエラー
処理およびロギング処理については、マイクロテ
ストプログラム実行の延長上で、モニタのプログ
ラムにより実行することにより、上記問題点の解
決を図つている。即ち、本発明のマイクロテスト
プログラムによる試験処理方式は、エラー処理用
マクロ命令によつて起動されるエラー処理部と、
ログ情報をロギング格納フアイルに格納するロギ
ング処理部とを有するモニタを備えた処理装置に
おいて、マイクロテストプログラムにより、割込
み禁止状態にして上記モニタの制御とは独立にテ
ストを実行し、エラーを検出するテスト実行部
と、指定されたマイクロテストプログラムをロー
ドし上記テスト実行部を起動する起動部とを備
え、上記テスト実行部は、エラー検出時に当該エ
ラー情報を所定の領域に設定し、該領域のアドレ
スを指定して上記エラー処理用マクロ命令を発行
することにより、上記モニタ管理下において動作
するプログラムが出力するエラー情報の出力形式
と同じ出力形式で、上記エラー処理部にエラー情
報を出力させるように構成されていることを特徴
とするもである。以下、図面を参照しつつ、実施
例に従つて説明する。
第１図は本発明の一実施例構成、第２図は第１
図図示テスト実行部による処理を説明する図を示
す。
図図示テスト実行部による処理を説明する図を示
す。
図中、１は読出し専用メモリ（ROM）等に格
納された命令からなるIPL制御部、２はスーパバ
イザ、３はプログラムの実行管理を行うモニタ、
４はジヨブ制御言語（JCL）を解読するJCL解読
部、５は実行中のJCLをポイントするポインタ、
６はJCLを実行するJCL実行部、７はJCLがマイ
クロテストプログラムの実行を指示するものであ
るときマイクロテストプログラムを起動するマイ
クロテストプログラム起動部、８はJCLがロギン
グ情報の取得を指示するものであるときエラー情
報のログを指示するログ指示部、９はロギングす
るか否かを示すログ・フラグ、１０はエラー情報
の表示を行うエラー処理部、１１はロギングを実
行するロギング処理部、１２はJCLを記憶する
JCL記憶部、１３はマイクロテストプログラムが
格納されたマイクロテストプログラム格納部、１
４はマイクロテストプログラムを実行するテスト
実行部、１５はマイクロ命令によつて記述された
マイクロテストプログラム、１６は割込みによつ
てエラー処理部１０を起動するEMSG（Error
Message）マクロ命令、１７はテスト結果による
エラー情報が設定されるエラー情報記憶部、１８
はコンソール・デイスプレイ、１９はロギング格
納フアイル、Ｊ１ないしＪ７はジヨブ制御言語
（JCL）を表わす。
納された命令からなるIPL制御部、２はスーパバ
イザ、３はプログラムの実行管理を行うモニタ、
４はジヨブ制御言語（JCL）を解読するJCL解読
部、５は実行中のJCLをポイントするポインタ、
６はJCLを実行するJCL実行部、７はJCLがマイ
クロテストプログラムの実行を指示するものであ
るときマイクロテストプログラムを起動するマイ
クロテストプログラム起動部、８はJCLがロギン
グ情報の取得を指示するものであるときエラー情
報のログを指示するログ指示部、９はロギングす
るか否かを示すログ・フラグ、１０はエラー情報
の表示を行うエラー処理部、１１はロギングを実
行するロギング処理部、１２はJCLを記憶する
JCL記憶部、１３はマイクロテストプログラムが
格納されたマイクロテストプログラム格納部、１
４はマイクロテストプログラムを実行するテスト
実行部、１５はマイクロ命令によつて記述された
マイクロテストプログラム、１６は割込みによつ
てエラー処理部１０を起動するEMSG（Error
Message）マクロ命令、１７はテスト結果による
エラー情報が設定されるエラー情報記憶部、１８
はコンソール・デイスプレイ、１９はロギング格
納フアイル、Ｊ１ないしＪ７はジヨブ制御言語
（JCL）を表わす。
IPL制御部１は、電源投入時やシステムリセツ
ト時に制御が移行され、システムの立ち上げを実
行制御するものである。スーパバイザ２は、いわ
ゆる特権モードで動作するシステムの制御部であ
る。モニタ３は、マクロ命令によつてシステムの
動作を監視し、応用プログラムの管理、制御を行
うプログラム群からなるものである。応用プログ
ラムは、例えばJCLまたはコマンドによつて指定
される。なお、以下の説明においてJCLという場
合、コマンドが含まれるものとする。
ト時に制御が移行され、システムの立ち上げを実
行制御するものである。スーパバイザ２は、いわ
ゆる特権モードで動作するシステムの制御部であ
る。モニタ３は、マクロ命令によつてシステムの
動作を監視し、応用プログラムの管理、制御を行
うプログラム群からなるものである。応用プログ
ラムは、例えばJCLまたはコマンドによつて指定
される。なお、以下の説明においてJCLという場
合、コマンドが含まれるものとする。
JCL解読部４は、実行指示されたJCLを解読
し、解続結果に従つてJCL実行部６を呼び出す処
理を実行するものである。ポインタ５は、JCL記
憶部１２に記憶されているJCLに対する指示情報
を保持するものである。JCL実行部６は、JCL解
読部４が解読したJCLを実行するものである。
し、解続結果に従つてJCL実行部６を呼び出す処
理を実行するものである。ポインタ５は、JCL記
憶部１２に記憶されているJCLに対する指示情報
を保持するものである。JCL実行部６は、JCL解
読部４が解読したJCLを実行するものである。
JCLがマイクロテストプログラムの実行を指示
しているとき、マイクロテストプログラム起動部
７が起動される。マイクロテストプログラム起動
部７は、指定されたマイクロテストプログラムを
マイクロテストプログラム格納部１３からロード
し、テスト実行部１４を起動する処理を実行する
ものである。
しているとき、マイクロテストプログラム起動部
７が起動される。マイクロテストプログラム起動
部７は、指定されたマイクロテストプログラムを
マイクロテストプログラム格納部１３からロード
し、テスト実行部１４を起動する処理を実行する
ものである。
JCLがロギング情報の取得を指示するものであ
れば、ログ指示部８が起動される。ログ指示部８
は、ログ・フラグ９を“１”にすることにより、
エラー情報のロギングを指示する。
れば、ログ指示部８が起動される。ログ指示部８
は、ログ・フラグ９を“１”にすることにより、
エラー情報のロギングを指示する。
エラー処理部１０は、EMSGマクロ命令１６
によつて指示されたエラー情報を、コンソール・
デイスプレイ１８等に出力する処理を実行するも
のである。EMSGマクロ命令１６は、通常、モ
ニタ３の管理下によるプログラムによつて発行さ
れるが、本発明の場合、マイクロテストプログラ
ム１５によつても発行されるようになつている。
エラー処理部１０は、エラー情報をコンソール・
デイスプレイ１８に表示した後、ログ・フラグ９
を参照し、ログ・フラグ９が“１”であれば、ロ
ギング処理部１１を起動し、ログ・フラグ９が
“０”であれば、IPL制御部１に制御を移行する。
によつて指示されたエラー情報を、コンソール・
デイスプレイ１８等に出力する処理を実行するも
のである。EMSGマクロ命令１６は、通常、モ
ニタ３の管理下によるプログラムによつて発行さ
れるが、本発明の場合、マイクロテストプログラ
ム１５によつても発行されるようになつている。
エラー処理部１０は、エラー情報をコンソール・
デイスプレイ１８に表示した後、ログ・フラグ９
を参照し、ログ・フラグ９が“１”であれば、ロ
ギング処理部１１を起動し、ログ・フラグ９が
“０”であれば、IPL制御部１に制御を移行する。
ロギング処理部１１は、例えば磁気デイスク装
置やフロツピイ・デイスク装置等のシステム常駐
ボリユームに確保されたロギング格納フアイル１
９に、エラー情報を記録する処理を実行するもの
である。
置やフロツピイ・デイスク装置等のシステム常駐
ボリユームに確保されたロギング格納フアイル１
９に、エラー情報を記録する処理を実行するもの
である。
JCL記憶部１２は、JCLが格納されているメモ
リである。第１図に示されているJCL Ｊ１は、
ログの取得を指示する制御文である。JCL Ｊ２
は、「TEST1」というプログラム名を持つプログ
ラムをメモリ上にロードすることを指示する制御
文である。JCL Ｊ３は、ロードしたプログラム
の実行開始を指示する制御文である。
リである。第１図に示されているJCL Ｊ１は、
ログの取得を指示する制御文である。JCL Ｊ２
は、「TEST1」というプログラム名を持つプログ
ラムをメモリ上にロードすることを指示する制御
文である。JCL Ｊ３は、ロードしたプログラム
の実行開始を指示する制御文である。
JCL Ｊ４は、「MTEST」という名前を持つマ
イクロテストプログラムを用意することを指示す
る制御文である。この制御文によつて、マイクロ
テストプログラム起動部７は、マイクロテストプ
ログラム格納部１３からマイクロテストプログラ
ム１５のロードを行う。起動は、続くJCL Ｊ５
によつてなされる。
イクロテストプログラムを用意することを指示す
る制御文である。この制御文によつて、マイクロ
テストプログラム起動部７は、マイクロテストプ
ログラム格納部１３からマイクロテストプログラ
ム１５のロードを行う。起動は、続くJCL Ｊ５
によつてなされる。
JCL Ｊ６およびJCL Ｊ７は、JCL Ｊ２およ
びJCL Ｊ３とそれぞれ同様な制御文である。
びJCL Ｊ３とそれぞれ同様な制御文である。
マイクロテストプログラム起動部７によつて起
動されるテスト実行部１４は、マイクロテストプ
ログラム１５によつて、ハードウエアの各種診断
試験を行うが、マイクロテストプログラム１５は
マイクロ命令によつて作成されており、そのマイ
クロ命令はモニタ３とは独立に実行される。
動されるテスト実行部１４は、マイクロテストプ
ログラム１５によつて、ハードウエアの各種診断
試験を行うが、マイクロテストプログラム１５は
マイクロ命令によつて作成されており、そのマイ
クロ命令はモニタ３とは独立に実行される。
次に、第１図図示実施例についての処理動作に
ついて説明する。
ついて説明する。
JCL解読部４は、ポインタ５に従つてJCL記憶
部１２からJCL Ｊ１を読み出し、解読する。そ
の結果、ログ指示部８が起動され、ログ・フラグ
９が“１”にセツトされる。ポインタ５は、JCL
の解釈・実行毎に逐次更新される。
部１２からJCL Ｊ１を読み出し、解読する。そ
の結果、ログ指示部８が起動され、ログ・フラグ
９が“１”にセツトされる。ポインタ５は、JCL
の解釈・実行毎に逐次更新される。
次に、JCL解読部４によつてJCL Ｊ２が解読
され、その解読結果に従つて、JCL実行部６は、
プログラム「TEST1」をロードし、次のJCL Ｊ
３により、そのプログラムを実行開始する。この
プログラムによるテストは、通常の応用プログラ
ムと同様に、モニタ３の管理下において実行さ
れ、エラーが検出されれば、エラー処理部１０に
より、エラー処理がなされ、ロギング処理部１１
によつて、エラー情報がロギング格納フアイル１
９に記録される。
され、その解読結果に従つて、JCL実行部６は、
プログラム「TEST1」をロードし、次のJCL Ｊ
３により、そのプログラムを実行開始する。この
プログラムによるテストは、通常の応用プログラ
ムと同様に、モニタ３の管理下において実行さ
れ、エラーが検出されれば、エラー処理部１０に
より、エラー処理がなされ、ロギング処理部１１
によつて、エラー情報がロギング格納フアイル１
９に記録される。
プログラム「TEST1」の実行終了後に、JCL
Ｊ４が解読されると、マイクロテストプログラム
起動部７が起動される。マイクロテストプログラ
ム起動部７は、マイクロテストプログラム格納部
１３からマイクロテストプログラム１５をロード
し、次のJCL Ｊ５により、テスト実行部１４へ
制御を移行し、マイクロテストプログラム１５に
よるテストの実行を開始する。
Ｊ４が解読されると、マイクロテストプログラム
起動部７が起動される。マイクロテストプログラ
ム起動部７は、マイクロテストプログラム格納部
１３からマイクロテストプログラム１５をロード
し、次のJCL Ｊ５により、テスト実行部１４へ
制御を移行し、マイクロテストプログラム１５に
よるテストの実行を開始する。
テスト実行部１４は、マイクロテストプログラ
ム１５により、例えば第２図に示すように処理す
る。まず、第２図図示処理Ｐ１により、割込みマ
スクをセツトし、スーパバイザ２およびモニタ３
の処理機能を停止させる。次に処理Ｐ２により、
所定のマイクロ命令を実行しハードウエアのテス
トを行う。処理Ｐ３の判定により、テストの実行
において異常が生じたことが検出されたならば、
処理Ｐ４によつて、そのエラーに関する情報をエ
ラー情報記憶部１７に設定する。
ム１５により、例えば第２図に示すように処理す
る。まず、第２図図示処理Ｐ１により、割込みマ
スクをセツトし、スーパバイザ２およびモニタ３
の処理機能を停止させる。次に処理Ｐ２により、
所定のマイクロ命令を実行しハードウエアのテス
トを行う。処理Ｐ３の判定により、テストの実行
において異常が生じたことが検出されたならば、
処理Ｐ４によつて、そのエラーに関する情報をエ
ラー情報記憶部１７に設定する。
ここで従来方式によれば、スーパバイザ２およ
びモニタ３の処理機能は停止しているので、テス
ト実行部１４がマイクロテストプログラム１５に
より、すべてエラー情報の処理をしなければなら
なかつた。本発明の場合、スーパバイザ２および
モニタ３がメモリ上に残つていることに着目し、
モニタ３を利用してエラー処理を行うようにされ
る。そのため、処理Ｐ５により、割込みマスクを
リセツトし、処理Ｐ３により、エラー情報記憶部
１７の先頭アドレスを指示して、EMSGマクロ
命令１６を発行する。これによつて、割込みが発
生し、予め割込みの制御移行先として登録された
エラー処理部１０への制御移行がなされる。
びモニタ３の処理機能は停止しているので、テス
ト実行部１４がマイクロテストプログラム１５に
より、すべてエラー情報の処理をしなければなら
なかつた。本発明の場合、スーパバイザ２および
モニタ３がメモリ上に残つていることに着目し、
モニタ３を利用してエラー処理を行うようにされ
る。そのため、処理Ｐ５により、割込みマスクを
リセツトし、処理Ｐ３により、エラー情報記憶部
１７の先頭アドレスを指示して、EMSGマクロ
命令１６を発行する。これによつて、割込みが発
生し、予め割込みの制御移行先として登録された
エラー処理部１０への制御移行がなされる。
エラー処理部１０は、エラー情報記憶部１７か
らエラー情報を読み出し、所定の出力形式に従つ
て、エラー・メツセージを作成し、コンソール・
デイスプレイにエラー情報を表示する。そして、
ログ・フラグ９の“０”／“１”を判定する。ロ
グ・フラグ９が“０”であれば、エラー処理終了
後にIPL制御部１に制御を渡し、再IPLを行うが、
ログ・フラグ９が“１”であれば、ロギング処理
部１１を呼び出す。
らエラー情報を読み出し、所定の出力形式に従つ
て、エラー・メツセージを作成し、コンソール・
デイスプレイにエラー情報を表示する。そして、
ログ・フラグ９の“０”／“１”を判定する。ロ
グ・フラグ９が“０”であれば、エラー処理終了
後にIPL制御部１に制御を渡し、再IPLを行うが、
ログ・フラグ９が“１”であれば、ロギング処理
部１１を呼び出す。
ロギング処理部１１は、エラー処理部１０から
引き渡されたエラー処理を所定のロギング格納フ
アイル１９に格納し、ロギング終了後に、IPL制
御部１へ制御を渡す。なお、第２図図示Ｐ３の判
定において、エラーが検出されない場合には、必
要に応じてその旨の表示を行い、マイクロテスト
プログラム１５から直接、IPL制御部１へ制御を
渡す。
引き渡されたエラー処理を所定のロギング格納フ
アイル１９に格納し、ロギング終了後に、IPL制
御部１へ制御を渡す。なお、第２図図示Ｐ３の判
定において、エラーが検出されない場合には、必
要に応じてその旨の表示を行い、マイクロテスト
プログラム１５から直接、IPL制御部１へ制御を
渡す。
これにより、再スーパバイザ２およびモニタ３
が動作し、ハードウエアが初期状態に再設定さ
れ、通常のプログラムによるテストが、同様に続
けられることとなる。
が動作し、ハードウエアが初期状態に再設定さ
れ、通常のプログラムによるテストが、同様に続
けられることとなる。
〔発明の効果〕
以上説明した如く、本発明によれば、マイクロ
テストプログラムから、モニタの処理機能として
用意されたエラー処理部を呼び出すことにより、
エラー情報の出力形式を、通常のマクロ命令によ
る出力形式と統一させて表示することが可能にな
る。また、ロギング処理も自動的に実行させるこ
とができるので、通電試験等の長時間ランニング
試験等において、エラー情報を整理して保存する
ことが可能になる。さらにまた、マイクロテスト
プログラムの開発が容易になるという効果もあ
る。
テストプログラムから、モニタの処理機能として
用意されたエラー処理部を呼び出すことにより、
エラー情報の出力形式を、通常のマクロ命令によ
る出力形式と統一させて表示することが可能にな
る。また、ロギング処理も自動的に実行させるこ
とができるので、通電試験等の長時間ランニング
試験等において、エラー情報を整理して保存する
ことが可能になる。さらにまた、マイクロテスト
プログラムの開発が容易になるという効果もあ
る。
第１図は本発明の一実施例構成、第２図は第１
図図示テスト実行部による処理を説明する図を示
す。 図中、１はIPL制御部、２はスーパバイザ、３
はモニタ、４はJCL解読部、５はポインタ、６は
JCL実行部、７はマイクロテストプログラム起動
部、８はログ指示部、９はログ・フラグ、１０は
エラー処理部、１１はロギング処理部、１２は
JCL記憶部、１３はマイクロテストプログラム格
納部、１４はテスト実行部、１５はマイクロテス
トプログラム、１６はEMSGマクロ命令、１７
はエラー情報記憶部、１８はコンソール・デイス
プレイ、１９はロギング格納フアイル、Ｊ１ない
しＪ７はジヨブ制御言語を表す。
図図示テスト実行部による処理を説明する図を示
す。 図中、１はIPL制御部、２はスーパバイザ、３
はモニタ、４はJCL解読部、５はポインタ、６は
JCL実行部、７はマイクロテストプログラム起動
部、８はログ指示部、９はログ・フラグ、１０は
エラー処理部、１１はロギング処理部、１２は
JCL記憶部、１３はマイクロテストプログラム格
納部、１４はテスト実行部、１５はマイクロテス
トプログラム、１６はEMSGマクロ命令、１７
はエラー情報記憶部、１８はコンソール・デイス
プレイ、１９はロギング格納フアイル、Ｊ１ない
しＪ７はジヨブ制御言語を表す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ エラー処理用マクロ命令によつて起動される
エラー処理部と、ログ情報をロギング格納フアイ
ルに格納するロギング処理部とを有するモニタを
備えた処理装置において、 マイクロテストプログラムにより、割込み禁止
状態にして上記モニタの制御とは独立にテストを
実行し、エラーを検出するテスト実行部と、 指定されたマイクロテストプログラムをロード
し上記テスト実行部を起動する起動部とを備え、 上記テスト実行部は、エラー検出時に当該エラ
ー情報を所定の領域に設定し、該領域のアドレス
を指定して上記エラー処理用マクロ命令を発行す
ることにより、上記モニタ管理下において動作す
るプログラムが出力するエラー情報の出力形式と
同じ出力形式で、上記エラー処理部にエラー情報
を出力させるよう構成されている ことを特徴とするマイクロテストプログラムによ
る試験処理方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59268089A JPS61145651A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | マイクロテストプログラムによる試験処理方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59268089A JPS61145651A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | マイクロテストプログラムによる試験処理方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61145651A JPS61145651A (ja) | 1986-07-03 |
| JPH0325815B2 true JPH0325815B2 (ja) | 1991-04-09 |
Family
ID=17453731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59268089A Granted JPS61145651A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | マイクロテストプログラムによる試験処理方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61145651A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63278153A (ja) * | 1987-05-09 | 1988-11-15 | Fujitsu Ltd | 保守情報収集装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54140846A (en) * | 1978-04-24 | 1979-11-01 | Toshiba Corp | Micro-diagnostic system |
| JPS59146341A (ja) * | 1983-02-09 | 1984-08-22 | Hitachi Ltd | Ｏｓのマイクロプログラム制御方式 |
-
1984
- 1984-12-18 JP JP59268089A patent/JPS61145651A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54140846A (en) * | 1978-04-24 | 1979-11-01 | Toshiba Corp | Micro-diagnostic system |
| JPS59146341A (ja) * | 1983-02-09 | 1984-08-22 | Hitachi Ltd | Ｏｓのマイクロプログラム制御方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61145651A (ja) | 1986-07-03 |
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