JPH06332744A - 情報処理装置の試験方法 - Google Patents
情報処理装置の試験方法Info
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- JPH06332744A JPH06332744A JP5116700A JP11670093A JPH06332744A JP H06332744 A JPH06332744 A JP H06332744A JP 5116700 A JP5116700 A JP 5116700A JP 11670093 A JP11670093 A JP 11670093A JP H06332744 A JPH06332744 A JP H06332744A
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- information
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 電源投入時にオフィスプロセッサに接続する
周辺装置，通信装置の正常性および使用可否の確認の試
験を自動的に行う。 【構成】 ＢＵＭ（バッテリ・バックアップメモリ）２
０に記録されているパッケージ状態情報２２を解析する
パッケージ状態情報解析手段１０と、その結果に従い試
験プログラムの起動を順番にスケジューリングする試験
プログラムスケジューリング手段１１と、試験プログラ
ムをロードする試験プログラムロード手段１２と、試験
に必要な情報を与える試験情報提供手段１３と、試験実
行手段１４と、試験結果を表示する試験結果表示手段１
５とから構成される。これにより、運用開始前にシステ
ム全体の正常性の確認ができると共に、運用中に障害が
発生時には、システム構成の変更状況や過去の電源投入
時の異常の有無から障害の発生原因の解明のための有力
な情報を得る。
周辺装置，通信装置の正常性および使用可否の確認の試
験を自動的に行う。 【構成】 ＢＵＭ（バッテリ・バックアップメモリ）２
０に記録されているパッケージ状態情報２２を解析する
パッケージ状態情報解析手段１０と、その結果に従い試
験プログラムの起動を順番にスケジューリングする試験
プログラムスケジューリング手段１１と、試験プログラ
ムをロードする試験プログラムロード手段１２と、試験
に必要な情報を与える試験情報提供手段１３と、試験実
行手段１４と、試験結果を表示する試験結果表示手段１
５とから構成される。これにより、運用開始前にシステ
ム全体の正常性の確認ができると共に、運用中に障害が
発生時には、システム構成の変更状況や過去の電源投入
時の異常の有無から障害の発生原因の解明のための有力
な情報を得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置の試験方
法に関し、特にオフィスプロセッサのように基本処理装
置内に入出力制御パッケージを備え、それに各種の周辺
装置や通信装置を接続して動作の制御が行われていると
きの、電源投入時における自動試験の実行方法に関す
る。
法に関し、特にオフィスプロセッサのように基本処理装
置内に入出力制御パッケージを備え、それに各種の周辺
装置や通信装置を接続して動作の制御が行われていると
きの、電源投入時における自動試験の実行方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に、オフィスプロセッサは、その内
部にＣＰＵパッケージや、入出力制御パッケージ（以
下、Ｉ／Ｏ制御パッケージという）を実装するスロット
を備えており、各スロットはバスで接続されている。
部にＣＰＵパッケージや、入出力制御パッケージ（以
下、Ｉ／Ｏ制御パッケージという）を実装するスロット
を備えており、各スロットはバスで接続されている。
【０００３】従来の試験方法では、電源投入時に、オフ
ィスプロセッサの各スロットに実装されている周辺機器
や通信装置を制御するＩ／Ｏ制御パッケージの種類を判
定し、そのＩ／Ｏ制御パッケージ上にあるディップスイ
ッチの設定状況を読み取って割り込みレベルを判断し、
また、そのＩ／Ｏ制御パッケージ上に搭載しているＲＯ
Ｍのレビジョンを読み出し、これらの情報をバッテリ・
バックアップメモリ（以下、ＢＵＭという）に書き込ん
でいた。
ィスプロセッサの各スロットに実装されている周辺機器
や通信装置を制御するＩ／Ｏ制御パッケージの種類を判
定し、そのＩ／Ｏ制御パッケージ上にあるディップスイ
ッチの設定状況を読み取って割り込みレベルを判断し、
また、そのＩ／Ｏ制御パッケージ上に搭載しているＲＯ
Ｍのレビジョンを読み出し、これらの情報をバッテリ・
バックアップメモリ（以下、ＢＵＭという）に書き込ん
でいた。
【０００４】そして、Ｉ／ＯアドレスをＩ／Ｏパッケー
ジを実装するスロットに対して割り当てることにより、
オフィスプロセッサにどのような装置の制御パッケージ
が実装され、その制御パッケージレビジョンがいくつで
あるか、また、割り込みレベルがどのように設定され、
そのＩ／Ｏアドレスがいくつであるかなどの情報を得て
いた。
ジを実装するスロットに対して割り当てることにより、
オフィスプロセッサにどのような装置の制御パッケージ
が実装され、その制御パッケージレビジョンがいくつで
あるか、また、割り込みレベルがどのように設定され、
そのＩ／Ｏアドレスがいくつであるかなどの情報を得て
いた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の試験方
法では、オフィスプロセッサに実装されているパッケー
ジの種類と状態はわかるが、それらが制御する周辺装置
や通信装置が、実際に正常に動作するかどうか不明であ
るという欠点があった。
法では、オフィスプロセッサに実装されているパッケー
ジの種類と状態はわかるが、それらが制御する周辺装置
や通信装置が、実際に正常に動作するかどうか不明であ
るという欠点があった。
【０００６】本発明の目的は、従来技術で得られる情報
から電源投入時に、各Ｉ／Ｏ制御パッケージによって制
御される周辺装置や通信装置の動作を試験するための試
験プログラムを起動し、その正常性を確認する手段を与
えるものである。そして、その試験が行われたときの情
報を記録しておき、運用中の障害発生時に解決のための
情報を提供するものである。
から電源投入時に、各Ｉ／Ｏ制御パッケージによって制
御される周辺装置や通信装置の動作を試験するための試
験プログラムを起動し、その正常性を確認する手段を与
えるものである。そして、その試験が行われたときの情
報を記録しておき、運用中の障害発生時に解決のための
情報を提供するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のオフィスプロセ
ッサ試験方法は、情報処理装置に実装するパッケージの
状態を示すに関する状態情報をバッテリ・バックアップ
メモリから読み出しこの状態情報を解析するパッケージ
状態情報解析手段と、この解析結果に基づき被試験装置
の試験を行う試験プログラムの起動順序を決定する第１
の試験プログラムスケジューリング手段と、前記試験プ
ログラムをロードする試験プログラムロード手段と、前
記試験プログラムを実行する際にパッケージ情報を与え
る試験情報提供手段と、前記試験プログラムを実行し前
記被試験装置の試験する試験実行手段と、前記被試験装
置の試験結果を表示する試験結果表示手段とからなって
いる。
ッサ試験方法は、情報処理装置に実装するパッケージの
状態を示すに関する状態情報をバッテリ・バックアップ
メモリから読み出しこの状態情報を解析するパッケージ
状態情報解析手段と、この解析結果に基づき被試験装置
の試験を行う試験プログラムの起動順序を決定する第１
の試験プログラムスケジューリング手段と、前記試験プ
ログラムをロードする試験プログラムロード手段と、前
記試験プログラムを実行する際にパッケージ情報を与え
る試験情報提供手段と、前記試験プログラムを実行し前
記被試験装置の試験する試験実行手段と、前記被試験装
置の試験結果を表示する試験結果表示手段とからなって
いる。
【０００８】また、前記各手段と、電源投入時に入手し
た前記状態情報を前記バッテリ・バックアップメモリの
別領域に格納するパッケージ状態記憶手段と、次回の電
源投入時に前記パッケージ状態記憶手段に記憶する状態
情報と新規に得た状態情報とを比較しパッケージ状態の
差異を抽出するパッケージ状態変更抽出手段と、前記パ
ッケージ状態に差異があるものに対し前記試験プログラ
ムを選択し実行する第２の試験プログラムスケジューリ
ング手段とからなってもよく。
た前記状態情報を前記バッテリ・バックアップメモリの
別領域に格納するパッケージ状態記憶手段と、次回の電
源投入時に前記パッケージ状態記憶手段に記憶する状態
情報と新規に得た状態情報とを比較しパッケージ状態の
差異を抽出するパッケージ状態変更抽出手段と、前記パ
ッケージ状態に差異があるものに対し前記試験プログラ
ムを選択し実行する第２の試験プログラムスケジューリ
ング手段とからなってもよく。
【０００９】さらに、上述した各手段による試験実行
後、試験実行の日時、パッケージ状態情報、試験結果を
磁気ディスク装置等記憶装置にログとして記録すること
を特徴とする。
後、試験実行の日時、パッケージ状態情報、試験結果を
磁気ディスク装置等記憶装置にログとして記録すること
を特徴とする。
【００１０】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【００１１】図１は、本発明の第１の実施例を示すブロ
ック図であり、図２は、図１の第１の実施例を実現する
具体的な構成を示すブロック図である。図１および図２
において、本発明のオフィスプロセッサ試験方法は、Ｂ
ＵＭ（バッテリ・バックアップメモリ）に格納されてい
る電源投入時に読み出されたパッケージ情報を解析する
パッケージ状態情報解析手段１０と、この解析結果に基
づいて試験を行う周辺装置、通信装置等の試験プログラ
ムを決定し起動順序を決定する試験プログラムスケジュ
ーリング手段１１と、試験プログラムをロードする試験
プログラム実行管理手段１２と、各装置の試験プログラ
ムに試験実行に必要なパッケージ情報を与える試験情報
提供手段１３と、それぞれの試験プログラムを実行する
試験実行手段１４と、各試験結果を表示する試験結果表
示手段１５とからなっている。
ック図であり、図２は、図１の第１の実施例を実現する
具体的な構成を示すブロック図である。図１および図２
において、本発明のオフィスプロセッサ試験方法は、Ｂ
ＵＭ（バッテリ・バックアップメモリ）に格納されてい
る電源投入時に読み出されたパッケージ情報を解析する
パッケージ状態情報解析手段１０と、この解析結果に基
づいて試験を行う周辺装置、通信装置等の試験プログラ
ムを決定し起動順序を決定する試験プログラムスケジュ
ーリング手段１１と、試験プログラムをロードする試験
プログラム実行管理手段１２と、各装置の試験プログラ
ムに試験実行に必要なパッケージ情報を与える試験情報
提供手段１３と、それぞれの試験プログラムを実行する
試験実行手段１４と、各試験結果を表示する試験結果表
示手段１５とからなっている。
【００１２】ＢＵＭ２０は、バッテリー２１によって常
に記憶内容が保持されるようになっており、従来技術に
より電源投入時には、パッケージ３１，３２…３ｎのパ
ッケージの種類、設定されている割り込みレベル、パッ
ケージ上のＲＯＭのレビジョン等の各種情報が読み出さ
れＢＵＭの特定の領域ＢＵＭ２２に記録される。
に記憶内容が保持されるようになっており、従来技術に
より電源投入時には、パッケージ３１，３２…３ｎのパ
ッケージの種類、設定されている割り込みレベル、パッ
ケージ上のＲＯＭのレビジョン等の各種情報が読み出さ
れＢＵＭの特定の領域ＢＵＭ２２に記録される。
【００１３】また、このとき、パッケージ３１，３２，
…３ｎには、周辺装置や通信装置４１，４２…４ｎが接
続されている。パッケージ状態情報解析手段１０は、こ
のＢＵＭ２２の記録された情報を読み出しその内容を解
析し、どのようなＩ／Ｏ制御パッケージが実装されてい
るかを判断し、試験に必要な情報を取り込む。
…３ｎには、周辺装置や通信装置４１，４２…４ｎが接
続されている。パッケージ状態情報解析手段１０は、こ
のＢＵＭ２２の記録された情報を読み出しその内容を解
析し、どのようなＩ／Ｏ制御パッケージが実装されてい
るかを判断し、試験に必要な情報を取り込む。
【００１４】試験プログラムスケジューリング手段１１
は、パッケージ状態情報解析手段１０の解析結果をもと
に、試験を実行する装置を決定しそれに対応する試験プ
ログラムの起動の順番をスケジュールする。試験プログ
ラムロード手段１２は、試験プログラムスケジューリン
グ手段１１によりスケジュールされた結果に基づいて、
試験プログラム５１，５２，…５ｎをＲＯＭ６０からメ
モリ５０上にロードする。
は、パッケージ状態情報解析手段１０の解析結果をもと
に、試験を実行する装置を決定しそれに対応する試験プ
ログラムの起動の順番をスケジュールする。試験プログ
ラムロード手段１２は、試験プログラムスケジューリン
グ手段１１によりスケジュールされた結果に基づいて、
試験プログラム５１，５２，…５ｎをＲＯＭ６０からメ
モリ５０上にロードする。
【００１５】本実施例では、試験を電源投入時の運用開
始前に自動的に行うために、試験プログラム５１，５
２，…５ｎはＲＯＭ６０上に格納しているが、特に格納
場所は限定されない。また、メモリ５０上にロードされ
た試験プログラム５１，５２，…５ｎには、試験情報提
供手段１３から、試験を実行するに必要なＩ／Ｏアドレ
ス，割り込みレベルが伝達される。
始前に自動的に行うために、試験プログラム５１，５
２，…５ｎはＲＯＭ６０上に格納しているが、特に格納
場所は限定されない。また、メモリ５０上にロードされ
た試験プログラム５１，５２，…５ｎには、試験情報提
供手段１３から、試験を実行するに必要なＩ／Ｏアドレ
ス，割り込みレベルが伝達される。
【００１６】試験実行に必要な情報を得た後、試験実行
手段１４により試験プログラムが実行され、周辺装置，
通信制御パッケージ３１〜３ｎと、それらに接続する各
々の周辺装置，通信装置に対し接続確認試験や機能試験
を実行し、その正常性を確認する。その試験結果は試験
結果表示手段１５で表示装置７０に表示し、オフィスプ
ロセッサの操作者に通知する。
手段１４により試験プログラムが実行され、周辺装置，
通信制御パッケージ３１〜３ｎと、それらに接続する各
々の周辺装置，通信装置に対し接続確認試験や機能試験
を実行し、その正常性を確認する。その試験結果は試験
結果表示手段１５で表示装置７０に表示し、オフィスプ
ロセッサの操作者に通知する。
【００１７】図３は、本発明の第１の実施例における電
源投入時から運用開始までの間の処理を示す流れ図であ
る。
源投入時から運用開始までの間の処理を示す流れ図であ
る。
【００１８】まず、パッケージ状態情報の読み取り（処
理８１）、およびパッケージ状態情報のＢＵＭへの書き
込み（処理８２）を行う。これらは従来技術を用いて実
現する。続いて、パッケージ状態情報の解析を行い、実
装されているパッケージの種類、Ｉ／Ｏアドレス、割り
込みレベルなど試験に必要な情報が取り出する（処理８
３）。また、被試験装置に実装されているパッケージの
種類から、それらに対応する試験プログラムの選択を行
い起動順序を決定する（処理８４）。
理８１）、およびパッケージ状態情報のＢＵＭへの書き
込み（処理８２）を行う。これらは従来技術を用いて実
現する。続いて、パッケージ状態情報の解析を行い、実
装されているパッケージの種類、Ｉ／Ｏアドレス、割り
込みレベルなど試験に必要な情報が取り出する（処理８
３）。また、被試験装置に実装されているパッケージの
種類から、それらに対応する試験プログラムの選択を行
い起動順序を決定する（処理８４）。
【００１９】そして、起動順序番にしたがって、対応す
る試験プログラムをロードし（処理８５）、試験実行に
必要な情報が伝達される（処理８６）。これにより、試
験実行の準備が整うと各試験プログラムを実行する（処
理８７）。
る試験プログラムをロードし（処理８５）、試験実行に
必要な情報が伝達される（処理８６）。これにより、試
験実行の準備が整うと各試験プログラムを実行する（処
理８７）。
【００２０】各試験プログラムを実行後、これらの試験
結果に基づいて被試験装置のパッケージの良否を判断す
る（処理８８）。そして、試験結果がすべて正常の場合
は、正常状態を示す表示を行うと共に、通常の運用可能
状態であることを表示し（処理８９）、通常の運用を開
始する。
結果に基づいて被試験装置のパッケージの良否を判断す
る（処理８８）。そして、試験結果がすべて正常の場合
は、正常状態を示す表示を行うと共に、通常の運用可能
状態であることを表示し（処理８９）、通常の運用を開
始する。
【００２１】また、試験結果に異常がある場合は、その
異常の情報を表示すると共に、オフィスプロセッサの操
作者に対し、パッケージの異常を通報し（処理９０）、
運用開始の指示を待つ。
異常の情報を表示すると共に、オフィスプロセッサの操
作者に対し、パッケージの異常を通報し（処理９０）、
運用開始の指示を待つ。
【００２２】次に、本発明の第２の実施例について図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【００２３】図４は、本発明の第２の実施例を示すブロ
ック図であり、図５は、図４の第２の実施例を実現する
具体的な構成を示すブロック図である。図４および図５
において、パッケージ状態情報記憶手段１１０は、ＢＵ
Ｍ１２０に書き込まれているパッケージ状態情報１２２
を、ＢＵＭ１２０の別の記憶領域にパッケージ状態情報
１２３として書き込んでおくものであり、次回の電源投
入時に、パッケージ変更抽出手段１１１によってパッケ
ージ状態情報１２２とパッケージ状態情報１２３とを比
較する。
ック図であり、図５は、図４の第２の実施例を実現する
具体的な構成を示すブロック図である。図４および図５
において、パッケージ状態情報記憶手段１１０は、ＢＵ
Ｍ１２０に書き込まれているパッケージ状態情報１２２
を、ＢＵＭ１２０の別の記憶領域にパッケージ状態情報
１２３として書き込んでおくものであり、次回の電源投
入時に、パッケージ変更抽出手段１１１によってパッケ
ージ状態情報１２２とパッケージ状態情報１２３とを比
較する。
【００２４】この比較の結果、パッケージ状態情報１２
２，１２３に差異がある場合は、前回の電源投入時、す
なわち前回のシステム使用以降、パッケージの実装の増
減や、割り込みレベル等システムの構成に変更が生じた
ことになる。これにより、変更が生じたパッケージをパ
ッケージ状態変更抽出手段１１１で選び出し、試験プロ
グラムスケジューリング手段１１２でそのパッケージに
対応する試験プログラムを選択すると共に、試験実行す
る装置を決定し起動順序を決定するこれ以降の動作は、
第１の実施例と同様であるが、試験プログラムの実行
後、試験結果を表示する前に、パッケージ状態情報記憶
手段１１０で、ＢＵＭ１２０に書かれているパッケージ
状態情報１２２を、ＢＵＭ１２０に別の記憶領域にパッ
ケージ状態情報１２３として書き込み、次回の電源投入
時に利用可能なように準備する。
２，１２３に差異がある場合は、前回の電源投入時、す
なわち前回のシステム使用以降、パッケージの実装の増
減や、割り込みレベル等システムの構成に変更が生じた
ことになる。これにより、変更が生じたパッケージをパ
ッケージ状態変更抽出手段１１１で選び出し、試験プロ
グラムスケジューリング手段１１２でそのパッケージに
対応する試験プログラムを選択すると共に、試験実行す
る装置を決定し起動順序を決定するこれ以降の動作は、
第１の実施例と同様であるが、試験プログラムの実行
後、試験結果を表示する前に、パッケージ状態情報記憶
手段１１０で、ＢＵＭ１２０に書かれているパッケージ
状態情報１２２を、ＢＵＭ１２０に別の記憶領域にパッ
ケージ状態情報１２３として書き込み、次回の電源投入
時に利用可能なように準備する。
【００２５】図６は、本発明の第２の実施例における電
源投入時から運用開始までの間の処理を示す流れ図であ
る。
源投入時から運用開始までの間の処理を示す流れ図であ
る。
【００２６】まず、処理１８１から処理１８３までは、
第１の実施例の処理を示す図３の処理処理８１から処理
８３までと同様であり説明を省略する。次に、パッケー
ジ変更抽出手段１１１は、前回の電源投入時のパッケー
ジ状態情報との比較を行い、その差異を抽出し（処理１
８４）、試験プログラムスケジューリング手段１１２
は、前回と差異のあるもののみを試験対象として試験プ
ログラムを選択し、その起動順序を決定する（処理１８
５）。
第１の実施例の処理を示す図３の処理処理８１から処理
８３までと同様であり説明を省略する。次に、パッケー
ジ変更抽出手段１１１は、前回の電源投入時のパッケー
ジ状態情報との比較を行い、その差異を抽出し（処理１
８４）、試験プログラムスケジューリング手段１１２
は、前回と差異のあるもののみを試験対象として試験プ
ログラムを選択し、その起動順序を決定する（処理１８
５）。
【００２７】そして、起動順序番にしたがって、対応す
る試験プログラムをロードし（処理１８６）、試験実行
に必要な情報が伝達される（処理１８７）。これによ
り、試験実行の準備が整うと各試験プログラムを実行す
る（処理１８８）。
る試験プログラムをロードし（処理１８６）、試験実行
に必要な情報が伝達される（処理１８７）。これによ
り、試験実行の準備が整うと各試験プログラムを実行す
る（処理１８８）。
【００２８】試験プログラム実行後、パッケージ状態情
報をＢＵＭ上の別の領域にコピーする（処理１８９）。
また、処理１８９以降の処理は、第１の実施例の処理を
示す図３の処理８８以降と同様であり説明を省略する。
報をＢＵＭ上の別の領域にコピーする（処理１８９）。
また、処理１８９以降の処理は、第１の実施例の処理を
示す図３の処理８８以降と同様であり説明を省略する。
【００２９】次に、本発明の第３の実施例について図７
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【００３０】本発明の第３の実施例は、上述した第１お
よび第２の実施例によるオフィスプロセッサの試験方法
に基づいて、電源投入時に各パッケージ制御装置とそれ
に接続される周辺装置，通信装置の試験が実施される
と。この試験結果と各パッケージ状態情報とを磁気ディ
スク装置等に試験実行記録ログとして毎回記録する。
よび第２の実施例によるオフィスプロセッサの試験方法
に基づいて、電源投入時に各パッケージ制御装置とそれ
に接続される周辺装置，通信装置の試験が実施される
と。この試験結果と各パッケージ状態情報とを磁気ディ
スク装置等に試験実行記録ログとして毎回記録する。
【００３１】図７は、その記録内容の一例を示したもの
であって、試験実行記録ログ２００には、試験を実行し
た試験実行日時２０１、その際の試験対象パッケージ種
類２０２、試験実行結果２０３等を記録する。
であって、試験実行記録ログ２００には、試験を実行し
た試験実行日時２０１、その際の試験対象パッケージ種
類２０２、試験実行結果２０３等を記録する。
【００３２】この試験実行記録ログ２００の内容は、磁
気ディスク装置等に記録して保存し、オフィスプロセッ
サの運用中に障害が発生したときに、保守員がこのシス
テムが過去にどのような構成変更がなされたか、また、
電源投入時に異常が検出されたか、などを確認する際に
利用する。
気ディスク装置等に記録して保存し、オフィスプロセッ
サの運用中に障害が発生したときに、保守員がこのシス
テムが過去にどのような構成変更がなされたか、また、
電源投入時に異常が検出されたか、などを確認する際に
利用する。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、実装され
ているパッケージについて、試験プログラムをメニュー
表示して操作者からの指示を必要とすることなく、電源
投入時に自動的に起動することにより、パッケージとそ
れに接続されている周辺装置、通信装置等の試験を実施
でき、運用開始前にシステム全体の正常性と接続されて
いる周辺装置，通信装置の使用の可否を確認できるとい
う効果がある。
ているパッケージについて、試験プログラムをメニュー
表示して操作者からの指示を必要とすることなく、電源
投入時に自動的に起動することにより、パッケージとそ
れに接続されている周辺装置、通信装置等の試験を実施
でき、運用開始前にシステム全体の正常性と接続されて
いる周辺装置，通信装置の使用の可否を確認できるとい
う効果がある。
【００３４】また、前回のパッケージ状態情報を、ＢＵ
Ｍの別の記憶領域に記録しておくことにより、今回立ち
上げ時のパッケージ状態情報と比較し、その情報に差異
があるものだけを抽出し、その試験だけを実行すること
で、電源投入から運用開始可能までの時間を短縮するこ
とができるという効果がある。
Ｍの別の記憶領域に記録しておくことにより、今回立ち
上げ時のパッケージ状態情報と比較し、その情報に差異
があるものだけを抽出し、その試験だけを実行すること
で、電源投入から運用開始可能までの時間を短縮するこ
とができるという効果がある。
【００３５】さらに、試験結果とその時のパッケージ状
態情報のログを記録しておき、運用中に障害が発生した
際に、システム構成の変更状況や過去の電源投入時の異
常の有無から、障害の発生原因の解明に対する有力な情
報として利用できるという効果がある。
態情報のログを記録しておき、運用中に障害が発生した
際に、システム構成の変更状況や過去の電源投入時の異
常の有無から、障害の発生原因の解明に対する有力な情
報として利用できるという効果がある。
【図１】本発明の第１の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】第１の実施例を実現する具体的な構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図３】第１の実施例の処理の流れを示す流れ図であ
る。
る。
【図４】本発明の第２の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図５】第２の実施例を実現する具体的な構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図６】第２の実施例の処理の流れを示す流れ図であ
る。
る。
【図７】本発明の第３の実施例によるログとして記録さ
れる試験実行情報の一例を示す図である。
れる試験実行情報の一例を示す図である。
１０ パッケージ状態情報解析手段 １１，１１２ 試験プログラムスケジューリング手段 １２ 試験プログラムロード手段 １３ 試験情報提供手段 １４ 試験実行手段 １５ 試験結果表示手段 ２０，１２０ ＢＵＭ（バッテリ・バックアップメモ
リ） ２１，１２１ バッテリ ２２，１２２，１２３ パッケージ状態情報 ３１〜３ｎ，１３１〜１３ｎ 周辺装置，通信装置制
御パッケージ ４１〜４ｎ，１４１〜１４ｎ 周辺装置，通信装置 ５０，１５０ メモリ ５１〜５ｎ，１５１ 試験プログラム ６０，１６０ ＲＯＭ ６１〜６ｎ，１６１〜１６ｎ 試験プログラム ７０，１７０ 表示装置 ８１〜９０，１８１〜１９０ 処理，判断ステップ １１０ パッケージ状態情報記憶手段 １１１ パッケージ状態変更抽出手段 ２００ 試験実行記録ログ ２０１ 試験実行日時 ２０２ 試験対象パッケージ種類 ２０３ 試験実行結果
リ） ２１，１２１ バッテリ ２２，１２２，１２３ パッケージ状態情報 ３１〜３ｎ，１３１〜１３ｎ 周辺装置，通信装置制
御パッケージ ４１〜４ｎ，１４１〜１４ｎ 周辺装置，通信装置 ５０，１５０ メモリ ５１〜５ｎ，１５１ 試験プログラム ６０，１６０ ＲＯＭ ６１〜６ｎ，１６１〜１６ｎ 試験プログラム ７０，１７０ 表示装置 ８１〜９０，１８１〜１９０ 処理，判断ステップ １１０ パッケージ状態情報記憶手段 １１１ パッケージ状態変更抽出手段 ２００ 試験実行記録ログ ２０１ 試験実行日時 ２０２ 試験対象パッケージ種類 ２０３ 試験実行結果
Claims (3)
- 【請求項１】 情報処理装置に実装するパッケージの状
態を示すに関する状態情報をバッテリ・バックアップメ
モリから読み出しこの状態情報を解析するパッケージ状
態情報解析手段と、この解析結果に基づき被試験装置の
試験を行う試験プログラムの起動順序を決定する第１の
試験プログラムスケジューリング手段と、前記試験プロ
グラムをロードする試験プログラムロード手段と、前記
試験プログラムを実行する際にパッケージ情報を与える
試験情報提供手段と、前記試験プログラムを実行し前記
被試験装置の試験する試験実行手段と、前記被試験装置
の試験結果を表示する試験結果表示手段とからなること
を特徴とする情報処理装置の試験方法。 - 【請求項２】 請求項１記載のパッケージ状態情報解析
手段，第１の試験プログラムスケジューリング手段，試
験プログラムロード手段，試験情報提供手段，試験実行
手段および試験結果表示手段と、電源投入時に入手した
前記状態情報を前記バッテリ・バックアップメモリの別
領域に格納するパッケージ状態記憶手段と、次回の電源
投入時に前記パッケージ状態記憶手段に記憶する状態情
報と新規に得た状態情報とを比較しパッケージ状態の差
異を抽出するパッケージ状態変更抽出手段と、前記パッ
ケージ状態に差異があるものに対し前記試験プログラム
を選択し実行する第２の試験プログラムスケジューリン
グ手段とからなることを特徴とする情報処理装置の試験
方法。 - 【請求項３】 請求項１または２記載の情報処理装置の
試験方法による試験実行後、試験実行の日時、パッケー
ジ状態情報、試験結果を磁気ディスク装置等記憶装置に
ログとして記録することを特徴とする情報処理装置の試
験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5116700A JPH06332744A (ja) | 1993-05-19 | 1993-05-19 | 情報処理装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5116700A JPH06332744A (ja) | 1993-05-19 | 1993-05-19 | 情報処理装置の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06332744A true JPH06332744A (ja) | 1994-12-02 |
Family
ID=14693680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5116700A Pending JPH06332744A (ja) | 1993-05-19 | 1993-05-19 | 情報処理装置の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06332744A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015158764A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | アンリツ株式会社 | 試験装置及び試験方法 |
| JP2018077835A (ja) * | 2016-10-07 | 2018-05-17 | インフィネオン テクノロジーズ アーゲーＩｎｆｉｎｅｏｎ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ Ａｇ | システムオンチップの完全性検証の方法及びシステム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6280737A (ja) * | 1985-10-04 | 1987-04-14 | Mitsubishi Electric Corp | 電子計算機 |
| JPH0520109A (ja) * | 1991-07-17 | 1993-01-29 | Fujitsu Ltd | スタンドアロン型装置の診断方法 |
| JPH05108534A (ja) * | 1991-10-11 | 1993-04-30 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | データ処理システムのシステム構成設定方法、データ処理システム、及びデータ処理システム用拡張ユニツト |
-
1993
- 1993-05-19 JP JP5116700A patent/JPH06332744A/ja active Pending
Patent Citations (3)
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| US10198332B2 (en) | 2016-10-07 | 2019-02-05 | Infineon Technologies Ag | System on chip integrity verification method and system |
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| Date | Code | Title | Description |
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| A02 | Decision of refusal |
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