JP2998793B2 - 情報処理装置の試験方式 - Google Patents
情報処理装置の試験方式Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、情報処理装置の試
験方式に関し、特に、情報処理装置を構成するＣＰＵ、
メモリ、キャッシュ、及び周辺装置等に対して同時に試
験を行う競合試験方式に関する。
験方式に関し、特に、情報処理装置を構成するＣＰＵ、
メモリ、キャッシュ、及び周辺装置等に対して同時に試
験を行う競合試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】情報処理装置を構成する複数のデバイス
（装置）に対して同時に試験を行う競合試験では、各デ
バイスからどれだけの時間エラーを検出せずに試験を継
続できたかという実績が、情報処理装置の品質レベルの
大きな判断材料とされる。このため、競合試験は、長時
間にわたって試験を継続するランニング試験として実施
されることが多い。
（装置）に対して同時に試験を行う競合試験では、各デ
バイスからどれだけの時間エラーを検出せずに試験を継
続できたかという実績が、情報処理装置の品質レベルの
大きな判断材料とされる。このため、競合試験は、長時
間にわたって試験を継続するランニング試験として実施
されることが多い。
【０００３】ランニング試験は、試験プログラムが、試
験実行中にシステムダウンとなるような致命的なエラー
を検出した場合に中断する。この場合、操作者は、試験
を継続するために、情報処理装置のリセットや試験の再
起動を行なわなければならない。ところが、通常のラン
ニング試験では、操作者は、試験状態を常時監視してい
るわけではないので、一旦、試験が中断すると、そのま
ま放置されることになる。特に、夜間等に試験が中断し
た場合には、数時間以上放置されることになりかねな
い。
験実行中にシステムダウンとなるような致命的なエラー
を検出した場合に中断する。この場合、操作者は、試験
を継続するために、情報処理装置のリセットや試験の再
起動を行なわなければならない。ところが、通常のラン
ニング試験では、操作者は、試験状態を常時監視してい
るわけではないので、一旦、試験が中断すると、そのま
ま放置されることになる。特に、夜間等に試験が中断し
た場合には、数時間以上放置されることになりかねな
い。
【０００４】そこで、試験が中断したまま放置されるこ
とがないように、自動的に試験プログラムを再実行する
試験システムが提案されている。このようなシステム
は、特開平８−２１２１１３号公報に開示されている。
とがないように、自動的に試験プログラムを再実行する
試験システムが提案されている。このようなシステム
は、特開平８−２１２１１３号公報に開示されている。
【０００５】この試験システムでは、情報処理装置にシ
ステムダウンが発生すると、フラグを立ててシステムダ
ウンが発生したことを明示する。同時に、その時の試験
プログラム名をメモリに記憶させる。そして、情報処理
装置から試験システムへ制御を移行し、フラグに基づい
て情報処理装置からエラー情報を収集する。その後、情
報処理装置のハードウェアをリセットし、メモリに記憶
したプログラム名に基づいて試験プログラムを再実行す
る。こうして、ランニング試験が自動的に再開され、試
験が中断した状態で放置されるという状態を回避でき
る。
ステムダウンが発生すると、フラグを立ててシステムダ
ウンが発生したことを明示する。同時に、その時の試験
プログラム名をメモリに記憶させる。そして、情報処理
装置から試験システムへ制御を移行し、フラグに基づい
て情報処理装置からエラー情報を収集する。その後、情
報処理装置のハードウェアをリセットし、メモリに記憶
したプログラム名に基づいて試験プログラムを再実行す
る。こうして、ランニング試験が自動的に再開され、試
験が中断した状態で放置されるという状態を回避でき
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の情報処理装置の
試験方式では、情報処理装置に固定的障害があった場合
や、ハードウェアあるいはソフトウェアのバグ（ここで
いうソフトウェアのバグとは、試験プログラム制御には
影響がない、デバイスに対する試験部のバグを指す。）
があるような場合に、エラーが検出されたときに実行し
ていた試験プログラムを再実行すると、再び、同一の原
因によってシステムダウンが生じ、以後、試験の再実行
とシステムダウンとが交互に繰り返されてしまうという
問題点がある。
試験方式では、情報処理装置に固定的障害があった場合
や、ハードウェアあるいはソフトウェアのバグ（ここで
いうソフトウェアのバグとは、試験プログラム制御には
影響がない、デバイスに対する試験部のバグを指す。）
があるような場合に、エラーが検出されたときに実行し
ていた試験プログラムを再実行すると、再び、同一の原
因によってシステムダウンが生じ、以後、試験の再実行
とシステムダウンとが交互に繰り返されてしまうという
問題点がある。
【０００７】また、特開平８−２１２１１３号公報に記
載されているように、エラーが検出されたときに実行し
ていた試験プログラムの次のプログラムを実行するよう
にした場合には、上記のような固定的障害でない場合で
あっても、前の試験プログラムの実行結果が得られなく
なるという問題点がある。また、競合試験の場合には、
あるデバイスにおいてエラーが検出されただけで、他の
デバイスに対する試験が省略されて次の試験に移ってし
まうという問題点もある。
載されているように、エラーが検出されたときに実行し
ていた試験プログラムの次のプログラムを実行するよう
にした場合には、上記のような固定的障害でない場合で
あっても、前の試験プログラムの実行結果が得られなく
なるという問題点がある。また、競合試験の場合には、
あるデバイスにおいてエラーが検出されただけで、他の
デバイスに対する試験が省略されて次の試験に移ってし
まうという問題点もある。
【０００８】本発明は、情報処理装置の試験中にシステ
ムダウンが発生した後、試験を自動的に再開した場合
に、システムダウンと試験再開とを繰り返すことがな
く、しかも、必要以上に試験プログラムの実行を省略す
ることのない情報処理装置の試験方式を提供することを
を目的とする。
ムダウンが発生した後、試験を自動的に再開した場合
に、システムダウンと試験再開とを繰り返すことがな
く、しかも、必要以上に試験プログラムの実行を省略す
ることのない情報処理装置の試験方式を提供することを
を目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、情報処
理装置を構成する複数のデバイスに対して同時に複数の
試験を実行させる競合試験を行うための情報処理装置の
試験方式において、前記複数のデバイスに対して前記複
数の試験を実行させる試験実行手段と、試験実行中にシ
ステムダウンとなるエラーを検出した場合にエラー情報
を収集するエラー情報収集手段と、前記エラー情報と前
記複数の試験を表わす試験情報とを記録するための記録
手段と、前記記録手段からの前記エラー情報と前記試験
情報とを記録保持する外部記憶装置と、前記エラー情報
からシステムダウンを引起こした試験を特定するエラー
情報解析手段と、該エラー情報解析手段により特定され
た試験を除く新たな競合試験を生成して、前記試験実行
手段に実行させる試験組み替え起動手段とを有し、前記
試験実効手段が、入力待ち状態になる“通常モード”
か、前記エラー情報解析手段及び試験組み替え起動手段
を起動して試験を自動的に実行する“自動実効モード”
かを表わす試験実効モードフラグを有し、システムダウ
ンが発生するとフラグを前記“自動実行モード”に設定
するようにしたことを特徴とする情報処理装置の試験方
式が得られる。
理装置を構成する複数のデバイスに対して同時に複数の
試験を実行させる競合試験を行うための情報処理装置の
試験方式において、前記複数のデバイスに対して前記複
数の試験を実行させる試験実行手段と、試験実行中にシ
ステムダウンとなるエラーを検出した場合にエラー情報
を収集するエラー情報収集手段と、前記エラー情報と前
記複数の試験を表わす試験情報とを記録するための記録
手段と、前記記録手段からの前記エラー情報と前記試験
情報とを記録保持する外部記憶装置と、前記エラー情報
からシステムダウンを引起こした試験を特定するエラー
情報解析手段と、該エラー情報解析手段により特定され
た試験を除く新たな競合試験を生成して、前記試験実行
手段に実行させる試験組み替え起動手段とを有し、前記
試験実効手段が、入力待ち状態になる“通常モード”
か、前記エラー情報解析手段及び試験組み替え起動手段
を起動して試験を自動的に実行する“自動実効モード”
かを表わす試験実効モードフラグを有し、システムダウ
ンが発生するとフラグを前記“自動実行モード”に設定
するようにしたことを特徴とする情報処理装置の試験方
式が得られる。
【００１０】
【作用】システムダウンとなるようなエラーを検出した
場合、その時実行していた試験プログラムに関する情報
を外部記憶装置に記録する。またシステムダウン時のエ
ラー情報を採取してこれを記録し、エラー解析手段によ
ってエラーに起因した試験プログラム（部分）を特定
し、その特定された試験プログラム（部分）を、先に実
行していた試験から取り除いて、試験を再実行する。こ
れによりシステムダウンの原因となる試験プログラムは
実行されず、それ以外の競合試験プログラムの組み合わ
せで試験が継続される。
場合、その時実行していた試験プログラムに関する情報
を外部記憶装置に記録する。またシステムダウン時のエ
ラー情報を採取してこれを記録し、エラー解析手段によ
ってエラーに起因した試験プログラム（部分）を特定
し、その特定された試験プログラム（部分）を、先に実
行していた試験から取り除いて、試験を再実行する。こ
れによりシステムダウンの原因となる試験プログラムは
実行されず、それ以外の競合試験プログラムの組み合わ
せで試験が継続される。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【００１２】図１に本発明の一実施の形態を示す。図１
の試験方式は、情報処理装置を構成する複数のデバイス
に対し、個々の試験を実行する試験実行部１１と、情報
処理装置を管理するとともに試験実行部１１を制御する
試験制御部１２とを含む試験プログラム群１３を有して
いる。また、この試験方式は、試験プログラム群１３に
おいて致命的なエラーを検出し、システムダウンとなっ
た場合にエラー情報を収集するエラー情報収集部１４
と、エラー情報収集部１４が収集したエラー情報とシス
テムダウン時に競合実行していた試験は何であったのか
を示す試験情報とを記録するための試験エラー情報記録
部１５と、試験エラー情報記録部１５によってエラー情
報と試験情報とが書き込まれ、これらの情報を保持する
外部記憶装置１６と、情報処理装置を再立ち上げするシ
ステム再立ち上げ部１７と、再立ち上げ後に外部記憶装
置１６に記録されている試験エラー情報を読み出しシス
テムダウンの原因となった試験を割り出すエラー情報解
析部１８と、割り出された試験を除いて競合試験を再開
させる試験組み替え起動部１９とを有している。なお、
この試験方式は、外部記憶装置１６を除いてソフトウェ
ア（プログラム）で構成することが可能であり、ソフト
ウェアを記録する記録媒体で実現可能である。
の試験方式は、情報処理装置を構成する複数のデバイス
に対し、個々の試験を実行する試験実行部１１と、情報
処理装置を管理するとともに試験実行部１１を制御する
試験制御部１２とを含む試験プログラム群１３を有して
いる。また、この試験方式は、試験プログラム群１３に
おいて致命的なエラーを検出し、システムダウンとなっ
た場合にエラー情報を収集するエラー情報収集部１４
と、エラー情報収集部１４が収集したエラー情報とシス
テムダウン時に競合実行していた試験は何であったのか
を示す試験情報とを記録するための試験エラー情報記録
部１５と、試験エラー情報記録部１５によってエラー情
報と試験情報とが書き込まれ、これらの情報を保持する
外部記憶装置１６と、情報処理装置を再立ち上げするシ
ステム再立ち上げ部１７と、再立ち上げ後に外部記憶装
置１６に記録されている試験エラー情報を読み出しシス
テムダウンの原因となった試験を割り出すエラー情報解
析部１８と、割り出された試験を除いて競合試験を再開
させる試験組み替え起動部１９とを有している。なお、
この試験方式は、外部記憶装置１６を除いてソフトウェ
ア（プログラム）で構成することが可能であり、ソフト
ウェアを記録する記録媒体で実現可能である。
【００１３】次に、図１の試験方式の動作について図２
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【００１４】試験制御部１２は、試験実行モードフラグ
（図示せず）を有している。これは、試験を自動的に実
行するか否かの判定に使用するフラグであって、“通常
モード”か“自動実行モード”を表わす。“通常モー
ド”は、通常の試験を開始する場合、“自動実行モー
ド”は連続試験時に、一旦システムがダウンした後、試
験を再開する場合に使用される。
（図示せず）を有している。これは、試験を自動的に実
行するか否かの判定に使用するフラグであって、“通常
モード”か“自動実行モード”を表わす。“通常モー
ド”は、通常の試験を開始する場合、“自動実行モー
ド”は連続試験時に、一旦システムがダウンした後、試
験を再開する場合に使用される。
【００１５】通常の試験開始の場合、フラグは“通常モ
ード”に設定されており、ステップ１００からステップ
１０１に進む。そして、ステップ１０１において、操作
者の入力待ち状態になる。操作者は、どのデバイスにど
のような試験を実行するのかを指示する入力を行い、入
力後、試験実行の指示を与える。
ード”に設定されており、ステップ１００からステップ
１０１に進む。そして、ステップ１０１において、操作
者の入力待ち状態になる。操作者は、どのデバイスにど
のような試験を実行するのかを指示する入力を行い、入
力後、試験実行の指示を与える。
【００１６】操作者によって、試験実行の指示がある
と、試験制御部１２は、ステップ１０２で、試験実行部
１１を起動する。こうして試験が開始される。
と、試験制御部１２は、ステップ１０２で、試験実行部
１１を起動する。こうして試験が開始される。
【００１７】試験実行中にエラーが発生すると、試験制
御部１２は、ステップ１０３で、そのエラーが致命的な
エラーか（システムダウンを引き起こすか）否かの判断
を行う。発生したエラーが致命的なエラー（システムダ
ウンの状態）の場合は、ステップ１０４でエラー情報収
集部１４が起動される。発生したエラーが致命的なエラ
ーでない場合は、ステップ１１１で、試験を継続するか
否かが判断され、ステップ１０２で試験を継続、または
試験を終了する。
御部１２は、ステップ１０３で、そのエラーが致命的な
エラーか（システムダウンを引き起こすか）否かの判断
を行う。発生したエラーが致命的なエラー（システムダ
ウンの状態）の場合は、ステップ１０４でエラー情報収
集部１４が起動される。発生したエラーが致命的なエラ
ーでない場合は、ステップ１１１で、試験を継続するか
否かが判断され、ステップ１０２で試験を継続、または
試験を終了する。
【００１８】エラー情報収集部１４は、情報処理装置の
各部から、致命的エラーを引き起こした原因となる情報
（原因レジスタの内容）、エラー（例外）の発生状況、
当該例外を引き起こした命令アドレス（エラープログラ
ムカウンタの値）、試験プログラム群１３のどの試験ル
ーチンが何番目にエントリされているかを示すアドレス
リンクマップ情報等、試験プログラム群１３が、どの様
に動作していたのか、ハードウェアがどの様なステータ
スにあるのかというエラーに関する情報を採取する。そ
して、エラー情報収集部１４は、採取した情報を試験エ
ラー情報記録部１５に通知する。
各部から、致命的エラーを引き起こした原因となる情報
（原因レジスタの内容）、エラー（例外）の発生状況、
当該例外を引き起こした命令アドレス（エラープログラ
ムカウンタの値）、試験プログラム群１３のどの試験ル
ーチンが何番目にエントリされているかを示すアドレス
リンクマップ情報等、試験プログラム群１３が、どの様
に動作していたのか、ハードウェアがどの様なステータ
スにあるのかというエラーに関する情報を採取する。そ
して、エラー情報収集部１４は、採取した情報を試験エ
ラー情報記録部１５に通知する。
【００１９】試験エラー情報記録部１５は、エラー情報
収集部１４から通知された情報をステップ１０５で、外
部記憶装置１６に記録する。また、試験エラー情報記録
部１５は、システムダウンとなるエラーを検出したとき
に実行していた競合試験二冠する情報、即ち、試験名や
試験のエントリアドレスなど、どの様なデバイスに対し
てどのような試験を実行していたか認識するのに必要な
情報を、ステップ１０６で、外部記憶装置１６に記録す
る。このとき、試験制御部１２は、試験実行モードフラ
グを“自動実行モード”に設定する。
収集部１４から通知された情報をステップ１０５で、外
部記憶装置１６に記録する。また、試験エラー情報記録
部１５は、システムダウンとなるエラーを検出したとき
に実行していた競合試験二冠する情報、即ち、試験名や
試験のエントリアドレスなど、どの様なデバイスに対し
てどのような試験を実行していたか認識するのに必要な
情報を、ステップ１０６で、外部記憶装置１６に記録す
る。このとき、試験制御部１２は、試験実行モードフラ
グを“自動実行モード”に設定する。
【００２０】この後、試験制御部１２は、システム再立
ち上げ部１７を起動する。システム再立ち上げ部１７
は、ステップ１０７で、情報処理装置をリセットし、再
立ち上げを行う。
ち上げ部１７を起動する。システム再立ち上げ部１７
は、ステップ１０７で、情報処理装置をリセットし、再
立ち上げを行う。
【００２１】次に、試験制御部は、ステップ１００にお
いて、試験実行モードフラグを確認する。上述したよう
に、試験実行モードフラグは“自動実行モード”に設定
されているので、試験制御部は、エラー情報解析部１８
を起動する。
いて、試験実行モードフラグを確認する。上述したよう
に、試験実行モードフラグは“自動実行モード”に設定
されているので、試験制御部は、エラー情報解析部１８
を起動する。
【００２２】エラー情報解析部１８は、ステップ１０８
で、外部記憶装置１６に記録されたエラー情報と実行し
ていた試験に関する情報を読み出し、ステップ１０９
で、エラー情報の解析を行う。即ち、エラー情報解析部
１８は、外部記憶装置１６から読み出した情報である、
エラープログラムカウンタ、致命的となるようなエラー
（例外）を引き起こした際の原因レジスタの情報、試験
プログラムのアドレスリンクマップ等に基づいて、シス
テムダウンの原因となった試験を特定する。エラー情報
解析部１８は、特定した試験を試験組み替え起動部１９
に通知する。
で、外部記憶装置１６に記録されたエラー情報と実行し
ていた試験に関する情報を読み出し、ステップ１０９
で、エラー情報の解析を行う。即ち、エラー情報解析部
１８は、外部記憶装置１６から読み出した情報である、
エラープログラムカウンタ、致命的となるようなエラー
（例外）を引き起こした際の原因レジスタの情報、試験
プログラムのアドレスリンクマップ等に基づいて、シス
テムダウンの原因となった試験を特定する。エラー情報
解析部１８は、特定した試験を試験組み替え起動部１９
に通知する。
【００２３】試験組み替え起動部１９は、ステップ１１
０で、外部記憶装置１６からエラー情報解析部１８が読
み出した、先に実行していた競合試験の組み合わせか
ら、特定された試験を除いて、競合試験の組み合わせ、
あるいは、特定された試験を除いて別の試験を加えた新
たな競合試験を組み合わせを作成して、試験プログラム
群１３に与える。
０で、外部記憶装置１６からエラー情報解析部１８が読
み出した、先に実行していた競合試験の組み合わせか
ら、特定された試験を除いて、競合試験の組み合わせ、
あるいは、特定された試験を除いて別の試験を加えた新
たな競合試験を組み合わせを作成して、試験プログラム
群１３に与える。
【００２４】試験実行部１１は、試験組み替え起動部１
９から与えられた新たな競合試験を、ステップ１０２で
実行する。以降、上記動作を繰り返す。
９から与えられた新たな競合試験を、ステップ１０２で
実行する。以降、上記動作を繰り返す。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれば、情報処理装置の競合試
験を実行している最中に、致命的エラーを検出してシス
テムダウンとなったときに、システムダウン時のエラー
情報を採取してこれを記録し、エラー解析手段によりエ
ラーの原因となった試験を特定して、その試験を除く新
たな競合試験の組み合わせを試験組み替え起動手段によ
って作成して試験を再開するようにしたことで、情報処
理装置の固定的障害や、ハードウェア、ソフトウェアの
バグなどの同一の原因により発生する、試験の再起動と
システムダウンとの繰り返しを回避することができる。
験を実行している最中に、致命的エラーを検出してシス
テムダウンとなったときに、システムダウン時のエラー
情報を採取してこれを記録し、エラー解析手段によりエ
ラーの原因となった試験を特定して、その試験を除く新
たな競合試験の組み合わせを試験組み替え起動手段によ
って作成して試験を再開するようにしたことで、情報処
理装置の固定的障害や、ハードウェア、ソフトウェアの
バグなどの同一の原因により発生する、試験の再起動と
システムダウンとの繰り返しを回避することができる。
【図１】本発明の一実施の形態を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】図１の試験方式の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
１１ 試験実行部 １２ 試験制御部 １３ 試験プログラム群 １４ エラー情報収集部 １５ 試験エラー情報記録部 １６ 外部記憶装置 １７ システム再立ち上げ部 １８ エラー情報解析部 １９ 試験組み替え起動部
Claims (2)
- 【請求項１】 情報処理装置を構成する複数のデバイス
に対して同時に複数の試験を実行させる競合試験を行う
ための情報処理装置の試験方式において、前記複数のデ
バイスに対して前記複数の試験を実行させる試験実行手
段と、試験実行中にシステムダウンとなるエラーを検出
した場合にエラー情報を収集するエラー情報収集手段
と、前記エラー情報と前記複数の試験を表わす試験情報
とを記録するための記録手段と、前記記録手段からの前
記エラー情報と前記試験情報とを記録保持する外部記憶
装置と、前記エラー情報からシステムダウンを引起こし
た試験を特定するエラー情報解析手段と、該エラー情報
解析手段により特定された試験を除く新たな競合試験を
生成して、前記試験実行手段に実行させる試験組み替え
起動手段とを有し、前記試験実効手段が、入力待ち状態
になる“通常モード”か、前記エラー情報解析手段及び
試験組み替え起動手段を起動して試験を自動的に実行す
る“自動実効モード”かを表わす試験実効モードフラグ
を有し、システムダウンが発生するとフラグを前記“自
動実行モード”に設定するようにしたことを特徴とする
情報処理装置の試験方式。 - 【請求項２】 前記試験実行手段が、複数のデバイスに
対してそれぞれ複数の試験プログラムを有していること
を特徴とする請求項１の情報処理装置の試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8345693A JP2998793B2 (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 情報処理装置の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8345693A JP2998793B2 (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 情報処理装置の試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10187474A JPH10187474A (ja) | 1998-07-21 |
| JP2998793B2 true JP2998793B2 (ja) | 2000-01-11 |
Family
ID=18378330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8345693A Expired - Fee Related JP2998793B2 (ja) | 1996-12-25 | 1996-12-25 | 情報処理装置の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2998793B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100488106B1 (ko) * | 2000-12-14 | 2005-05-09 | 엘지전자 주식회사 | 시스템 다운원인 타스크 추적 방법 |
-
1996
- 1996-12-25 JP JP8345693A patent/JP2998793B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10187474A (ja) | 1998-07-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19991006 |
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