JPH03245033A - 液晶パネルの欠陥検査装置 - Google Patents

液晶パネルの欠陥検査装置

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Publication number
JPH03245033A
JPH03245033A JP4276490A JP4276490A JPH03245033A JP H03245033 A JPH03245033 A JP H03245033A JP 4276490 A JP4276490 A JP 4276490A JP 4276490 A JP4276490 A JP 4276490A JP H03245033 A JPH03245033 A JP H03245033A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crystal panel
liquid crystal
panel
operator
defect
Prior art date
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Pending
Application number
JP4276490A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Uehara
上原 賢次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP4276490A priority Critical patent/JPH03245033A/ja
Publication of JPH03245033A publication Critical patent/JPH03245033A/ja
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、背面からの照明により液晶パネルの欠陥箇所
を検査するための液晶パネルの欠陥検査装置に関する。
[従来の技術] 液晶パネルの欠陥箇所を検査する方法として、液晶パネ
ルの点灯状態を直接人間の視覚により観察する手法が従
来より広く用いられている。この手法では、水平に置か
れた液晶パネルの真上からオペレータが覗き込んで肉眼
で監視することにより欠陥箇所を探している。欠陥箇所
は、オペレータが液晶パネル上に直接マーキングするこ
とにより表示していた。
オペレータの観察作業を容易化するため、液晶パネルを
載せた検査ステージを傾動可能とすることも提案されて
いる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述のように液晶パネルを真上から覗き
込んで観察する方法では、オペレータに無理な姿勢を強
いるため疲労が大きくなり、特に液晶パネルが大形化す
るほどこの問題が深刻になる。
また、検査ステージを傾けるものでは、オペレータの観
察のための姿勢が楽になるものの、傾動機構が複雑とな
って所望の傾きを得るのに時間がかかること、そして傾
けることにより機械的なずれが生じて位置精度が狂うこ
とから調整が必要となる等の問題がある。
なお、欠陥箇所を指示するために、オペレータが液晶パ
ネル上に直接マーキングすると、オペークの目視する角
度、マーキング線の太さ及び大きさによって位置の指示
精度に誤差が生じる。
従って本発明の目的は、オペレータが無理な姿勢をとら
ず、座ったままの状態で容易にしかも正確かつ迅速に液
晶パネル上の欠陥箇所を目視て検査することかできる液
晶パネルの欠陥検査装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 上述の目的を達成する本発明の特徴は、液晶パネルを背
面から照明する光源と、液晶パネルを透過状態とする駆
動信号を発生する信号発生器と、駆動信号の印加された
液晶パネルを透過する光によって形成される像をオペレ
ータの視野内に導く光ファイバ群とを備えている。
[作用] 液晶パネルは背面から照明されており、しかもこれを透
過状態とするための駆動信号が印加されている。この液
晶パネルを透過する光によって形成される像か光ファイ
バ群を介して座ったままの楽な姿勢のオペレータに与え
られる。従ってオペレータは、光ファイバ群を介して手
元で得られる液晶パネル上の欠陥箇所を座ったままの姿
勢で検査し、欠陥がある場合にはその箇所を指示シンボ
ルで指示する。これにより、指示された欠陥箇所の座標
を表す信号を得ることができる。従って、オペレータは
視野内にある光ファイバ群の出力端に向き合うだけで、
欠陥箇所の検査と指示とを素早くかつ高精度に行うこと
ができる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明の液晶パネルの欠陥検査装置の一実施例
を概略的に示す側面図である。
同図において、11は検査すべきTPT (薄膜トラン
ジスタ)液晶パネル等の液晶パネル、12はこの液晶パ
ネル11を支持して、背面からこれを照明する光源、即
ちバックライト、13は液晶パネル11の画像をオペレ
ータの好適な視野内に導く光ファイバ群である。
光ファイバ群13の入力端13aは液晶パネル11の前
面に対向しており、出力端13bにはタッチセンサパネ
ル14が重畳されている。
液晶パネル11には、信号発生器15から駆動信号が供
給されており、これによって液晶パネル11は欠陥が無
い場合には全て透過状態となっている。
第2図は第1図の実施例におけるタッチセンサパネル1
4を含む欠陥位置指示回路を示すブロック図である。
同図において、16はタッチセンサパネル14からの座
標データを取り込んでマイクロコンピュータ17に入力
するタッチセンサ出力インタフェース、18は欠陥位置
の指示状態を表示するCRT等のモニタである。
次に、このような構成になる欠陥検査装置の動作を説明
する。
まず、液晶パネル11をバックライト12と共に光ファ
イバ群13の入力端13a側にセットし、この液晶パネ
ル11に信号発生器15より透過状態の検査画面を得る
ための駆動信号を供給する。
これにより、液晶パネル11を透過する光によって形成
される像が、光ファイバ群13泣びその出力端+3bに
重畳されたタッチセンサパネル14を通して、オペレー
タに観察され、液晶パネル11の欠陥が目で検査される
こうして、欠陥を発見した場合、オペレータは、タッチ
センサパネル14を操作してその欠陥位置をタッチ指示
する。
これにより、そのタッチ部位の位置データがタッチセン
サ出力インタフェース16を通してマイクロコンピュー
タ17に入力される。マイクロコンピュータ17はその
位置データに基づいて、液晶パネル11上の指示位置を
計算し、その結果をカーソル18aとしてモニタ18上
に表示する。
オペレータはタッチセンサパネル14上で指定した位置
とモニタ18上のカーソル18aの位置で、相関がとれ
ているかを確認して、欠陥位置の特定を行う。
第3図は本発明の他の実施例を概略的に示す側面図、第
4図は第3図の実施例における欠陥位置指示回路を示す
ブロック図である。
この実施例は液晶パネル11の背面側に液晶デイスプレ
ィユニット19を重畳したものである。この液晶デイス
プレィユニット19は、マイクロコンピュータ17の制
御下にある駆動回路20に接続されている。なお、第4
図において、21は欠陥箇所指定用の操作ホックスを示
している。
光ファイバ群13を通して、出力端13bに得られた液
晶パネル11の像を観察することによって欠陥を発見す
ると、オペレータは、操作ボックス21のトラックホー
ル等を操作する。この操作量にもとツキ、マイクロコン
ピュータ17は駆動回路20の出力を制御し、液晶デイ
スプレィユニット19上のカソル19aを移動させる。
その結果、欠陥位置とこれを指示しているカーソル19
aとの両方が、光ファイバ群13の出力端13bに合成
されて同時に表示され、欠陥位置及びその指示位置の確
認をすることかできる。
第5図は本発明のさらに他の実施例を概略的に示す側面
図、第6図は第5図の実施例における欠陥位置指示回路
を示すブロック図である。
この実施例では、光ファイバ群13の出力端+3b側に
クロスライン移動機構22を設けている。このクロスラ
イン移動機構22は、交点により欠陥位置を指示するた
めのクロスライン22a 、 22bをX軸モータ23
及びY軸モータ24により移動するものである。各モー
タ23.24は駆動回路25に接続されている。
この駆動回路25は、操作ボックス21からの操作量に
基づくマイクロコンピュータ17の演算結果に従って、
各モータ23、z4を個別に作動制御する。
この実施例では、光ファイバ群13を通して得られた液
晶パネル11の透過像情報とクロスライン22a 、 
22bとが、クロスライン移動機構22上に重なり合っ
て表示される。
出力端13bに得られる液晶パネル11の欠陥位置を観
察したオペレータは、操作ボックス21のトラックボー
ルを操作する。この操作量にもとついて、マイクロコン
ピュータ17は駆動回路25の出力を制御し、X軸モー
タ23及びY軸モータ24を作動して、クロスライン2
2a 、 22bを移動させる。そして、欠陥位置とク
ロスライン22a 、 22bとを、クロスライン移動
機構22上から同時に確認することができる。
以上述べた3つの実施例によれば、光ファイバ群13に
より、オペレータが無理な姿勢をとらず、座ったままの
状態で容易にしかも正確かつ迅速に液晶パネル上の欠陥
箇所を目視で検査することができるのみならず、オペレ
ータが液晶パネル上に直接マーキングすること無く欠陥
箇所の指示を行うようにしているため、位置の指示精度
を大幅に向上させることができる。
[発明の効果] 以上詳細に説明したように本発明によれば、液晶パネル
の背面を光源からの光により照明すると共に液晶パネル
を透過状態とするための駆動信号を印加した状態で、照
明による液晶パネルの像を光ファイバ群を介して結像す
ることにより液晶パネルの欠陥箇所を検査するように構
成したので、定位置にいるオペレータが、快適な姿勢を
保ったままで、液晶パネルの欠陥の検査を、容易に、し
かも素早くかつ高精度で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第工図は本発明の一実施例による液晶パネルの欠陥検査
装置を示す側面図、第2図は第1図の実施例における欠
陥位置指示回路を示すブロック図、第3図は本発明の他
の実施例による液晶パネルの欠陥検査位置を示す側面図
、第4図は第3図の実施例における欠陥位置指示回路を
示すブロック図、第5図は本発明のさらに他の実施例に
よる液晶パネルの欠陥検査装置を示す側面図、第6図は
第5図の実施例における欠陥位置指示回路を示すブロッ
ク図である。 11・・・・・・液晶パネル、12・・・・・・バック
ライト、13・・・・・・光ファイバ群、14・・・・
・・タッチパネル、15・・・・・・信号発生器、17
・・・・・・マイクロコンピュータ、18・・・・・・
モニタ、19・・・・・・液晶デイスプレィユニット、
20゜25・・・・・・駆動回路、21・・・・・・操
作ボックス、22・・・・・・クロスライン移動機構、
23・・・・・・X軸モータ、24・・・・・・第1 図 第3 図 第2図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 液晶パネルを背面から照明する光源と、該液晶パネルを
    透過状態とする駆動信号を発生する信号発生器と、該駆
    動信号の印加された前記液晶パネルを透過する光によっ
    て形成される像をオペレータの視野内に導く光ファイバ
    群とを備えたことを特徴とする液晶パネルの欠陥検査装
    置。
JP4276490A 1990-02-23 1990-02-23 液晶パネルの欠陥検査装置 Pending JPH03245033A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4276490A JPH03245033A (ja) 1990-02-23 1990-02-23 液晶パネルの欠陥検査装置

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JP4276490A JPH03245033A (ja) 1990-02-23 1990-02-23 液晶パネルの欠陥検査装置

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ID=12645050

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JP (1) JPH03245033A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009104112A (ja) * 2007-10-01 2009-05-14 Mitsubishi Electric Corp 表示装置
US20140127962A1 (en) * 2011-08-01 2014-05-08 Beijing Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Vacuum cell-assembling device and cell-assembling method

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US8876569B2 (en) * 2011-08-01 2014-11-04 Beijing Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Vacuum cell-assembling device and cell-assembling method

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