JPH03240176A - エッジ情報抽出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明は、物体の寸法及び座標等を測定する測定装置並
びにパターン認識装置等において、対象物のモニタ画像
等から特定のエツジの情報を抽出するエツジ情報抽出装
置に関する。

［従来の技術］ 従来から、物体計測の分野では、例えば被測定物体の顕
微鏡像をＴＶカメラで撮像し、これをモニタ画面上に表
示させると共に、画面上の数個の点を指定することによ
り、上記被測定物体の座標、幅、長さ及び半径等を算出
する測定装置が知られている。この種の装置では、被測
定物体の測定すべき幅、長さ等を規定する画像中のエツ
ジ上の点を指定して測定が行われる。このため、モニタ
画面上の指定されたエツジの情報を抽出するためのエツ
ジ情報抽出処理が行われている。このエツジ情報抽出処
理は、画面輝度（濃度）の例えば中間値をスレッシロル
ドレベルとして多値画像データを２値化し、エツジ部分
を明瞭化させたうえで行われる。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、このような従来のエツジ情報抽出方式で
は、例えば半導体のパターン等、中間調を多く含む多値
画像を２値化する場合、エツジの両側の濃度及び濃度差
が対象とするエツジによって大きく異なるため、スレッ
ショルドレベルの設定が難しく、所望する画像のエツジ
が抽出されないという不具合があった。

そこで、２値化のスレッショルドレベルを任意の値に調
整可能にしたものも知られている。この場合には、抽出
すべきエツジ毎にその両側の濃度レベルの中間値にスレ
ッショルドレベルヲ調整することにより、所望のエツジ
を抽出することができるが、抽出すべきエツジ毎にスレ
ッショルドレベルを調整しなくてはならないため、操作
が煩雑で測定に時間がかかるという問題点があった。

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
中間調を含む多値画像中のエツジを簡単な操作で確実に
抽出することができるエツジ情報抽出装置を提供するこ
とを目的とする。

［課題を解決するための手段］ 本発明に係るエツジ情報抽出装置は、中間調を含む多値
画像を表示する手段と、前記多値画像中に少なくとも１
つのウィンドウを設定する手段と、この手段で設定され
たウィンドウを前記多値画像に重畳して表示させる手段
と、前記ウィンドウ内の多値画像のみを参照してスレッ
ショルドレベルを決定し前記多値画像を２値化する手段
と、この手段で２値化された画像からエツジ情報を抽出
する手段とを具備してなることを特徴とする。

なお、前記多値画像を２値化する手段は、多値画像全体
に対して２値化処理を施すものでも、また、前記ウィン
ドウ内の多値画像のみを２値化するものでも良い。

また、前記エツジ情報に基づき前記ウィンドウ内におけ
るエツジの代表点の座標を検出する手段を更に備えるよ
うにしても良い。

［作用コ 本発明によれば、中間調を含む多値画像中に少なくとも
１つのウィンドウが設定され、このウィンドウ内の多値
画像のみを参照して２値化のスレッショルドレベルが決
定されるので、抽出したいエツジを含むように１乃至数
個のウィンドウを設定するという簡単な操作で、ウィン
ドウ内の濃度ニ応じた最適なスレッショルドレベルがウ
ィンドウ毎に設定される。そして、上記設定されたスレ
ッショルドレベルに基づいて２値化処理が行われるので
、上記所望するエツジ情報を確実に精度良く抽出するこ
とが可能になる。

また、２値化処理を、ウィンドウの内部の画像のみに限
定して施すようにすると、２値化処理に要する時間を大
幅に削減することができ、処理速度の向上を図ることが
できる。

更に、本発明によれば、濃度レベルが区々の複数の部分
に、夫々ウィンドウを設定した場合でも、各ウィンドウ
毎に最適スレッショルドレベルが決定され、２値化され
るので、濃度レベルが異なる複数のエツジ情報が夫々正
確に抽出されることになる。このため、各エツジの代表
点の座標を検出する手段を更に設けることにより、中間
調画像に対しても、例えば多点指示による寸法測定処理
を簡単な操作で行うことが可能になり、測定作業の能率
を大幅に向上させることができる。

［実施例］ 以下、添付の図面を参照しながら本発明の実施例につい
て説明する。

第１図乃至第１０図は、本発明を微小物体の寸法測定装
置に適用した実施例を示す図で、第２図はその全体構成
を示す斜視図ある。

この測定装置は、被測定物体１の光学像を拡大する測定
顕微鏡２と、この測定顕微鏡２に装着されたＣＣＤカメ
ラ３と、このＣＣＤカメラ３からの画像信号を処理して
寸法測定処理を実行するデータ処理装置４とにより構成
されている。

測定顕微鏡２は、次のように構成されている。

即ち、本体１１の上には、被測定物体１を載置するステ
ージ１２が装着されている。このステージ１２は、Ｘ方
向ステージ調整ハンドル１３、Ｙ方向ステージ調整ハン
ドル１４及びステージ回転っまみ１５によって、夫々Ｘ
方向、Ｙ方向及び回転方向に移動可能なものとなってい
る。また、本体１１の向かって奥には、上方に延びるレ
ンズ支持レール１６が固定されており、このレンジ支持
レール１６に、レンズ組立体１７が上下動可能に支持さ
れている。レンズ組立体１７は、被測定物体１と対向す
る側に、４穴レボルバ１８に装着された倍率が異なる４
つの対物レンズ１９ａ＋　　１９ｂ＋１９ｃ、１９ｄを
備えている。また、レンズ組立体１７は、その上部に接
眼レンズ２０を備え、この接眼レンズ２０と対物レンズ
１９ａ〜１９ｄとを正立三眼鏡筒２１を介して光学的に
結合するものとなっている。このレンズ組立体１７は、
焦点調整ハンドル２２によって上下動される。また、２
３は対物レンズクランプ用つまみである。

この測定顕微鏡２の正立三眼鏡筒２１の上部に、例えば
６４０Ｘ４８０の画素数のＣＯＤカメラ３が装着されて
いる。

データ処理装置４は、第１図に示すように構成されてい
る。なお、処理装置本体３０の内部の各機能ブロックは
、ハードウェアによって実現されていても、ＣＰＵ及び
ソフトウェアによって実現されていても良い。ＣＯＤカ
メラ３で撮像された被測定物体１の拡大像のアナログ画
像信号は、Ａ／Ｄ変換器３１に入力されている。Ａ／Ｄ
変換器３１は、アナログ画像信号を例えば８ビツトの多
値画像データに変換する。Ａ／Ｄ変換器３１から出力さ
れる多値画像データは、多値画像メモリ３２に格納され
るようになっている。

また、データ処理装置４にはキーボード３３が設けられ
ており、これによりウィンドウの数、位置及び大きさ並
びに寸法測定の際の演算条件等を設定することができる
。キーボード３３からのウィンドウ設定のためのデータ
（以下、ウィンドウデータと呼ぶ）は、ウィンドウ設定
メモリ３４に格納される。このウィンドウ設定メモリ３
４に格納されたウィンドウデータと多値画像メモリ３２
に格納された被測定物体ｌの多値画像データとは、合成
手段３５において重畳され、ＣＲＴデイスプレィ３６に
表示されるようになっている。

一方、多値画像メモリ３２に格納された多値画像データ
とウィンドウ設定メモリ３４に格納されたウィンドウデ
ータとは、ウィンドウ内２値化手段３７にも供給されて
いる。ウィンドウ内２値化手段３７は、指定されたウィ
ンドウ内の多値画像データのみを２値化して、ウィンド
ウ内のエツジ部分を明瞭化させる。ウィンドウ内２値化
手段３７で２値化された画像データは、エツジ座標検出
手段３８に供給されている。エツジ座標検出手段３８は
、２値化データからエツジ情報を抽出し、そのエツジ上
の代表点、例えば中点の座標（以下、エツジ座標と呼ぶ
）を検出する。これらウィンドウ内２値化手段３７及び
エツジ座標検出手段３８は、ウィンドウ内処理用メモリ
４２を適宜アクセスしてその処理を実行する。エツジ座
標検出手段３８で検出されたエツジ座標は座標メモリ３
９に格納される。演算手段４０は、座標メモリ３９に格
納された各ウィンドウのエツジ座標と、キーボード３３
によって指定された演算条件とに基づいて、被測定物体
１の幅、長さ、半径等の寸法を算出する。この算出結果
は、測定結果として液晶デイスプレィ４１に表示される
ようになっている。

次に、このように構成された本装置の動作を説明する。

ステージ１２上に載置された被測定物体１の光学像は、
測定顕微鏡２によって拡大された後、ＣＯＤカメラ３で
撮像される。ＣＯＤカメラ３からのアナログ画像信号は
、Ａ／Ｄ変換器３１で８ビツトの多値画像データにＡ／
Ｄ変換され、多値画像メモリ３２に格納される。多値画
像データが多値画像メモリ３２に格納されると、中間調
を含む多値画像データが、ＣＲＴデイスプレィ３６に、
例えば第３図（ａ）に示すように表示される。この画像
５０のＬＩ　　Ｌ２線における輝度を同図（ｂ）に示す
。この図からも明らかなように、この画像５０は、最暗
領域５１．５５と、次に暗い領域５４と、この領域５４
よりも明るい領域５２と、最明領域５３とを含んでいる
。

この画像５０上に現われた図形の寸法を測定する際には
、キーボード３３を使用して、第３図（ａ）に示すよう
な、複数のウィンドウ５Ｂ、５７゜５８．５９を設定す
る。これらウィンドウ５６〜５９は、測定すべき寸法を
規定するエツジ上の任意の点を含むように設定される。

ウィンドウ５６〜５９の設定は、キーボード３３によっ
て画面上のカーソルを移動させる等の周知の手法によっ
て行うことができる。また、マウス及びライトペン等の
他の座標指示手段によってウィンドウを設定するように
しても良い。これらのウィンドウ５６〜５９は、合成手
段３５によって多値画像データにスーパーインポーズさ
れ、ＣＲＴデイスプレィ３６に被測定物体１の画像に重
畳されて表示される。

次に、キーボード３３からエツジ座標の算出指示が入力
されると、各ウィンドウ５６〜５９毎にエツジ座標が算
出される。このエツジ座標算出処理では、まずウィンド
ウの内部の多値画像データが２値化される。例えば、第
３図（ａ）に示すウィンドウ５６においては、同図（ｂ
）のウィンドウ範囲ｗ５ｅで示すようなウィンドウ５６
の内部の画素の輝度レベルのみが参照され、例えばその
最大値と最小値との中間値がスレッショルドレベルＤ□
１として選択され、ウィンドウ内２値化処理が行われる
。同様に、ウィンドウ５７．５８．５９については、夫
々ウィンドウ範囲Ｗ　！１７１　Ｗ５８１Ｗｅｔｅで示
される輝度レベルが参照され、スレッショルドレベルＤ
Ｔ□＋　ＤＴ３１　ＤＴ４が夫々側々に設定されてウィ
ンドウ内２値化が行われる。従って、第３図（Ｃ）に示
すように、抽出すべきエツジの両側の輝度レベルが区々
であっても、各ウィンドウ５６〜５９の内部は、適切且
つ確実に２値化される。そして、各ウィンドウ内の２値
画像に基づいてエツジ座標が算出されると、第３図（ｄ
）に示すように、エツジ座標が検出されたことを示すマ
ーク６０がウィンドウ５６内に表示される。

以上のエツジ座標算出処理は、具体的には第１図に示し
たウィンドウ内２値化手段３７及び工・ソジ座標検出手
段３８において、第４図に示す手順に従って実行される
。

まず、多値画像メモリ３２のフリーズ処理（Ｓ、）によ
り、多値画像メモリ３２へのデータ入力を一旦断って多
値画像メモリ３２の内容を固定する。

次に、ウィンドウ設定メモリ３４に格納されているウィ
ンドウデータに基づいてウィンドウ内の多値画像データ
を、ウィンドウ内処理用メモリ４２にコピーする（Ｇ２
）。即ち、第５図（ａ）に示すように、ウィンドウデー
タは、例えば画面上の原点（０，０）からの位置座標（
Ｘｏ　、Ｙ、）と、Ｘ方向の大きさＸｄ及びＹ方向の大
きさＹｄとにより構成されている。従って、多値画像メ
モリ３２の容量を６４０×４８０、多値画像メモリ３２
の先頭アドレスをＯ番地、多値画像メモリ３２のに番地
のデータをＤ　（ｋ）とすると、ウィンドウ内処理用メ
モリ４２には、第５図（ｂ）に示すように、多値画像メ
モリ３２からデータＤ（Ｇ４０Ｙｏ　＋Ｘｏ　）　、　
Ｄ（Ｇ４０Ｙｏ　＋Ｘｏ　＋１）、・・・Ｄ（Ｇ４０Ｙ
Ｏ＋Ｘｏ　＋Ｘｄ）　、　Ｄ　（ｅ４ｏ（Ｙｏ　＋１）
＋Ｘｏ　）　、−、Ｄ　（ｅ４ｏ（Ｙｏ　十ｙｄ　）　
＋Ｘｏ　＋Ｘ、ｔ　）が夫々コピーされる。

続いてウィンドウ内２値化処理が実行される（Ｇ３）。

この処理の詳細を第６図に示す。先ず、ウィンドウ内処
理用メモリ４２内のデータをサーチして、その最大値Ｄ
　ＭＡＸ及び最小値り、□８を求める（　Ｓ　３ｔ）。

次に、下記（１）式に基づいて２値化のスレッショルド
レベルＤ７を決定スル。

ＤＴ　＝　ａ　（ＤＭＡＸ　　ＤＭＩＮ　）　＋ＤＭｔ
Ｎ・・・（１）ここでａは、Ｏ〜１の係数であるが、ａ
：０．５と設定し、下記（２）式によってスレッショル
ドレベルＤ７を求めるようにしても良い（Ｇ３゜）。

ＤＴ　＝　（ＤＭＡＸ　＋ＤＭＩＮ　）　／　２　　　
　・・・（２）次に、ウィンドウ内処理用メモリに格納
されている多値画像データのうち、そのレベルがスレッ
ショルドレベルＤＴ以上のものを“１”に、また、スレ
ッシロルドレベルＤ７未満のものを“０１１に２値化し
てウィンドウ内処理メモリ４２に再度書き込む（Ｓ　、
、ｌ］）。

以上のウィンドウ内２値化処理（Ｇ３）が終了すると、
エツジ検出処理が実行される（Ｇ４）。

第７図は、この処理の詳細を示すフローチャートである
。先ず、ウィンドウの各Ｙ値毎にＸ方向にスキャンして
、Ｘ方向の変化点が存在するかどうかを確認する（　Ｓ
　４１）。この処理は、ウィンドウ内処理用メモリ４２
のアドレスＯからアドレスｘｄ−ｉまで、アドレスＸｄ
からアドレス２Ｘｄ−１まで、・・・、アドレス（Ｙｄ
−１）ＸｄからアドレスＹｄＸｄまでを順次スキャンし
て“０”と“Ｉ　１１の変化点が存在するかどうかを調
べることにより実現できる。

全てのＹ値についてＸ方向の変化点が存在するならば、
そのウィンドウにはＹ方向に延びるエツジが存在するこ
とになる。この場合、処理を終了する（Ｓ４□）。そう
でない場合には、ウィンドウの各Ｘ植苗にＹ方向にスキ
ャンして、Ｙ方向の変化点が存在するかどうかを確認す
る（　Ｓ　４３）。この処理もＸ方向のスキャンと同様
、ウィンドウ内処理用メモリ４２のアドレス０からアド
レスＸ、ｌ（Ｙ、−１）まで、アドレス１からアドレス
Ｘｄ（Ｙｄ−１）＋ｔまで、・・・、アドレスＸｄ−１
からアドレスＹｄＸｄまでを夫々Ｘｄ　１おきに順次ス
キャンして“０″と“１″の変化点が存在するかどうか
を調べていくことにより実現することができる。

そして、全てのＸ値についてＹ方向の変化点が存在する
ならば、そのウィンドウにはＸ方向に延びるエツジが存
在することになる。この場合も、処理を終了する。また
、そうでない場合には、エツジが検出されなかったので
、エラーとして処理をする（　Ｓ　４４）。

エツジが検出された場合には（Ｓ５）、続いてエツジ追
跡処理が実行され（Ｓ８）、そしてエツジ追跡が可能で
あった場合のみ（Ｓ７）、エツジ座標算出処理が実行さ
れる（Ｓ８）。これらの処理の詳細を第８図に示す。先
ず、エツジ追跡を行いながら、Ｘ又はＹ方向の各明暗変
化点を抽出する（　Ｓ　８１）。例えばＹ方向に延びる
エツジが検出された場合には、ウィンドウ内処理用メモ
リ４２のアドレスＯからアドレスＸｄ−ｔにかけて明暗
変化点を探索し、その表示画面上での座標を求める。次
に、その明暗変化点が存在するウィンドウ内処理用メモ
リ４２のアドレスにＸｄを加算したアドレスから±α（
αは２〜３）のアドレス範囲に明暗変化点が存在するか
どうかを確認する。そして、この処理を順次繰り返すと
、明暗変化点の座標の集合がエツジ情報として抽出され
る。また、Ｘ方向に延びるエツジが検出された場合には
、ウィンドウ内処理用メモリ４２のアドレスをＯ９Ｘ、
、２Ｘｄ、・・・、Ｘｄ　（Ｙｄ−１）とＸｄずつ増や
しながら明暗変化点を探索し、その表示画面上での座標
を求める。次に、その明暗変化点のアドレスに１を加え
たアドレスから士Ｘｄｓ±２Ｘｄ、・・・　αＸｄを夫
々加えたアドレスに明暗変化点が存在するかどうかを確
認する。そして、この処理を順次繰り返すと、明暗変化
点の座標の集合がエツジ情報として抽出される。

もし、ウィンドウ内の濃度傾斜が緩やかであったり、変
則的である場合には、明暗変化点が追跡の途中で途切れ
る可能性がある。この場合には、エツジ追跡不能として
エラー処理を行う（Ｓ　７１）。

そうでない場合には、第９図に示すように、エツジ情報
である明暗変化点の座標の集合から最小二乗法等の手法
を使用して明暗変化点の近似直線Ｌｓを求める。そして
、求められた近似直線Ｌｓの例えばウィンドウ内におけ
る中点Ｐ　（Ｘ、　。

Ｙｅ）をウィンドウにおけるエツジ座標とする。

第９図は、Ｘｄ＝１３．Ｙｄ＝９のウィンドウ例であり
、そのウィンドウ内エツジ座標（Ｘｏ。

Ｙ、）は（５，４）になる。これを下記（３）。

（４）式により画面上でのエツジ座標（Ｘ８゜ｙＥ）に
置き換える。

Ｘｇ　＝Ｘｏ　＋Ｘ、　　・　（３） ＹＨ＝ＹＯ＋Ｙ、　　・　（４） また、画面上での座標と被測定物体１上の座標とは異な
るので、測定顕微鏡２の倍率及びＣＲＴデイスプレィ３
６への変換比等に基づいて、画面上でのエツジ座標を実
座標軸上でのエツジ座標に変換し、座標メモリ３９に格
納する（　Ｓ　ｅｔ）。なお、求められたエツジ座標に
は、第３図（ｄ）で示したようなエツジ座標が求められ
たことを示すマーク６０を表示する（Ｓａ。）。このマ
ーク６０は、第１図のエツジ座標検出手段３８で求めら
れた画面上のエツジ座標（ＸＲ、ＹＦｌ）に基づいてウ
ィンドウ設定メモリ３４の対応位置に書き込まれること
によりＣＲＴデイスプレィ上に表示される。

以上の処理を全てのウィンドウについて実施すると、各
ウィンドウのエツジ座標が検出される（８．３）。

次に、演算手段４０は、座標メモリ３９からエツジ座標
を読み出し、キーボード３３から指定された演算条件に
従って、寸法測定のための演算を実行する。

第１０図は、種々の寸法測定例を示した図である。同図
（ａ）は、平行な２本のエツジ上に夫々ウィンドウ７１
．７２を設定し、そのエツジ上の点Ｐ□ｌＰ２の座標か
ら中点Ｐの座標及び両点ＰＩ、Ｐ２間の距離りを求める
例である。同図（ｂ）は、平行な２本のエツジのうちの
一方のエツジに２つのウィンドウ７３．７４を設定する
と共に、他方のエツジに１つのウィンドウ７５を設定し
、ウィンドウ７３．７４内のエツジ上の点Ｐ＋＋Ｐ２の
座標と、ウィンドウ７５内のエツジ上の点Ｐ３の座標と
から、両エツジ間の間隔Ｖ及びＰ＋＋１２間の距離Ｈを
求める例である。また、同図（Ｃ）は、平行でない２本
のエツジ上に夫々ウィンドウ７６．７７及びウィンドウ
７８．７９を設定し、これらのウィンドウ７６〜７９内
のエツジ上の点Ｐ１．Ｐ２．Ｐ３．Ｐ４の座標から両エ
ツジのなす角度θを求める例である。更に、同図（ｄ）
は、円を構成するエツジ上の３箇所にウィンドウ８０．
８１．８２を夫々設定し、それらのウィンドウ８０〜８
２内のエツジ上の点ＰＩＩＰ２１Ｐ３の座標から、円の
半径Ｒ及び直径りを求める例である。これらの寸法測定
は、公知の演算手法を用いて容易に実行することができ
る。そして、求められた測定結果は、例えば液晶デイス
プレィ４１に表示される。

以上のように、本実施例に係る寸法測定装置によれば、
多値画像の必要箇所にウィンドウを設定するだけの簡単
な操作で、ウィンドウ毎に２値化が行われ、ウィンドウ
内のエツジ情報を確実に抽出して寸法測定を行うことが
できる。また、この装置では、ウィンドウ内のみを２値
化するようにしているから、例えば６４０Ｘ４８０画素
の全画面を２値化する場合に比べ、３０×３０画素のウ
ィンドウを４個使用した場合でも、その処理時間をｌ／
８５に短縮することができる。

なお、本発明は中間調を含む多値画像中の特定のエツジ
情報を確実に抽出する方式を提供するものであり、上述
した寸法測定のみならず、エツジ情報から特定の特徴を
抽出したり、特定のパターンとのマツチング処理を行う
等の他の用途にも適用可能であることは言うまでもない
。

［発明の効果］ 以上詳述したように、本発明によれば、多値画像中に設
定された少なくとも１つのウィンドウの内部の多値画像
のみを参照してスレッシロルドレベルを決定し、２値化
処理を行うようにしているので、ウィンドウ内部の所望
するエツジ情報を確実に精度良く抽出させることが可能
になる。

また、２値化処理を、ウィンドウの内部の画素のみに限
定して施すことにより、２値化処理に要する時間を大幅
に削減することができ、処理速度の向上を図ることがで
きる。

更に、エツジの代表点の座標を検出する手段を設けるこ
とにより、例えば寸法測定に応用した場合、中間調画像
に対しても多点指示による寸法測定処理を支障なく実行
させることが可能になり、測定作業の能率を大幅に向上
させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第１０図は本発明を寸法測定装置に適用した
実施例を説明するための図で、第１図は同測定装置にお
けるデータ処理装置のブロック図、第２図は同測定装置
の外観斜視図、第３図は表示画像及びその輝度レベルを
示す模式図、第４図はエツジ座標算出の手順を示す流れ
図、第５図は画面上のウィンドウ位置及び大きさとウィ
ンドウ内処理用メモリとの対応を示す模式図、第６図は
第４図におけるウィンドウ内２値化処理の流れ図、第７
図は第４図におけるエツジ検出処理の模式図、第８図は
第４図におけるエツジ追跡及びエツジ座標算出処理の流
れ図、第９図はウィンドウ内の２値画像と求められたエ
ツジ座標とを示す模式図、第１０図は各種寸法測定方法
を示す模式図である。 １；被測定物体、２；測定顕微鏡、３；ＣＣＤカメラ、
４；データ処理装置、１１；本体、１２；ステージ、１
３；Ｘ方向ステージ調整ハンドル、１４；Ｙ方向ステー
ジ調整ハンドル、１５；ステージ回転つまみ、１６；レ
ンズ支持レール、１７：レンズ組立体、１８；４穴レボ
ルバ、１９ａ〜１９ｄ；対物レンズ、２０；接眼レンズ
、２１；正立三眼鏡筒、２２；焦点調整ハンドル、２３
：対物レンズクランプ用つまみ、３０；処理装置本体、
３１；Ａ／Ｄ変換器、３２；多値画像メモリ、３３；キ
ーボード、３４；ウィンドウ設定メモリ、３５；合成手
段、３６；ＣＲＴデイスプレィ、３７；ウィンドウ内２
値化手段、３８；エツジ座標検出手段、３９；座標メモ
ＩＪ、４０；演算手段、４１；液晶デイスプレィ、４２
；ウィンドウ内処理用メモリ、５０；画像、５６〜５９
゜２：ウィンドウ、 ６０；マーク

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）中間調を含む多値画像を表示する手段と、前記多
   値画像中に少なくとも１つのウィンドウを設定する手段
   と、この手段で設定されたウィンドウを前記多値画像に
   重畳して表示させる手段と、前記ウィンドウ内の多値画
   像のみを参照してスレッショルドレベルを決定し前記多
   値画像を２値化する手段と、この手段で２値化された画
   像からエッジ情報を抽出する手段とを具備してなること
   を特徴とするエッジ情報抽出装置。
2. （２）前記多値画像を２値化する手段は、前記ウィンド
   ウ内の多値画像のみを２値化するものであることを特徴
   とする請求項１に記載のエッジ情報抽出装置。
3. （３）前記エッジ情報に基づき前記ウィンドウ内におけ
   るエッジの代表点の座標を検出する手段を更に備えたこ
   とを特徴とする請求項１又は２に記載のエッジ情報抽出
   装置。