JPH03239999A - 光学素子およびその製造方法 - Google Patents
光学素子およびその製造方法Info
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- JPH03239999A JPH03239999A JP3633490A JP3633490A JPH03239999A JP H03239999 A JPH03239999 A JP H03239999A JP 3633490 A JP3633490 A JP 3633490A JP 3633490 A JP3633490 A JP 3633490A JP H03239999 A JPH03239999 A JP H03239999A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、シンクロトロン放射光施設のビームライン等
、比較的高強度、かつ高エネルギーの光を扱う光学系に
おいて用いられる光学素子およびその製造方法に関する
ものである。
、比較的高強度、かつ高エネルギーの光を扱う光学系に
おいて用いられる光学素子およびその製造方法に関する
ものである。
(従来の技術)
従来、シンクロトロン放射光施設のビームライン等、比
較的高強度、かつ高エネルギーの光を扱う光学系におい
ては、ミラー等の光学素子として、白金等の単体金属膜
を石英の上に形成したものが一般に用いられてきた。し
かし従来のことような構造を有する光学素子の場合、主
として光照射による温度上昇が原因で単体金属膜の結晶
構造に変化が生ずる等、光照射損傷が大きいので、光学
特性の経時変化が大きいという問題があった。
較的高強度、かつ高エネルギーの光を扱う光学系におい
ては、ミラー等の光学素子として、白金等の単体金属膜
を石英の上に形成したものが一般に用いられてきた。し
かし従来のことような構造を有する光学素子の場合、主
として光照射による温度上昇が原因で単体金属膜の結晶
構造に変化が生ずる等、光照射損傷が大きいので、光学
特性の経時変化が大きいという問題があった。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は、前述の問題点を解決するためになされたもの
で、耐高強度、かっ耐高エネルギーの光学素子を提供す
ることにある。
で、耐高強度、かっ耐高エネルギーの光学素子を提供す
ることにある。
(課題を解決するための手段)
本発明の光学素子は、従来の単体金属の代わりに、高強
度、かつ高エネルギーの光照射に対しても、結晶構造の
安定な金属もしくは合金、シリコン、窒素からなる3元
化合物により構成する。
度、かつ高エネルギーの光照射に対しても、結晶構造の
安定な金属もしくは合金、シリコン、窒素からなる3元
化合物により構成する。
本発明の光学素子の製造方法は、スパッタ装置に、金属
もしくは合金のシリサイドをターゲットとして装填する
か、または金属もしはく合金のターゲットとシリコンタ
ーゲットとを装填し、また基板を装填し、スパッタ装置
の内部を排気した後、アルゴンと窒素の混合気体を導入
し、窒素成分を制御して、前記ターゲットを用いて反応
性スパッタ法により、金属もしくは合金、シリコン、窒
素からなる3元化合物の膜を形成する。
もしくは合金のシリサイドをターゲットとして装填する
か、または金属もしはく合金のターゲットとシリコンタ
ーゲットとを装填し、また基板を装填し、スパッタ装置
の内部を排気した後、アルゴンと窒素の混合気体を導入
し、窒素成分を制御して、前記ターゲットを用いて反応
性スパッタ法により、金属もしくは合金、シリコン、窒
素からなる3元化合物の膜を形成する。
(実施例)
第1図は、金属にタングステンを用いた場合の本発明の
光学素子の一実施例図であって、WSiN (W:Si
:N=2 : 1 : 1)/石英よりなる構造の光
学素子を示す。1はWSiN、2は石英である。
光学素子の一実施例図であって、WSiN (W:Si
:N=2 : 1 : 1)/石英よりなる構造の光
学素子を示す。1はWSiN、2は石英である。
第2図に、前述のWSiN膜のX線回折データを示す。
第2図かられかるようにWSiN膜を形成した直後、お
よび真空中での800℃、1時間の熱処理後における膜
の構造は、ともにアモルファスであり、極めて安定であ
る。第1図のWSiN/石英よりなる構造の光学素子に
、10 KeV程度までのX線を含むシンクロトロン放
射光を、計1000時間照射したところ、特性変動は見
られず極めて安定であった。
よび真空中での800℃、1時間の熱処理後における膜
の構造は、ともにアモルファスであり、極めて安定であ
る。第1図のWSiN/石英よりなる構造の光学素子に
、10 KeV程度までのX線を含むシンクロトロン放
射光を、計1000時間照射したところ、特性変動は見
られず極めて安定であった。
なおこの実施例ではWSiN膜中の窒素原子濃度を25
%としたが、これに限定されることはなく、少なくとも
5%以上含有すれば、膜の構造は、高温状態でも安定で
あり、本発明は有効である。5%以下の場合には高温状
態で結晶化を生ずる。
%としたが、これに限定されることはなく、少なくとも
5%以上含有すれば、膜の構造は、高温状態でも安定で
あり、本発明は有効である。5%以下の場合には高温状
態で結晶化を生ずる。
あまりN原子濃度を上げると、他の成分の濃度が下がる
ので、膜特性は安定でなく、実用的には5%程度までが
適当である。
ので、膜特性は安定でなく、実用的には5%程度までが
適当である。
またこの実施例では、W:5i=2:lとしたが、これ
を3:1.1:2等とした場合においても膜の構造は安
定であり、本発明は有効である。
を3:1.1:2等とした場合においても膜の構造は安
定であり、本発明は有効である。
またこの実施例では、金属にタングステンを用いたが、
これをモリブデン、タンタル、ニオブ、チタン、コバル
ト、ニッケル、またはこれらの合金とした場合において
も、同様に膜の構造は安定であり、本発明は有効である
。
これをモリブデン、タンタル、ニオブ、チタン、コバル
ト、ニッケル、またはこれらの合金とした場合において
も、同様に膜の構造は安定であり、本発明は有効である
。
またこの実施例では、基板に石英を用いたが、これをシ
リコン等、他の材料とした場合においても、3元化合物
層の特性には影響を与えないので、本発明は有効である
。
リコン等、他の材料とした場合においても、3元化合物
層の特性には影響を与えないので、本発明は有効である
。
このように、本発明の光学素子は、高強度、かツ高エネ
ルギーの光照射による経時変化が極めて小さいので、特
に高強度、かつ高エネルギーの放射光を利用するアンジ
ュレータ、ウィグラー等を用いたビームラインの光学素
子の寿命を、大幅に向上させることができるという利点
がある。
ルギーの光照射による経時変化が極めて小さいので、特
に高強度、かつ高エネルギーの放射光を利用するアンジ
ュレータ、ウィグラー等を用いたビームラインの光学素
子の寿命を、大幅に向上させることができるという利点
がある。
次に〜VSiNの場合を例にとり、本発明の光学素子の
製造方法の実施例について述べる。
製造方法の実施例について述べる。
第3図は本発明の光学素子用のスパッタ装置の概略図で
あって、3は基板、4は基板ホルダ、5はスパッタリン
グ・ターゲット(WSi)、6は真空チェンバ、7はマ
スフローコントローラ、8は高周波電源を示す。
あって、3は基板、4は基板ホルダ、5はスパッタリン
グ・ターゲット(WSi)、6は真空チェンバ、7はマ
スフローコントローラ、8は高周波電源を示す。
石英等の基板3をスパッタ装置に装填して、内部を排気
した後、アルゴンと窒素とを、マスフローコントローラ
7でそれぞれ20 sec/min、 2 sec/m
inに制御して、その混合気体を導入し、タングステン
・シリサイドのターゲット5を用い、放電電力500W
を印加して、反応性スパッタ法によりWSiN膜を形成
した。膜中の窒素原子濃度は、ガスの混合比を変えるこ
とにより制御する。またタングステンとシリコンの組成
比は、スパッタリング・ターゲットの組成比を変えるこ
とにより制御する。
した後、アルゴンと窒素とを、マスフローコントローラ
7でそれぞれ20 sec/min、 2 sec/m
inに制御して、その混合気体を導入し、タングステン
・シリサイドのターゲット5を用い、放電電力500W
を印加して、反応性スパッタ法によりWSiN膜を形成
した。膜中の窒素原子濃度は、ガスの混合比を変えるこ
とにより制御する。またタングステンとシリコンの組成
比は、スパッタリング・ターゲットの組成比を変えるこ
とにより制御する。
なおこの実施例は、ターゲットとしてタングステン・シ
リサイドを用いたが、これをタングステンとシリコンの
二つのターゲットとして、基板を回転させながら交互に
極めて薄い膜を堆積していく場合においても、同様の性
質を備えたWSiN膜を形成することができ、本発明は
有効である。
リサイドを用いたが、これをタングステンとシリコンの
二つのターゲットとして、基板を回転させながら交互に
極めて薄い膜を堆積していく場合においても、同様の性
質を備えたWSiN膜を形成することができ、本発明は
有効である。
またこの実施例では、金属としてタングステンのみを用
いたWSiNの場合の製造方法について述べたか、これ
をモリブデン、タンタル、ニオブ、チタン、コバルト、
ニッケル、またはこれらの合金とした場合には、スパッ
タリング・ターゲットとして、それぞれモリブデン・シ
リサイド、タンタル・シリサイド、ニオブ・シリサイド
、チタン・シリサイド、コバルト・シリサイド、ニッケ
ル・シリサイド、またはこれら金属の合金のシリサイド
を用いることにより、同様の手順で前述の光学素子を製
造することができ、本発明は有効である。
いたWSiNの場合の製造方法について述べたか、これ
をモリブデン、タンタル、ニオブ、チタン、コバルト、
ニッケル、またはこれらの合金とした場合には、スパッ
タリング・ターゲットとして、それぞれモリブデン・シ
リサイド、タンタル・シリサイド、ニオブ・シリサイド
、チタン・シリサイド、コバルト・シリサイド、ニッケ
ル・シリサイド、またはこれら金属の合金のシリサイド
を用いることにより、同様の手順で前述の光学素子を製
造することができ、本発明は有効である。
(発明の効果)
以上述べたように、本発明の製造方法によれば、任意の
組成の膜を制御性良く製作でき、耐高強度・耐高エネル
ギーの光学素子を容易に実現できるという利点がある。
組成の膜を制御性良く製作でき、耐高強度・耐高エネル
ギーの光学素子を容易に実現できるという利点がある。
第1図は本発明の光学素子の一実施例の構造を示す図、
第2図は第1図に示す光学素子のWSiN膜のX線回折
データを示す図、 第3図は本発明の光学素子用のスパッタ装置の概略図で
ある。 ■・・・WSiN 2・・・石英3・・・基
板 4・・・基板ホルダ5・・・スパッタ
リング・ターゲット(WSi)6・・・真空チェンバ 7・・・マスフローコントローラ 訃・・高周波電源
データを示す図、 第3図は本発明の光学素子用のスパッタ装置の概略図で
ある。 ■・・・WSiN 2・・・石英3・・・基
板 4・・・基板ホルダ5・・・スパッタ
リング・ターゲット(WSi)6・・・真空チェンバ 7・・・マスフローコントローラ 訃・・高周波電源
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、金属もしくは合金、シリコン、窒素からなる3元化
合物により構成されていることを特徴とする光学素子。 2、特許請求の範囲第1項記載の光学素子において、3
元化合物中の窒素原子濃度が少なくとも5%以上あるこ
とを特徴とする光学素子。 3、光学素子の製造方法において、スパッタ装置に、金
属もしくは合金のシリサイドをターゲットとして装填す
るか、または金属もしくは合金のターゲットとシリコン
ターゲットとを装填し、また基板を装填し、スパッタ装
置の内部を排気した後、アルゴンと窒素の混合気体を導
入し、窒素成分を制御して、前記ターゲットを用いて反
応性スパッタ法により、金属もしくは合金、シリコン、
窒素からなる3元化合物の膜を形成することを特徴とす
る光学素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3633490A JPH03239999A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | 光学素子およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3633490A JPH03239999A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | 光学素子およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03239999A true JPH03239999A (ja) | 1991-10-25 |
Family
ID=12466932
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3633490A Pending JPH03239999A (ja) | 1990-02-19 | 1990-02-19 | 光学素子およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03239999A (ja) |
-
1990
- 1990-02-19 JP JP3633490A patent/JPH03239999A/ja active Pending
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