JPH02173222A - 高純度多元合金製造装置 - Google Patents
高純度多元合金製造装置Info
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- JPH02173222A JPH02173222A JP32789488A JP32789488A JPH02173222A JP H02173222 A JPH02173222 A JP H02173222A JP 32789488 A JP32789488 A JP 32789488A JP 32789488 A JP32789488 A JP 32789488A JP H02173222 A JPH02173222 A JP H02173222A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、高純度多元合金製造装置に関し、特にヨウ化
物分解法により高lll1度多元合金を製造する装置に
関する。
物分解法により高lll1度多元合金を製造する装置に
関する。
(従来の技Vi )
近年、高純度多元合金が半導体技術分野において注目さ
れており、特に強誘電体メモリの製造に際して重要視さ
れている。
れており、特に強誘電体メモリの製造に際して重要視さ
れている。
この強誘電体メモリとは、強誘電体の特有の性質を利用
した橘成のものである。ここで、強誘電体の特有の性質
とは、強誘電体の両端子間に直流電圧を印加することに
より電気分極が生じた後は、印加主権を0にしても分極
はOに成らないという残留分極が生じ、次いで、逆向き
に直流電流電圧を印加して印加電圧を上昇させていくと
分極が0になり、更に印加電圧を上界させると逆方向の
分極が生じることになる現象、即ち第4図に示す如くに
電圧Eに対し残留分極Pが変化するヒスプリシス特性を
描く性質をいう。
した橘成のものである。ここで、強誘電体の特有の性質
とは、強誘電体の両端子間に直流電圧を印加することに
より電気分極が生じた後は、印加主権を0にしても分極
はOに成らないという残留分極が生じ、次いで、逆向き
に直流電流電圧を印加して印加電圧を上昇させていくと
分極が0になり、更に印加電圧を上界させると逆方向の
分極が生じることになる現象、即ち第4図に示す如くに
電圧Eに対し残留分極Pが変化するヒスプリシス特性を
描く性質をいう。
このような性質を有する強誘電体を用いたメモリ素子に
おいては、以下のような特長を有することになる。
おいては、以下のような特長を有することになる。
■不揮発メモリである。
■リフレッシュが不必要である。
(■高集積化に向いている。
■ソフトエラー耐性にり−ぐれでいる。
■リークに強い。
一方、こうしたメモリ用の誘電体材料として、通常PZ
Tと称されるPb (Zrx、 Ti I−x )0
3が注目されている。このPZTは、簿膜化されてメモ
リ素子に供されることになり、一般にスパッタリング法
によりPZTillとされる。係るスパッタリング法に
よりPZT薄膜を得る場合、スパッタリングターグツ1
−とじて、酸化物ターゲット又は金属ターゲットを用い
る。そして、特に1金属ターゲツトを用いた場合のほう
が、酸化物ターゲットを用いた場合に比べて、組成再現
性、成膜速度の観点から有利であるとされている。
Tと称されるPb (Zrx、 Ti I−x )0
3が注目されている。このPZTは、簿膜化されてメモ
リ素子に供されることになり、一般にスパッタリング法
によりPZTillとされる。係るスパッタリング法に
よりPZT薄膜を得る場合、スパッタリングターグツ1
−とじて、酸化物ターゲット又は金属ターゲットを用い
る。そして、特に1金属ターゲツトを用いた場合のほう
が、酸化物ターゲットを用いた場合に比べて、組成再現
性、成膜速度の観点から有利であるとされている。
しかしながら、現在、工業的に生産されている純ジルr
ニウム(Zr>、[チタン(Ti )には、重金属、ガ
ス元素等の不純物m度が高いため、これらを材料として
なる金属ターゲラ1〜を用いた場合、成膜T稈において
金属ターゲット中の不純物に依存してPZT薄膜中に不
純物が混入したままとなるおそれが大きい。そこで、本
願出願人(よ、ヨウ化物分解法により高純度金属を精製
し得ることに着目した。
ニウム(Zr>、[チタン(Ti )には、重金属、ガ
ス元素等の不純物m度が高いため、これらを材料として
なる金属ターゲラ1〜を用いた場合、成膜T稈において
金属ターゲット中の不純物に依存してPZT薄膜中に不
純物が混入したままとなるおそれが大きい。そこで、本
願出願人(よ、ヨウ化物分解法により高純度金属を精製
し得ることに着目した。
このヨウ化物反応法は、化学輸送法の一種であり、ジル
コニウム(Zr)、チタン(Ti)、鉛(Pb )など
の精製に使用される方法であって、ヨウ化物の生成、続
く解離反応により所望の金属を高純度化することができ
る。例えばTiでは以下の如くの反応が利用される。
コニウム(Zr)、チタン(Ti)、鉛(Pb )など
の精製に使用される方法であって、ヨウ化物の生成、続
く解離反応により所望の金属を高純度化することができ
る。例えばTiでは以下の如くの反応が利用される。
1i+212→Ti 14 (450〜600℃)
・・・(1)Ti !4→Ti +212 <11
00へ、1500’C)・・・(2)即ら、上記(1)
式に示すようにTIとヨ・り索とは、450〜600℃
の温度で反応し、7’i +4は、1100〜150
0℃の温度でTiとヨウ素とに解離する。
・・・(1)Ti !4→Ti +212 <11
00へ、1500’C)・・・(2)即ら、上記(1)
式に示すようにTIとヨ・り索とは、450〜600℃
の温度で反応し、7’i +4は、1100〜150
0℃の温度でTiとヨウ素とに解離する。
具体的には、従来は第5図に示す如くの原理構成とされ
た絹製装置により高純度チタンを製造している。図中の
1は、原料Tiとヨウ素とを収容する反応容器である。
た絹製装置により高純度チタンを製造している。図中の
1は、原料Tiとヨウ素とを収容する反応容器である。
この反応容器1の中央には0字状のフィラメント2が吊
るされ、このフィラメント2が給電治具3a、同3bを
介して電源4に接続されている。反応容器1全体は、4
00へ・600℃に加熱される高温炉5の中に固定され
る。
るされ、このフィラメント2が給電治具3a、同3bを
介して電源4に接続されている。反応容器1全体は、4
00へ・600℃に加熱される高温炉5の中に固定され
る。
このような配置構造とすることにより、450〜600
℃の温度で反応容器中のTiとヨウ素とは、(1〉式に
従い反応し、Ti 14を生成する。
℃の温度で反応容器中のTiとヨウ素とは、(1〉式に
従い反応し、Ti 14を生成する。
一方、フィラメント2は、通電加熱により1100−1
500℃に加熱されることになり、この温度において(
2)式の反応によってTi 14から王と12とに分
解する。そのため、分解したTiはフィラメント2上に
析出し、I2は再び原料T1と反応し、Tiをフィラメ
ント2上に運ぶことになる。
500℃に加熱されることになり、この温度において(
2)式の反応によってTi 14から王と12とに分
解する。そのため、分解したTiはフィラメント2上に
析出し、I2は再び原料T1と反応し、Tiをフィラメ
ント2上に運ぶことになる。
この際、原料Ti中に含まれる不純物は、T1に比ベヨ
ウ索と反応性が低くヨウ化物を形成しにくかったり、仮
に形成してもそのヨウ化物の蒸気圧が低く気体化しにく
い場合は、原料T1中に残存する。
ウ索と反応性が低くヨウ化物を形成しにくかったり、仮
に形成してもそのヨウ化物の蒸気圧が低く気体化しにく
い場合は、原料T1中に残存する。
このようにしてTiの精製が行われ、フィラメント2F
に高純度Tiが成長する。
に高純度Tiが成長する。
また、zr 、pbも上記と同様の原理及び装置により
高純度Zr高純度pbを製造することができる。ZrI
4の生成、解離反応は以下の温度範囲で起こる。
高純度Zr高純度pbを製造することができる。ZrI
4の生成、解離反応は以下の温度範囲で起こる。
Zr +2 I2−Zr [4(250〜400℃’)
−<3>Zr I4−”Zr +212 (1000
〜1400”C) ・(4)また、Pb 12の生成、
解離反応は、以下の温度範囲で起こる。
−<3>Zr I4−”Zr +212 (1000
〜1400”C) ・(4)また、Pb 12の生成、
解離反応は、以下の温度範囲で起こる。
pb+12→Pb 12 (100〜200℃) ・・
・(5)Pb I2→Pb + 12 (700〜1
100℃) ・・・(6)しかしながら、従来の場合に
おいては、ヨウ化物分解法は単金属について8純度精製
を行うものであって、上記金属ターゲットに用いること
ができる高純度多元合金を生成することができなかった
。
・(5)Pb I2→Pb + 12 (700〜1
100℃) ・・・(6)しかしながら、従来の場合に
おいては、ヨウ化物分解法は単金属について8純度精製
を行うものであって、上記金属ターゲットに用いること
ができる高純度多元合金を生成することができなかった
。
(発明が解決しようとする課題)
即ら、従来の場合にJヲいては、ヨウ化物分解法の利用
は、あくまで単金属を高純度に精製するだめの利用でし
かなく、高純度多元合金を生成づ−るための工夫が全く
なされてなかった。従って、従来は、複数種類の高純度
金属を得た後、別工程で高純度多元合金を作らなければ
ならず、またこの別工程にて不純物が混入するお(れが
あるという不具合があった。
は、あくまで単金属を高純度に精製するだめの利用でし
かなく、高純度多元合金を生成づ−るための工夫が全く
なされてなかった。従って、従来は、複数種類の高純度
金属を得た後、別工程で高純度多元合金を作らなければ
ならず、またこの別工程にて不純物が混入するお(れが
あるという不具合があった。
本発明は、係る課題に鑑みでなされたもので、高純度多
元合金を単一工程で生成し得る高純度多元合金製造装置
を提供することを目的とする。
元合金を単一工程で生成し得る高純度多元合金製造装置
を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記の目的を達成するため、反応容器と、前
記反応容器内に配置された2種類以上の原料を各別に加
熱してそれぞれのヨウ化物を生成させるヨウ化物生成手
段と、館記ヨウ化物生成手段により生成した2種類以上
のヨウ化物を同時に解離させる析出手段と、を具@する
ことを特徴とする高純度多元合金製造装置である。
記反応容器内に配置された2種類以上の原料を各別に加
熱してそれぞれのヨウ化物を生成させるヨウ化物生成手
段と、館記ヨウ化物生成手段により生成した2種類以上
のヨウ化物を同時に解離させる析出手段と、を具@する
ことを特徴とする高純度多元合金製造装置である。
即ち、本発明による高I4i度多元合金製造装置は第1
図に示す如くの構成であって、ハステレイ日製の反応容
器6内に、基板7の配設位置を中心として全方位を等分
する位置関係で複数個の原料加熱装置8を反応容器6の
に径方向に移動可能に配設する。
図に示す如くの構成であって、ハステレイ日製の反応容
器6内に、基板7の配設位置を中心として全方位を等分
する位置関係で複数個の原料加熱装置8を反応容器6の
に径方向に移動可能に配設する。
原料加熱装置8は、原料の種類数に応じて配設すること
ができるものであり、原料が例えばPb。
ができるものであり、原料が例えばPb。
Zr、Tiであれば、この数に応じて第2図に示すよう
に、原料加熱装置88〜8Cが配設される。
に、原料加熱装置88〜8Cが配設される。
この原料加熱装置88〜8Cは、ヨウ化物生成手段とし
て機能されるもので、原料9aへ−90に対応させて加
熱ヒータ10a〜10c及びリフレクタ11a〜llc
を実装している。
て機能されるもので、原料9aへ−90に対応させて加
熱ヒータ10a〜10c及びリフレクタ11a〜llc
を実装している。
そして、基板7の配設位置には、基板ステージ12を設
けており、この基板ステージ12は回転[113により
回転駆動される。
けており、この基板ステージ12は回転[113により
回転駆動される。
更に、基板7の−1一方には、反応容器6の石英製11
4があり、この石英製窓14を通して赤外線放射加熱ラ
ンプ15の放射熱が基板7に加えるようになされている
。なお、16は赤外線放射加熱ランプ15の電源である
。
4があり、この石英製窓14を通して赤外線放射加熱ラ
ンプ15の放射熱が基板7に加えるようになされている
。なお、16は赤外線放射加熱ランプ15の電源である
。
また、反応容器6内は、ヨウ素雰囲気をつくるようにな
されており、この反応容器6の周囲はヒータ17で覆わ
れている。
されており、この反応容器6の周囲はヒータ17で覆わ
れている。
前述した各部構成において、反応容器6内の温度はヒー
タ17の加熱により200〜300℃に保持され、これ
によりヨウ化物が浮遊中に固化されないようにされる。
タ17の加熱により200〜300℃に保持され、これ
によりヨウ化物が浮遊中に固化されないようにされる。
複数個の原料加熱装置8における各加熱装置88〜8C
は、それぞれ原料を異なる温度で各別に加熱してヨウ化
物を生成できるものである。例えば加熱装M 8 aに
装着した原料9aがTiのとき、このTiを加熱装置8
aにより600℃に加熱保持し、また加熱装置8bに装
着した原料9bが7rのとき、この7「を加熱装置8b
により300℃に加熱保持し、また加熱装置8c1.:
装着した原料9Cがpbのとき、このPbを200℃に
加熱保持することにより、それら各原料のヨウ化物を生
成することができる。
は、それぞれ原料を異なる温度で各別に加熱してヨウ化
物を生成できるものである。例えば加熱装M 8 aに
装着した原料9aがTiのとき、このTiを加熱装置8
aにより600℃に加熱保持し、また加熱装置8bに装
着した原料9bが7rのとき、この7「を加熱装置8b
により300℃に加熱保持し、また加熱装置8c1.:
装着した原料9Cがpbのとき、このPbを200℃に
加熱保持することにより、それら各原料のヨウ化物を生
成することができる。
基板ステージ12に搭載した基板7は、上記3種類の原
料に基づく3種類のヨウ化物がそれぞれ解離する例えば
1100″C以上に赤外線放射加熱ランプ15の熱放射
により加熱保持するようになされている。
料に基づく3種類のヨウ化物がそれぞれ解離する例えば
1100″C以上に赤外線放射加熱ランプ15の熱放射
により加熱保持するようになされている。
反応容器6は、ヨウ素に対して耐食性が良好なハステロ
イやインコネルなどのニッケル基合金あるいは内面にヨ
ウ素に対して耐食性の良好な金属であるモリブデン(M
o )やタングステン(W>の被覆層を設けてもよい。
イやインコネルなどのニッケル基合金あるいは内面にヨ
ウ素に対して耐食性の良好な金属であるモリブデン(M
o )やタングステン(W>の被覆層を設けてもよい。
基板7の加熱手段としては、第3図に示す如く誘導加熱
用コイル18及びこの電源19からなる誘導加熱式加熱
手段を用いることができる。なお、第3図において第1
図と同一符号は対応する部分を小している。
用コイル18及びこの電源19からなる誘導加熱式加熱
手段を用いることができる。なお、第3図において第1
図と同一符号は対応する部分を小している。
基板7の代りに、通電加熱により高温に加熱されるフィ
ラメントを適用することができる。
ラメントを適用することができる。
更に、条件設定は、以下のように行える。
即ら、基板7上での金属の析出速度がヨウ化物生成温度
及び解離温度に依存することに対応させて、それら各温
度を種々に変えることにより、Pb、Zr、Tiの析出
速度を変えることができ、つまり、組成の異なるPb
−Zv−Ti合金を作ることができる。
及び解離温度に依存することに対応させて、それら各温
度を種々に変えることにより、Pb、Zr、Tiの析出
速度を変えることができ、つまり、組成の異なるPb
−Zv−Ti合金を作ることができる。
原IJ9a〜9Cから基板7への拡散が律速するような
条件で析出が進行する場合には、原料9a〜9Cと基板
7との距離を変えることにより、組成をコントロールで
きる。
条件で析出が進行する場合には、原料9a〜9Cと基板
7との距離を変えることにより、組成をコントロールで
きる。
(作用)
このような本発明による高純度多元合金製造装置であれ
ば、ヨウ素雰囲気中で2種類以上の原料を各別に加熱し
ヨウ化反応を生じせしめ、解離反応により所望の高純度
多元合金を析出づ−ることができる。
ば、ヨウ素雰囲気中で2種類以上の原料を各別に加熱し
ヨウ化反応を生じせしめ、解離反応により所望の高純度
多元合金を析出づ−ることができる。
例えば、原料としてPb、7r、Tiが選択された場合
には、そのPb、Zr、Tiを各別に加熱しヨ・り化反
応を生じせしめ、解離反応により高1lIl!度Pb
−Zr−Ti合金を析出することができる。この高11
1i度Pb −Zr−Ti合金は、LSI用P Z T
III作成のターゲットの素材として使用することが
できる純度を有している。他にも、13iCu、3r、
Caの如くヨウ素との反応性が高く會 ヨウ化物解法により生成可能な元素がある。これら元素
の何れか2種類以上を原料として選択し、高純度多元合
金を作成することができる。こうして得られる高純度多
元合金は、酸化物超電導薄膜作成用ターゲットの素材と
して使用することができる。
には、そのPb、Zr、Tiを各別に加熱しヨ・り化反
応を生じせしめ、解離反応により高1lIl!度Pb
−Zr−Ti合金を析出することができる。この高11
1i度Pb −Zr−Ti合金は、LSI用P Z T
III作成のターゲットの素材として使用することが
できる純度を有している。他にも、13iCu、3r、
Caの如くヨウ素との反応性が高く會 ヨウ化物解法により生成可能な元素がある。これら元素
の何れか2種類以上を原料として選択し、高純度多元合
金を作成することができる。こうして得られる高純度多
元合金は、酸化物超電導薄膜作成用ターゲットの素材と
して使用することができる。
更に、高純度多元合金の組成を異らせたい場合、各原料
を加熱する温度を種々変更することにより達成できる。
を加熱する温度を種々変更することにより達成できる。
また、原料から基板への拡散が律速するような条件では
、原料と基板との距離を変えることで対応できる。
、原料と基板との距離を変えることで対応できる。
これらの他にも利点があり、例えば溶解などによる合金
化のプロレスが省けるばかりでなく、溶解時の雰囲気あ
るいはるつぼや鋳型からの汚染を防ぐことができる。
化のプロレスが省けるばかりでなく、溶解時の雰囲気あ
るいはるつぼや鋳型からの汚染を防ぐことができる。
(実施例)
第1図に示された構成による実施例を以下に詳述する。
加熱装置8aに100gのスポンジTiを原料9aとし
て装着し、加熱g置8bに100oのスポンジZrを原
料9bとして¥&着し、加熱′JA置8Cに100gの
Pbを原料9Cとして[iして、各原料9a〜9Cを基
板7の中心から7Q+amの位置に固定配置した。そし
て、原料9aのスポンジT1を600℃に加熱保持し、
原料9bのスポンジlrを300℃に加熱保持し、原料
9CのPbを200℃に加熱保持した。
て装着し、加熱g置8bに100oのスポンジZrを原
料9bとして¥&着し、加熱′JA置8Cに100gの
Pbを原料9Cとして[iして、各原料9a〜9Cを基
板7の中心から7Q+amの位置に固定配置した。そし
て、原料9aのスポンジT1を600℃に加熱保持し、
原料9bのスポンジlrを300℃に加熱保持し、原料
9CのPbを200℃に加熱保持した。
また、反応容器6内は、5gのヨウ素によりヨウ素雰囲
気をつくるとともに、反応容器6内の温度を200℃に
加熱保持した。
気をつくるとともに、反応容器6内の温度を200℃に
加熱保持した。
そして、基板7としてモリブデン(Mo)FJの基板を
用い、この基板7を赤外線放射加熱ランプ15により1
100’Cに加熱保持した。
用い、この基板7を赤外線放射加熱ランプ15により1
100’Cに加熱保持した。
更に、基板ステージ12を回転1a構13により定速度
で回転さゼて、基板7面内のヨウ化物のイ・」肴溌度分
布が一定となるように基板7を回転させた。
で回転さゼて、基板7面内のヨウ化物のイ・」肴溌度分
布が一定となるように基板7を回転させた。
こうした条件下において、上記した(1)〜(6)式に
従ってヨウ化物生成反応及び解離を行わせることを、2
0時間継続したところ、約36aのPb1r−7i合金
を作成することができた。
従ってヨウ化物生成反応及び解離を行わせることを、2
0時間継続したところ、約36aのPb1r−7i合金
を作成することができた。
反応容器6を充分に冷却した後、基板7を反応容器6内
から取り出し、基板7上のPb −Zr −Ti合金に
ついてエネルギー分散型のX線分析装置により組成分析
を行ったところ、組成のばらつぎが小さくほぼ均一な2
6at%Zr−24atTpb合金であった。
から取り出し、基板7上のPb −Zr −Ti合金に
ついてエネルギー分散型のX線分析装置により組成分析
を行ったところ、組成のばらつぎが小さくほぼ均一な2
6at%Zr−24atTpb合金であった。
このようにして、本発明の一実施例装置により得られた
Zr −Ti−Pb合金の不純物潤度を分析した結果を
第1表に示す。但し、第1表において、Δは本発明によ
る26at%Zr−24atTpb合金を示し、Bは従
来の溶解法により製造した25at%Zr−25atT
i−Pb合金を示す。
Zr −Ti−Pb合金の不純物潤度を分析した結果を
第1表に示す。但し、第1表において、Δは本発明によ
る26at%Zr−24atTpb合金を示し、Bは従
来の溶解法により製造した25at%Zr−25atT
i−Pb合金を示す。
なお、単位はWt 、 1)plである。
第1表
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、強誘電体メモリ
のPZT膜を作成するために用いる金属ターゲット等の
素材となる高純度多元合金を単工程で生成することがで
きるから、半導体技術分野等の如く高純度多元合金を用
いる技術分野の発展に大ぎく寄与することができる。
のPZT膜を作成するために用いる金属ターゲット等の
素材となる高純度多元合金を単工程で生成することがで
きるから、半導体技術分野等の如く高純度多元合金を用
いる技術分野の発展に大ぎく寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が適用された一実施例の高純度多元合金
製造装置の概略を示す構成図、第2図は3種類の原料を
用いる51合の原料加熱装置の配置状態を承り配置図、
第3図は本発明が適用された他実施例の高純度多元合金
製造装置の概略を示す構成図、第4図は強誘電体の電圧
−分極のヒステリシス特性を示す特性曲線図、第5図は
従来の高純度金属製造装置の概略を示す構成図である。
製造装置の概略を示す構成図、第2図は3種類の原料を
用いる51合の原料加熱装置の配置状態を承り配置図、
第3図は本発明が適用された他実施例の高純度多元合金
製造装置の概略を示す構成図、第4図は強誘電体の電圧
−分極のヒステリシス特性を示す特性曲線図、第5図は
従来の高純度金属製造装置の概略を示す構成図である。
Claims (2)
- (1)反応容器と、前記反応容器内に配置された2種類
以上の原料を各別に加熱してそれぞれのヨウ化物を生成
させるヨウ化物生成手段と、前記ヨウ化物生成手段によ
り生成した2種類以上のヨウ化物を同時に解離させる析
出手段と、を具備することを特徴とする高純度多元合金
製造装置。 - (2)前記析出手段は、回転駆動手段を備えていること
を特徴とする請求項1記載の高純度多元合金製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32789488A JPH02173222A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 高純度多元合金製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32789488A JPH02173222A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 高純度多元合金製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02173222A true JPH02173222A (ja) | 1990-07-04 |
Family
ID=18204175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32789488A Pending JPH02173222A (ja) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | 高純度多元合金製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02173222A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6833058B1 (en) | 2000-10-24 | 2004-12-21 | Honeywell International Inc. | Titanium-based and zirconium-based mixed materials and sputtering targets |
CN105779956A (zh) * | 2016-03-21 | 2016-07-20 | 东南大学 | 一种两步法制备有机钙钛矿甲基胺基碘化铅薄膜的方法 |
-
1988
- 1988-12-27 JP JP32789488A patent/JPH02173222A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6833058B1 (en) | 2000-10-24 | 2004-12-21 | Honeywell International Inc. | Titanium-based and zirconium-based mixed materials and sputtering targets |
CN105779956A (zh) * | 2016-03-21 | 2016-07-20 | 东南大学 | 一种两步法制备有机钙钛矿甲基胺基碘化铅薄膜的方法 |
CN105779956B (zh) * | 2016-03-21 | 2018-02-02 | 东南大学 | 一种两步法制备有机钙钛矿甲基胺基碘化铅薄膜的方法 |
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