JPH0323995B2 - - Google Patents

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JPH0323995B2
JPH0323995B2 JP57233906A JP23390682A JPH0323995B2 JP H0323995 B2 JPH0323995 B2 JP H0323995B2 JP 57233906 A JP57233906 A JP 57233906A JP 23390682 A JP23390682 A JP 23390682A JP H0323995 B2 JPH0323995 B2 JP H0323995B2
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JP
Japan
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stage decoder
decoder
stage
circuit
transistor
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JP57233906A
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English (en)
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JPS59124092A (ja
Inventor
Yasuro Matsuzaki
Toshitaka Fukushima
Koji Ueno
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Priority to EP83307901A priority patent/EP0115187B1/en
Priority to DE8383307901T priority patent/DE3382163D1/de
Priority to US06/566,323 priority patent/US4617653A/en
Priority to IE3081/83A priority patent/IE56715B1/en
Publication of JPS59124092A publication Critical patent/JPS59124092A/ja
Publication of JPH0323995B2 publication Critical patent/JPH0323995B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/10Decoders
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/12Group selection circuits, e.g. for memory block selection, chip selection, array selection

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
(1) 発明の技術分野 本発明はメモリ装置に係り、特に2段構成のデ
コーダによつて消費電力の軽減を行つたデコーダ
回路に関する。 (2) 技術の背景 従来からメモリの容量を拡張する手段として例
えば16Kビツトのメモリを2つ接続して32Kビツ
トのメモリとして利用できるような手法が知られ
ている。 このようなメモリ拡張においてはメモリ容量を
増加させることも出来るが、これらメモリ並びに
周辺のデコーダ回路等で消費される電力も増大す
る。 そこで、これら消費電力の増大を防止する対策
がとられている。 (3) 従来技術と問題点 第1図は従来のICメモリを2ケ並列に接続し
てメモリ容量を増加させた場合に消費電力の低下
すなわちパワーダウンさせるための回路を示すも
のであり、第2図は第1図に示すICメモリのデ
コーダ部分に相当する回路を示すものである。第
1図において、1a及び1bで示すICメモリは
各々例えば32Kのメモリで上記2つのICメモリを
接続することで64KのICメモリとして利用する場
合であり、第1のICメモリ1aの入力端子にに
アドレス信号2(A0〜Ao)が与えられ、第1、
第2のICメモリ1a,1bの出力端子に出力3,
3′を取り出す。このようなICメモリの消費電力
の増加を減少させるために第1及び第2のICメ
モリ1a,1bに外付けでパワースイツチ部5
a,5bを付加して該ICメモリを制御する。 6aはパワースイツチ部5a,5bのアドレス
入力信号でアドレスインバータ7a,7bに与え
られ、バイアス抵抗器R2,R2′を通してパワース
イツチ8a,8bすなわちトランジスタのベース
をコントロールする。 該パワートランジスタ8a,8bのエミツタは
電源ラインVccに接続され、コレクタはICメモリ
1a,1bに接続されている。 尚、R1,R1′,R2,R2′はバイアス用抵抗器で
ある。 第2図に示す回路は第1図のICメモリ部のデ
コーダ回路であり、主要部は論理ゲートすなわち
ナンドゲート回路で構成している。 1a1〜1ao並びに1b1〜1boはICメモリ1a,
1b内のデコーダ回路のナンドゲート回路であ
る。 デコーダ回路1a1〜1ao,1b1〜1boの出力は
図示しないがICメモリ1a,1b内のメモリセ
ルに接続されている。 上述のように従来の2段構成デコーダにおいて
は例えば、第1のICメモリまたは第1乃至第n
のデコーダ1a1〜1aoが動作状態になつていると
きはパワースイツチ8aは“オン”状態となさ
れ、第2のパワースイツチ8bは“オフ”状態と
なるようにアドレスインバータ7a,7bの入力
が選択される。 そのために、第1のICメモリ1aまたは第1
乃至第nのデコーダ回路1a1〜1aoの動作時には
第2のICメモリ1bまたは第1乃至第nのデコ
ーダ回路1b1〜1boは不動作状態であるため、メ
モリで消費されるパワーは1/2となり、次に第1
のICメモリ1aまたはデコーダ回路1a1〜1ao
“オフ”状態にしたとき第2のICメモリ1bまた
はデコーダ回路1b1〜1boは“オン”状態となさ
れる。 上記の構成によれば、ICメモリを2段構成と
した場合にはパワーを半分にすることが可能であ
るが、第1または第2のICメモリを単独で使用
する場合にはパワーを節約することが出来ない。 近年64Kまたは128K等のメモリが1チツプ化
されてきている。これらメモリ容量の大きいIC
ではそのデコーダ回路内で消費されるパワーも大
きくなり、上記第1及び第2図に示したようなパ
ワーダウンを計る必要性は極めて大きい。 (4) 発明の目的 本発明は上記従来の欠点と要望に鑑み、1つの
ICメモリチツプ内でもパワーダウンの計れるデ
コーダ回路を提供するを第1の目的とするもので
ある。 本発明の第2の目的はデコーダ回路内のインバ
ータの“オフ”特性が遅延する問題を解決したデ
コーダ回路を提共するにある。 (5) 発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば1チツプ化し
た集積回路メモリ内に第1段目デコーダ及び第2
段目デコーダを具備し、上記第1段目デコーダ内
のスイツチ手段を介して上記第2段目デコーダに
電力を選択するように供給し、該第2段目デコー
ダを選択してなるように構成してなることを特徴
とするデコーダ回路によつて達成される。 (6) 発明の実施例 以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細に
説明する。 第3図は本発明の原理的構成を示す1チツプ内
の2段デコーダ回路を示すものである。 第3図において9aは第1図及び第2図に示し
たパワースイツチ部5a,5bのデコーダに相当
する部分であり、9bは例えば第1のICメモリ
1a,1b内のデコーダ部に相当する部分で9a
を第1段目デコーダ、9bを第2段目デコーダと
すると、本発明においては第2段目デコーダ9b
にはデコーダの全アドレスを接続し、第1段目デ
コーダ9aにはそれらのアドレスより最適な数を
選択し接続する。すなわち第1段目デコーダのア
ドレスは第2段目デコーダのそれと重複するよう
にする。第1段目デコーダの最適アドレス数はデ
コーダの消費される最低のパワー点10が第4図
に示すようにあり、この点を接続する方程式から
求めることが出来る。。 このような構成にするとパワーダウンの効果は
非常に大きく、例えば1チツプ64Kのプログラマ
ブル・リードオンリーメモリ(PROM)の場合、
第1段目デコーダ入力数が3本で第2段目デコー
ダ入力数が8本の場合に従来68mAの電源電流を
15mAに減少させることが可能となる。 第5図は第3図で示した第1段目デコーダ9a
と第2段目デコーダ9bの1つのデコーダ内のト
ランジスタ、トランジスタロジツク(TTL)回
路構成を示すデコーダ回路の一例であり、第1段
目デコーダ9aは第1図で示すパワースイツチ部
5aと同様であるので同一部分には同一符号を付
して重複説明を省略する。アドレス信号を複数に
してダイオード7a1,7a2を用いてデコードを行
う。第2段目デコーダ9bは例えばデコーダ部分
とインバータ部よりなり、前記デコーダ部分はナ
ンドゲート回路1a1であり、該ナンドゲート回路
1a1はダイオード11a,11b,11cで構成
されTTL回路の(選択“L”非選択“H”)デコ
ーダの場合ダイオード部そのものは非選択でパワ
ーを消費しないのでパワースイツチ部、すなわち
第1段目デコーダのパワースイツチ出力へ抵抗器
RBを介してデコーダ回路11a,11b,11
cに接続される。 インバータ回路9b2は第1乃至第3のトランジ
スタ12,13,14とダイオード15を含み第
1のトランジスタ12のベースには抵抗器RBと
ダイオード11a,11b,11cを介して信号
が与えられ、コレクタは抵抗器R3を介してVcc電
源に、エミツタは抵抗器R4を介して接地され、
第1のトランジスタ12のコレクタ出力は第2の
トランジスタ13のベースに、第1のトランジス
タのエミツタ出力は第3のトランジスタ14のベ
ースにそれぞれ接続されている。 第2及び第3のトランジスタ13,14はダイ
オード15と抵抗器R5を介して直列接続されて
いる。すなわち、抵抗器R5の一端はVcc電源に他
端は第2のトランジスタ13のコレクタに接続さ
れ、エミツタはダイオード15のアノードに接続
され、該ダイオード15のカソードは出力端子1
6と第3のトランジスタ14のコレクタに接続さ
れ、第3のトランジスタ14のエミツタは直接接
地されている。 上記、構成における動作を説明するに第1段目
デコーダ9aのダイオード7a1,7a2に加えられ
るアドレス信号6aによつてすなわちアドレス信
号6aが全てハイレベル(以下“H”と呼ぶ)の
時パワースイツチ用トランジスタ8a′が“オン”
され、デコーダ回路1a1のダイオード11c,1
1b,11cに加えられるアドレス信号がすべて
“H”であればインバータ回路9b2内の第1のト
ランジスタ12及び第3のトランジスタ14が
“オン”されて出力端子16にはローレベル(以
下“L”と呼ぶ)信号が出力されて選択がなされ
る。 次にパワートランジスタ8a′が“オン”状態で
デコーダ回路1a1中のダイオード11a,11
b,11cに加えられるアドレス信号中に1つで
も“L”があればパワートランジスタ8a′のアド
レスよりの電流IRBは大部分ダイオード11a側
に流れ(ダイオード11aに加えられるアドレス
が“L”とする)インバータ回路9b2の第1のト
ランジスタ12のベースに多少のバイアス電圧が
加えられ第1のトランジスタ12は“オン”する
も微小電流は抵抗器R4を介して接地され、第3
のトランジスタ14は“オフ”状態で出力端子1
6には“H”が出力されて非選択状態となる。 更にパワースイツチ用トランジスタ8a′が“オ
フ”状態であればインバータ回路9b2の第1及び
第3のトランジスタ12,14は“オフ”状態で
ある。 すなわち、1つのICデコーダ内でパワー供給
の選択、非選択を行うことが出来るのでメモリ内
の消費電力の大部分をしめるデコーダ回路内のパ
ワーダウンを行い得る。 しかしながら、第5図の構成によると第1段目
デコーダ9aのアドレス信号6aと第2段目デコ
ーダ9bのデコーダ回路1a1のアドレス信号2と
が異なる構成のためデコーダ回路のダイオード1
1a,11b,11c等の陽極と接地間に生ずる
容量Csの影響によつてパワースイツチ用トラン
ジスタ8a′が“オフ”状態になつてからインバー
タ回路9b2の第1のトランジスタ12が“オフ”
する迄に遅れを生ずる問題がある。すなわち抵抗
器RBの値が大きくなればパワースイツチ用トラ
ンジスタ8a′が“オン”の期間に容量Csにチヤー
ジされていた電荷を放電する時間が長くなる問題
が生ずる。このような問題を解決するためのデコ
ーダ回路につき以下説明する。 第6図は本発明のメモリ装置に適用したデコー
ダ回路の構成を示す回路図である。第6図におい
て第5図と同一部分には同一符号を付して重複説
明を省略する。第2図におけるパワースイツチ8
aはNPN型トランジスタからNPN型トランジス
タ8a′としている。その理由はP型基板にN型エ
ピタキシヤル層を成長させて作製する半導体集積
回路においては、NPN型トランジスタ縦型を用
いることができる。そして、PNP型トランジス
タはコレクタ接地の場合以外は縦型を作ると製造
工程が複雑になるため一般には横型が多く用いら
れ、縦型トランジスタは横型トランジスタに比べ
優れた周波数特性及び電流増幅率を持つため、高
速動作及び優れたパワースイツチングが可能とな
るからである。また後述するインバータ回路9b
の第1乃至第3のトランジスタ12,13,14
にもNPN型トランジスタが用いられるのは同様
の理由によるものである。第1段目デコーダであ
るダイオード7a1,7a2に与えられるアドレス信
号と同一のアドレス信号を第2段目デコーダ9b
のデコーダ回路1a1の出力側にインバータ回路9
b2の第1のトランジスタ12のベースにダイオー
ド17a,17bを介して接続するようにする。
その結果、第1段目デコーダ9aのアドレスと第
2段目デコーダ9bのアドレス信号の供給が重複
することになる。 このように構成するとインバータ回路の第1の
トランジスタ12のベースと接地間の漂遊容量
Csに充電された電荷は上記ダイオード17a,
17bを経て前記アドレス信号6aが“L”とな
つたときにデイスチヤージされる。すなわち第1
段目デコーダ9a(アンド回路)と同様のアンド
回路18がインバータ回路9b2の入力に挿入され
ることになる。なお、ダイオード7a1,7a2,1
1a,11b,11c,17a,17bをシヨツ
トバリアダイオードとすると、シヨツトバリアダ
イオードはPN接合型ダイオードに比べて容量が
少ないため、アドレス信号に対する応答が鋭くな
る。 第7図は本発明のメモリ装置に適用したデコー
ダ回路の他の構成を示し、第5図及び第6図は
TTL構成で2段目デコーダを構成してあるが、
第7図ではECL(Emitter coupled logic)を適用
した場合である。この構成では第1段目デコーダ
9aはパワースイツチ部を形勢し、第2段目デコ
ーダ9bのデコーダ回路はマルチエミツタ用トラ
ンジスタT2とトランジスタT3よりなり、パワ
ースイツチ用トランジスタ8a′の出力は抵抗器RB
を通してマルチエミツタ用トランジスタのコレク
タに与えられる。トランジスタT4のベースには
基準電圧VRefが与えられる。 マルチエミツタトランジスタT1とT2のエミ
ツタにはアドレス信号6a2が与えられる。 この場合も抵抗器RBの値が大きくなると容量
Csの影響が出て来て第5図に示すと同様の弊害
が生ずる。 そこで第2段目デコーダのマルチエミツタトラ
ンジスタのエミツタに第1段目デコーダのアドレ
スをライン19a,19bを介して加えて選択ま
たは非選択の出力を出力端子16に得ている。 なお、第5図に示した例のように第1段目デコ
ーダのアドレス信号を第2段目デコーダにも入力
していない場合には、第1段目デコーダにおける
デコード動作完了後でない限り第2段目デコーダ
はその動作を行い得ない。例えば、漂遊容量Cs
の放電は第1段目デコーダのトランジスタ8a′が
オフしてからでないと進行しない。これに対し、
第6図及び第7図に示すものでは前記第1段目デ
コーダのアドレス信号が前記第2段目デコーダに
も入力されているため前記第1段目デコーダのア
ドレス信号のうちのいずれかが“L”になつた時
点でトランジスタ8a′のオンからオフへの変化を
待たずに前記漂遊容量Csの放電を開始すること
ができる。そのため、デコーダ回路のスイツチン
グ動作をより高速に行うことができる。 上記した第1段目デコーダのアドレスより最適
な数を選択して第2段目デコーダのアドレスに接
続するため最適数を第3図を参照して説明する。 今、第2段目デコーダ9bの電流を最小にする
第1段目デコーダのアドレス数mを求める。今、 第1段目デコーダのアドレスの本数…m本 第2段目デコーダのアドレスの本数…n本 選択された第1段目デコーダ…D1 非選択の第1段目デコーダ…D2 選択された第2段目デコーダ…D3 D1に接続された非選択の第2段目デコーダ…
D4 D2に接続された非選択の第2段目デコーダ…
D5 D1を流れる電流で第2段目デコーダに供給さ
れない電流(第1段目デコーダから第2段目デコ
ーダに供給される電流とは別に第1段目デコーダ
のみで消費される電流)…I1 D2を流れる電流…I2 D3を流れる電流…I3 D4を流れる電流…I4 D5を流れる微小電流I5 (上記I1乃至I5は回路の抵抗値により決定さ
れ、アドレスの本数m、nには依存しない。)と
するとデコーダドライバーの全電流IDDは IDD=I1+I3+(2n-m−1)I4 +(2m−1)I2+(2n−2n-m)I5 ……(1) となる。ここで、2n=N、2m=Mとおくと IDD=I1+I3+(N/M−1)I4 +(M−1)I2+(N−N/M)I5 IDD=(I4−I5)N/M+I2M +I5N+I1+I3−I2−I4 ……(2) I1〜I5Nは定数であるから(2)式をMについて微
分すると dIDD/dM=(I4−I5)N/M2+I2 ……(3) (3)式を更にMで微分すると d2IDD/dM2=2(I4−I5)N/M2 ……(4) I4≫I5であるから(1)式のIDDとMとの関係の曲
線は下に凸である。 よつて、IDDの最小値は dIDD/dM=0 ……(5) より求められる。 (3)式と(5)式より M2=(I4−I5)N/I2 M=2m、N=2nであるから 22m=(I4−I5)2/I2 ∴m=1/2(n+log2・I4−I5/I2) ……(6) (6)式より求めたmに最も近い正の整数が求める
第2段目デコーダのアドレス数である。 また(1)式よりその時のデコーダの消費電流IDD
を求めることが出来る。 今、第8図に示すような2段構成の本発明のメ
モリ装置に適用するデコーダ回路に関して上記I1
〜I5の電流を求め、且つ(1)式及び(6)式より最小の
デコーダ消費電流を求めてみよう。 第8図で第6図と同一部分は同一符号を付して
あるがトランジスタ20,21は第1及び第2段
目デコーダのアドレスを接地へ引き込むためのア
ドレスインバータ用トランジスタであり、ダイオ
ード22,23は抵抗器R3,R5とVcc電源間に
接続したダイオードである。 また抵抗器R1=R3=R4=R5=5KΩに抵抗器
R8=15KΩとしてこれら抵抗器部分を流れる電流
IR1,IR8,IR3,IR4,IR5の値を求める。 先づ第1段目デコーダ9aと第2段目デコーダ
9bの選択の組み合わせは
【表】 上表1に示すように3通りあるのでこれらの電
流を計算する。 先づ第1及び第2段目デコーダが共に選択され
たときはパワースイツチ用トランジスタ8a′は
“オン”で抵抗器RBに電流IRBが流れる。この時
アドレスインバータトランジスタ20,21は
“オフ”でインバータ回路のトランジスタ12は
“オン”され抵抗器R3には電流IR3が流れ、トラ
ンジスタ12のエミツタ電流によつてトランジス
タ14はバイアスされて“オン)状態となり、抵
抗器R5には電流IR5が流れる。これらの電流Vcc
電源を種々に変化させた場合の値を表2に示す。
【表】 次に第1段目デコーダ9aが選択され第2段目
デコーダ9bが非選択の場合はパワースイツチ用
トランジスタ8a′は“オン”して抵抗器R8に電流
IR8が流れ、該電流はアドレスインバータ用トラ
ンジスタ21が“オフ”20が“オン”でダイオ
ード11n→トランジスタ20のコレクタ→エミ
ツタの経路で電流IR8の大部分が接地されるがイ
ンバータ回路のトランジスタ12は“オン”状態
でエミツタ電流が流れ、抵抗器R5を介してIR4
電流は接地される。これら電流とVcc電源を種々
に変化させた場合の値を表3に示す。
【表】 I1=O(mA) 更に第1及び第2段目デコーダ9a,9bが共
に非選択の場合にはパワースイツチ用トランジス
タ8a′は“オフ”でありインバータ回路のトラン
ジスタ12,14も“オフ”であるがアドレスイ
ンバータ用トランジスタ20,21が“オン”状
態であるため、抵抗器R1を流れる電流IR1はダイ
オード7ao→アドレスインバータ用トランジスタ
21のコレクタ→エミツタの経路をへて接地され
る。この時の電流IR1についてVcc電源を変えた
時の値を表4に示す。
【表】 上表の1〜5で求めたI1乃至I5の値を(5)式に代
入すると第1段目デコーダアドレス本数nに対す
る最適な第2段目デコーダアドレスの最適本数m
が求まり、このmを(1)式に代入しデコーダの最小
電流IDDを求める。この求めた値と従来の1段の
デコーダの消費電流とを比較し、それを表5にま
とめて示す。 尚、比較用の従来構成は第8図の構成において
第1段目デコーダの電圧ダウン分を点線で示すダ
イオード24に置き代えてアドレスインバータ2
0を含む1チツプ回路で構成した。
【表】
【表】 表5より明らかなように従来の1段デコーダ回
路と比べて本発明のメモリ装置に適用する2段デ
コーダ回路は電流を大巾に減少し得る。 更に第1及び第2段目デコーダのアドレスの本
数と消費電流の関係を第9図のグラフに示す。こ
のグラフから本発明のメモリ装置に適用するデコ
ーダ回路が電流を減ずる効果はよく解り、第4図
で示したように最適本数があることが解る。 (7) 発明の効果 以上、詳細に説明したように本発明のデコーダ
回路によれば1つのICメモリチツプ内でもパワ
ーダウンを計ることが出来ると共にデコーダ回路
内のインバータ回路のオフ特性が遅延する問題等
も第1段目デコーダから第2段目デコーダに最適
数のアドレス数を選択接続することで解決出来
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のICメモリを2段に接続してパ
ワーダウンを計るための回路図、第2図は第1図
に示すICメモリのデコーダ部分を示す回路図、
第3図は本発明の原理的構成を示す論理ゲート回
路図、第4図は第1段目デコーダのアドレス数と
デコーダのパワーの関係を示すグラフ、第5図は
2段構成でパワーダウンを計るためのデコーダ回
路の構成例を示す回路図、第6図は本発明の実施
例を示す2段構成のデコーダ回路の回路図、第7
図は本発明の他の実施例を示す2段構成デコーダ
回路図、第8図は本発明のデコーダと従来のデコ
ーダの最小消費電流を求めるための比較用実験回
路図、第9図は第1段目デコーダのアドレス数と
デコーダの消費電流の関係を示すグラフである。 1a,1b……ICメモリ、2……アドレス入
力、3……出力、5a,5b……パワースイツチ
部、6a,6b……アドレス入力信号、8a,8
a′,8b……パワースイツチ、7a1,7a2,7
b1,7b2,11a〜11n,15,17a,17
b……ダイオード、1a1〜1ao,1b1〜1bo……
デコーダ回路、9a……第1段目デコーダ、9b
……第2段目デコーダ、18……アンド回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 1チツプ化した集積回路メモリ内に複数のメ
    モリセルと、該複数のメモリセルのうち一つを複
    数ビツトのアドレス信号に基づいて選択するため
    のデコーダ回路を有し、該デコーダ回路は複数の
    デコード回路を備えた第1段目デコーダ部と、複
    数のデコード回路群を備えた第2段目デコーダ部
    とを具備し、該第2段目デコーダ部には前記複数
    ビツトのアドレス信号を入力し、前記第1段目デ
    コーダ部には前記複数ビツトのアドレス信号のう
    ち、前記デコーダ回路における消費電力が最少と
    なるのに適するビツト数のアドレス信号を入力
    し、以て前記第2段目デコーダ部に入力されるア
    ドレス信号の一部は前記第1段目デコーダ部にも
    入力され、前記第2段目デコーダ部における前記
    複数のデコード回路群のうち前記第1段目デコー
    ダ部により選択されたデコード回路群のみを活性
    化するようにしたことを特徴とするメモリ装置。 2 前記第1段目デコーダ部はNPN型パワース
    イツチングトランジスタを有し、前記最適数のア
    ドレス信号を入力するデコード回路を介して前記
    NPN型パワースイツチングトランジスタのベー
    スに入力してANDゲートに構成してあることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のメモリ装
    置。 3 前記第2段目デコーダ部はNPN型トランジ
    スタを有し、該NPN型トランジスタのベースは
    抵抗を介して前記第1段目デコーダ部の前記
    NPN型パワースイツチングトランジスタのエミ
    ツタに接続し、且つ、前記複数ビツトのアドレス
    信号の総てを入力するデコード回路を介して前記
    NPN型トランジスタのベースに入力してあるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のメモ
    リ装置。 4 前記第1段目デコーダ部及び前記第2段目デ
    コーダ部における前記アドレス信号を入力するデ
    コード回路の素子としてダイオードを用いたこと
    を特徴とする特許請求の範囲第2項又は第3項記
    載のメモリ装置。 5 前記第1段目デコーダ部及び前記第2段目デ
    コーダ部における前記アドレス信号を入力するデ
    コード回路の素子としてマルチエミツタトランジ
    スタを用いたことを特徴とする特許請求の範囲第
    2項又は第3項に記載のメモリ装置。
JP57233906A 1982-12-29 1982-12-29 メモリ装置 Granted JPS59124092A (ja)

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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6148192A (ja) * 1984-08-11 1986-03-08 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JPS6167154A (ja) * 1984-09-11 1986-04-07 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
JPS61199297A (ja) * 1985-02-28 1986-09-03 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPS61265794A (ja) * 1985-05-20 1986-11-25 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置のデコ−ダ回路
JP2603205B2 (ja) * 1987-03-16 1997-04-23 シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト 多段集積デコーダ装置
US5257234A (en) * 1987-07-15 1993-10-26 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit device
EP0299697B1 (en) * 1987-07-15 1993-09-29 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit device
KR930001738B1 (ko) * 1989-12-29 1993-03-12 삼성전자주식회사 반도체 메모리장치의 워드라인 드라이버 배치방법
KR920010344B1 (ko) * 1989-12-29 1992-11-27 삼성전자주식회사 반도체 메모리 어레이의 구성방법
KR930001737B1 (ko) * 1989-12-29 1993-03-12 삼성전자 주식회사 반도체 메모리 어레이의 워드라인 배열방법
US5652723A (en) * 1991-04-18 1997-07-29 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device
EP0596198B1 (en) * 1992-07-10 2000-03-29 Sony Corporation Flash eprom with erase verification and address scrambling architecture
JP2001126475A (ja) * 1999-10-25 2001-05-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
US8755213B2 (en) 2012-02-29 2014-06-17 International Business Machines Corporation Decoding scheme for bipolar-based diode three-dimensional memory requiring bipolar programming
US8842491B2 (en) 2012-07-17 2014-09-23 International Business Machines Corporation Decoding scheme for bipolar-based diode three-dimensional memory requiring unipolar programming

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS528739A (en) * 1975-07-10 1977-01-22 Fujitsu Ltd Electronic circuit

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3599182A (en) * 1969-01-15 1971-08-10 Ibm Means for reducing power consumption in a memory device
US3688280A (en) * 1970-09-22 1972-08-29 Ibm Monolithic memory system with bi-level powering for reduced power consumption
US4027285A (en) * 1973-12-26 1977-05-31 Motorola, Inc. Decode circuitry for bipolar random access memory
JPS5631137A (en) * 1979-08-22 1981-03-28 Fujitsu Ltd Decoder circuit
JPS56112122A (en) * 1980-02-08 1981-09-04 Fujitsu Ltd Decoder circuit
JPS5841597B2 (ja) * 1980-12-24 1983-09-13 富士通株式会社 半導体メモリディスチャ−ジ回路

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS528739A (en) * 1975-07-10 1977-01-22 Fujitsu Ltd Electronic circuit

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