JPH03239010A - 遅延回路 - Google Patents

遅延回路

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JPH03239010A
JPH03239010A JP2035581A JP3558190A JPH03239010A JP H03239010 A JPH03239010 A JP H03239010A JP 2035581 A JP2035581 A JP 2035581A JP 3558190 A JP3558190 A JP 3558190A JP H03239010 A JPH03239010 A JP H03239010A
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JP
Japan
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circuit
current
capacitor
delay
transistor
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JP2035581A
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English (en)
Inventor
Haruyoshi Katagiri
片桐 晴義
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〉 本発明は、キャパシタの充放電を利用した時定数回路を
用いた遅延回路、特に小容量キャパシタで長時間の遅延
時間を有する遅延回路に関するものである。
(従来の技術〉 従来、このような分野の技術としては、特公昭52−2
9586号公報(文献l〉、及び特開昭60−1521
20号公報(文献2〉等に記載されるものがあった。
前記文献1の技術では、分流形定電流回路とキャパシタ
による積分回路方式によって一定の遅延時間を得るもの
である。即ち、分流形定電流回路によって供給される電
流の一部を分流して取出し、この電流によってキャパシ
タをゆっくりと充電することにより、見掛は上の時定数
を増大し、小容量キャパシタで大きな遅延時間を得るこ
とができ、モノリシック集積口#I(以下、モノリシッ
クICという)に適した構成となっている。
ところが、この種の回路では、分流形定電流回路の回路
構成が複雑であるばかりか、その分流形定電流回路を構
成するトランジスタ及び抵抗の特性値を正確に決めるこ
とが必要であり、回路を簡単に構成することが困難であ
るという問題があった。
そこで、このような問題を解決する技術の一つとして、
例えば前記文献2に記載された遅延回路があり、その構
成例を第2図に示す。
第2図は、従来の遅延回路の回路図である。
この遅延回路(=、一種の時定数回路を用いた遅延回路
であり、抵抗1a及びトランジスタ1bからなる放電回
路1と、定電流回路2及び積分用キャパシタ3の直列回
路とを、備えている。トランジスタ1bのコレクタ電極
は、キャパシタ3の一端N1−に接続され、その一端N
1が定電流回路2を介して正側電源Vaに接続されてい
る。キャパシタ3の他端N2は、負側電源vbに接続さ
れている。さらに、キャパシタ3の一端N↓には、比較
回路4が接続されている。なお、第2図中の■0は定電
流回路2を流れる電流、5i(=入力信号、Soは出力
信号、Vrは比較回路4に印加される基準電圧である。
第3図は第2図の電圧波形図であり、この図を参照しつ
つ第2図の動作を説明する。なお、第3図中のVN↓は
キャパシタ3の一端Nlの電位、tdは遅延時間である
入力信号Siが高レベル(以下、“H”という)から低
レベル(以下、“ピという〉になると、定電流回路2を
流れる電流■。が、キャパシタ3に比較的緩やかに充電
される。これにより、キャパシタ3の一端Nlの電位V
NIは徐々に上昇していく。
キャパシタの一端Nlの電位VNIが基準電圧Vrを越
えて上昇すると、比較回路4の出力は“H゛から“L”
に変fヒする。これにより、所定の遅延時間tdを計時
したことを示す出力信号SOが得られる。
リセットする場合、入力信号Siを“H“°にすると、
トランジスタlbがオン状態となり、キャパシタ3に充
電された電荷がそのトランジスタ1bを通して急速に放
電され、再び計時開始前の状態に復帰する。
遅延時間tdは、キャパシタ3と定電流回路2を流れる
電流I0とによる時定数で決められる。
そのため、長時間の遅延時間tdを必要とするならば、
キャパシタ3の容量を大きくするか、あるいはトランジ
スタ及び抵抗で構成される定電流回路2の抵抗値を大き
くしてその定電流回路2を流れる電流I(>を小さくす
れば良い。
しかし、第2図の遅延回路をモノリシックICで構成す
る場合、回路形成面積を大きくすることなく、数百PF
以上のキャパシタ3や、定電流回路2を構成するための
抵抗素子として数百にΩ以上のものを形成することは非
常に困難であり、従って10−4秒以上の遅延時間td
を有する遅延回路をモノリシックICて゛形成すること
ができなかった。
そこで前記文献2の技術では、キャパシタ3と並列に、
寄生容量を半導体基板内に形成することにより、時定数
を大きくして遅延時間の増大を図っている。
(発明が解決しようとする課題〉 しかしながら、前記文献2の遅延回路では、次のような
課題があった。
(a)  寄生容量を利用してキャパシタの大容量化を
図るようにしているが、寄生容量そのものの容量値を精
度良く得ることは難しく、設定容量値を有する寄生容量
を精度良く得ようとすれば、半導体の製造工程が複雑な
ものとなる。
(b)  半導体基板内に形成される寄生容量は、容量
値がかなり小さく、大容量の寄生容量を得ようとすれば
、大きな形成面積が必要となる。そのため、遅延回路そ
のものの形成面積の増大を招くことになる。
(c)  寄生容量をキャパシタ3と並列接続すること
により、容量を大きくしているが、寄生容量をキャパシ
タ3に並列接続しようとすると、そのような接続関係に
なるようにキャパシタ3等の断面構造等を考慮してモノ
リシックICを製造することが必要となる。そのため、
製造が複雑となるばかりか、並列接続のための寄生容量
とキャパシタ3との配線構造が複雑化し、製造がより複
雑なものとなってしまう。
従って、容量のみを大きくして時定数を大きくし、それ
によって遅延時間を増大するようにしても、形成面積を
大きくすることなく、構造及び製造が簡単で、精度が良
く、遅延時間の長い遅延回路を得ることが困難であった
本発明は前記従来技術が持っていた課題として、形成面
積を大きくすることなく、精度が良く、構造及び製造か
簡単て°、遅延時間の長い遅延回路を得ることか困難て
゛ある点について解決した遅延回路を提供するものであ
る。
(課題を解決するための手段) 本発明は前記課題を解決するために、時定数を決定する
ための積分用キャパシタと、前記キャパシタに積分電流
を供給して前記キャパシタを充電させる電流供給回路と
、入力信号によりオン。オフ動作して前記キャパシタの
蓄積電荷を放電する放電回路と、前記キャパシタの電圧
と基準電圧とを比較してその比較結果に応じた出力信号
を出力する比較回路とを、備えた遅延回路において、ト
ランジスタで構成されそのトランジスタの電流増幅率に
対応した値で前記積分電流を減少させてその電流により
前記キャパシタを充電する電流低減回路を、設けたもの
である。
前記電流低減回路は、複数のトランジスタをダーリント
ン接続して構成しても良い。
(作 用) 本発明によれば、以上のように遅延回路を構成したのて
′、放電回路のオフ状態時において、電流供給回路から
供給される積分電流が、電流低減回路に流れる。すると
、電流低減回路は、時定数を決める積分電流を電流増幅
率に対応した割合で減少させ、その減少させた電流によ
り、積分用キャパシタをゆっくりと充電していき、見掛
は上の時定数を増大させるように働く。このように、電
流低減回路によって取出した微小な電流によって積分用
キャパシタをゆっくりと充電することにより、見掛は上
の時定数を増大する手段は、電流供給回路の回路構成を
簡単1ヒさせる働きがあると共に、キャパシタの小容量
化とそれによる形成面積の減少化、構造及び製造の簡単
化、遅延時間の精度向上化、さ占に遅延時間の増大化を
図る働きがある。
従って、前記課題を解決できるのである。
(実施例〉 第1図は、本発明の実施例を示す遅延回路の回路図であ
る。
この遅延回路は、例えばモノリシ・・lりICで構成さ
れるもので、入力信号Siによりオン、オフ動作するリ
セット用の放電回路10を備えている。
この放電回路10は、入力信号Siを入力する抵抗11
と、その抵抗11にベース電極が接続されたNPN型ト
ランジスタ12とで構成されている。
トランジスタ12のコレクタ電極は、積分用キャパシタ
20の一端Nilに接続され、さらにそのトランジスタ
12のエミッタ電極が、負側電源■bとキャパシタ20
の他端N12とに接続されている。
また、正側電源Vaとキャパシタ20の一端N■1との
間には、電流供給回路2■及び電流低減回路30が直列
に接続されている。電流供給回路21は、キャパシタ2
0に積分電流iの一部を供給する回路であり、トランジ
スタ及び抵抗からなる定電流回路等で構成されている。
電流低減回路30は、電流供給回路21からの積分電流
iを減少させて、その減少させた電流でキャパシタ20
を充電する回路であり、その入力電流端子30aが電流
供給回路21に、出力電流端子30bがキャパシタ20
の一端NILに、電源端子30cが負側電源vbに、そ
れぞれ接続されている。この電流低減回路30ば、例え
ばP N P型トランジスタ31で構成され、そのエミ
ッタ電極が入力電流端子30aに、ベース電極が出力電
流端子30bに、コレクタ電極が電源端子30cに、そ
れぞれ接続されている。
電流低減回路30の入力電流端子30aは、比較回路4
0の(−)個入力端子に接続され、その比較器40の(
+〉個入力端子が基準電圧Vrに接続されている。この
比較器40は、(?)側入力端子とく−〉測入力端子と
の電圧差に応じた出力信号Soを出力する回路であり、
例えば差動増幅器で構成されている。
以上のように構成される遅延回路の全体の動作を説明す
る前に、先ず電流低減回路30の動作について説明する
電流低減図1各30Gこおけるトランシ“スタ31のエ
ミッタ電極に流れる電流をIe、そのベース電極に流れ
る電流をIb、及びそのトランジスタ31の電流増幅率
をβとする。バイポーラトランジスタの一般特性より、
電流低減口830の出力電流端子30bに得られる電流
Ibは、次式のようになる。
Ib=Ie7’(1−i−β〉    ・・・・・・(
■)(1〉式から明らかなように、電流低減口FI!1
30の入力電流Ieは1/(17β〉になって出力電流
Ibとして得られる。通常、バイポーラトランジスタの
電流増幅率βは、30〜300程度ある。従って、電流
低減回路30の出力電流端子30bからは、1/”31
〜1/”301程度に減少した極めて微小な電流Ibを
出力することができる。
本実施例の特徴は、この電流低減口830によって得ら
れた微小電流Ibにより、キャパシタ20をゆっくりと
充電し、目的とする十分大きな遅延時間を得ようとする
ものである。
次に、この遅延回路の動作を、第を図及び第4図を参照
しつつ説明する。
をお、第4図(=第1図の電圧波形図て′あつ、図中V
beはトランジスタ31のベース・エミッタ間電圧、V
eはトランジスタ31のエミッタ電圧、VNIIはキャ
パシタ20の一端N11の電位、tは遅延時間である。
先ず、入力信号Siが“°H′°のとき、放電回路上0
のトランジスタ12がオン状態となっており、キャパシ
タ20の電荷はそのトランジスタ■2を通して放電され
ている。電流供給回路2丁に流れる電流iは、電流低減
回路30に供給され、その出力電流端子30bから出力
される電流i /’ (1↑β)が、トランジスタ12
を通して負1則電源Vbに流れている。
キャパシタ20の一端Nilの電位VN11は、負側電
源vbの電位に保たれ、その電位VNIIよりベース・
エミッタ間電圧Vbeだけ高い電位が比較回路40の(
−)側入力端子に印加される。
基準電圧Vrが比較回路40の(−〉側入力端子よりも
高い電位に設定されていると、その比較回路40の出力
信号SOは′H゛°となる。
この状態から、入力信号Siが“°L′°になると、放
電図n10のトランジスタ12がオフ状態となり、電流
低減回路30の出力電流端子30bから出力される電流
i/(1+β〉により、キャパシタ20が極めて緩やか
に充電される。これにより、キャパシタ20の一端Ni
lの電位VNIIは、除々に上昇していき、それに伴っ
て比較器n40のく−〉側入力端子の電位も、一端N1
1の電位VNIIよりもベース・エミッタ間電圧Vbe
だけ高い電位で移行する。
比較回路40の〈−〉開入力端子の電位が基準電圧Vr
を越えると、その比較回路40の出力が゛H゛から“°
L゛に変化する。これにより、所定の遅延時間tを計時
したことを示す出力信号SOが得られる。
その後、リセットのために入力信号Siを“H°゛にす
ると、トランジスタ■2がオン状態となり、キャパシタ
20に蓄積された電荷がそのトランジスタ12を通して
急速に放電され、再び最初の計時開始前の状態に復帰す
る。
本実施例では、次のような利点を有している。
電流供給回路21からの電流iを減少させて取出す電流
低減回路30を設け、その取出した微小電流でキャパシ
タ20を充電するようにしたので、例えば、電流供給回
路21を流れる電流iの値、キャパシタ20の容量値、
及び比較回路40の基準電圧Vrが、従来の第2図の回
路の定数と同一であるとしても、本実施例の遅延回路の
遅延時間tを、トランジスタ31のほぼβ倍長くするこ
とが可能となる。そのため、従来の第2図の回路と同−
の遅延時間を得る場合、キャパシタ20の容量値は従来
回路のほぼ1/′βの小さそ値にすることができ、それ
によってキャパシタ20の形成面積を小さくすることが
できる。
しかも、電流低減回路30はトランジスタ31を用いた
簡単な構成であるため、小さなスペースで、簡単に製造
できる。その上、この電流低減回路30を設けることに
より、電流供給回路21の構成を簡単にすることが可能
になると共に、小さな容量のキャパシタ20で、遅延回
路の形成面積を大きくする二となて、高精度で、遅延時
間の長いモノリシ・ツクIC措或の遅延回路を実現でき
る。
なあ、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
(a>  第1図では、電流低減回路30をトランジス
タ1段で構成したが、例えば第5図に示すような他の回
路で構成することも可能である。
第5図は第1図の電流低減回路30の他の構成例を示す
回路向である。この電流低減口11t30は、PNP型
t−ランジスタ32とNPN型トランジスタ33とをダ
ーリントン接続して構成されている。
このようなダーリントン接続にすれば、第1図の回路に
比べて電流増幅率を大きくすることができ、それによっ
てキャパシタ20の容量の減少化あるいは遅延時間tの
増大化が可能となる。
(b)  第1図では、比較回路40を差動増幅器で構
成したが、他の回路で構成することも可能である。
第6図は、第1図の比較回路40の他の構成例を示す回
路図である。この比較回路40は、NPN型トランジス
タ41,45、基準電圧生成用の抵抗42.43、及び
負荷抵抗44より構成されている。そして、第を図の電
流低減回路30の入力電流端子30aの電位が、トラン
ジスタ41のベース電極に印加され、その電位が、抵抗
42゜43で形成される基準電圧と比較され、その比較
値に応じてトランジスタ45が動作してそのトランジス
タ45のコレクタ電極から“H゛またはL”の出力信号
SOが出力される。このような比較回路40を用いても
、上記実施例とほぼ同様の作用、効果が得られる。
なお、トランジスタ41のベース電極は第1図の電流低
減回路30の入力電流端子30aに接続されているが、
キャパシタ20の一端Nilに接続しても、同様の動作
が得られる。同様に、第1図の比較器40の(−)側入
力端子は、キャパシタ20の一端Nilに接続すること
も可能である。
(C)  第1図の充電回路10は、トランジスタ12
を用いて構成したが、ダイオード等を用いて池の回路で
構成することも可能である。
(d)  本発明の遅延回路は、一定の遅延時間tを得
るための回路だけでなく、例えばパワー・オン・リセッ
ト回路等の時定数回路を有する回路にも適用が可能であ
る。
(発明の効果〉 以上詳細に説明したように、本発明によれば、電流低減
回路により、電流供給回路からの電流を電流増幅率に対
応した値で減少させ、キャパシタを充電するようにした
ので、簡単な回路構成で時定数を大きくすることができ
、それによって電流供給回路の回路構成を簡単にできる
。さらに、キャパシタの小容量化が可能となり、回路形
成面積を大きくすることなく、構造及び製造が簡単で、
精度が良く、遅延時間の長い遅延回路を得ることができ
る。
また、電?yjL低減回路は、複数のトランジスタをダ
ーリントン接続して構成した場合、電流増幅率を大きく
することができ、それによって時定数をより大きくする
ことが可能となり、キャパシタの容量をより小さくする
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す遅延回路の回路図、第2
図は従来の遅延回路の回路図、第3図は第2図の電圧波
形図、第4図は第1図の電圧波形図、第5図は第1図の
電流低減回路の他の構成例を示す回路図、第6図は第1
図の比較回路の他の構成例を示す回路図である。 IO・・・・・・放電回路、20・・・・・・キャパシ
タ、21・・・・・・電流供給回路、30・・・・・・
電流低減回路、31゜32゜ 33・・・・・・トランジスタ、 40・・・・・・比較回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、時定数を決定するための積分用キャパシタと、前記
    キャパシタに積分電流を供給して前記キャパシタを充電
    させる電流供給回路と、入力信号によりオン、オフ動作
    して前記キャパシタの蓄積電荷を放電する放電回路と、
    前記キャパシタの電圧と基準電圧とを比較してその比較
    結果に応じた出力信号を出力する比較回路とを、備えた
    遅延回路において、 トランジスタで構成されそのトランジスタの電流増幅率
    に対応した値で前記積分電流を減少させてその電流によ
    り前記キャパシタを充電する電流低減回路を、 設けたことを特徴とする遅延回路。 2、請求項1記載の遅延回路において、 前記電流低減回路は、複数のトランジスタをダーリント
    ン接続して構成した遅延回路。
JP2035581A 1990-02-16 1990-02-16 遅延回路 Pending JPH03239010A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5614858A (en) * 1993-01-29 1997-03-25 Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. Time delayed filter monolithically integratable

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5614858A (en) * 1993-01-29 1997-03-25 Sgs-Thomson Microelectronics S.R.L. Time delayed filter monolithically integratable

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