JPH03238843A - 集積回路装置 - Google Patents

集積回路装置

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JPH03238843A
JPH03238843A JP3542090A JP3542090A JPH03238843A JP H03238843 A JPH03238843 A JP H03238843A JP 3542090 A JP3542090 A JP 3542090A JP 3542090 A JP3542090 A JP 3542090A JP H03238843 A JPH03238843 A JP H03238843A
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JP
Japan
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unit cell
lsi
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functional
functions
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Soichi Ito
伊藤 莊一
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] 本発明は、大規模集積回路装置に関し、特に機能ブロッ
ク相互を接続して所望のLSI機能を得る集積回路装置
に関する。
〔従来の技術] 従来、この種の集積回路装置の設計は、所望のLSI機
能を構成するのに必要な機能ブロックのみでチップを構
成することが基本である。
まれに、機能ブロック間にまとまった空き領域が生ずる
と、そこに簡単な回路構成が可能なユニットセルを配列
して、LSI機能の部分的な修正変更に応じつるように
していた。
【発明が解決しようとする課題J しかしながら、LS [1能の修正変更はそれがどの部
分に生ずるかの予測が困難であり、従ってせっかく空き
領域にユニットセルを配置しておいても、変更個所とユ
ニットセルの位置が遠すぎて配線で互いを結ぶことが特
性等の関係で不可能なことがある。また、たまたま生じ
た空き領域にユニットセルを置いている関係上、修正変
更に必要なユニットセルの絶対数が不足して目的が十分
に達成されないことも生ずる。
本発明の目的は、たまたま生じた空き領域にユニットセ
ルを配置するということでなく、修正変更に応じつるよ
うに、最初から機能ブロックを含めてユニットセルを配
置しておいて修正変更がなしつるようにした集積回路装
置を提供することにある。
【課題を解決するための手段] 本発明の集積回路装置は、固定的に定められた個有の素
子配置を有する、LSI機能を構成する第1の機能ブロ
ック群と、ユニットセルの集合体上で構成されるLSI
機能を構成する第2の機能ブロック群と、前記機能ブロ
ック群の各ブロック間を埋めて配列されているユニット
セル群とを含み、前記ユニットセル群のうちの一部は第
1.第2のLSI機能ブロック群のうちの特定の機能ブ
ロックに接続され、LS ill能の一部を分担し、他
は配線領域として利用するように、している。
なお、LSI機能は一般に、RAM、ROM等のメモリ
機能あるいは乗算器・加算器等の演算機能をもつ機能ブ
ロックにより実現される。
【  作  用  1 本発明によれば、ユニットセルで、各機能ブロック間が
埋められている。したがって、最終設計にいたるまでに
、ユニットセルを選択し、適宜機能ブロックとの接続を
行なうことで。
LSI機能の修正補助が可能になる。
E実施例〕 以下、図面を参照して、本発明の一実施例につき説明す
る。第1図は本発明の第1実施例の平面図である。同図
に於て、lはチップ、2は人出力バッファ機能部、3は
ポンディングパッド、6はチップの内部機能構成領域で
あって、その中に含まれる4、4’ 、4“は夫々機能
の異なる機能ブロック、5及びそれと同一サイズの矩形
は全てユニットセルを表わす。ユニットセルのうち斜線
の施されていないものは、LSI機能の構成に寄与して
ないものを、斜線を付して5′で区別しているものはL
SI機能構成の一部を負担しているものを示している。
なお第1図はチップの一部しか示しておらず、また、諸
ブロックセル等の配置のみを示しており配線は省略して
いる0機能ブロック4.4′4“の間にはユニットセル
5が必要な配線チャネルを空けてくり返し配列されてお
り、その−部5′は前述のようにLSI機能構成に寄与
している。
かかる構成のLSIの最初のサンプルで1機能上の不具
合がユニットセル5′で構成する機能内にあった場合、
ユニットセル上で構成されている小規模機能ブロック(
通常50〜150種の異なる機能を持つ機能ブロックが
用意されている)の不要なものを削除し、ユニットセル
5が配列されている適切な位置に必要なものを追加配置
し、またそのために配置位置を相互に移動させ、互いを
接続させ、不具合を修正することができる。ユニットセ
ル上でこうしたことが可能なのはゲートアレイの例で明
かである。このような修正にあたり、ユニットセルアレ
イそのものには修正を加える必要がなく、従ってホトマ
スクの修正は製造工程の途中以降のもので対応すること
ができ、その工程の前までは予め製造を進めておくこと
ができる。これによって不具合の修正を加えたサンプル
を早く得ることができる。上記のような修正は機能ブロ
ック4或いは4′、4“に不具合があった場合でも可能
である。すなわち、4.4’ 、4“中の不具合な所は
使用しないように配線接続をとりはらい、追加・変更す
べき機能をユニットセル5のアレイ上で構成して、それ
と4.4’ 、4“の該当部分とを接続することで、同
様の効果を得ることができる。準備すべき空きのユニッ
トセルの量は、機能ブロック4.4’ 、4“の相互間
隔を自由に設定できるので、初期サンプル設計時のリス
クに応じた任意の量を持たすことができる。
チップレイアウトを行なう手順としては、予めユニット
セル5をチップ内部全面に配列した状態を作り、次に機
能セル4.4’ 、4“などを、ユニットセル5と置き
替え配置することで容易に行なうことができる。もちろ
ん機能ブロック相互の配線接続を考慮して相対位置関係
を決める。
なお、ユニットセル5は第1図に示すように横方向にポ
リセル状に配列されている。また、セル列とセル列の間
の配線チャネル幅は第1図では位置によって異なってい
るが、すべて同じ幅とするようにしてもよい。
次に第2実施例につき、第1図を参照して説明する。図
に示すようにチップl内には、機能ブロックとしてA−
Fのブロックが設けられている。このうち、ブロックA
、B、C,Dは個有の素子配置を有する機能ブロック、
ブロックE、Fはユニットセルをポリセル状に配列し、
その上で機能構成を行なった機能ブロックである。
図において、付点を付した領域11および11’は上記
のブロックA−Fの間を埋めてユニットセル10が配置
された領域である。このユニットセル10は第3図に示
される構成をもち9MO3)ランジスタIOAとnMO
3)ランジスタIOBとをもつ。またIOCはゲートポ
リシリコンである。このユニットセル10は、チャネル
専用領域をもたない所謂シー・オブ・ゲートという配列
構成により、X、Yの双方向にすきまなく配列される。
ただし、図において太線で区別されている領域11とそ
の他の領域11’ とは、ユニットセル10の方向を9
0°ずらしてあり、また、領域11はこのシー・オブ・
ゲート状のユニットセル10上で構成される機能ブロッ
クGを含んでいる。
本実流側では、第1次サンプルとしてA−Gのもつ機能
によりLSI機能を構成し、これに不具合がある場合に
は上記領域11.11’を利用して修正が可能である。
領域11.11’の中の12.12’の部分が修正のた
めの付加回路である。
このように回路追加が行なわれた後のサンプルの再試作
は、第1実施例と同様に途中工程まで進められたウェー
ハを用いて行なうことができ、再試作日程が短縮される
。すなわち領域11.11’上では、同一ユニットセル
10がくり返し配列されていて、それらの相互の配線接
続だけで機能構成ができるので、ユニットセル10内の
トランジスタ形成工程は予め先行できるからである。
なお、本実施例のチップの製作手順は、あらかじめ内部
機能構成領域に第3図のユニットセル10を全面に敷き
つめておき(第2図上半分と下半分とで互いに90°回
転した方向に)、その後、LS [1能構成に必要な機
能ブロックA−Fの配置を配線性を考慮して決め、その
位置で、しきつめてあったユニットセル10と機能ブロ
ックとを置きかえて配置する。次に特にGの領域以外の
ユニットセル10上で機能ブロックを配置することを禁
止して、自動処理によりブロックG内の機能ブロックの
配置と、LSI全体の機能ブロック相互の配線作業を行
なえばよい。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明は機能ブロック群の間を種
々論理の形成が可能なユニットセルで埋めることにより
、LSIサンプルに不具合があった場合にそのユニット
セル上で機能修正、追加を高い自由度で行なうことがで
き、ユニットセルのトランジスタはゲートアレイのよう
に同一形状のトランジスタにより形成されているので、
上記修正、追加は配線工程だけで行なえる。このため、
配線工程まではホトマスクを変更する必要がなく、修正
結果に先行してつ工−ハ製造工程を進めることができる
ので出荷日程を大幅に短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
図面は、本発明の実施例に係り、第1図は第1実施例の
、第2図は第2実施例の平面図、第3図は第2図で用い
られるユニットセルの構造を示す図である。 1・・・チップ、 2・・−人出力バッファ機能部、 3・・・ポンディングパッド、 4.4’ 、4“・・・機能ブロック、5.5′・・・
ユニットセル、 10・・−ユニットセル、 11.11’・・−ユニットセル配置領域、12.12
’・・−修正付加回路、 A−D−・・機能ブロック、 E−F・・−ユニットセル上で構成した機能ブロック・ G・・・ユニットセル10で構成した機能ブロック。 特 許 出 願 人 日 本 咄 気株 式 11.11’ユニツトセル西4今酊殊 12、12’イ信正付hOロ路 3ボ゛ン婚ングパツド 5.5′ ユニットセル

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 固定的に定められた個有の素子配置を有す る、LSI機能を構成する第1の機能ブロック群と、ユ
    ニットセルの集合体上で構成されるLSI機能を構成す
    る第2の機能ブロック群と、前記機能ブロック群の各ブ
    ロック間を埋めて配列されているユニットセル群とを含
    み、前記ユニットセル群のうちの一部は第1、第2のL
    SI機能ブロック群のうちの特定の機能ブロックに接続
    され、LSI機能の一部を分担し、他は配線領域として
    利用されていることを特徴とする集積回路装置。
JP2035420A 1990-02-15 1990-02-15 集積回路装置 Expired - Lifetime JP2911946B2 (ja)

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JPH03238843A true JPH03238843A (ja) 1991-10-24
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62176144A (ja) * 1986-01-30 1987-08-01 Seiko Epson Corp 半導体集積回路
JPS62276866A (ja) * 1986-03-12 1987-12-01 エスジェーエス―トムソン ミクロエレクトロニクス ソシエテ アノニム 集積回路のア−キテクチヤおよび該ア−キテクチヤを有する集積回路の製造方法

Patent Citations (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62176144A (ja) * 1986-01-30 1987-08-01 Seiko Epson Corp 半導体集積回路
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JP2911946B2 (ja) 1999-06-28

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