JPH03230533A - バンプ電極の形成方法 - Google Patents
バンプ電極の形成方法Info
- Publication number
- JPH03230533A JPH03230533A JP2026976A JP2697690A JPH03230533A JP H03230533 A JPH03230533 A JP H03230533A JP 2026976 A JP2026976 A JP 2026976A JP 2697690 A JP2697690 A JP 2697690A JP H03230533 A JPH03230533 A JP H03230533A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive paste
- bump
- metal ball
- metal
- circuit board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 43
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 43
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 5
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/50—Fixed connections
- H01R12/51—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
- H01R12/55—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures characterised by the terminals
- H01R12/57—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures characterised by the terminals surface mounting terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
- H01L21/4846—Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
- H01L21/4853—Connection or disconnection of other leads to or from a metallisation, e.g. pins, wires, bumps
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/40—Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
- H05K3/4007—Surface contacts, e.g. bumps
- H05K3/4015—Surface contacts, e.g. bumps using auxiliary conductive elements, e.g. pieces of metal foil, metallic spheres
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
- H05K1/092—Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49147—Assembling terminal to base
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/49147—Assembling terminal to base
- Y10T29/49149—Assembling terminal to base by metal fusion bonding
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49204—Contact or terminal manufacturing
- Y10T29/49208—Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts
- Y10T29/4921—Contact or terminal manufacturing by assembling plural parts with bonding
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、回路基板や電子部品の裏面に設けられるバン
プ電極の形成方法に関し、特に、簡単な設備で能率よく
バンプTL極を形成し得る方法に関する。
プ電極の形成方法に関し、特に、簡単な設備で能率よく
バンプTL極を形成し得る方法に関する。
従来より、セラミックスを利用した回路基板やバイブリ
アトIc等の電子部品の裏面に、集積度を高めるために
バンプ電極を形成することが多い。
アトIc等の電子部品の裏面に、集積度を高めるために
バンプ電極を形成することが多い。
ハンプ電極とは、電極形成面から膨出された形状に構成
された電極を言う、従来のバンプ電極形成方法を、第4
図を参照して説明する。なお、第4図では、セラミック
スよりなる回路基板1の裏面1a(但し、裏面が上方と
なるように図示されている)上に、バンプ電極2.3が
形成されている。
された電極を言う、従来のバンプ電極形成方法を、第4
図を参照して説明する。なお、第4図では、セラミック
スよりなる回路基板1の裏面1a(但し、裏面が上方と
なるように図示されている)上に、バンプ電極2.3が
形成されている。
バンプ電極2.3は、回路基板1の裏面Ia上に、金属
ボール4,5を金属ろう6,7によりろう付けすること
により形成されている。
ボール4,5を金属ろう6,7によりろう付けすること
により形成されている。
金属ボール4.5を用いて、バンプ電極2.3の突出形
状を構成するのは、回路基板1の裏面1aから突出して
いる部分の高さを揃えることが容易だからである。
状を構成するのは、回路基板1の裏面1aから突出して
いる部分の高さを揃えることが容易だからである。
〔発明が解決しようとする技術的課題〕しかしながら、
金属ろう6.7により金属ボール4.5をろう付けする
ものであるため、高温に加熱する装置が必要であり、装
置が大掛かりなものとなるという問題があった。また、
生産工程も複雑化していた。
金属ろう6.7により金属ボール4.5をろう付けする
ものであるため、高温に加熱する装置が必要であり、装
置が大掛かりなものとなるという問題があった。また、
生産工程も複雑化していた。
本発明の目的は、ハンプ電極を比較的簡単な設備で効率
よく形成し得る方法を捉供することにある。
よく形成し得る方法を捉供することにある。
本発明のバンプ電極形成方法は、バンプ電極の形成が予
定されている面に導電ペーストを塗布する工程と、塗布
された導電ペーストが乾燥するiilに、導1Eベース
)−の粘性を利用して金属ボールを該導電ペースト上に
付着させる工程と、導電ペーストを金属ボールと一体に
黄、成する工程とを備える。
定されている面に導電ペーストを塗布する工程と、塗布
された導電ペーストが乾燥するiilに、導1Eベース
)−の粘性を利用して金属ボールを該導電ペースト上に
付着させる工程と、導電ペーストを金属ボールと一体に
黄、成する工程とを備える。
導電ペーストの焼成は、比較的低い温度に1111熱す
る小型の装置で行い得る。また、比杉的知1.’1間で
焼成することができる。従って、安価な小型の生産装置
を用いて、能率よくバンプ電極を形成することができる
。
る小型の装置で行い得る。また、比杉的知1.’1間で
焼成することができる。従って、安価な小型の生産装置
を用いて、能率よくバンプ電極を形成することができる
。
〔実施例の説明〕
第1図及び第2図を参照して、本発明の一実施例の方法
を説明する。
を説明する。
まず、第2図に示すように、回路基板11を用意し、回
路基板11の裏面11a上に導電ペース)12.13を
塗布する。導電ペースト12,13は、それぞれ、ハン
プ電極を形成することが予定されている領域に適当+1
布される。
路基板11の裏面11a上に導電ペース)12.13を
塗布する。導電ペースト12,13は、それぞれ、ハン
プ電極を形成することが予定されている領域に適当+1
布される。
1ペースト12.13としては、CuもしくはAgのよ
うな金属またはAg−Pd等の合金の粉末に有機バイン
ダを混合したものが用いられる。
うな金属またはAg−Pd等の合金の粉末に有機バイン
ダを混合したものが用いられる。
有機バインダとしては、セルロース系の合成樹脂が使用
され、】m宜の溶媒に希釈された状態で用いられる。従
って、導電ペースト12.13は乾燥前の状態で粘性を
有する。
され、】m宜の溶媒に希釈された状態で用いられる。従
って、導電ペースト12.13は乾燥前の状態で粘性を
有する。
本実施例では、塗布されたINペースト1213が乾燥
する前に、矢印Aで示すように、金属ボール1415を
導電ペースト12.13」二に押し込み、4電ペース)
12.13の粘着性を利用して付着させる。
する前に、矢印Aで示すように、金属ボール1415を
導電ペースト12.13」二に押し込み、4電ペース)
12.13の粘着性を利用して付着させる。
金属ボールを構成する材料としては、銅やニッケル等の
任意の金属または合金を用いることかでき、必要に応し
て金属ボールの表面をめっきしてもよい。めっきを施す
ことにより、金属ボール1415に防錆を施すことがで
き、またはんだめっき等を施すことによりはんだによる
接合作業を容易とすることもできる。
任意の金属または合金を用いることかでき、必要に応し
て金属ボールの表面をめっきしてもよい。めっきを施す
ことにより、金属ボール1415に防錆を施すことがで
き、またはんだめっき等を施すことによりはんだによる
接合作業を容易とすることもできる。
次に、金属ボール14.15を導電ペースト1213に
付着させた状態で、焼成を行う。この焼成は、ろう付け
とは異なり、比較的低温、例えば850〜1000°C
程度に加熱する装置を用いて行われる。また、ろう付は
法に比べて、比較的短時間で処理することができる。
付着させた状態で、焼成を行う。この焼成は、ろう付け
とは異なり、比較的低温、例えば850〜1000°C
程度に加熱する装置を用いて行われる。また、ろう付は
法に比べて、比較的短時間で処理することができる。
焼成後の状態を第1図に断面図で示す、ノ\ンプ電極1
6.17が、上記焼成により回路基板11の裏面11a
上に形成されることになる。
6.17が、上記焼成により回路基板11の裏面11a
上に形成されることになる。
なお、第1図から明らかなように、金属ボール14.1
5は、回路基(反11の裏面11aに接するように、固
化された導電ペース)12.13中に埋め込まれた状態
で固定されている。これは、ハンプ電極16.17の高
さ、すなわち金属ポル14.15の回路基板11からの
突出高さを揃えるためである。
5は、回路基(反11の裏面11aに接するように、固
化された導電ペース)12.13中に埋め込まれた状態
で固定されている。これは、ハンプ電極16.17の高
さ、すなわち金属ポル14.15の回路基板11からの
突出高さを揃えるためである。
しかしながら、金属ボール14.15の高さを揃えるべ
く、上記のように金属ボール14.15を基板11の裏
面11aに当接させた場合には、金属ボール14.15
が回路基板11の裏面11aに当接している部分近傍に
おいて、接合材としての導電ペースト12.13の厚み
が薄くなり、固着力が低下する場合がある。
く、上記のように金属ボール14.15を基板11の裏
面11aに当接させた場合には、金属ボール14.15
が回路基板11の裏面11aに当接している部分近傍に
おいて、接合材としての導電ペースト12.13の厚み
が薄くなり、固着力が低下する場合がある。
固着力の低下が問題となる場合には、下記の方法を用い
ることが好ましい。
ることが好ましい。
すなわち、第3図に断面図で示すように、回路基板11
の裏面11a上に、まず導電ペース)18.19を塗布
し乾燥させる。しかる後、上記実施例と同様に導電ペー
ス)12.13を乾燥された導電ペースト18.19上
に塗布し、該導電ペス1−12.13が未乾燥状態の間
に金属ボール14.15を、金属ボール14.15が導
電ペース)18.19の上面と当接される状態まで埋め
込み、その状態で一体焼成すればよい。
の裏面11a上に、まず導電ペース)18.19を塗布
し乾燥させる。しかる後、上記実施例と同様に導電ペー
ス)12.13を乾燥された導電ペースト18.19上
に塗布し、該導電ペス1−12.13が未乾燥状態の間
に金属ボール14.15を、金属ボール14.15が導
電ペース)18.19の上面と当接される状態まで埋め
込み、その状態で一体焼成すればよい。
第3図に示したように形成されたハンプ電極21.22
では、金属ボール14.15が、セラミンクスよりなる
回路u+NIlの裏面leaに直接接触しておらず、導
電ペース)18.19に基づく電極部分を介して回路基
板IIに接合されている。従って、金属ボール14.1
5を回路基板11に強固↓こ固着することが可能とされ
る。
では、金属ボール14.15が、セラミンクスよりなる
回路u+NIlの裏面leaに直接接触しておらず、導
電ペース)18.19に基づく電極部分を介して回路基
板IIに接合されている。従って、金属ボール14.1
5を回路基板11に強固↓こ固着することが可能とされ
る。
のみならず、導電ペースl−18,19を介在させるこ
とにより、バンプ電極を高くすることができ、また金属
ボール14.15と導電ベース1−12.13との電気
的な接触も良好となる。
とにより、バンプ電極を高くすることができ、また金属
ボール14.15と導電ベース1−12.13との電気
的な接触も良好となる。
なお、上述した何れの実施例の方法においても、金属ボ
ール14.15を固着し焼成した後に、例えばう、プ研
磨等の研磨方法を適用することにより、最終的に金属ボ
ール14.15の高さを揃えてもよい。
ール14.15を固着し焼成した後に、例えばう、プ研
磨等の研磨方法を適用することにより、最終的に金属ボ
ール14.15の高さを揃えてもよい。
また、実際の/を産に際し、金属ボール14.15を導
電ペースト12.13に固着させる方法としては、金属
ボール!4.15の径に応した孔が形成された治具をI
A導電ペース−12,131に配置し、該孔を通して金
属ボール14.15を落下させ導電ペースト12.13
上に付着させる方法、あるいは金属ボール14.15に
予め導電ペーストを塗布しておき、しかる後基板上に塗
布された導電ベース)12.13に付着させてもよい。
電ペースト12.13に固着させる方法としては、金属
ボール!4.15の径に応した孔が形成された治具をI
A導電ペース−12,131に配置し、該孔を通して金
属ボール14.15を落下させ導電ペースト12.13
上に付着させる方法、あるいは金属ボール14.15に
予め導電ペーストを塗布しておき、しかる後基板上に塗
布された導電ベース)12.13に付着させてもよい。
上記実施例は、回路基板11の裏面11aにバンプNh
を形成する場合を説明したが、ハイブリッドIC等の電
子部品の実装面側にバンプ電極を形成する場合にも、本
発明を適用することができる。
を形成する場合を説明したが、ハイブリッドIC等の電
子部品の実装面側にバンプ電極を形成する場合にも、本
発明を適用することができる。
(発明の効果]
本発明によれば、導電ペーストの粘着性を利用して金属
ボールを導電ペースト上に付着させた状態で焼成するこ
とによりバンプ電極が形成される。
ボールを導電ペースト上に付着させた状態で焼成するこ
とによりバンプ電極が形成される。
従来法では、ろう付けにより金属ボールを接合していた
ため、高温に加熱するための大掛かりな装置を必要とし
ていたが、本発明の方法は導電ペーストの焼成により金
属ボールを接合するものであるため、比較的簡単な装置
でハンプ電極を形成し得る。
ため、高温に加熱するための大掛かりな装置を必要とし
ていたが、本発明の方法は導電ペーストの焼成により金
属ボールを接合するものであるため、比較的簡単な装置
でハンプ電極を形成し得る。
のみならず、導電ペーストの粘性を利用して金属ボール
を付着させておいて一体焼成すればよいため、能率よく
ハンプ電極を形成することができる。
を付着させておいて一体焼成すればよいため、能率よく
ハンプ電極を形成することができる。
第1図は本発明の一実施例により形成されたハンプ電極
を形成するだめの断面図、第2図は本発明の一実施例に
おいて金属ボールを導電ペーストに付着させる工程を説
明するための断面図、第3図は本発明の他の実施例にお
いて形成されたハンプ電極を説明するだめの断面図、第
4図は従来の方法により形成されたバンプ電極を説明す
るだめの断面図である。
を形成するだめの断面図、第2図は本発明の一実施例に
おいて金属ボールを導電ペーストに付着させる工程を説
明するための断面図、第3図は本発明の他の実施例にお
いて形成されたハンプ電極を説明するだめの断面図、第
4図は従来の方法により形成されたバンプ電極を説明す
るだめの断面図である。
Claims (1)
- (1)バンプ電極の形成が予定されている面に導電ペー
ストを塗布する工程と、 塗布された導電ペーストが乾燥する前に、金属ボールを
導電ペーストの粘性を利用して該導電ペースト上に付着
させる工程と、 導電ペーストを金属ボールと一体に焼成する工程とを備
えることを特徴とするバンプ電極の形成方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2026976A JP2590450B2 (ja) | 1990-02-05 | 1990-02-05 | バンプ電極の形成方法 |
US07/650,308 US5093986A (en) | 1990-02-05 | 1991-02-04 | Method of forming bump electrodes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2026976A JP2590450B2 (ja) | 1990-02-05 | 1990-02-05 | バンプ電極の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03230533A true JPH03230533A (ja) | 1991-10-14 |
JP2590450B2 JP2590450B2 (ja) | 1997-03-12 |
Family
ID=12208191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2026976A Expired - Fee Related JP2590450B2 (ja) | 1990-02-05 | 1990-02-05 | バンプ電極の形成方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5093986A (ja) |
JP (1) | JP2590450B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6383891B1 (en) | 1996-11-06 | 2002-05-07 | Niigata Seimitsu Co., Ltd. | Method for forming bump and semiconductor device |
Families Citing this family (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5788143A (en) * | 1992-04-08 | 1998-08-04 | International Business Machines Corporation | Solder particle deposition |
KR0179404B1 (ko) * | 1993-02-02 | 1999-05-15 | 모리시타 요이찌 | 세라믹기판과 그 제조방법 |
US5324569A (en) * | 1993-02-26 | 1994-06-28 | Hewlett-Packard Company | Composite transversely plastic interconnect for microchip carrier |
US6225700B1 (en) * | 1994-12-08 | 2001-05-01 | Kyocera Corporation | Package for a semiconductor element having depressions containing solder terminals |
US5542602A (en) * | 1994-12-30 | 1996-08-06 | International Business Machines Corporation | Stabilization of conductive adhesive by metallurgical bonding |
DE29500428U1 (de) * | 1995-01-12 | 1995-03-30 | Hewlett-Packard GmbH, 71034 Böblingen | Verbindungsbauteil |
US5801446A (en) * | 1995-03-28 | 1998-09-01 | Tessera, Inc. | Microelectronic connections with solid core joining units |
TW267265B (en) * | 1995-06-12 | 1996-01-01 | Connector Systems Tech Nv | Low cross talk and impedance controlled electrical connector |
US6939173B1 (en) | 1995-06-12 | 2005-09-06 | Fci Americas Technology, Inc. | Low cross talk and impedance controlled electrical connector with solder masses |
AU1090697A (en) * | 1995-12-19 | 1997-07-14 | Thermicedge Corporation | Spheres useful in a detachable connective medium for ball grid array assemblies |
US5782399A (en) * | 1995-12-22 | 1998-07-21 | Tti Testron, Inc. | Method and apparatus for attaching spherical and/or non-spherical contacts to a substrate |
US5839188A (en) | 1996-01-05 | 1998-11-24 | Alliedsignal Inc. | Method of manufacturing a printed circuit assembly |
US6147870A (en) * | 1996-01-05 | 2000-11-14 | Honeywell International Inc. | Printed circuit assembly having locally enhanced wiring density |
JP2842361B2 (ja) * | 1996-02-28 | 1999-01-06 | 日本電気株式会社 | 半導体装置 |
US5794327A (en) * | 1996-03-05 | 1998-08-18 | Bird Electronic Corporation | Method for making copper electrical connections |
US6093035A (en) * | 1996-06-28 | 2000-07-25 | Berg Technology, Inc. | Contact for use in an electrical connector |
US6024584A (en) | 1996-10-10 | 2000-02-15 | Berg Technology, Inc. | High density connector |
US6241535B1 (en) | 1996-10-10 | 2001-06-05 | Berg Technology, Inc. | Low profile connector |
US6042389A (en) * | 1996-10-10 | 2000-03-28 | Berg Technology, Inc. | Low profile connector |
TW406454B (en) | 1996-10-10 | 2000-09-21 | Berg Tech Inc | High density connector and method of manufacture |
US6139336A (en) * | 1996-11-14 | 2000-10-31 | Berg Technology, Inc. | High density connector having a ball type of contact surface |
TW380358B (en) * | 1996-12-10 | 2000-01-21 | Whitaker Corp | Surface mount pad |
US5931371A (en) * | 1997-01-16 | 1999-08-03 | Ford Motor Company | Standoff controlled interconnection |
US6070782A (en) * | 1998-07-09 | 2000-06-06 | International Business Machines Corporation | Socketable bump grid array shaped-solder on copper spheres |
US20060097911A1 (en) * | 2002-07-03 | 2006-05-11 | Quelis Id Systems Inc. | Wire positioning and mechanical attachment for a radio-frequency indentification device |
US7537461B2 (en) * | 2003-07-16 | 2009-05-26 | Gryphics, Inc. | Fine pitch electrical interconnect assembly |
KR101124015B1 (ko) * | 2003-07-16 | 2012-03-26 | 그리픽스, 인코포레이티드 | 상호 결합 접촉 시스템을 구비한 전기 상호 연결 조립체 |
US7297003B2 (en) * | 2003-07-16 | 2007-11-20 | Gryphics, Inc. | Fine pitch electrical interconnect assembly |
DE112007000677T5 (de) | 2006-03-20 | 2009-02-19 | Gryphics, Inc., Plymouth | Verbundkontakt für elektrische Feinraster-Verbindungsanordnung |
US8366485B2 (en) | 2009-03-19 | 2013-02-05 | Fci Americas Technology Llc | Electrical connector having ribbed ground plate |
US20120069528A1 (en) * | 2010-09-17 | 2012-03-22 | Irvine Sensors Corporation | Method for Control of Solder Collapse in Stacked Microelectronic Structure |
EP2624034A1 (en) | 2012-01-31 | 2013-08-07 | Fci | Dismountable optical coupling device |
US9257778B2 (en) | 2012-04-13 | 2016-02-09 | Fci Americas Technology | High speed electrical connector |
USD727852S1 (en) | 2012-04-13 | 2015-04-28 | Fci Americas Technology Llc | Ground shield for a right angle electrical connector |
USD718253S1 (en) | 2012-04-13 | 2014-11-25 | Fci Americas Technology Llc | Electrical cable connector |
USD727268S1 (en) | 2012-04-13 | 2015-04-21 | Fci Americas Technology Llc | Vertical electrical connector |
US8944831B2 (en) | 2012-04-13 | 2015-02-03 | Fci Americas Technology Llc | Electrical connector having ribbed ground plate with engagement members |
USD751507S1 (en) | 2012-07-11 | 2016-03-15 | Fci Americas Technology Llc | Electrical connector |
US9543703B2 (en) | 2012-07-11 | 2017-01-10 | Fci Americas Technology Llc | Electrical connector with reduced stack height |
USD745852S1 (en) | 2013-01-25 | 2015-12-22 | Fci Americas Technology Llc | Electrical connector |
USD720698S1 (en) | 2013-03-15 | 2015-01-06 | Fci Americas Technology Llc | Electrical cable connector |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5446365A (en) * | 1977-09-20 | 1979-04-12 | Nippon Electric Co | Hybrid integrated circuit device |
JPH0223623A (ja) * | 1988-07-12 | 1990-01-25 | Sharp Corp | 電極の形成方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3795047A (en) * | 1972-06-15 | 1974-03-05 | Ibm | Electrical interconnect structuring for laminate assemblies and fabricating methods therefor |
JPH0793517B2 (ja) * | 1986-11-20 | 1995-10-09 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品の装着方法 |
JP2539407B2 (ja) * | 1987-02-09 | 1996-10-02 | 株式会社日立製作所 | テレビジョン信号の送信装置、記録装置、受信装置 |
US4857482A (en) * | 1987-06-30 | 1989-08-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of forming bump electrode and electronic circuit device |
-
1990
- 1990-02-05 JP JP2026976A patent/JP2590450B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-02-04 US US07/650,308 patent/US5093986A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5446365A (en) * | 1977-09-20 | 1979-04-12 | Nippon Electric Co | Hybrid integrated circuit device |
JPH0223623A (ja) * | 1988-07-12 | 1990-01-25 | Sharp Corp | 電極の形成方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6383891B1 (en) | 1996-11-06 | 2002-05-07 | Niigata Seimitsu Co., Ltd. | Method for forming bump and semiconductor device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5093986A (en) | 1992-03-10 |
JP2590450B2 (ja) | 1997-03-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03230533A (ja) | バンプ電極の形成方法 | |
JPS63182891A (ja) | 電気部品の導電端子をプリント回路導体に接続する方法 | |
JPH0680703B2 (ja) | 半導体チップの基板への直接取付け法 | |
US10390440B1 (en) | Solderless inter-component joints | |
US8046911B2 (en) | Method for mounting electronic component on substrate and method for forming solder surface | |
JP2001085470A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JPS617692A (ja) | 導体ピンの固着方法および導体ピン固着のプリント配線板 | |
JP3472342B2 (ja) | 半導体装置の実装体の製造方法 | |
JP2004031474A (ja) | 電子部品及びその製造方法 | |
JPH01226162A (ja) | 半導体チップの接続方法 | |
JPS5828362Y2 (ja) | ハイブリツド集積回路 | |
JPH01232735A (ja) | 半導体装置の実装体 | |
JPH05136143A (ja) | 半導体素子及びその製造方法 | |
JPS63177584A (ja) | 混成集積回路の組立方法 | |
JP2001338949A (ja) | 電子装置、電子部品の実装体、および電子装置の製造方法 | |
JPH11233558A (ja) | フリップチップ接続方法および接続構造体 | |
JPS62166548A (ja) | 半田バンプ形成方法 | |
JPH04169001A (ja) | 導電性ペーストと半導体装置の実装方法 | |
KR100747392B1 (ko) | 금도금 빔리드를 반도체 소자에 접합하는 방법 | |
JP3325804B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
JP2000349193A (ja) | 配線基板へのピンの接合方法 | |
JPH04335542A (ja) | 半導体装置の実装体 | |
JPH04268739A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2001085466A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2005203664A (ja) | 半導体装置の実装方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071219 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081219 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |