JPH01232735A - 半導体装置の実装体 - Google Patents
半導体装置の実装体Info
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- JPH01232735A JPH01232735A JP5875388A JP5875388A JPH01232735A JP H01232735 A JPH01232735 A JP H01232735A JP 5875388 A JP5875388 A JP 5875388A JP 5875388 A JP5875388 A JP 5875388A JP H01232735 A JPH01232735 A JP H01232735A
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半導体装置と基板上の端子電極部との電気的
接続に関するものであり、特に、導電性接着剤を用いた
フェースダウンボンディング法に係る半導体装置−発袋
楊→に関するものである。
接続に関するものであり、特に、導電性接着剤を用いた
フェースダウンボンディング法に係る半導体装置−発袋
楊→に関するものである。
従来の技術
従来、電子部品の接続端子と基板上の回路パターン端子
との接続には半田付けがよく利用されていたが、近年、
例えばICフラットパッケージ等の小型化と、接続端子
の増加により、接続端子間、いわゆるピンチ間隔が次第
に狭くなり、従来の半田付は技術で対処することが次第
に困難になって来た。
との接続には半田付けがよく利用されていたが、近年、
例えばICフラットパッケージ等の小型化と、接続端子
の増加により、接続端子間、いわゆるピンチ間隔が次第
に狭くなり、従来の半田付は技術で対処することが次第
に困難になって来た。
そこで、最近では裸の半導体装置を基板上の端子電極部
に直付けして実装面積の効率的使用を図ろうとする方法
が考案されてきた。なかでも、半導体装置を基板上に接
続するに際し、半導体装置を下向きにして、あらかじめ
半導体装置の電極パ・2ド上にCr、CuおよびAuの
3層の金属蒸着膜部を形成し、更にレジストをかけて半
田をメツキや蒸着によって形成した後、余分なレジスト
と金属蒸着膜を除去して形成したバンプ電極を高温に加
熱して融着する方法が、接続後の機械的強度が強く、接
続の回数も1回で済むことなどから有益な方法であると
されている(例えば工業調査会。
に直付けして実装面積の効率的使用を図ろうとする方法
が考案されてきた。なかでも、半導体装置を基板上に接
続するに際し、半導体装置を下向きにして、あらかじめ
半導体装置の電極パ・2ド上にCr、CuおよびAuの
3層の金属蒸着膜部を形成し、更にレジストをかけて半
田をメツキや蒸着によって形成した後、余分なレジスト
と金属蒸着膜を除去して形成したバンプ電極を高温に加
熱して融着する方法が、接続後の機械的強度が強く、接
続の回数も1回で済むことなどから有益な方法であると
されている(例えば工業調査会。
1980年1月15日発行2日本マイクロエレクトロニ
クス協会J、rlC化実装技術1)。
クス協会J、rlC化実装技術1)。
以下図面を参照しながら、上述した従来の半田バンプに
よる半導体装置会≠≠構者の一例について説明する。
よる半導体装置会≠≠構者の一例について説明する。
第3図は従来の半田バンプによる半導体装ZS央≠構毒
の概略説明図である。第3図において、7は半導体装置
であり、8は半田ハンプ電極である。9は端子電極部で
あり、IOはW仮である。
の概略説明図である。第3図において、7は半導体装置
であり、8は半田ハンプ電極である。9は端子電極部で
あり、IOはW仮である。
以上のように構成された半田バンプによる半導体装置費
嘴襲祷喫について、以下その概略について説明する。
嘴襲祷喫について、以下その概略について説明する。
まず、半導体装置7のA1からなる電極バ、ド部にあら
かしめ半田バンプ電極8を形成しておき、この半導体装
置7を下向きにして基板IOの端子電極部9に位置合せ
を行った後、200〜300℃の高温に加熱して半田バ
ンプ電極8を?8融し、基1反lOの端子電極部9に融
着させることによって第3図に示す半導体装置傘尖≠構
拵を得るものである。
かしめ半田バンプ電極8を形成しておき、この半導体装
置7を下向きにして基板IOの端子電極部9に位置合せ
を行った後、200〜300℃の高温に加熱して半田バ
ンプ電極8を?8融し、基1反lOの端子電極部9に融
着させることによって第3図に示す半導体装置傘尖≠構
拵を得るものである。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような半田バンプ電極による半導体
装置分骨装輪→においては、 fil 半田を溶融する際に高温に加熱する必要があ
り、熱応力の影響を受は易い。
装置分骨装輪→においては、 fil 半田を溶融する際に高温に加熱する必要があ
り、熱応力の影響を受は易い。
(2) 半田による接続のために基板側の端子電極部
が半田接続可能なものである必要があり、汎用性に欠け
る。
が半田接続可能なものである必要があり、汎用性に欠け
る。
(3)半田バンプ電極を形成する半田が加熱i$ ?A
’Aする際に流れ、ショートが発生する危険がある。
’Aする際に流れ、ショートが発生する危険がある。
(4)熱膨張係数の異なるSiと基板とを硬度の高い半
田のみで接続しているため、熱応力に対して脆い。
田のみで接続しているため、熱応力に対して脆い。
などといった課題を有していた。
本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、その
目的とする所は、半導体装置と実装基板とを信頼性良く
電気的接続を行うことのできる半導体装置舎尖怪→台壬
提供するものである。
目的とする所は、半導体装置と実装基板とを信頼性良く
電気的接続を行うことのできる半導体装置舎尖怪→台壬
提供するものである。
課題を解決するための手段
本発明は上記の課題を解決するため、半導体装置の基板
上の端子電極部への実装構造において、半導体装置の電
極パッド部上にバンプ電極を備え、前記バンプ1を極が
可撓性を有する導電性接着剤を介して基板上の端子電極
部に接続される実装構造を特徴として半導体装置の電気
的な接続を実現しようとするものである。
上の端子電極部への実装構造において、半導体装置の電
極パッド部上にバンプ電極を備え、前記バンプ1を極が
可撓性を有する導電性接着剤を介して基板上の端子電極
部に接続される実装構造を特徴として半導体装置の電気
的な接続を実現しようとするものである。
作用
本発明は上記した方法によって、半導体装置のt掻バン
ド部にあらかじめ形成したバンプ電極を可撓性を有する
導電、性接着剤を介して基板上の端子電極に接続するこ
とにより、応力に対して安定で、信鯨性の高い半導体装
置の電気的な接続が実現できる。
ド部にあらかじめ形成したバンプ電極を可撓性を有する
導電、性接着剤を介して基板上の端子電極に接続するこ
とにより、応力に対して安定で、信鯨性の高い半導体装
置の電気的な接続が実現できる。
実施例
以下、本発明の一実施例の半導体装置舎+→→造につい
て、図面を参照しながら説明する。
て、図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の一実施例における半導体装置分育費捧
造による接続部拡大図であり、第2図は、本発明の一実
施例における半導体装置伊弁%晴播の概略説明図である
。
造による接続部拡大図であり、第2図は、本発明の一実
施例における半導体装置伊弁%晴播の概略説明図である
。
第1図および第2図において、lは半導体装置であり、
2は電極パッド部である。3はAuからなるバンプ電極
であり、4はシリコーン系の導電性接着剤である。5は
端子電極部であり、6は基板である。
2は電極パッド部である。3はAuからなるバンプ電極
であり、4はシリコーン系の導電性接着剤である。5は
端子電極部であり、6は基板である。
以上のように構成された半導体装置分十→→→について
、以下図面を用いて説明する。
、以下図面を用いて説明する。
まず、半導体装置lの電極パッド部2上にあらかしめバ
ンプ電極3を形成しておき、このバンプ電極3に転写や
印刷によって、可撓性を有する導電性接着剤4を形成す
る。そして、この半導体装置lを下向きにして基板6の
端子電極部5に位置合せを行い、基板6上に半導体装置
lを載置した後、加熱により導電性接着剤4を硬化させ
ることによって、第1図および第2図に示す様に、バン
プ電i3が導電性接着剤4を介して基板6の端子電極5
に電気的接続された実装構造が得られる。
ンプ電極3を形成しておき、このバンプ電極3に転写や
印刷によって、可撓性を有する導電性接着剤4を形成す
る。そして、この半導体装置lを下向きにして基板6の
端子電極部5に位置合せを行い、基板6上に半導体装置
lを載置した後、加熱により導電性接着剤4を硬化させ
ることによって、第1図および第2図に示す様に、バン
プ電i3が導電性接着剤4を介して基板6の端子電極5
に電気的接続された実装構造が得られる。
このとき、導電性接着剤4には可撓性を有するシリコー
ン系を用いているため、半導体素子lを構成する81基
板と基板6を構成するたとえばアルミナ基板との熱膨張
係数の差からくる熱応力を緩和することができ、接続部
の安定性が向上できる。
ン系を用いているため、半導体素子lを構成する81基
板と基板6を構成するたとえばアルミナ基板との熱膨張
係数の差からくる熱応力を緩和することができ、接続部
の安定性が向上できる。
また、導電性接着剤4の加熱硬化は、半田バンプによる
接続に比べて低温で行えるため、熱硬化時の熱応力によ
る影響を軽減することができ、極めて安定な接続が得ら
れる。
接続に比べて低温で行えるため、熱硬化時の熱応力によ
る影響を軽減することができ、極めて安定な接続が得ら
れる。
さらに、バンプ電極3と基板6の端子電極部5の電気的
接続は導電性接着剤4による接着によって行うため、基
板6の端子電極部5の材質は配線材料であればいかなる
ものでもよい。
接続は導電性接着剤4による接着によって行うため、基
板6の端子電極部5の材質は配線材料であればいかなる
ものでもよい。
以上のようにして、半導体装置1と基板6を極めて安定
に、かつ、汎用性のある方法での実装構造が可能となる
。
に、かつ、汎用性のある方法での実装構造が可能となる
。
なお、実施例においてバンプ電極3をAuよりなるもの
としたが、その材質はAuに限られるものでなく、たと
えば、Cuなどの他の金属により形成してもよい。
としたが、その材質はAuに限られるものでなく、たと
えば、Cuなどの他の金属により形成してもよい。
また、ハンプ電極3の形成は、従来のメツキによる形成
方法によるものに限られたものでなく、いかなる方法に
よる形成を行ったものでもよい。
方法によるものに限られたものでなく、いかなる方法に
よる形成を行ったものでもよい。
さらに、導電性接着剤4の材質は、シリコーン系の導電
性接着剤に限られたものでなく、可撓性を付与したもの
であれば何でもよく、たとえば、エポキシ系、ポリイミ
ド系、アクリル系あるいはフェノール系などの導電性接
着剤を用いることもできる。
性接着剤に限られたものでなく、可撓性を付与したもの
であれば何でもよく、たとえば、エポキシ系、ポリイミ
ド系、アクリル系あるいはフェノール系などの導電性接
着剤を用いることもできる。
また、実施例において導電性接着剤4をバンプ電極3上
に形成するとしたが、導電性接着剤4を基板6上の端子
電極部5側に印刷や転写法などを用いて形成してもよい
。
に形成するとしたが、導電性接着剤4を基板6上の端子
電極部5側に印刷や転写法などを用いて形成してもよい
。
さらに、導電性接着剤4に分散する導電フィラーについ
ては、Ag、Au、Ni、Cなどの粉体を、単体もしく
は組み合せて用いることができ、その粒径、形は特に限
定されるものでない。
ては、Ag、Au、Ni、Cなどの粉体を、単体もしく
は組み合せて用いることができ、その粒径、形は特に限
定されるものでない。
発明の効果
以上に説明したように、本発明の半導体装置摩央醤横喧
によれば、可撓性を有する導電性接着剤によって半導体
装置の電極パッド部上に形成したバンプ電極と基板上の
端子電極とを接着状態で電気的接続を行うことができ、
接続時の処理温度が低く、応力に対して極めて安定で信
幀性の高い電気的接続が実現でき、極めて実用価値が高
いものである。
によれば、可撓性を有する導電性接着剤によって半導体
装置の電極パッド部上に形成したバンプ電極と基板上の
端子電極とを接着状態で電気的接続を行うことができ、
接続時の処理温度が低く、応力に対して極めて安定で信
幀性の高い電気的接続が実現でき、極めて実用価値が高
いものである。
第1図は本発明の一実施例における半導体装置存奥巷構
iによる接続部拡大図、第2図は本発明の一実施例にお
ける半導体装置傘実装→礒の概略説明図、第3図は従来
の半田バンプによる半導体装置分突会構竜の概略説明図
である。 1.7・・・・・・半導体装置、2・・・・・・電極パ
ッド部、3・・・・・・バンプ電極、4・・・・・・導
電性接着剤、5,9・・・・・・端子電極部、6,10
・・・・・・基板、8・・・・・・半田バンプ電極。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名1.7−手
鼻体表! 4・・−導を轍挾看刑
iによる接続部拡大図、第2図は本発明の一実施例にお
ける半導体装置傘実装→礒の概略説明図、第3図は従来
の半田バンプによる半導体装置分突会構竜の概略説明図
である。 1.7・・・・・・半導体装置、2・・・・・・電極パ
ッド部、3・・・・・・バンプ電極、4・・・・・・導
電性接着剤、5,9・・・・・・端子電極部、6,10
・・・・・・基板、8・・・・・・半田バンプ電極。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名1.7−手
鼻体表! 4・・−導を轍挾看刑
Claims (3)
- (1)半導体装置の基板上の端子電極部への実装構造で
あって、半導体装置の電極パッド部上にバンプ電極を備
え、前記バンプ電極が可撓性を有する導電性接着剤を介
して基板上の端子電極部に電気的接続されることを特徴
とする半導体装置。 - (2)バンプ電極が、Auからなることを特徴とする請
求項第(1)項記載の半導体装置。 - (3)導電性接着剤が、エポキシ系、ポリイミド系、ア
クリル系、フェノール系あるいはシリコーン系の導電性
接着剤に可撓性を付与したものからなることを特徴とす
る請求項第(1)項記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63058753A JPH06103701B2 (ja) | 1988-03-11 | 1988-03-11 | 半導体装置の実装体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63058753A JPH06103701B2 (ja) | 1988-03-11 | 1988-03-11 | 半導体装置の実装体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01232735A true JPH01232735A (ja) | 1989-09-18 |
JPH06103701B2 JPH06103701B2 (ja) | 1994-12-14 |
Family
ID=13093299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63058753A Expired - Lifetime JPH06103701B2 (ja) | 1988-03-11 | 1988-03-11 | 半導体装置の実装体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06103701B2 (ja) |
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