JPH03205574A - 磁気センサ - Google Patents
磁気センサInfo
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- JPH03205574A JPH03205574A JP2001277A JP127790A JPH03205574A JP H03205574 A JPH03205574 A JP H03205574A JP 2001277 A JP2001277 A JP 2001277A JP 127790 A JP127790 A JP 127790A JP H03205574 A JPH03205574 A JP H03205574A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、産業機械、OA機器などに組込まれる磁気式
ロータリーエンコーダー等に使用する磁気センサに関す
る。
ロータリーエンコーダー等に使用する磁気センサに関す
る。
[従来の技術]
一般に、磁気センサ(磁気抵抗効果素子)はガラス基板
に強磁性体薄膜からなる検出部を形成し、それから配線
部を介して外部電気回路への接続用端子に接続させてい
る。
に強磁性体薄膜からなる検出部を形成し、それから配線
部を介して外部電気回路への接続用端子に接続させてい
る。
強磁性体薄膜の検出部の膜厚は、所定の特性を得るため
約500人以下であることが望ましい。
約500人以下であることが望ましい。
配線部を形成する場合、検出用の薄膜を延長して同一材
料により配線部を作成すると、配線抵抗が高くなり、磁
気抵抗変化ΔR/Rが低下してしまう。このため配線部
の抵抗を小さくするため、比抵抗の低いAl膜を200
0〜1 0000入の厚さに付着させて配線部としてい
る。
料により配線部を作成すると、配線抵抗が高くなり、磁
気抵抗変化ΔR/Rが低下してしまう。このため配線部
の抵抗を小さくするため、比抵抗の低いAl膜を200
0〜1 0000入の厚さに付着させて配線部としてい
る。
またエンコーダーでは、磁気ドラムに概ね50〜150
μmのスペーシングで磁気センサを対向させて使用する
ので、AI2配線部は通常数μm〜lOμmのS i
O *の保護膜で保護するのみであり、半導体のように
樹脂モールドして保護するようなことはしてはいない。
μmのスペーシングで磁気センサを対向させて使用する
ので、AI2配線部は通常数μm〜lOμmのS i
O *の保護膜で保護するのみであり、半導体のように
樹脂モールドして保護するようなことはしてはいない。
[発明が解決しようとする課題]
磁気センサをNC工作機械等に組込んで位置制御や速度
制御をさせる場合には、磁気センサは高温多湿状態で使
用され高信頼性が要求される。磁気センサでは強磁性体
薄膜の検出部や八4配線部をSiO2の保護膜で被って
いるが、高温多湿のためにSiO2の保護膜の微小な欠
陥を通して水分が侵入し、八β配線部を腐食してしまう
。
制御をさせる場合には、磁気センサは高温多湿状態で使
用され高信頼性が要求される。磁気センサでは強磁性体
薄膜の検出部や八4配線部をSiO2の保護膜で被って
いるが、高温多湿のためにSiO2の保護膜の微小な欠
陥を通して水分が侵入し、八β配線部を腐食してしまう
。
S i 0 2の保護膜は、その製法上あまり厚くはで
きず、数μm〜10μmの膜厚では通常の確率で微小な
欠陥が存在する。また磁気ドラムとの配置関係上、これ
らの欠陥を補うために樹脂で厚く被うこともできない。
きず、数μm〜10μmの膜厚では通常の確率で微小な
欠陥が存在する。また磁気ドラムとの配置関係上、これ
らの欠陥を補うために樹脂で厚く被うこともできない。
そのため高温多湿状態ではS iO 2の微小な欠陥部
分を水分が通ってしまい、AI2配線が腐食してしまう
ことがあった。
分を水分が通ってしまい、AI2配線が腐食してしまう
ことがあった。
そこで本発明は、磁気センサの配線部として腐食されに
くい材料を使用し、しかもその配線部によりMR素子の
磁気抵抗変化率を低下させないようにして、磁気センサ
の耐久性を向上させることを目的とする。
くい材料を使用し、しかもその配線部によりMR素子の
磁気抵抗変化率を低下させないようにして、磁気センサ
の耐久性を向上させることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は上記目的を達成するためのものであり、基板上
に強磁性体薄膜からなる検出部を形成し、その検出部と
外部電気回路接続用端子との間を配線部で接続し、それ
ら上面を保護膜で被った磁気センサにおいて、配線部を
AJ2−Pd合金(O1wt%〜2.Owt%Pd)を
作成したものである。
に強磁性体薄膜からなる検出部を形成し、その検出部と
外部電気回路接続用端子との間を配線部で接続し、それ
ら上面を保護膜で被った磁気センサにおいて、配線部を
AJ2−Pd合金(O1wt%〜2.Owt%Pd)を
作成したものである。
’P dの含有量は、O.1wt%以下では固溶体にな
ってしまい、2wt%以上ではPdの粗大析出物が析出
して、析出物に起因する局部電池作用で電気化学的腐食
が起こるため、Pdは前記範囲が耐食性に好ましい。
ってしまい、2wt%以上ではPdの粗大析出物が析出
して、析出物に起因する局部電池作用で電気化学的腐食
が起こるため、Pdは前記範囲が耐食性に好ましい。
配線部を基板に直接形成してもよいが、その間にCr薄
膜又は検出部と同一薄膜を介在させてもよい。また保護
膜は、無機膜(SiOz、S 1 ,N4他)と有機膜
(ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂)のうち1種のみか、
2種を重ねて設けることができる。
膜又は検出部と同一薄膜を介在させてもよい。また保護
膜は、無機膜(SiOz、S 1 ,N4他)と有機膜
(ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂)のうち1種のみか、
2種を重ねて設けることができる。
[作用]
上記磁気センサでは、配線部を八β−Pd合金で作成し
ており、それは純粋AβやAf2−SL合金より耐食性
に優れている。よって保護膜の微小な欠陥を通って水分
が入り込んでも配線部は腐食されにくい。
ており、それは純粋AβやAf2−SL合金より耐食性
に優れている。よって保護膜の微小な欠陥を通って水分
が入り込んでも配線部は腐食されにくい。
[実施例]
本発明の磁気センサを図面により説明する。
第1図の実施例は、ガラス基板l上にパーマロイからな
る薄膜状の検出部2を形成し、外部電気回路接続用端子
3と検出部2との間を配線部4が接続させている。配線
部4は、Cr薄膜5の上にAj2−Pd (0.3wt
%Pd.)合金薄膜6を重ねて形成してある。そして、
接続用端子3の上部を除いた全上面をS i O z膜
7aとポリイミド樹脂、エポキシ樹脂等の有機膜7bと
を重ねた保護膜7で被ってある。このように作成した磁
気センサでは、配線部がCr薄膜5とAI2−Pd合金
薄膜の2層であり、配線部を電流が流れる場合、両者の
重なった部分では抵抗値の関係でAβ一Pd合金薄膜の
部分のみを電流が流れる。
る薄膜状の検出部2を形成し、外部電気回路接続用端子
3と検出部2との間を配線部4が接続させている。配線
部4は、Cr薄膜5の上にAj2−Pd (0.3wt
%Pd.)合金薄膜6を重ねて形成してある。そして、
接続用端子3の上部を除いた全上面をS i O z膜
7aとポリイミド樹脂、エポキシ樹脂等の有機膜7bと
を重ねた保護膜7で被ってある。このように作成した磁
気センサでは、配線部がCr薄膜5とAI2−Pd合金
薄膜の2層であり、配線部を電流が流れる場合、両者の
重なった部分では抵抗値の関係でAβ一Pd合金薄膜の
部分のみを電流が流れる。
第2図の実施例は、保護膜7をS i O 2膜7aの
みで作成し、その他は第l図の実施例と同様である。
みで作成し、その他は第l図の実施例と同様である。
第3図の実施例は、配線部4をAI2−Pd (03w
t%Pd)合金薄膜6のみで作成し、保護膜7をSiO
z膜7aのみとしたものである。
t%Pd)合金薄膜6のみで作成し、保護膜7をSiO
z膜7aのみとしたものである。
第4図の実施例は、パーマロイの検出部2を配線部にま
で延長してその上面にAl−Pd (0.3wt%Pd
)合金薄膜6を付着させて配線部とし、それら上面をS
i O 2膜7aで被ったものである。
で延長してその上面にAl−Pd (0.3wt%Pd
)合金薄膜6を付着させて配線部とし、それら上面をS
i O 2膜7aで被ったものである。
上記の各実施例の磁気センサを作成して、配線部4の耐
食性について測定し、その結果を第5図に示した。その
測定は、磁気センサをプレツシャクッカーテスト(PC
T、121℃、2気圧、湿度100%)で行い、磁気セ
ンサが不良状態となるまでの耐久時間を測った。また比
較のため従来通り配線部を純粋Alで作成した磁気セン
サについても同様に測定して第5図に示した。
食性について測定し、その結果を第5図に示した。その
測定は、磁気センサをプレツシャクッカーテスト(PC
T、121℃、2気圧、湿度100%)で行い、磁気セ
ンサが不良状態となるまでの耐久時間を測った。また比
較のため従来通り配線部を純粋Alで作成した磁気セン
サについても同様に測定して第5図に示した。
第5図からわかるように、配線部としてAI2一Pd合
金薄膜を使用した本実施例の場合、PCT200時間で
も不良は全く発生しないのに対し、従来品の場合は、P
CTIOO時間で8%程が不良となった。
金薄膜を使用した本実施例の場合、PCT200時間で
も不良は全く発生しないのに対し、従来品の場合は、P
CTIOO時間で8%程が不良となった。
以上の実施例では、検出部としてバーマロイを使用した
が、その他の強磁性体の薄膜を使用してよいことは、当
業者として容易に推定できるものである。
が、その他の強磁性体の薄膜を使用してよいことは、当
業者として容易に推定できるものである。
[発明の効果]
本発明の磁気センサは、配線部にAj2−Pd合金薄膜
を使用しているので、その部分の耐食性が大幅に向上し
、磁気センサの信頼性を大幅に向上できる。また現在、
磁気センサに流す電流密度はlX10’A/cm”程度
であるが、今後、多機能、小型化に向け、電流密度が上
昇しても耐エレクトロマイブレーション性は十分である
。
を使用しているので、その部分の耐食性が大幅に向上し
、磁気センサの信頼性を大幅に向上できる。また現在、
磁気センサに流す電流密度はlX10’A/cm”程度
であるが、今後、多機能、小型化に向け、電流密度が上
昇しても耐エレクトロマイブレーション性は十分である
。
第1図は本発明の磁気センサの断面図、第2〜4図はそ
れぞれ異なる実施例の磁気センサの部分断面図、第5図
は磁気センサの耐食性を示すグラフである。 l;ガラス基板 2;検出部 3;接続用端子 4;配線部 6.An−Pd合金薄膜 7;保護膜
れぞれ異なる実施例の磁気センサの部分断面図、第5図
は磁気センサの耐食性を示すグラフである。 l;ガラス基板 2;検出部 3;接続用端子 4;配線部 6.An−Pd合金薄膜 7;保護膜
Claims (3)
- (1)基板上に強磁性体薄膜からなる検出部を形成し、
外部の電気回路との接続用端子と前記検出部との間を、
Al−Pd合金(0.1wt%〜2.0wt%Pd)か
らなる配線部により接続し、接続用端子を除いたそれら
上面を保護膜で被ったことを特徴とする磁気センサ。 - (2)Al−Pd合金からなる配線部と基板との間に、
Cr薄膜又は検出部と同一薄膜を介在させ配線部を形成
することを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ。 - (3)保護膜はSiO_2、Si_3N_4等の無機膜
と有機膜(ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂他)のうちの
1種か、2種からなることを特徴とする請求項1又は2
に記載の磁気センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001277A JP3014398B2 (ja) | 1990-01-08 | 1990-01-08 | 磁気センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001277A JP3014398B2 (ja) | 1990-01-08 | 1990-01-08 | 磁気センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03205574A true JPH03205574A (ja) | 1991-09-09 |
JP3014398B2 JP3014398B2 (ja) | 2000-02-28 |
Family
ID=11496961
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001277A Expired - Lifetime JP3014398B2 (ja) | 1990-01-08 | 1990-01-08 | 磁気センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3014398B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08304107A (ja) * | 1995-05-10 | 1996-11-22 | Japan Servo Co Ltd | 磁気センサ |
-
1990
- 1990-01-08 JP JP2001277A patent/JP3014398B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08304107A (ja) * | 1995-05-10 | 1996-11-22 | Japan Servo Co Ltd | 磁気センサ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3014398B2 (ja) | 2000-02-28 |
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