JPH03194711A - 磁気ヘッド - Google Patents

磁気ヘッド

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JPH03194711A
JPH03194711A JP33451489A JP33451489A JPH03194711A JP H03194711 A JPH03194711 A JP H03194711A JP 33451489 A JP33451489 A JP 33451489A JP 33451489 A JP33451489 A JP 33451489A JP H03194711 A JPH03194711 A JP H03194711A
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JP
Japan
Prior art keywords
bar
magnetic
gap length
linear expansion
thin film
Prior art date
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Pending
Application number
JP33451489A
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English (en)
Inventor
Koichi Hashimoto
浩一 橋本
Masaru Makino
槇野 勝
Kazunori Takenouchi
一憲 竹之内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は、例えばフロッピィディスク、ビデオテープ、
高密度録音テープ等の高密度記録媒体への記録再生に使
用される磁気ヘッドに関する。
「従来の技術」 従来、高密度記録再生用の磁気ヘッドのギャップ形成方
法として、例えば第6図(alに示すように、互いに接
合されてリング型磁気ヘッドのコアを形成する2つの磁
性材、即ち、例えばフェライトからなり、はぼコ字形の
断面形状を有するCバー101と、フェライトからなり
、長方形の断面形状を有する■バー102とを用意し、
互いに接合されるCバー101の接合面103と■バー
102の接合面104との少なくとも一方(ここでは、
その両方)に例えばスパッタリング等の薄膜形成方法に
よってギャップ形成用非磁性薄膜105  ・106と
、接着用ガラス層107  ・108とを形成し、第6
図(b)に示すように、Cバー101の接合面103と
■バー102の接合面104とを互いに他方に押し付け
た状態で、Cバーlと1バー2との間に形成される巻線
窓109に棒状の補強用ガラス110を挿入してから減
圧、あるいは、不活性ガス等の雰囲気中で接着用ガラス
層107  ・108及び補強用ガラス110の軟化温
度よりも高温に加熱し、第6図(C)接着用ガラス層1
07108及び補強用ガラス110を溶解させてCバー
101と1バー102とを接合させる方法が知られてい
る(特公昭47−26886号公報参照)。
この従来の方法では、非磁性薄膜105 ・106とし
て酸化珪素(SiO□)が使用され、接着用ガラス層1
07 ・108及び補強用ガラス110には鉛ガラスあ
るいは硼珪酸ガラスが使用されている。
この従来の磁気ヘッドのギャップ形成方法においては、
フェライトからなるCバー101及びIバー102の線
膨張係数が130 X 10−’/%程度であるのに対
して、SiO□からなる非磁性薄膜105  ・106
の線膨張係数は5X10−’/”C程度であり、鉛ガラ
スからなる接着用ガラス層107  ・108及び補強
用ガラス110の線膨張係数は100xlO−’/’c
程度である。
「発明が解決しようとする課題」 このように従来の磁気ヘッドのギャップ形成方法におい
ては、非磁性薄膜105 ・106とCバー101及び
■バー102との線膨張係数の差異が大きいため、ギャ
ップ形成時にCバー101 、Iバー102及び非磁性
薄膜105 ・106が冷却されるとギャップの近傍に
応力が発生し、光学的に測定されたギャップ長(光学ギ
ャップ長)と実効ギャップ長とが一致しなくなり、コア
の電磁変換特性が損なわれることがある。しかも、この
光学ギャップ長と実効ギャップ長との差異は一定になら
ないので、コアの製造に当たってギャップ長を光学キャ
ップ長に基づいて管理すると実効ギャップ長にばらつき
が生じ、コアの電磁変換特性に対する信頼性が損なわれ
ることになる。
なお、上記の従来例では、補強用ガラス110が溶解し
て接着用ガラス層107  ・108及び非磁性薄膜1
05  ・106と反応し、例えば第7図に示すように
、Cバー101のアペックス部101aを浸食すること
があり、その結果、ギャップ深さの測定精度が低下する
という問題もある。
本発明は、上記の事情を鑑みてなされたものであり、コ
アの電磁変換特性に対する信頼性が高められるようにし
た磁気ヘッドを従供することを目的としている。
「課題を解決するための手段」 本発明は、互いに接合されてリング型磁気ヘッドのコア
を形成する少なくとも2つの磁性材を用意し、互いに接
合される磁性材の接合面の少なくとも一方にギャップ形
成用非磁性薄膜と、接着用ガラス層とを形成し、各磁性
材の接合面どうしを互いに接触させて各磁性材を互いに
他方に押し付けた状態で、各磁性材の間に形成される巻
線窓に補強用ガラスを挿入してから接着用ガラス層及び
補強用ガラスの軟化温度よりも高温に加熱し、接着用ガ
ラス層及び補強用ガラスを溶解させて各磁性材どうしを
接合させてなる磁気ヘッドを前提として、上記の目的を
達成するため、次のような手段を講じている。
即ち、非磁性薄膜として線膨張率が磁性材の線膨張率の
50%〜95%のセラミックを用いた。
「作 用」 本発明においては、磁性材と非磁性薄膜との熱膨張係数
(線膨張係数)の差異が比較的小さくなり、ギャップ形
成時に磁性材及び非磁性薄膜が冷却された時にギャップ
の近傍に発生する応力が小さくなり、光学ギャップ長と
実効ギャップ長との差異が小さく、コアの電磁変換特性
の劣化が軽減される。また、この光学ギャップ長と実効
ギャップ長との差異のばらつきも小さくなるので、製造
に当たってギャップ長を光学キャップ長に基づいて管理
しても、実効ギャップ長のばらつきを一定以下に抑える
ことができ、コアの電磁変換特性に対する信頼性を高め
ることができる。
非磁性薄膜として使用されるセラミックの線膨張率が磁
性材の線膨張率の50%を下回ると、線膨張係数差が太
き(なり、ギャップ近傍の磁気特性が劣化し、光学ギャ
ップ長に対する実効ギャップ長のばらつきが大きくなる
ので好ましくない。また、非磁性薄膜として使用される
セラミックの線膨張率が磁性材の線膨張率の95%を上
回ると、ギャソプを形成した時にギャップの近傍にひっ
ばり応力が生じて補強用ガラスのクシツクの発生率が高
くなるので好ましくない。
本発明において非磁性薄膜として使用されるセラミック
は、線膨張率が磁性材の線膨張率の50%〜95%の非
磁性セラミックであれば特に限定されず、例えばフェラ
イト製の磁性材に対してはフォルステライト(線膨張係
数α=88〜106 Xl0−’/℃)を使用すること
ができる。
本発明において磁性材をフェライトで構成し、非磁性薄
膜をフォルステライトのセラミック材で構成する場合に
は、磁性材が鉛ガラスと反応しないフォルステライトに
よってコーティングされ、補強用ガラス及び接着用ガラ
スによって磁性材が浸食されることを防止できる。その
結果、アペックス部の浸食によりギヤツブ深さの測定精
度が低下することを防止できる。
「実施例」 本発明の具体的一実施例に係る磁気ヘッドを第1図1a
lないし第1図(C)に基づき説明すれば、以下の通り
である。
本発明の磁気ヘッドは、第1図(C)に示すように、コ
字形の断面形状を有するCバー1と長方形の断面形状を
有するIバー2とから構成され、Cバー1と■バー2と
の接合部分には、ギャップ形成用非磁性薄膜5・6と接
着ガラス7・8とが配置され、Cバー1とIバー2に挟
まれる部分に補強用ガラス10が充填されている。
Cバー1.Iバー2は、磁性材、例えばフェライトから
なり、Cバー1、■バー2を接合した長尺状の部材から
、所定厚みにスライスされる。
ギャップ形成用非磁性薄膜5・6はフォステライトなど
のセラミック材からなり、Cバー1、■バー2の接合面
に夫々コーティングされている。
接着ガラス7・8は、例えば鉛系ガラスからなり、前記
フォステライトなどのギャップ形成用非磁性薄膜5・6
上に薄膜手法によりコーティングされている。
補強用ガラス10は、接着ガラス7・8と同等またはそ
れ以下の温度で軟化する、例えば鉛系ガラスからなり、
Cバー11バー2の接合時、接着ガラス7・8と同時に
溶解され、充填される。
まず、第1図(a)に示すように、互いに接合されてリ
ング型磁気ヘッドのコアを形成する2つの磁性材、即ち
、例えばフェライトからなり、はぼコ字形の断面形状を
有するCバー1と、フェライトからなり、長方形の断面
形状を有するIバー2とを用意し、互いに接合されるC
バー1の接合面3と!パー2の接合面4とに例えばスパ
ッタリング等の薄膜形成方法によってギャップ形成用非
磁性薄膜5・6と、接着用ガラス層7・8とを形成する
この後、第1図(b)に示すように、Cバー1の接合面
3とIバー2の接合面4とを互いに他方に押し付けた状
態で、CバーlとIバー2との間に形成される巻線窓9
に棒状の補強用ガラス10を挿入してから不活性ガス中
(または、減圧状態)で接着用ガラス層7・8及び補強
用ガラス10の軟化温度(約450℃)よりも高温(約
り00℃〜約800℃)に加熱し、接着用ガラス層7・
8及び補強用ガラス10を溶解させてCバー1と■バー
2とを第1図(C)に示すように接合させる。
この磁気ヘッド法によれば、Cバー1及びIバー2と非
磁性薄膜5・6との熱膨張係数(NIA膨張係数)の差
異が比較的小さく、ギャップ形成時にCバーL 1バー
2及び非磁性薄膜5・6磁性材及び非磁性薄膜5・6が
冷却された時にギャップの近傍に発生する応力が小さく
なり、光学ギャップ長と実効ギャップ長との差異が小さ
くなる。その結果、コアの電磁変換特性の劣化が軽減さ
れるとともに、光学ギャップ長と実効ギャップ長との差
異のばらつきも小さくなるので、製造に当たってギャッ
プ長を光学ギャップ長に基づいて管理しても、実効ギャ
ップ長のばらつきを一定以下に抑えることができ、コア
の電磁変換特性に対する信転性を高めることができる。
また、この実施例では、非磁性薄膜5・6がフォルステ
ライトで構成されているので、Cバー1及びIバー2が
接着用ガラス層7・8及び補強用ガラス10を構成する
鉛ガラスと反応しないフォルステライトによってコーテ
ィングされ、補強用ガラス10及び接着用ガラス7・8
によってCバー1及びIバー2が浸食されることを防止
でき、Cバー1のアペックス部1aの浸食によりギャッ
プ深さの測定精度が低下することを防止できる。
上記の一実施例では、非磁性薄膜5・6及び接着用ガラ
ス層7・8がCバー1の接合面3と1バー2の接合面4
とに形成されているが、例えば第2図に示すように、I
バー12の接合面14にはこれらを形成せずにCバー1
1の接合面13のみに非磁性薄膜15及び接着用ガラス
層17を形成する場合や、第3図に示すように、Cバー
21の接合面23にはこれらを形成せずに1バー22の
接合面24のみに非磁性薄膜26及び接着用ガラス層2
8を形成する場合にも本発明が適用される。
また、例えば第4図に示すように、■バー32の接合面
34に非磁性薄膜35及び接着用ガラス層37を形成し
、Cバー31の接合面33には例えばセンダスト合金か
らなる高飽和磁束密度磁性薄膜(ここでは膜厚100μ
m以下としている) 40と、非磁性薄膜35と、接着
用ガラス層37とを形成する場合のほか、高飽和磁束密
度磁性薄膜がCバー側に形成される場合、高飽和磁束密
度磁性薄膜がCバー及びIバーに形成される場合、Cバ
ーあるいはIバーに形成された高飽和磁束密度磁性薄膜
に非磁性薄膜や接着用ガラス層が積層されない場合等に
も本発明を適用できる。
なお、センダスト合金からなる高飽和磁束密度磁性薄膜
をスパッタリングにより形成する場合には、Cバーある
いはIバーを400℃〜600℃程度に加熱しておくこ
とにより、例えば第5図に示すように、その後の熱処理
時にCバーあるいはIバーと高飽和磁束密度磁性薄膜と
熱膨張率の差に起因する高飽和磁束密度磁性薄膜のクラ
ンクや剥離の発生率を低下させることが確認されている
「発明の効果」 以上のように、本発明によれば、非磁性薄膜として線膨
張率が磁性材の線膨張率の50%〜95%のセラミック
を使用することにより、磁性材と非磁性薄膜との熱膨張
係数(線膨張係数)の差異を小さくすることができ、ギ
ャップ形成時に磁性材及び非磁性薄膜が冷却された時に
ギャップの近傍に発生する応力を小さくして、光学ギャ
ップ長と実効ギャップ長との差異を小さくでき、コアの
電磁変換特性の劣化を軽減することができる。また、こ
の光学ギャップ長と実効ギャップ長との差異のばらつき
も小さくなるので、製造に当たってギャップ長を光学ギ
ャップ長に基づいて管理することにより実効ギャップ長
のばらつきを一定以下に抑えることができ、コアの電磁
変換特性に対する信鎖性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(alないし第1図(C)は本発明の具体的一実
施例に係る磁気ヘッドの製造方法の手順の説明図であり
、第2図ないし第4図はそれぞれ上記一実施例の異なる
変形例に係る磁気ヘッドのギヤ・ノブ形成方法の手順の
説明図であり、第5図は高飽和磁束密度磁性薄膜の形成
時のCバーあるいはIバーの温度と高飽和磁束密度磁性
薄膜の剥離不良率との関係を示す説明図であり、第6図
+8)ないし第6図(C)は従来の磁気ヘッドのギャッ
プ製造方法の手順の説明図であり、第7図は従来例で生
じるアペックス部の浸食の説明図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)互いに接合されてリング型磁気ヘッドのコアを形
    成する少なくとも2つの磁性材を用意し、互いに接合さ
    れる磁性材の接合面の少なくとも一方にギャップ形成用
    非磁性薄膜と、接着用ガラス層とを形成し、各磁性材の
    接合面どうしを互いに接触させて各磁性材を互いに他方
    に押し付けた状態で、各磁性材の間に形成される巻線窓
    に補強用ガラスを挿入してから接着用ガラス層及び補強
    用ガラスの軟化温度よりも高温に加熱し、接着用ガラス
    層及び補強用ガラスを溶着させて各磁性材どうしを接合
    させる磁気ヘッドにおいて、上記非磁性薄膜として線膨
    張率が磁性材の線膨張率の50%〜95%のセラミック
    を用いることを特徴とする、磁気ヘッド。
JP33451489A 1989-12-22 1989-12-22 磁気ヘッド Pending JPH03194711A (ja)

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