JPH03191052A - 硬質炭素変性体からなる層を製造する方法及び装置 - Google Patents
硬質炭素変性体からなる層を製造する方法及び装置Info
- Publication number
- JPH03191052A JPH03191052A JP2315674A JP31567490A JPH03191052A JP H03191052 A JPH03191052 A JP H03191052A JP 2315674 A JP2315674 A JP 2315674A JP 31567490 A JP31567490 A JP 31567490A JP H03191052 A JPH03191052 A JP H03191052A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrodes
- arc discharge
- anode
- substrate
- hydrogen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 229910021385 hard carbon Inorganic materials 0.000 title claims description 9
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 28
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 28
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 21
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 50
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 claims description 43
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 30
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 20
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 15
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 9
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 8
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 7
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 claims description 5
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims description 3
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 claims description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000010943 off-gassing Methods 0.000 claims description 2
- 150000002927 oxygen compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 claims 1
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 11
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000010432 diamond Substances 0.000 abstract description 6
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 abstract description 4
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 abstract 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- YZCKVEUIGOORGS-UHFFFAOYSA-N Hydrogen atom Chemical compound [H] YZCKVEUIGOORGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 2
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 2
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 2
- 239000010405 anode material Substances 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000615 nonconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/24—Vacuum evaporation
- C23C14/32—Vacuum evaporation by explosion; by evaporation and subsequent ionisation of the vapours, e.g. ion-plating
- C23C14/325—Electric arc evaporation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/0605—Carbon
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、炭素を含有する媒体を使用して水素を供給す
る、真空下で2つの電極の間で点火される直流アーク放
電を用いた硬質炭素変性体からなる層、特にダイヤモン
ド層を製造する方法に関する。更に、本発明は内部に直
流アーク放電を発生するための電極対及び被覆すべき層
に対する支持体が配置されている、減圧源を有する反応
室と、直流アーク放電に水素を供給可能であるガス導管
とを有する該方法を実施するための装置に関する。
る、真空下で2つの電極の間で点火される直流アーク放
電を用いた硬質炭素変性体からなる層、特にダイヤモン
ド層を製造する方法に関する。更に、本発明は内部に直
流アーク放電を発生するための電極対及び被覆すべき層
に対する支持体が配置されている、減圧源を有する反応
室と、直流アーク放電に水素を供給可能であるガス導管
とを有する該方法を実施するための装置に関する。
[従来の技術]
冒頭に記載した種類の方法及び装置については、刊行物
“Japanese Journal of App
liedPhysics 27巻9号1988年9月
L1600〜LI602頁にすでに記載されているが、
この場合には真空にした反応室に配置された電極は専ら
アーク放電の発生のために使用されている。該電極内に
ガス導管を経て電極の領域の外部に、水素及びアルゴン
から並びにエタノール及び炭素を含有する媒体から構成
される混合ガスを導入する。被覆すべき基板は保持機構
の上に電極の間で点火される直流アーク放電の下側に配
置されている。この公知方法の欠点はガス状炭化水素を
使用する場合に炭素及び水素が結合して発生し、該方法
では互いに完全に独立して変化できないことにある:酸
素に対してエタノールを使用する場合にも同じことが当
てはまる。更に外部のガス導管により上昇した割合の中
性ガスが存在する。
“Japanese Journal of App
liedPhysics 27巻9号1988年9月
L1600〜LI602頁にすでに記載されているが、
この場合には真空にした反応室に配置された電極は専ら
アーク放電の発生のために使用されている。該電極内に
ガス導管を経て電極の領域の外部に、水素及びアルゴン
から並びにエタノール及び炭素を含有する媒体から構成
される混合ガスを導入する。被覆すべき基板は保持機構
の上に電極の間で点火される直流アーク放電の下側に配
置されている。この公知方法の欠点はガス状炭化水素を
使用する場合に炭素及び水素が結合して発生し、該方法
では互いに完全に独立して変化できないことにある:酸
素に対してエタノールを使用する場合にも同じことが当
てはまる。更に外部のガス導管により上昇した割合の中
性ガスが存在する。
西ドイツ国特許第34 13 891号明細書から、直
流アーク放電の作用下で蒸発するアノードを装備した真
空容器内での材料蒸発のための方法及び装置は公知であ
る。2つの電極はグラファイトからなるが、もしくは少
なくともグラファイトで被覆されていてもよい。カソー
ドはアノードに向かった領域に該アノードよりがなり大
きな直径を有する。
流アーク放電の作用下で蒸発するアノードを装備した真
空容器内での材料蒸発のための方法及び装置は公知であ
る。2つの電極はグラファイトからなるが、もしくは少
なくともグラファイトで被覆されていてもよい。カソー
ドはアノードに向かった領域に該アノードよりがなり大
きな直径を有する。
前記記載の技術水準に対して、真空アーク放電は主に燃
料として蒸発するアノード構成部分により維持される。
料として蒸発するアノード構成部分により維持される。
電極対の上側に、従ってアーク放電の領域の外側に、基
板を収容する蒸着室が存在し、該室に必要な場合は蒸着
過程に影響を与える反応性ガス雰囲気が保持される。当
該の解決手段の欠点は、記載された真空アーク放電では
ダイヤモンド層を製造するために必要な原子の水素及び
/又はH+−イオンを十分な量で発生させることができ
ないことにある。
板を収容する蒸着室が存在し、該室に必要な場合は蒸着
過程に影響を与える反応性ガス雰囲気が保持される。当
該の解決手段の欠点は、記載された真空アーク放電では
ダイヤモンド層を製造するために必要な原子の水素及び
/又はH+−イオンを十分な量で発生させることができ
ないことにある。
[発明が解決しようとする課題]
本発明の課題は、マイクロメートル7分の程度の層形成
速度においてダイヤモンド類似層、特にやはりダイヤモ
ンド層を製造することを可能にするための方法及び該方
法を実施するだめの適当な装置を提供することであった
。
速度においてダイヤモンド類似層、特にやはりダイヤモ
ンド層を製造することを可能にするための方法及び該方
法を実施するだめの適当な装置を提供することであった
。
[課題を解決するための手段]
前記課題は、水素を2つの電極の少なくとも1つを通し
て直接導入しかつアーク放電を電極間隔を再調整しなが
ら同時に炭素源として有効なアノードから供給すること
により解決される。本発明は硬質炭素変性体の製造に必
要な水素を2つの電極の少なくとも1つを通して直接ア
ーク放電の領域に供給し、該電極に同時にアットを経て
炭素を供給することにより解決される。
て直接導入しかつアーク放電を電極間隔を再調整しなが
ら同時に炭素源として有効なアノードから供給すること
により解決される。本発明は硬質炭素変性体の製造に必
要な水素を2つの電極の少なくとも1つを通して直接ア
ーク放電の領域に供給し、該電極に同時にアットを経て
炭素を供給することにより解決される。
この解決手段は水素を付加的に供給する場合に直接アー
ク放電の領域で原子の水素及び/又はH“−イオンを形
成して消耗するアノードから炭素が供給されることによ
り冒頭記載の技術の水準とは異なる。
ク放電の領域で原子の水素及び/又はH“−イオンを形
成して消耗するアノードから炭素が供給されることによ
り冒頭記載の技術の水準とは異なる。
従って反応物質が専らガス導管を経てアーク放電領域に
導入される(刊行物の対象)場合も、更に反応物質が専
ら蒸発するアノード材料から供給される(西ドイツ国特
許明細書)場合も存在しない。
導入される(刊行物の対象)場合も、更に反応物質が専
ら蒸発するアノード材料から供給される(西ドイツ国特
許明細書)場合も存在しない。
その際、本発明にもとづく方法は、単位時間当り可能な
かぎり多くの量の原子の水素もしくは可能なかぎり多数
のH+−イオンを形成に関して3種類の点で実施するこ
とができる;ガス供給が専ら2つの電極の1つすなわち
アノード又はカソードを経て実施されるが、又は場合に
よ・り異なる割合の全流量をもって同時に2つの電極を
経て実施される。十分な変化しない方法条件を調整もし
くは維持するために、電極の間隔を被覆過程で自体公知
方法で再調整する;このことはそのつどの具体的に測定
された方法パラメータたとえば電極の間隔に依存した、
又はそれとは独立した進行する経過時間(従って純粋に
時間依存性)で再供給を行うことにより実施することが
できる。
かぎり多くの量の原子の水素もしくは可能なかぎり多数
のH+−イオンを形成に関して3種類の点で実施するこ
とができる;ガス供給が専ら2つの電極の1つすなわち
アノード又はカソードを経て実施されるが、又は場合に
よ・り異なる割合の全流量をもって同時に2つの電極を
経て実施される。十分な変化しない方法条件を調整もし
くは維持するために、電極の間隔を被覆過程で自体公知
方法で再調整する;このことはそのつどの具体的に測定
された方法パラメータたとえば電極の間隔に依存した、
又はそれとは独立した進行する経過時間(従って純粋に
時間依存性)で再供給を行うことにより実施することが
できる。
層形成速度は場合により、アーク放電が被覆すべき基板
の方向に向かう湾曲部を有する(請求項2)ように操作
することにより高めることができる。該基板は特に金属
、セラミック又はガラスから成ることができる。更にア
ーク放電は該放電が少なくとも50%の水素解離度を有
するように調整すべきである(請求項3)。
の方向に向かう湾曲部を有する(請求項2)ように操作
することにより高めることができる。該基板は特に金属
、セラミック又はガラスから成ることができる。更にア
ーク放電は該放電が少なくとも50%の水素解離度を有
するように調整すべきである(請求項3)。
該方法の有利な構成では、被覆過程でガス供給を供給さ
れる水素の全流量が20〜2000cm3/minであ
るように構成する(請求項4)。
れる水素の全流量が20〜2000cm3/minであ
るように構成する(請求項4)。
その際該供給は、流量が時間とともに変化する量を有す
るように特に調整することができる。
るように特に調整することができる。
電極は被覆過程で該電極を70〜24Vの電圧で8〜7
0Vの量の電流が貫流するようにエネルギを特徴する請
求項5)。
0Vの量の電流が貫流するようにエネルギを特徴する請
求項5)。
アーク放電の維持及び調整は、電極にパルス化した直流
電圧を印加させることにより簡略化することができる(
請求項6)。このために直電圧に交番電圧成分を重畳さ
せる。
電圧を印加させることにより簡略化することができる(
請求項6)。このために直電圧に交番電圧成分を重畳さ
せる。
更にアーク放電に侵入する前に水素に解離度を高めるガ
ス、たとえばArを混合することにより被覆過程に影響
を与えることができる(請求項7)。酸素又は酸素化合
物(例えば02もしくは水蒸気)の混合により析出度を
高めることができる(請求項8)。
ス、たとえばArを混合することにより被覆過程に影響
を与えることができる(請求項7)。酸素又は酸素化合
物(例えば02もしくは水蒸気)の混合により析出度を
高めることができる(請求項8)。
被覆工程中、基板をあらゆる場合1000℃の温度に加
熱すべきである(請求項9)。
熱すべきである(請求項9)。
特に温度に敏感な材料からなる基板の場合には、例えば
イオン源を使用して、基板の被覆すべき表面に高エネル
ギの粒子を衝突させることにより不都合に高い基板温度
を回避することができる。
イオン源を使用して、基板の被覆すべき表面に高エネル
ギの粒子を衝突させることにより不都合に高い基板温度
を回避することができる。
該方法は更に、被覆過程で共働する領域を異なる電位に
することにより構成することができる。特にアーク放電
から出るイオンを基板の方向に有効なバイアス電圧によ
り加速することができる(請求項II)。このことは基
板を被覆工程でアノードに対して、異なる電位に保持す
る(請求項12)ことにより実施することができる。
することにより構成することができる。特にアーク放電
から出るイオンを基板の方向に有効なバイアス電圧によ
り加速することができる(請求項II)。このことは基
板を被覆工程でアノードに対して、異なる電位に保持す
る(請求項12)ことにより実施することができる。
更に、冒頭に言及した課題は、電極対の2つの電極の少
なくとも1つ、すなわちアノードがグラファイトからな
り、電極少なくとも1つが、水素が該電極をとおりアー
ク放電に導入することができるように形成され、電極が
アノード7が、アーク放電の作用下で剥離されるように
構成され、かつ電極の間隔が再調整を介して少なくとも
段階的に維持可能である本発明の方法を実施するための
適当な装置により解決される。それに基づき、少なくと
もアーク放電の作用下で剥離されるアノードは、グラフ
ァイトからなり、かつ電極の対向間隔が再調整を介して
少なくとも段階的に維持することができる該電極の少な
くとも一方であり、かつ該電極をとおり水素をアーク放
電に導入できるように形成されている。有利にアノード
が剥離されることを保証するために、カソードはアノー
ドに向かった領域にアノードより大きな表面を有する(
請求項14)。有利にはカソードの表面はアノードの表
面よりほぼ3倍の大きさである。
なくとも1つ、すなわちアノードがグラファイトからな
り、電極少なくとも1つが、水素が該電極をとおりアー
ク放電に導入することができるように形成され、電極が
アノード7が、アーク放電の作用下で剥離されるように
構成され、かつ電極の間隔が再調整を介して少なくとも
段階的に維持可能である本発明の方法を実施するための
適当な装置により解決される。それに基づき、少なくと
もアーク放電の作用下で剥離されるアノードは、グラフ
ァイトからなり、かつ電極の対向間隔が再調整を介して
少なくとも段階的に維持することができる該電極の少な
くとも一方であり、かつ該電極をとおり水素をアーク放
電に導入できるように形成されている。有利にアノード
が剥離されることを保証するために、カソードはアノー
ドに向かった領域にアノードより大きな表面を有する(
請求項14)。有利にはカソードの表面はアノードの表
面よりほぼ3倍の大きさである。
プロセスの進行および結果は、有利には、少なくともア
ノードが高密、度を有するグラファイトからなり、かつ
そのガス放出が被覆過程でわずかであるようにすること
により達成することができる(請求項15)。有利には
被覆工程の前にアノード及び/又はカソードを特徴する
請求項16)。
ノードが高密、度を有するグラファイトからなり、かつ
そのガス放出が被覆過程でわずかであるようにすること
により達成することができる(請求項15)。有利には
被覆工程の前にアノード及び/又はカソードを特徴する
請求項16)。
本発明にもとづく装置の有利な1実施態様においては、
2つの電極の少なくとも1つが少なくとも1つのガス通
路を装備しかつ該通路を経てガス供給導管に接続可能で
ある(請求項17)。
2つの電極の少なくとも1つが少なくとも1つのガス通
路を装備しかつ該通路を経てガス供給導管に接続可能で
ある(請求項17)。
場合により、特に短い寸法のアノードに該アノードを貫
通するガス通路を設けることは、測量技術的又は製造技
術的理由から不可能であるこの場合には、2つの電極の
少なくとも一方を、パックを形成する複数の棒から構成
し、該棒の間に少なくとも1つのガス通路を設けること
ができる(請求項18)。中心に配置されたガス通路を
有する電極は、容易に円形横断面を有する3つの棒から
なるバックを用いて製造することができる(M求項19
)。
通するガス通路を設けることは、測量技術的又は製造技
術的理由から不可能であるこの場合には、2つの電極の
少なくとも一方を、パックを形成する複数の棒から構成
し、該棒の間に少なくとも1つのガス通路を設けること
ができる(請求項18)。中心に配置されたガス通路を
有する電極は、容易に円形横断面を有する3つの棒から
なるバックを用いて製造することができる(M求項19
)。
多数の棒を使用して電極を構成することにより、該棒の
間に大きな費用をかけることなく他のガス通路を製造す
ることができ、該通路は結果としてガス通路の一層の分
配を生じる。この種の構成の利点は、当該電極のガス通
路に異なる及び/又は種々のガスを負荷することができ
ることにある(請求項7及び8参照)。例えば該ガス通
路の一部をアーク放電に水素を供給するために使用し、
一方他のガス通路を貫流して場合により一時的だけ例え
ばArもしくは02を供給することができる。
間に大きな費用をかけることなく他のガス通路を製造す
ることができ、該通路は結果としてガス通路の一層の分
配を生じる。この種の構成の利点は、当該電極のガス通
路に異なる及び/又は種々のガスを負荷することができ
ることにある(請求項7及び8参照)。例えば該ガス通
路の一部をアーク放電に水素を供給するために使用し、
一方他のガス通路を貫流して場合により一時的だけ例え
ばArもしくは02を供給することができる。
電極を互いに基板の方向に斜めに配置することにより有
利に被覆工程に影響を与えることができる(請求項20
)。この種の実施態様においては、電極の互いに向かい
合う領域は基板から見て互いに180°より大きい角度
を形成する。
利に被覆工程に影響を与えることができる(請求項20
)。この種の実施態様においては、電極の互いに向かい
合う領域は基板から見て互いに180°より大きい角度
を形成する。
基板の場合により不利な加熱(通常の場合最低400℃
の温度で)は、基板表面に高エネルギの粒子を衝突させ
るための粒子源を付加的に反応室に設けることにより減
少することができる(請求項21)。
の温度で)は、基板表面に高エネルギの粒子を衝突させ
るための粒子源を付加的に反応室に設けることにより減
少することができる(請求項21)。
本発明にもとづく装置の有利な構成においては、ガス導
管は混合ユニ7トに接続可能であり、該混合ユニットを
介して被覆工程に影響を与えるガス(このためには請求
項7及び/又は8参照)を付加的に混合することができ
る(請求項22)。
管は混合ユニ7トに接続可能であり、該混合ユニットを
介して被覆工程に影響を与えるガス(このためには請求
項7及び/又は8参照)を付加的に混合することができ
る(請求項22)。
[実施例]
本発明を以下の図面により詳細に説明する。
硬質炭素変性体からなる層を製造するための装置の1つ
の主要部分は反応室lであり、該室内で真空ポンプ2を
用いて十分に設定した減圧を生ぜしめることができる。
の主要部分は反応室lであり、該室内で真空ポンプ2を
用いて十分に設定した減圧を生ぜしめることができる。
反応室内を支配する真空の監視は、頂部プレートlaの
近くに保持された減圧測定装置3により可能である。
近くに保持された減圧測定装置3により可能である。
反応室の脚部プレートlbの上にアーク放電の外側に、
電気的絶縁体4の介在下にテーブル状の受は台5が固定
され、該受は台の上に被覆すべき基板6が載る。該受は
台は加熱ユニット5aを装備し、該ユニットを介して基
板温度に影響を与えもしくは調整することができる。
電気的絶縁体4の介在下にテーブル状の受は台5が固定
され、該受は台の上に被覆すべき基板6が載る。該受は
台は加熱ユニット5aを装備し、該ユニットを介して基
板温度に影響を与えもしくは調整することができる。
反応室内に、−直線上に向かい合って、アノード7及び
カソード8が突出しており、該アット及びカソードは図
示されない再調整駆動装置を介して二重矢印9もしくは
lOの方向に直線状に移動可能である。前記電極7及び
8の可動支持機構は絶縁ブツシュ11からなり、該ブツ
シュは側壁1c、ldに取付けられている。
カソード8が突出しており、該アット及びカソードは図
示されない再調整駆動装置を介して二重矢印9もしくは
lOの方向に直線状に移動可能である。前記電極7及び
8の可動支持機構は絶縁ブツシュ11からなり、該ブツ
シュは側壁1c、ldに取付けられている。
反応室lの外側に、電極7及び8が接続端子7aもしく
は8aを経て存在し、供給導線12もしくは13がエネ
ルギ供給ユニット14に接続され、該ユニットは2つの
電極に被覆工程でパルス化した直流電圧を印加する。
は8aを経て存在し、供給導線12もしくは13がエネ
ルギ供給ユニット14に接続され、該ユニットは2つの
電極に被覆工程でパルス化した直流電圧を印加する。
カソード8の、アノード7に面した端部は円板状拡大面
8aとして形成されている。該拡大面の表面は単なる棒
状アノード7の直径のほぼ3倍以上大きい。
8aとして形成されている。該拡大面の表面は単なる棒
状アノード7の直径のほぼ3倍以上大きい。
受は台5は被覆工程で導線13と接続された導線15a
を介してアノード7に対して異なる電位を保持すること
ができる。貫通案内機構として役立つ絶縁ブツシュ16
を介して側壁1dに対して絶縁された導線15aには電
源15から給電される。該電源はまた導線15bを経て
導線13に接続されている。
を介してアノード7に対して異なる電位を保持すること
ができる。貫通案内機構として役立つ絶縁ブツシュ16
を介して側壁1dに対して絶縁された導線15aには電
源15から給電される。該電源はまた導線15bを経て
導線13に接続されている。
電極7,8はそれぞれ該電極を貫流するガス通路7bも
しくは8cを有し、該通路はガス導管17もしくは18
を介してガス供給装置に接続されている。該ガス供給装
置は水素を充填した貯蔵容器19からなり、該容器それ
ぞれ遮断弁20もしくは21の中間接続下にガス導管1
7もしくは18と接続されている。
しくは8cを有し、該通路はガス導管17もしくは18
を介してガス供給装置に接続されている。該ガス供給装
置は水素を充填した貯蔵容器19からなり、該容器それ
ぞれ遮断弁20もしくは21の中間接続下にガス導管1
7もしくは18と接続されている。
ガス供給装置は更にArを充填した貯蔵容器22及び0
2を充填した貯蔵容器23を有している。これらの貯蔵
容器は導管24.25もしくは26.27を介してガス
導管17もしくは18に接続され、該導管にはそれぞれ
遮断弁28.29.30もしくは31が組込まれている
遮断弁20及び21の作動により、被覆過程でガス通路
7b及び8Cを経て供給される水素の流量を、電極7及
び8の間のアーク放電内での原子の水素及び/又はH+
イオンの形成速度が可能なかぎり大きな値を取るように
割合に応じて分流することができる。
2を充填した貯蔵容器23を有している。これらの貯蔵
容器は導管24.25もしくは26.27を介してガス
導管17もしくは18に接続され、該導管にはそれぞれ
遮断弁28.29.30もしくは31が組込まれている
遮断弁20及び21の作動により、被覆過程でガス通路
7b及び8Cを経て供給される水素の流量を、電極7及
び8の間のアーク放電内での原子の水素及び/又はH+
イオンの形成速度が可能なかぎり大きな値を取るように
割合に応じて分流することができる。
必要な場合には、遮断弁28.29もしくは30及び3
1を開くことにより、水素にアーク放電に侵入する前に
Arの解離度を向上するためにないし析出率を高めるた
めに酸素を混合することによりプロセス進行に影響を与
えることができる。
1を開くことにより、水素にアーク放電に侵入する前に
Arの解離度を向上するためにないし析出率を高めるた
めに酸素を混合することによりプロセス進行に影響を与
えることができる。
アノ−17は(図示されない)アーク放電の作用下で剥
離されるので、被覆過程でごくわずかな量のガスを放出
する高密度を有するグラファイトからなる。
離されるので、被覆過程でごくわずかな量のガスを放出
する高密度を有するグラファイトからなる。
本発明にもとづく方法は、貯蔵容器内19に貯蔵された
水素を遮断弁20.21の少なくとも1つの解放後に所
属のガス導管17もしくは18及びそれに接続されたガ
ス通路7bもしくは8cを経て直接アーク放電に導入し
かつ該放電が電極7及び8の間隔を再調整した状態で炭
素源として有効なアノード7から供給されるようにして
実施される。アーク放電の点火の前に、反応室の内部空
間を真空ポンプ2のスイッチを入れることにより真空に
しかつ基板6を加熱ユニット5aを用いて400℃より
高い温度に加熱する。
水素を遮断弁20.21の少なくとも1つの解放後に所
属のガス導管17もしくは18及びそれに接続されたガ
ス通路7bもしくは8cを経て直接アーク放電に導入し
かつ該放電が電極7及び8の間隔を再調整した状態で炭
素源として有効なアノード7から供給されるようにして
実施される。アーク放電の点火の前に、反応室の内部空
間を真空ポンプ2のスイッチを入れることにより真空に
しかつ基板6を加熱ユニット5aを用いて400℃より
高い温度に加熱する。
アーク放電の点火後該アーク放電から出るイオンは、ア
ノード7に対して負の電位の作用下で(導線15により
ひき起こされた)基板の被覆すべき表面6aの方向に加
速されかつそこで硬質炭素変性体として、有利にはダイ
ヤモンド層の形で析出する。
ノード7に対して負の電位の作用下で(導線15により
ひき起こされた)基板の被覆すべき表面6aの方向に加
速されかつそこで硬質炭素変性体として、有利にはダイ
ヤモンド層の形で析出する。
マイクロメートル7分の程度の層形成速度を達成できる
ためには、1つの電極もしくは2つの電極を介して反応
室1に供給される水素の全流量がl OOcm3/ m
inより多いことである。
ためには、1つの電極もしくは2つの電極を介して反応
室1に供給される水素の全流量がl OOcm3/ m
inより多いことである。
その最も簡単な実施例では、それぞれの電極が例えば第
3図に示されたアノード7が縦穴の形のガス誘導通路7
bを装備している。電極直径に依在してかつ/又は電極
材料として加工が困雌なグラファイトを使用する際には
、このようなガス通路は場合により製造できないか又は
かなりの費用をかけて製造できるにすぎない。
3図に示されたアノード7が縦穴の形のガス誘導通路7
bを装備している。電極直径に依在してかつ/又は電極
材料として加工が困雌なグラファイトを使用する際には
、このようなガス通路は場合により製造できないか又は
かなりの費用をかけて製造できるにすぎない。
従って、場合によりアノード7(図2b及び2Cに例示
されている)が及び場合によりカソード8(このために
は図1を参照)も1つのバックを形成する複数の棒から
構成することを提案する。1つの張設板または電極の縦
方向に連続する複数の張設板を用いて互いに支持されて
いる3つの棒7cを使用すると、棒7c間の中心を延び
るガス通路7bを有する電極が生ずる(図2b)。その
際少なくとも1枚の張設板32は棒7cの外側ラインに
合った開口32aを有する。
されている)が及び場合によりカソード8(このために
は図1を参照)も1つのバックを形成する複数の棒から
構成することを提案する。1つの張設板または電極の縦
方向に連続する複数の張設板を用いて互いに支持されて
いる3つの棒7cを使用すると、棒7c間の中心を延び
るガス通路7bを有する電極が生ずる(図2b)。その
際少なくとも1枚の張設板32は棒7cの外側ラインに
合った開口32aを有する。
図20による実施例においては、例示されたアノード7
は、適合した開口33aを有する少なくとも1枚の張設
板33の作用下で6本の棒7cが互いに支持されること
により形成されるこれらの棒は相互に4本のガス通路7
bを包括する。それにより達成される利点は、当該電極
が多数のガス通路を有し、該通路に場合により互いに独
立して異なるガス(水素並びにAr及び/又は02)を
送ることができることにある。もちろんカソードも相当
する方式で1つのバックを形成する複数の棒から構成さ
れていてもよいが、これはカソードがアノードに面した
領域にアノードより著しく大きな面積を有するという場
合に限られる。
は、適合した開口33aを有する少なくとも1枚の張設
板33の作用下で6本の棒7cが互いに支持されること
により形成されるこれらの棒は相互に4本のガス通路7
bを包括する。それにより達成される利点は、当該電極
が多数のガス通路を有し、該通路に場合により互いに独
立して異なるガス(水素並びにAr及び/又は02)を
送ることができることにある。もちろんカソードも相当
する方式で1つのバックを形成する複数の棒から構成さ
れていてもよいが、これはカソードがアノードに面した
領域にアノードより著しく大きな面積を有するという場
合に限られる。
電極7及び8の間にアーク放電を維持する場合に進行す
る被覆過程には、電極を(図1に示されるように)互い
に一直線に並んでいるのではなく、基板6もしくは被覆
すべき表面6aの方向に互いに斜めに配置することによ
り調整することができる。
る被覆過程には、電極を(図1に示されるように)互い
に一直線に並んでいるのではなく、基板6もしくは被覆
すべき表面6aの方向に互いに斜めに配置することによ
り調整することができる。
この種の実施態様は3図に示され、該例において電極7
及び8は基板6から見て180°より大きな角度を形成
している。このため電極7及び8の斜め配置と結び付い
たアーク放電の変形により、粒子がアーク放電を強化さ
れた量で基板表面6aの方向に放出することを生ずる。
及び8は基板6から見て180°より大きな角度を形成
している。このため電極7及び8の斜め配置と結び付い
たアーク放電の変形により、粒子がアーク放電を強化さ
れた量で基板表面6aの方向に放出することを生ずる。
本発明を用いて得られた利点は特に、プロセスの制御可
能性を改良すると同時に高い層形成速度で特にダイヤモ
ンド層を製造できることにある。
能性を改良すると同時に高い層形成速度で特にダイヤモ
ンド層を製造できることにある。
第1図は硬質炭素変性体からなる層を製造するだめの装
置の構造を、所属の反応室の垂直断面図と共に示す図お
よび第2a図は縦孔の形のガス通路を有する電極の端面
図、第2b図および第2c図は1本のガス通路もしくは
4本のガス通路を有する3本もしくは6本の棒から構成
された電極の端面図、及び第3図は電極が互いに基板の
方向に斜めに配置された第1図にもとづく装置の部分図
である。 1・・・反応室、6・・・基板、7・・・アノード、8
・・・カソード、17.18・・・ガス導管、6a・・
・基板表面、7b・・・ガス通路、7c・・・パック形
成棒反応室
置の構造を、所属の反応室の垂直断面図と共に示す図お
よび第2a図は縦孔の形のガス通路を有する電極の端面
図、第2b図および第2c図は1本のガス通路もしくは
4本のガス通路を有する3本もしくは6本の棒から構成
された電極の端面図、及び第3図は電極が互いに基板の
方向に斜めに配置された第1図にもとづく装置の部分図
である。 1・・・反応室、6・・・基板、7・・・アノード、8
・・・カソード、17.18・・・ガス導管、6a・・
・基板表面、7b・・・ガス通路、7c・・・パック形
成棒反応室
Claims (22)
- 1.炭素を含有する媒体を使用して、水素が供給される
、真空下で2つの電極の間で点火される直流アーク放電
を用いた硬質炭素変性体からなる層を製造する方法にお
いて、水素を両電極の少なくとも1つを通して直接導入
し、かつアーク放電を電極間隔を再調整しながら同時に
炭素源として有効なアノードから供給することを特徴と
する硬質炭素変性体からなる層を製造する方法。 - 2.アーク放電を、被覆すべき基板の方向に湾曲部を有
するように形成させる請求項1記載の方法。 - 3.アーク放電の調整を、少なくとも50%の水素の解
離を結果として伴うように行う請求項1又は2記載の方
法。 - 4.供給される水素の全流量が20〜2000cm^3
/minである請求項1から3までのいずれか1項記載
の方法。 - 5.電極に電圧70〜24Vで8〜70Vの量の電流を
流す請求項1から4までのいずれか1項記載の方法。 - 6.電極にパルス化した等しい電圧を印加する請求項1
から5までのいずれか1項記載の方法。 - 7.水素にアーク放電に侵入する前に解離度を上昇する
ガスを混合する請求項1から6までのいずれか1項記載
の方法。 - 8.水素にアーク放電に侵入する前に酸素又は酸素化合
物を混合する請求項1から7までのいずれか1項記載の
方法。 - 9.基板をあらゆる場合1000℃の温度に加熱する請
求項1から8までのいずれか1項記載の方法。 - 10.基板の被覆すべき表面に高エネルギ粒子を照射す
る請求項1から9までのいずれか1項記載の方法。 - 11.アーク放電から流出する粒子を基板の方向に有効
なバイアス電圧により加速する請求項1から10までの
いずれか1項記載の方法。 - 12.基板を被覆過程でアノードに対して異なる電位に
保持する請求項11記載の方法。 - 13.減圧源を有する反応室を有し、該室内に直流アー
ク放電の発生のための電極対及び被覆すべき基板の保持
機構が配置されており、かつアーク放電に水素を供給可
能であるガス導管を有する形式の、請求項1から12ま
でのいずれか1項の方法を実施するための、炭素含有媒
体を使用して硬質炭化水素変性体からなる層を製造する
装置において、 電極対の2つの電極(7もしくは8)の少 なくとも1つ、すなわちアノード(7)がグラファイト
からなり、 電極(7もしくは8)の少なくとも1つが 、水素が該電極をとおりアーク放電に導入できるように
形成されており、 電極(7,8)が、アーク放電の作用下で アノード(7)が剥離されるように構成され電極間隔が
再調整を介して少なくとも段階 的に維持可能であることを特徴とする硬質炭素変性体か
らなる層を製造する装置。 - 14.カソード(8)がアノード(7)に向かった領域
にアノードより少なくとも3倍大きな面積を有する請求
項13記載の装置。 - 15.少なくともアノード(7)が高い密度を有するグ
ラファイトからなり、かつ被覆過程でわずかなガス放出
を示す性質を有する請求項13又は14記載の装置。 - 16.アノード及び/又はカソードが被覆工程の前に加
熱される請求項13から15までのいずれか1項記載の
装置。 - 17.2つの電極(7もしくは8)の少なくとも1つが
、少なくとも1つのガス通路(7b)を備えておりかつ
該通路を介してガス導管(17もしくは18)に接続可
能である請求項13から16までのいずれか1項記載の
装置。 - 18.2つの電極(7もしくは8)の少なくとも1つが
1つのパックを形成する複数の棒(7c)から構成され
、該棒の間に少なくとも1つのガス通路(7b)が設け
られている請求項17記載の装置。 - 19.パックが3つの棒(7c)からなる請求項18記
載の装置。 - 20.電極(7,8)が相対して基板(6)の方向に斜
めに設置されている請求項13から19までのいずれか
1項記載の装置。 - 21.反応室(1)が粒子源を装備し、該源を用いて基
板表面(6a)に高エネルギの粒子を衝突させることが
できる請求項13から20までのいずれか1項記載の装
置。 - 22.ガス導管(17もしくは18)が混合ユニットに
接続可能であり、該混合ユニットを介して付加的に被覆
過程に影響を与えるガスを配合することができる請求項
13から21までのいずれか1項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3941202A DE3941202A1 (de) | 1989-12-14 | 1989-12-14 | Verfahren zur erzeugung von schichten aus harten kohlenstoffmodifikationen und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE3941202.4 | 1989-12-14 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03191052A true JPH03191052A (ja) | 1991-08-21 |
Family
ID=6395403
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2315674A Pending JPH03191052A (ja) | 1989-12-14 | 1990-11-22 | 硬質炭素変性体からなる層を製造する方法及び装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5104509A (ja) |
EP (1) | EP0432528B1 (ja) |
JP (1) | JPH03191052A (ja) |
AT (1) | ATE103344T1 (ja) |
CA (1) | CA2030847A1 (ja) |
DE (2) | DE3941202A1 (ja) |
ES (1) | ES2050338T3 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007247032A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Kyushu Univ | ダイヤモンド膜製造装置、ダイヤモンド膜製造方法 |
JP2010528179A (ja) * | 2007-05-25 | 2010-08-19 | エーリコン・トレイディング・アーゲー・トリューバッハ | 真空処理装置及び真空処理方法 |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2065581C (en) | 1991-04-22 | 2002-03-12 | Andal Corp. | Plasma enhancement apparatus and method for physical vapor deposition |
US5580429A (en) * | 1992-08-25 | 1996-12-03 | Northeastern University | Method for the deposition and modification of thin films using a combination of vacuum arcs and plasma immersion ion implantation |
DE4300491A1 (de) * | 1993-01-13 | 1994-07-14 | Carl Hofmann Ringlaeufer Und R | Ring für Spinnmaschinen und Verfahren zur Herstel- lung einer Oberflächenschicht |
ES2060539B1 (es) * | 1993-01-22 | 1995-06-16 | Tekniker | Proceso para la obtencion de recubrimientos de carbono y carbono-metal mediante deposicion fisica en fase vapor por arco metalico con catodo de grafito. |
WO1995027806A1 (en) * | 1994-04-06 | 1995-10-19 | The Regents Of The University Of California | Process to produce diamond films |
US5464667A (en) * | 1994-08-16 | 1995-11-07 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Jet plasma process and apparatus |
US5551959A (en) * | 1994-08-24 | 1996-09-03 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Abrasive article having a diamond-like coating layer and method for making same |
US5830540A (en) * | 1994-09-15 | 1998-11-03 | Eltron Research, Inc. | Method and apparatus for reactive plasma surfacing |
FR2726579A1 (fr) * | 1994-11-07 | 1996-05-10 | Neuville Stephane | Procede de depot d'un revetement protecteur de type pseudo carbonne diamant amorphe |
FR2726834B1 (fr) * | 1994-11-07 | 1997-07-18 | Neuville Stephane | Procede de depot sur au moins une piece d'un revetement protecteur de grande durete |
DE4440521C1 (de) | 1994-11-12 | 1995-11-02 | Rowo Coating Ges Fuer Beschich | Vorrichtung zum Beschichten von Substraten mit einem Materialdampf im Unterdruck oder Vakuum |
DE19513614C1 (de) * | 1995-04-10 | 1996-10-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Abscheidung von Kohlenstoffschichten, Kohlenstoffschichten auf Substraten und deren Verwendung |
DE19651615C1 (de) * | 1996-12-12 | 1997-07-10 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zum Aufbringen von Kohlenstoffschichten durch reaktives Magnetron-Sputtern |
WO1998058099A1 (de) * | 1997-06-13 | 1998-12-23 | Balzers Hochvakuum Ag | Verfahren zur herstellung beschichteter werkstücke, verwendungen des verfahrens und anlage hierfür |
US6203898B1 (en) | 1997-08-29 | 2001-03-20 | 3M Innovatave Properties Company | Article comprising a substrate having a silicone coating |
DE19905571C1 (de) * | 1999-02-11 | 2000-11-16 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Erzeugung definiert konischer Löcher mittels eines Laserstrahls |
US20030234176A1 (en) * | 2000-07-17 | 2003-12-25 | Jawad Haidar | Production of carbon and carbon-based materials |
US20050034668A1 (en) * | 2001-03-22 | 2005-02-17 | Garvey James F. | Multi-component substances and apparatus for preparation thereof |
KR100924287B1 (ko) * | 2007-05-10 | 2009-10-30 | 한국과학기술연구원 | 양광주가 존재하지 않는 직류 전원 플라스마 증착 장치와,양광주를 배제한 상태에서의 물질 증착 방법 및 이에 의해제조된 다이아몬드 박막 |
US9970098B2 (en) * | 2013-12-16 | 2018-05-15 | United Technologies Corporation | Movable evaporation source |
DE102019135749B4 (de) * | 2019-12-23 | 2024-02-08 | Ri Research Instruments Gmbh | Lichtbogen-Beschichtungsanordnung und Verfahren |
CN113818004A (zh) * | 2021-09-22 | 2021-12-21 | 吉林大学 | 一种用于金刚石的生长装置及方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE906807C (de) * | 1949-10-01 | 1954-03-18 | Guenther Dobke Dipl Ing | Verfahren zur Herstellung von Kohlekoerpern und Kohleschichten |
US3931542A (en) * | 1973-06-28 | 1976-01-06 | Sheer-Korman Associates, Inc. | Method and apparatus for energizing materials in an electric arc |
IL71530A (en) * | 1984-04-12 | 1987-09-16 | Univ Ramot | Method and apparatus for surface-treating workpieces |
DE3413891A1 (de) * | 1984-04-12 | 1985-10-17 | Horst Dipl.-Phys. Dr. 4270 Dorsten Ehrich | Verfahren und vorrichtung zum verdampfen von material in vakuum |
JPH062944B2 (ja) * | 1985-06-14 | 1994-01-12 | ティーディーケイ株式会社 | ダイヤモンド様カ−ボン成膜装置 |
US4851254A (en) * | 1987-01-13 | 1989-07-25 | Nippon Soken, Inc. | Method and device for forming diamond film |
JPS63210099A (ja) * | 1987-02-26 | 1988-08-31 | Nissin Electric Co Ltd | ダイヤモンド膜の作製方法 |
DE3884653T2 (de) * | 1987-04-03 | 1994-02-03 | Fujitsu Ltd | Verfahren und Vorrichtung zur Gasphasenabscheidung von Diamant. |
DE3712205A1 (de) * | 1987-04-10 | 1988-10-20 | Detlev Dipl Chem Dr Repenning | Verfahren zur herstellung von schichten mit hochharten diamantaehnlichen und/oder reibungsarmen eigenschaften |
JPS63282199A (ja) * | 1987-05-11 | 1988-11-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ダイヤモンド薄膜の形成方法 |
-
1989
- 1989-12-14 DE DE3941202A patent/DE3941202A1/de active Granted
-
1990
- 1990-11-22 EP EP90122260A patent/EP0432528B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-11-22 ES ES90122260T patent/ES2050338T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1990-11-22 JP JP2315674A patent/JPH03191052A/ja active Pending
- 1990-11-22 DE DE90122260T patent/DE59005099D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-11-22 AT AT90122260T patent/ATE103344T1/de not_active IP Right Cessation
- 1990-11-26 CA CA002030847A patent/CA2030847A1/en not_active Abandoned
- 1990-11-29 US US07/619,408 patent/US5104509A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007247032A (ja) * | 2006-03-17 | 2007-09-27 | Kyushu Univ | ダイヤモンド膜製造装置、ダイヤモンド膜製造方法 |
JP2010528179A (ja) * | 2007-05-25 | 2010-08-19 | エーリコン・トレイディング・アーゲー・トリューバッハ | 真空処理装置及び真空処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5104509A (en) | 1992-04-14 |
DE3941202C2 (ja) | 1991-08-14 |
EP0432528A2 (de) | 1991-06-19 |
DE59005099D1 (de) | 1994-04-28 |
ES2050338T3 (es) | 1994-05-16 |
CA2030847A1 (en) | 1991-06-15 |
EP0432528B1 (de) | 1994-03-23 |
ATE103344T1 (de) | 1994-04-15 |
EP0432528A3 (en) | 1991-07-24 |
DE3941202A1 (de) | 1990-06-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03191052A (ja) | 硬質炭素変性体からなる層を製造する方法及び装置 | |
US5054421A (en) | Substrate cleaning device | |
CA1308689C (en) | Method and apparatus for forming a thin film | |
US4197175A (en) | Method and apparatus for evaporating materials in a vacuum coating plant | |
US5071670A (en) | Method for chemical vapor deposition under a single reactor vessel divided into separate reaction chambers each with its own depositing and exhausting means | |
US6570172B2 (en) | Magnetron negative ion sputter source | |
US4919968A (en) | Method and apparatus for vacuum vapor deposition | |
JPS63270458A (ja) | 化合物薄膜形成装置 | |
JPH05275345A (ja) | プラズマcvd方法およびその装置 | |
AU2002332200B2 (en) | Method for carrying out homogeneous and heterogeneous chemical reactions using plasma | |
JP3837451B2 (ja) | カーボンナノチューブの作製方法 | |
JP2002212740A (ja) | ハイブリッドパルスプラズマ蒸着装置 | |
FR2557149A1 (fr) | Procede et dispositif pour le depot, sur un support, d'une couche mince d'un materiau a partir d'un plasma reactif | |
GB1574677A (en) | Method of coating electrically conductive components | |
JPH06112133A (ja) | 透明誘電体膜を基体上に被覆する方法 | |
DE4440521C1 (de) | Vorrichtung zum Beschichten von Substraten mit einem Materialdampf im Unterdruck oder Vakuum | |
JPH0377870B2 (ja) | ||
JPS6339668B2 (ja) | ||
JPH0627340B2 (ja) | ハイブリッドプラズマによる薄膜合成法及び装置 | |
CN1340990A (zh) | 等离子体发生装置 | |
JPH031377B2 (ja) | ||
JPS60223113A (ja) | 薄膜形成方法 | |
JPS6139394B2 (ja) | ||
JPS61209990A (ja) | ダイヤモンドの気相合成法 | |
JPS63107899A (ja) | 薄膜形成方法 |