JPH03171348A - メモリチェック装置 - Google Patents
メモリチェック装置Info
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- JPH03171348A JPH03171348A JP1312309A JP31230989A JPH03171348A JP H03171348 A JPH03171348 A JP H03171348A JP 1312309 A JP1312309 A JP 1312309A JP 31230989 A JP31230989 A JP 31230989A JP H03171348 A JPH03171348 A JP H03171348A
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- 239000000872 buffer Substances 0.000 abstract 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
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- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
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- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、パーソナルコンピュータや（レーザビーム）
プリンタ等のメモリチェック装置の改良に係り、詳しく
はメモリのチェック時間を短縮し得るメモリチェック装
置に関する． 〔従来技術〕 一般に、パーソナルコンピュータやレーザビームプリン
タ等は、複数のデータ書き替え可能なメモリ （ＲＡＭ
）を有している． 通常、上記メモリは、上記レーザビームプリンタ等の電
源がオンされたとき等に、全メモリの全アドレスについ
て順次所定のチェンクデータが書き込まれ、間全アドレ
スに書き込まれたチェックデータが読み出されて同メモ
リの異常の有無がチェックされる． 〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、近年、上記（レーザビーム）プリンタ等“の
高性簡化に伴ってその処理情報量も多量となり、上記メ
モリが大容量となってきている．それゆえに、上述した
全メモリの全アドレスについてチェックする上記従来の
メモリチェック方式では、上記メモリのチェック時間が
例えば数十秒から数分となる場合があり、（レーザビー
ム）プリンタ等の操作性が良好でなかった．また、従来
のメ七リチ鳳ツク方式では全メ・モリをチ鳳ツクずるの
で、故障メモリを特定するのに不便であった． 更に、近年、記憶素子をはじめたする電子ｉ−＋の品質
向上は着しいものがあり、素子の故陳が滅多に起こらな
い現状にみみると、全メモリを千五ンクするという従来
のチェック方式が必要か杏か、極めて疑問な情況となつ
いるこεが指摘される。
プリンタ等のメモリチェック装置の改良に係り、詳しく
はメモリのチェック時間を短縮し得るメモリチェック装
置に関する． 〔従来技術〕 一般に、パーソナルコンピュータやレーザビームプリン
タ等は、複数のデータ書き替え可能なメモリ （ＲＡＭ
）を有している． 通常、上記メモリは、上記レーザビームプリンタ等の電
源がオンされたとき等に、全メモリの全アドレスについ
て順次所定のチェンクデータが書き込まれ、間全アドレ
スに書き込まれたチェックデータが読み出されて同メモ
リの異常の有無がチェックされる． 〔発明が解決しようとする課題〕 ところで、近年、上記（レーザビーム）プリンタ等“の
高性簡化に伴ってその処理情報量も多量となり、上記メ
モリが大容量となってきている．それゆえに、上述した
全メモリの全アドレスについてチェックする上記従来の
メモリチェック方式では、上記メモリのチェック時間が
例えば数十秒から数分となる場合があり、（レーザビー
ム）プリンタ等の操作性が良好でなかった．また、従来
のメ七リチ鳳ツク方式では全メ・モリをチ鳳ツクずるの
で、故障メモリを特定するのに不便であった． 更に、近年、記憶素子をはじめたする電子ｉ−＋の品質
向上は着しいものがあり、素子の故陳が滅多に起こらな
い現状にみみると、全メモリを千五ンクするという従来
のチェック方式が必要か杏か、極めて疑問な情況となつ
いるこεが指摘される。
従って、本発明はメモリのチ其ツク時間を短縮し月つ全
メモリを千鳳ツクするような無駄を避け、メモリを特定
してチェックし得るメモリチ美ツク装置を提供すること
を目的としてなされたものである． 〔課題を解決するための手段〕 上記目的を連威するために本発明は複数のデータ１色替
え可能なメモリを具備し．１メモリにチふソクデータを
嘗き込んだ後、該メ七りにＩＩき込まれたチェックデー
タを読み出して咳メモリをチ五フクするメモリチ美ツク
装置において、上記複数のメモリの内の少な《とも１つ
を指定する人力平段と、上記人力平勲により指定された
メ午りのみをチふツクずるメモリチヌック手段とを具備
してなることを特徴とするメモリチｙ、ツク装置として
ｌｌＩ威されている。
メモリを千鳳ツクするような無駄を避け、メモリを特定
してチェックし得るメモリチ美ツク装置を提供すること
を目的としてなされたものである． 〔課題を解決するための手段〕 上記目的を連威するために本発明は複数のデータ１色替
え可能なメモリを具備し．１メモリにチふソクデータを
嘗き込んだ後、該メ七りにＩＩき込まれたチェックデー
タを読み出して咳メモリをチ五フクするメモリチ美ツク
装置において、上記複数のメモリの内の少な《とも１つ
を指定する人力平段と、上記人力平勲により指定された
メ午りのみをチふツクずるメモリチヌック手段とを具備
してなることを特徴とするメモリチｙ、ツク装置として
ｌｌＩ威されている。
このメモリチ又ツク装置は、上記のようにＩｌｌｊＳｔ
されているので、例えばＮ源オン等の所定操作がなされ
ると、入力手段により複数のメモリの内の少な《とも１
つのメモリが指定される。
されているので、例えばＮ源オン等の所定操作がなされ
ると、入力手段により複数のメモリの内の少な《とも１
つのメモリが指定される。
モして、メモリチェ′ンク手段により上記入力手段によ
り指定されたメモリのみがチ美ツクされる。
り指定されたメモリのみがチ美ツクされる。
チェックすべ含メモリとｚ７ては、例えば使用頻度の高
いコマンド記憧用、演算用、バ７フ１用等のメモリが指
定される、故陣の発生確率が使用頓度に太き《依存する
からである． このように、指定されるメモリの数は少な《、そのメモ
リ容置は小容壷であるので、上記チｙ、ンク時間は瞬時
となる。
いコマンド記憧用、演算用、バ７フ１用等のメモリが指
定される、故陣の発生確率が使用頓度に太き《依存する
からである． このように、指定されるメモリの数は少な《、そのメモ
リ容置は小容壷であるので、上記チｙ、ンク時間は瞬時
となる。
また、上述Ｌ５たように入力手８ｌ：よりメモリを指定
することが？らるので、故障メモリを特定し易くなる． 〔実施例〕 以下、添付図面を参照しで、本発明を具体化した実施例
につ含説明し、本発明の理解に供する。
することが？らるので、故障メモリを特定し易くなる． 〔実施例〕 以下、添付図面を参照しで、本発明を具体化した実施例
につ含説明し、本発明の理解に供する。
尚、以下の実施例は本発明を員体化した一例であって、
本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
第１図は本発明の一実施例に係るメ七リチふソク装置を
プリンタに用いたＬころを示すブロック図、第２図は同
メ七リチふンク装置のメ豪リチ鳳７ク処理の一例を示す
フローチャートである。
プリンタに用いたＬころを示すブロック図、第２図は同
メ七リチふンク装置のメ豪リチ鳳７ク処理の一例を示す
フローチャートである。
第１図は、このメ七リチ五ツク装獣１がプリンタ２に用
いられたところを示している。
いられたところを示している。
同図に示すようにこのメ七リチ美ンク装Ｉ２１は複数の
データ１′合替え可能な例えばＳＲＡＭ等のメモリＭ
１ ＋ Ｍ ２ ＊ ・・・，Ｍ１を有している。
データ１′合替え可能な例えばＳＲＡＭ等のメモリＭ
１ ＋ Ｍ ２ ＊ ・・・，Ｍ１を有している。
このメモリチ五７ク装置１は、マイクロシンビ眞一夕Ｃ
ＰｔＪ等からｔ．−Ｓ判騨部３を中心として構庖され、
このｉｎｎ部３に、止記メモリＭ，，Ｍ２．・・・．Ｍ
ｎおよびジャンパー線又はディソブスイ７チｓｗ，，Ｓ
Ｗ２ ．・・・．ＳＷ．が接続きれ丁いる、ただし、上
記ジャンパー線は抜き差し可能な型式のものであり、ス
イッチとして利用できるタイプのものである． 上記ジャンパー線又はディップスイッチＳＷ，、ｓｗ２
，・・・，ＳＷ，の設定切替は、スイッチ切替のみで行
えるのでｍａｌである． 更に、上記ｍｉｓ部３に、各ｍｉ１ｉ作指会を坪える操
作部４、各種表示を行う表示部５、プリント処理等の各
種データ処理をするデータ処理部６、所定シーケンス等
を記憧するＲＯＭ？，及びパーソナルコンピ５．一夕８
との交信をするためのインターフェイス部９等が接続さ
れて上記プリンタ２が構威される。
ＰｔＪ等からｔ．−Ｓ判騨部３を中心として構庖され、
このｉｎｎ部３に、止記メモリＭ，，Ｍ２．・・・．Ｍ
ｎおよびジャンパー線又はディソブスイ７チｓｗ，，Ｓ
Ｗ２ ．・・・．ＳＷ．が接続きれ丁いる、ただし、上
記ジャンパー線は抜き差し可能な型式のものであり、ス
イッチとして利用できるタイプのものである． 上記ジャンパー線又はディップスイッチＳＷ，、ｓｗ２
，・・・，ＳＷ，の設定切替は、スイッチ切替のみで行
えるのでｍａｌである． 更に、上記ｍｉｓ部３に、各ｍｉ１ｉ作指会を坪える操
作部４、各種表示を行う表示部５、プリント処理等の各
種データ処理をするデータ処理部６、所定シーケンス等
を記憧するＲＯＭ？，及びパーソナルコンピ５．一夕８
との交信をするためのインターフェイス部９等が接続さ
れて上記プリンタ２が構威される。
上記操作部４が操作されて、このプリンタ２の電源がオ
ンされると、ｔ＆述するようにこのメモリチェック装ｉ
ｌｌｌ１に次りメモリチ美ツク処理がなされた後、同プ
リンタ２が作動される。
ンされると、ｔ＆述するようにこのメモリチェック装ｉ
ｌｌｌ１に次りメモリチ美ツク処理がなされた後、同プ
リンタ２が作動される。
このプリンタ２では、上記インターフェイス部９を介し
て入力される上記パーソナルコンビ慕一タ８からのｍ像
情報信号等に基づき、データ処理部６が駆動制御され、
上記ＲＯＭ７に記憶された所定シーケンス等に従ってプ
リント処理等がなされる． 次に、第２図を参照してこのメモリチェンク装置１のメ
モリチェック処理手順についてステップＳ１．Ｓ２，・
・・の順に脱明する． 上記操作部４が所定操作されて、このプリンタ２の電源
がオンされると、ＲＯＭ７により記憶された所定シーケ
ンスに従って、このプリンタ２の表示部５の初期化やデ
ータ処理部６等の各種パラメータが設定される（Ｓｌ）
， そして、制御部３によりディップスイソチＳＷ，ＳＷ２
，・・・ＳＷ．の投定状態が読み取られる（Ｓ２）． 例えば、第１図に示すようにディソプスイッチＳＷｔ
，ＳＷ２ ，・・・ＳＷ，が予め投定されていたとする
と、（０．１，０，・・・Ｏ）のようにその設定状態が
同制御部３により読み取られ、上記メモリＭ １ ＝
Ｍ２＋ ・・・Ｍ，の内の２番のメモリＭ２が指定され
たと判断される． ディップスインチｓｗ．．ＳＷ２，−・・ＳＷ，を予め
設定する場合、使用頻度の高い、即ち故障の発生率の高
いメモリを優先的に指定する．又場合によっては発熱量
が大きい等苛酷な条件下で使用されるメモリを指定する
こともできる．この時、ＲＯＭ７等に記慣されている所
定の約束に従って上記２番のメモリＭ２に加えてその隣
のメモリＭ３も指定されたと判断するようにしてもよい
． 上述した上記複数のメモリＭＩ，Ｍ２・・・Ｍｎの内の
少なくとも１つのメモリＭｌ（およびＭ３）を指定する
機能を実現するディップスイッチＳＷ，ＳＷ２・・・Ｓ
Ｗ，等が入力手段の一例である．そして、上記指定され
た２１のメモリＭ２（および３番のメモリＭ３）のみの
アドレスに制御部３により順次所定のチェックデータが
書き込まれ、同アドレスに書き込まれたチェックデータ
が読み出されてメモリＭ２（およびメモリＭｓ）の異常
の有無がチェックされる（Ｓ３）． 上記メモリＭ２ （およびメモリＰＴｈ）の全体容量は
小さいので、上記チェック時間は瞬時であり、後述のプ
リント処理にすぐ移行できる．従って、プリンタ２の作
動開始時における操作性が良好となる． また、前述したように上記ディフプスイッチＳｗ，，Ｓ
Ｗ２，・・・ＳＷ．の操作は簡単であるので、例えばサ
ービスマン等が現場で同ディップスイッチの設定変更を
行って上述したようにメモリを特定してチェックするの
に好適である． 上述したディップスイッチ３ Ｗ １ ， Ｓ Ｗ２
＋ ・・・ＳＷ．により指定されたメモリＭ２（およ
びメモリＭｔ）のみをチェックする機能を実現する手段
がメモリチェック手段の一例である． このように指定されていないメモリについては、本メモ
リチェック装置ではチェックが行われないが、ディソプ
スインチの設定変更等によって必要に応じてチェックす
れば良い．近時のメモリ製造工程における品質向上によ
り、使用頻度や使用条件のゆるやかなメモリについては
、ほとんど故障が生じないことに対応した措置である．
そして、上記チェックによりｊＩ常が検出されれば（３
４）、表示部５の例えばメモリ異常検出しＢＤ（不図示
〉が点灯される（３５）．また、異常が検出されなけれ
ば（３４）、通常のプリント処理等が実行される． なお、上記ジャンパー線又はディップスイッチＳＷＩ＋
ＳＷ２ ，・・・ＳＷ．を例えばキーボード等の操
作部４と、この第ＩＦ！！Ｊに破線で示すように制御部
３に接続された不揮発性メモリ１０との組み合わせに置
き換えて上記メモリを特定するようにしてもよい． このようにすれば、上記メモリの特定が操作部４のキー
ボードの操作によって行えるので、更に容易となり前述
したサービスマンでなくとも、例えばユーザーサイドで
上記メモリを特定してチェックすることも可能となる． 〔発明の効果〕 本発明により複数のデータ書き替え可能なメモリを具備
し．該メモリにチェックデータを書き込んだ後、咳メ毫
りにｉｓ込まれたチェックデータを読み出して該メ毫り
を予Ｓ，ツクずるメ・モリチヌソク装Ｗにおいて、上記
？３Ｉ数のメモリの内の少なくとも１つを指定する入力
手ｔａ、上記入力手段により指定されたメモリのみ売９
−：ｔ．ツクするメモリチェック手［を具備してなるこ
εを特徴とするメモリチＸツク装置が提供される． 従って、メ七りのチ番フク時間を短縮するここができる
ε共に故陣メ七りの特定が容易となる．
て入力される上記パーソナルコンビ慕一タ８からのｍ像
情報信号等に基づき、データ処理部６が駆動制御され、
上記ＲＯＭ７に記憶された所定シーケンス等に従ってプ
リント処理等がなされる． 次に、第２図を参照してこのメモリチェンク装置１のメ
モリチェック処理手順についてステップＳ１．Ｓ２，・
・・の順に脱明する． 上記操作部４が所定操作されて、このプリンタ２の電源
がオンされると、ＲＯＭ７により記憶された所定シーケ
ンスに従って、このプリンタ２の表示部５の初期化やデ
ータ処理部６等の各種パラメータが設定される（Ｓｌ）
， そして、制御部３によりディップスイソチＳＷ，ＳＷ２
，・・・ＳＷ．の投定状態が読み取られる（Ｓ２）． 例えば、第１図に示すようにディソプスイッチＳＷｔ
，ＳＷ２ ，・・・ＳＷ，が予め投定されていたとする
と、（０．１，０，・・・Ｏ）のようにその設定状態が
同制御部３により読み取られ、上記メモリＭ １ ＝
Ｍ２＋ ・・・Ｍ，の内の２番のメモリＭ２が指定され
たと判断される． ディップスインチｓｗ．．ＳＷ２，−・・ＳＷ，を予め
設定する場合、使用頻度の高い、即ち故障の発生率の高
いメモリを優先的に指定する．又場合によっては発熱量
が大きい等苛酷な条件下で使用されるメモリを指定する
こともできる．この時、ＲＯＭ７等に記慣されている所
定の約束に従って上記２番のメモリＭ２に加えてその隣
のメモリＭ３も指定されたと判断するようにしてもよい
． 上述した上記複数のメモリＭＩ，Ｍ２・・・Ｍｎの内の
少なくとも１つのメモリＭｌ（およびＭ３）を指定する
機能を実現するディップスイッチＳＷ，ＳＷ２・・・Ｓ
Ｗ，等が入力手段の一例である．そして、上記指定され
た２１のメモリＭ２（および３番のメモリＭ３）のみの
アドレスに制御部３により順次所定のチェックデータが
書き込まれ、同アドレスに書き込まれたチェックデータ
が読み出されてメモリＭ２（およびメモリＭｓ）の異常
の有無がチェックされる（Ｓ３）． 上記メモリＭ２ （およびメモリＰＴｈ）の全体容量は
小さいので、上記チェック時間は瞬時であり、後述のプ
リント処理にすぐ移行できる．従って、プリンタ２の作
動開始時における操作性が良好となる． また、前述したように上記ディフプスイッチＳｗ，，Ｓ
Ｗ２，・・・ＳＷ．の操作は簡単であるので、例えばサ
ービスマン等が現場で同ディップスイッチの設定変更を
行って上述したようにメモリを特定してチェックするの
に好適である． 上述したディップスイッチ３ Ｗ １ ， Ｓ Ｗ２
＋ ・・・ＳＷ．により指定されたメモリＭ２（およ
びメモリＭｔ）のみをチェックする機能を実現する手段
がメモリチェック手段の一例である． このように指定されていないメモリについては、本メモ
リチェック装置ではチェックが行われないが、ディソプ
スインチの設定変更等によって必要に応じてチェックす
れば良い．近時のメモリ製造工程における品質向上によ
り、使用頻度や使用条件のゆるやかなメモリについては
、ほとんど故障が生じないことに対応した措置である．
そして、上記チェックによりｊＩ常が検出されれば（３
４）、表示部５の例えばメモリ異常検出しＢＤ（不図示
〉が点灯される（３５）．また、異常が検出されなけれ
ば（３４）、通常のプリント処理等が実行される． なお、上記ジャンパー線又はディップスイッチＳＷＩ＋
ＳＷ２ ，・・・ＳＷ．を例えばキーボード等の操
作部４と、この第ＩＦ！！Ｊに破線で示すように制御部
３に接続された不揮発性メモリ１０との組み合わせに置
き換えて上記メモリを特定するようにしてもよい． このようにすれば、上記メモリの特定が操作部４のキー
ボードの操作によって行えるので、更に容易となり前述
したサービスマンでなくとも、例えばユーザーサイドで
上記メモリを特定してチェックすることも可能となる． 〔発明の効果〕 本発明により複数のデータ書き替え可能なメモリを具備
し．該メモリにチェックデータを書き込んだ後、咳メ毫
りにｉｓ込まれたチェックデータを読み出して該メ毫り
を予Ｓ，ツクずるメ・モリチヌソク装Ｗにおいて、上記
？３Ｉ数のメモリの内の少なくとも１つを指定する入力
手ｔａ、上記入力手段により指定されたメモリのみ売９
−：ｔ．ツクするメモリチェック手［を具備してなるこ
εを特徴とするメモリチＸツク装置が提供される． 従って、メ七りのチ番フク時間を短縮するここができる
ε共に故陣メ七りの特定が容易となる．
第１図；工本発明の一実旅例に係るメモリチ番γク装置
をプリンタに用いたところを示すブロック図、第２図は
同メモリチ鳳フク装買のメ七リチｙ７ック処理の一例を
示すフローチャートである。 〔符号の説明〕 １・・・メモリチふツク装Ｗ ３・−ｓｉｒ＋御部 ４・・・操作部 ７・・・ＲＯＭ ｌＯ・・・不擺発性メ・モリ ＳＷ． 、 ＳＷ２ ， ・・・ＳＷい・・・ディフプスイッチ Ｍ１、 Ｍ２ ・ ・・・Ｍ．・・・メモリ
をプリンタに用いたところを示すブロック図、第２図は
同メモリチ鳳フク装買のメ七リチｙ７ック処理の一例を
示すフローチャートである。 〔符号の説明〕 １・・・メモリチふツク装Ｗ ３・−ｓｉｒ＋御部 ４・・・操作部 ７・・・ＲＯＭ ｌＯ・・・不擺発性メ・モリ ＳＷ． 、 ＳＷ２ ， ・・・ＳＷい・・・ディフプスイッチ Ｍ１、 Ｍ２ ・ ・・・Ｍ．・・・メモリ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、複数のデータ書き替え可能なメモリを具備し、該メ
モリにチェックデータを書き込んだ後、該メモリに書き
込まれたチェックデータを読み出して該メモリをチェッ
クするメモリチェック装置において、 上記複数のメモリの内の少なくとも１つを 指定する入力手段と、 上記入力手段により指定されたメモリのみ をチェックするメモリチェック手段とを具備してなるこ
とを特徴とするメモリチェック装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1312309A JPH03171348A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | メモリチェック装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1312309A JPH03171348A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | メモリチェック装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03171348A true JPH03171348A (ja) | 1991-07-24 |
Family
ID=18027697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1312309A Pending JPH03171348A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | メモリチェック装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03171348A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5528221B2 (ja) * | 1976-05-24 | 1980-07-26 | ||
| JPH01173498A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-10 | Nec Corp | リードオンメモリ用チェック回路 |
-
1989
- 1989-11-30 JP JP1312309A patent/JPH03171348A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5528221B2 (ja) * | 1976-05-24 | 1980-07-26 | ||
| JPH01173498A (ja) * | 1987-12-28 | 1989-07-10 | Nec Corp | リードオンメモリ用チェック回路 |
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