JPH03166369A - ダイヤモンド膜の形成方法 - Google Patents

ダイヤモンド膜の形成方法

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JPH03166369A
JPH03166369A JP30371989A JP30371989A JPH03166369A JP H03166369 A JPH03166369 A JP H03166369A JP 30371989 A JP30371989 A JP 30371989A JP 30371989 A JP30371989 A JP 30371989A JP H03166369 A JPH03166369 A JP H03166369A
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JP
Japan
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substrate
diamond film
diamond
laser light
film
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JP30371989A
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English (en)
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Masayoshi Taki
正佳 滝
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Toyota Motor Corp
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Toyota Motor Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は基板表面にCVD法によりダイヤモンド膜を形
或する方法に関する。
[従来の技術] 近年、気相戒長法を用いた低圧におけるダイヤモンド合
或の研究が活発に行われている。ところでダイヤモンド
膜はダイヤモンド基板の上にはエビタキシャル成長可能
であるが、シリコン単結晶などの基板の上には現在のと
ころエビタキシャル或長を起す技術は確立ざれていない
ダイヤモンド膜は、例えばシリコン基板上における形成
過程において、まず第1段階でシリコン基板の上に島状
に多数のダイヤモンド核が発生し、核はその表面で付着
原子を集めなから粒或長して大きな結晶粒となり、やが
て結晶粒と結晶粒とが接合して膜を形成し始める。その
後はシリコン基板に対して垂直方向に或長し、膜は次第
に厚くなる。このような成長過程を経ているために、従
来の形成方法においてはダイヤモンド膜は多結晶の集ま
った表面凹凸の激しい膜となっている。そのため、この
ダイヤモンド膜を半導体膜、耐摩耗膜などとして使用す
る場合には、表面の凹凸を減らして平滑な膜とする必要
がある。
このような不具合を解決するために、樋口等は、熱フィ
ラメントCVD法でダイヤモンド膜を形戒するに先立っ
て基板表面をダイヤモンド粉末で研磨する方法を提案し
ている。
「粉体及ヒ粉末冶金J  VOL36N(12、P13
9 (1989) このように基板に細かい微細な傷を付けることにより、
ダイヤモンド膜の形或の初期においてダイヤモンド核の
発生密度が増大するので、表面の凹凸が減少し平滑性が
向上する。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上記した文献に記載された形成方法では
、得られるダイヤモンド膜は平滑性が充分とはいえなか
った。また、基板の研磨とダイヤモンド膜の形成とは連
続して行うことができず別工程となる。したがって作業
効率の面からはあまり好ましい方法とはいえない。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
ダイヤモンド核の発生密度を増やす工程とダイヤモンド
膜の形或工程とを連続して行い、平滑な表面のダイヤモ
ンド膜を形或することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明のダイヤモンド膜の形或方法は、基板表面に基板
を構成する分子の結合エネルギーより大きな光子エネル
ギーをもつレーザー光を照躬し、次いでCおよび{−1
を含む原料ガスの存在下でCVD法により基板表面にダ
イヤモンド膜を形戒することを特徴とする。
本発明の最大の特徴は、ダイヤモンド膜の形或に先立っ
て基板表面にレーザー光を照射するところにある。この
レーザー光は、基板を構戒する分子の結合エネルギー(
シリコン基板にあってはS−3i結合の結合エネルギー
1.8eV)よりも大きな光子エネルギーをもつものが
用いられる。
このようなレーザー光としてはエキシマレーザー光が代
表的である。例えばArFエキシマレーザーにおいては
、その光子エネルギーは6.4eVと3 i −3 i
結合の結合エネルギーよりもかなり大きい。したがって
このようなレーザー光を照躬することによって、例えば
シリコン基板最表面の3i原子を活性化することができ
る。つまり基板最表面に3iの未結合手を多く出すこと
ができる。
なお、レーザー光としては、エキシマレーザー以外に、
その他ガスレーザー、自由電子レーザーX線レーザーな
どを用いることもできる。
なお、エキシマレーザーを形成する元素としては、アル
ゴン、クリプトン、キセノンなどの希ガス元素と、塩素
、フッ素、臭素、よう素などのハロゲン元素の種々の組
合わせを用いることができる。
レーザー光が照射された基板には、次いでCVD法によ
りダイヤモンド膜が形成される。このダイヤモンド膜を
形成するCVD法としては、熱フィラメントCVD法、
マイクロ波プラズマCVD法、電子衝撃CVD法(EA
CVD法)、高周波プラズマCVD法、高周波アークプ
ラズマCVD法などを用いることができる。反応ガスと
しては、メタンと水素、または気化させたアルコール、
アセトン、アセチレンなどと水素の混合ガスが用いられ
る。
熱フィラメントCVD法では、反応容器内の圧力は約数
+TO「「に保持され、反応ガスとしてはメタンと水素
または、気化させたアルコール、アセトンなどと水素の
混合ガスを用いる。水素に対する炭化水素ガスの濃度は
0.5〜2%である。
基板としては、シリコン単結晶、モリブデン、炭化珪素
焼結体などを用いることができる。
マイクロ波プラズマCVD法は、原料ガスと水素の分解
をプラズマを用いて行う方法である。反応時の圧力は数
〜数十TOrrの間で、反応ガス中のメタン濃度は0.
5〜2%とざれる。基板としては、シリコン単結晶、モ
リブデンなどが用いられる。
EACVD法では、基板ホルダとしてモリブデンが用い
られ、フィラメントとの間に直流電圧が印haされる。
基板としては炭化珪素焼結体、シリコン単結晶、モリブ
デン、炭化タングステン焼結体、立方晶窒化硼素焼結体
など種々の種類が用いられる。そして基板ホルダとフィ
ラメント間に電圧を印加して放電を発生させ、基板表面
に電子衝撃を加える。すると放電により気体が分解しダ
イヤモンドが或長ずる。
高周波プラズマCVD法は、反応ガスとしてはやはりメ
タンと水素の混合ガスを用いているが、メタン濃度は他
の方法と比べると約5%程度高いところでもダイヤモン
ドの合成が可能である。
なお熱フィラメントCVD法は、装置が最も簡単であり
特に好ましい。
[発明の作用および効果] 本発明のダイヤモンド膜の形或方法では、CVD法によ
るダイヤモンド膜の形成に先立って、基板を構成する分
子の結合エネルギーより大きな光子エネルギーをもつレ
ーザー光が照射,される。これにより基板表面の分子の
結合が活性化され、自然酸化膜を形或している酸素が除
去ざれて3iの未結合手(ダングリングボンド)が多く
出るものと推察される。そしてこの活性化によって生じ
た未結合手は、次のダイヤモンド膜の形成工程において
ダイヤモンド核形或サイトになり易く、ダイヤモンドの
核発生密度が増加するものと考えられる。実際にレーザ
ー光を照則しないものに比べて、核発生密度は100倍
程度に増加している。このように密度が高くなると、結
晶粒の小さいまま隣りの結晶粒と結合して膜を形或する
ため、従来のものに比べて表面が平滑なダイヤモンド膜
を形或することができる。ざらに基板とダイヤモンド膜
との密着性も向上する。
そして本発明のダイヤモンド膜の形或方法によれば、レ
ーザー光の照射とダイヤモンド膜の形戒とは連続して行
うことができるので、ダイヤモンド核の発生密度が極め
て向上したダイヤモンド膜を、容易に、かつ工数少なく
形或することができる。すなわち本発明は、レーザーフ
ラッシュ熱フィラメントCVD法とも称するべき新しい
ダイヤモンド膜の形戒方法を提案するものである。
[実施例] 以下実施例により具体的に説明する。
第1図に本実施例に用いたレーザーフラッシュ熱フィラ
メントCVD装置の概略構成図を示す。
この装置は、真空反応室10をもつ反応容滞1と、真空
反応室10内にエキシマレーザー光を照則するレーザー
照射装置2と、真空反応室10内に反応ガスを供給する
ガス供給部3と、よりなる。
真空反応室10内には基板ホルダ11が斜めに傾けられ
て保持ざれ、基板ホルダ11内には埋め込みヒータ12
が設けられている。基板ホルダ11にはシリコン基板1
3が保持され、シリコン基板13に対向してフィラメン
ト14が設けられている。また反応容器1には、レーザ
ー光導入ポート15が設けられ、レーザー光入躬窓16
よりシリコン基板13表面に45度の角度でレーザー光
が照射ざれるように構成されている。そして反応容器1
には、排気ポンプ18をもつ排気通路17が形或されて
いる。
レーザー照則装置2は、エキシマレーザー光照躬部20
と照則されたレーザー光を絞るレンズ21とからなり、
レーザー光入射窓16よりレーザー光導入ポート]5を
通じて、基板ホルダ11に配置された基板13にエキシ
マレーザー光を照則するように構成ざれている。
ガス供給部3は、マスフローコントローラ30をもち真
空反応室]Oに−メタンガスを供給するメタンガス供給
管31と、マスフローコントローラ32をもち真空反応
室10に水素ガスを供給する水素ガス供給管33とから
構成されている。
上記装置を用いてダイヤモンド膜を形或した方法を以下
に説明する。
基板13にはシリコンウエハを用い、RCA洗浄(重金
属、油脂、無機物を除去する洗浄方法〉および25μm
のダイヤモンド砥粒で傷付け処理後、真空反応室10の
基板ホルダ11に装着する。
次に排気ポンプ18により真空反応室10内を真空とす
るとともに、基板ホルダ11の埋め込みヒータ12で基
板13を9 0 0 ’Cに加熱し、レーザー光入則窓
16より波長193nmのArFエキシマレーザー光を
照射する。このエキシマレーザー光はパルスエネルギー
1 80mJ/pu l se,ビーム断面積20m2
、パルス光子数1,12x101B/pu I se,
光子エネ/L,キ−6. 4eVである。なおレーザー
光はレンズ16により基板13全体に照躬されるように
設定され、レーザーパワー密度は360mJ/cm2 
− pu I seてある。この照則パルス数は1〜5
である。又1パルスの発信時間は1 2nsecである
次にメタンカス供給管31及び水素ガス供給管33を開
き、マスフローコントローラ30、32て所定の流量に
調整した後真空反応室10に供給する。なおメタンガス
の供給量は50C/min、水素ガスは500cc/m
inとした。そしてフィラメント14でそのガスを活性
化して分解し、基板13の表面にダイヤモンド膜を形或
する。このとき基板13の表面温度は9 0 0 ’C
に制御ざれている。なおガスは排気ポンプ18によって
排気通路17より排気される。
第2図に本実施例におけるダイヤモンド核の発生密度を
示す。また比較として、レーザー光を照射しないこと以
外は本実施例と同様にして形或されたダイヤモンド膜の
核発生密度を示す。なお、核発生密度の測定は、或膜開
始から3分後の基板のSEM写真をとり、単位面積あた
りの結晶粒を数えることにより行なった。
第2図より明らかなように、本実施例の形或方法では、
核発生密度は従来の方法よりも100倍程度増加し、得
られたダイヤモンド膜の平滑性にも優れていた。なおレ
ーザーフラッシュの回数を1回と5回の2種類について
測定したが、いずれもダイヤモンド核発生密度は101
2/Cm2程度であり大きな差はない。したがって1回
で充分である。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例に用いたレーザーフラッシュ熱フィラメ
ントCVD装置の概略構戒説明図である。 第2図は実施例の方法と従来の方法のダイヤモンド核の
発生密度の差を示すグラフである。 1・・・反応容器     2・・・レーザー照削装置
3・・・ガス供給部   10・・・真空反応室11・
・・基板ホルダ   12・・・埋め込みヒータ13・
・・基板      14・・・フィラメント15・・
・レーザー光導入ポート 16・・・レーザー光入躬窓

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板表面に該基板を構成する分子の結合エネルギ
    ーより大きな光子エネルギーをもつレーザー光を照射し
    、次いでCおよびHを含む原料ガスの存在下でCVD法
    により該基板表面にダイヤモンド膜を形成することを特
    徴とするダイヤモンド膜の形成方法。
JP30371989A 1989-11-22 1989-11-22 ダイヤモンド膜の形成方法 Pending JPH03166369A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0752018A1 (en) * 1994-05-12 1997-01-08 Qqc, Inc. Surface treatment techniques
EP0739250A4 (en) * 1994-01-18 1998-09-02 Qqc Inc USE OF LASERS FOR THE PRODUCTION OF COATINGS ON SUBSTRATES
US8110332B2 (en) 2007-02-28 2012-02-07 Ricoh Company, Ltd. Electrophotographic toner and method for producing the electrophotographic toner

Cited By (4)

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US8110332B2 (en) 2007-02-28 2012-02-07 Ricoh Company, Ltd. Electrophotographic toner and method for producing the electrophotographic toner

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