JPH03166369A - ダイヤモンド膜の形成方法 - Google Patents
ダイヤモンド膜の形成方法Info
- Publication number
- JPH03166369A JPH03166369A JP30371989A JP30371989A JPH03166369A JP H03166369 A JPH03166369 A JP H03166369A JP 30371989 A JP30371989 A JP 30371989A JP 30371989 A JP30371989 A JP 30371989A JP H03166369 A JPH03166369 A JP H03166369A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- diamond film
- diamond
- laser light
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 50
- 239000010432 diamond Substances 0.000 title claims abstract description 50
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title abstract description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 55
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims abstract description 9
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 26
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 19
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 13
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 9
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000004050 hot filament vapor deposition Methods 0.000 description 7
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 6
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 6
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 6
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 4
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 4
- 206010060800 Hot flush Diseases 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000004581 coalescence Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000014593 oils and fats Nutrition 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 238000004663 powder metallurgy Methods 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- UONOETXJSWQNOL-UHFFFAOYSA-N tungsten carbide Chemical compound [W+]#[C-] UONOETXJSWQNOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は基板表面にCVD法によりダイヤモンド膜を形
或する方法に関する。
或する方法に関する。
[従来の技術]
近年、気相戒長法を用いた低圧におけるダイヤモンド合
或の研究が活発に行われている。ところでダイヤモンド
膜はダイヤモンド基板の上にはエビタキシャル成長可能
であるが、シリコン単結晶などの基板の上には現在のと
ころエビタキシャル或長を起す技術は確立ざれていない
。
或の研究が活発に行われている。ところでダイヤモンド
膜はダイヤモンド基板の上にはエビタキシャル成長可能
であるが、シリコン単結晶などの基板の上には現在のと
ころエビタキシャル或長を起す技術は確立ざれていない
。
ダイヤモンド膜は、例えばシリコン基板上における形成
過程において、まず第1段階でシリコン基板の上に島状
に多数のダイヤモンド核が発生し、核はその表面で付着
原子を集めなから粒或長して大きな結晶粒となり、やが
て結晶粒と結晶粒とが接合して膜を形成し始める。その
後はシリコン基板に対して垂直方向に或長し、膜は次第
に厚くなる。このような成長過程を経ているために、従
来の形成方法においてはダイヤモンド膜は多結晶の集ま
った表面凹凸の激しい膜となっている。そのため、この
ダイヤモンド膜を半導体膜、耐摩耗膜などとして使用す
る場合には、表面の凹凸を減らして平滑な膜とする必要
がある。
過程において、まず第1段階でシリコン基板の上に島状
に多数のダイヤモンド核が発生し、核はその表面で付着
原子を集めなから粒或長して大きな結晶粒となり、やが
て結晶粒と結晶粒とが接合して膜を形成し始める。その
後はシリコン基板に対して垂直方向に或長し、膜は次第
に厚くなる。このような成長過程を経ているために、従
来の形成方法においてはダイヤモンド膜は多結晶の集ま
った表面凹凸の激しい膜となっている。そのため、この
ダイヤモンド膜を半導体膜、耐摩耗膜などとして使用す
る場合には、表面の凹凸を減らして平滑な膜とする必要
がある。
このような不具合を解決するために、樋口等は、熱フィ
ラメントCVD法でダイヤモンド膜を形戒するに先立っ
て基板表面をダイヤモンド粉末で研磨する方法を提案し
ている。
ラメントCVD法でダイヤモンド膜を形戒するに先立っ
て基板表面をダイヤモンド粉末で研磨する方法を提案し
ている。
「粉体及ヒ粉末冶金J VOL36N(12、P13
9 (1989) このように基板に細かい微細な傷を付けることにより、
ダイヤモンド膜の形或の初期においてダイヤモンド核の
発生密度が増大するので、表面の凹凸が減少し平滑性が
向上する。
9 (1989) このように基板に細かい微細な傷を付けることにより、
ダイヤモンド膜の形或の初期においてダイヤモンド核の
発生密度が増大するので、表面の凹凸が減少し平滑性が
向上する。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記した文献に記載された形成方法では
、得られるダイヤモンド膜は平滑性が充分とはいえなか
った。また、基板の研磨とダイヤモンド膜の形成とは連
続して行うことができず別工程となる。したがって作業
効率の面からはあまり好ましい方法とはいえない。
、得られるダイヤモンド膜は平滑性が充分とはいえなか
った。また、基板の研磨とダイヤモンド膜の形成とは連
続して行うことができず別工程となる。したがって作業
効率の面からはあまり好ましい方法とはいえない。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
ダイヤモンド核の発生密度を増やす工程とダイヤモンド
膜の形或工程とを連続して行い、平滑な表面のダイヤモ
ンド膜を形或することを目的とする。
ダイヤモンド核の発生密度を増やす工程とダイヤモンド
膜の形或工程とを連続して行い、平滑な表面のダイヤモ
ンド膜を形或することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明のダイヤモンド膜の形或方法は、基板表面に基板
を構成する分子の結合エネルギーより大きな光子エネル
ギーをもつレーザー光を照躬し、次いでCおよび{−1
を含む原料ガスの存在下でCVD法により基板表面にダ
イヤモンド膜を形戒することを特徴とする。
を構成する分子の結合エネルギーより大きな光子エネル
ギーをもつレーザー光を照躬し、次いでCおよび{−1
を含む原料ガスの存在下でCVD法により基板表面にダ
イヤモンド膜を形戒することを特徴とする。
本発明の最大の特徴は、ダイヤモンド膜の形或に先立っ
て基板表面にレーザー光を照射するところにある。この
レーザー光は、基板を構戒する分子の結合エネルギー(
シリコン基板にあってはS−3i結合の結合エネルギー
1.8eV)よりも大きな光子エネルギーをもつものが
用いられる。
て基板表面にレーザー光を照射するところにある。この
レーザー光は、基板を構戒する分子の結合エネルギー(
シリコン基板にあってはS−3i結合の結合エネルギー
1.8eV)よりも大きな光子エネルギーをもつものが
用いられる。
このようなレーザー光としてはエキシマレーザー光が代
表的である。例えばArFエキシマレーザーにおいては
、その光子エネルギーは6.4eVと3 i −3 i
結合の結合エネルギーよりもかなり大きい。したがって
このようなレーザー光を照躬することによって、例えば
シリコン基板最表面の3i原子を活性化することができ
る。つまり基板最表面に3iの未結合手を多く出すこと
ができる。
表的である。例えばArFエキシマレーザーにおいては
、その光子エネルギーは6.4eVと3 i −3 i
結合の結合エネルギーよりもかなり大きい。したがって
このようなレーザー光を照躬することによって、例えば
シリコン基板最表面の3i原子を活性化することができ
る。つまり基板最表面に3iの未結合手を多く出すこと
ができる。
なお、レーザー光としては、エキシマレーザー以外に、
その他ガスレーザー、自由電子レーザーX線レーザーな
どを用いることもできる。
その他ガスレーザー、自由電子レーザーX線レーザーな
どを用いることもできる。
なお、エキシマレーザーを形成する元素としては、アル
ゴン、クリプトン、キセノンなどの希ガス元素と、塩素
、フッ素、臭素、よう素などのハロゲン元素の種々の組
合わせを用いることができる。
ゴン、クリプトン、キセノンなどの希ガス元素と、塩素
、フッ素、臭素、よう素などのハロゲン元素の種々の組
合わせを用いることができる。
レーザー光が照射された基板には、次いでCVD法によ
りダイヤモンド膜が形成される。このダイヤモンド膜を
形成するCVD法としては、熱フィラメントCVD法、
マイクロ波プラズマCVD法、電子衝撃CVD法(EA
CVD法)、高周波プラズマCVD法、高周波アークプ
ラズマCVD法などを用いることができる。反応ガスと
しては、メタンと水素、または気化させたアルコール、
アセトン、アセチレンなどと水素の混合ガスが用いられ
る。
りダイヤモンド膜が形成される。このダイヤモンド膜を
形成するCVD法としては、熱フィラメントCVD法、
マイクロ波プラズマCVD法、電子衝撃CVD法(EA
CVD法)、高周波プラズマCVD法、高周波アークプ
ラズマCVD法などを用いることができる。反応ガスと
しては、メタンと水素、または気化させたアルコール、
アセトン、アセチレンなどと水素の混合ガスが用いられ
る。
熱フィラメントCVD法では、反応容器内の圧力は約数
+TO「「に保持され、反応ガスとしてはメタンと水素
または、気化させたアルコール、アセトンなどと水素の
混合ガスを用いる。水素に対する炭化水素ガスの濃度は
0.5〜2%である。
+TO「「に保持され、反応ガスとしてはメタンと水素
または、気化させたアルコール、アセトンなどと水素の
混合ガスを用いる。水素に対する炭化水素ガスの濃度は
0.5〜2%である。
基板としては、シリコン単結晶、モリブデン、炭化珪素
焼結体などを用いることができる。
焼結体などを用いることができる。
マイクロ波プラズマCVD法は、原料ガスと水素の分解
をプラズマを用いて行う方法である。反応時の圧力は数
〜数十TOrrの間で、反応ガス中のメタン濃度は0.
5〜2%とざれる。基板としては、シリコン単結晶、モ
リブデンなどが用いられる。
をプラズマを用いて行う方法である。反応時の圧力は数
〜数十TOrrの間で、反応ガス中のメタン濃度は0.
5〜2%とざれる。基板としては、シリコン単結晶、モ
リブデンなどが用いられる。
EACVD法では、基板ホルダとしてモリブデンが用い
られ、フィラメントとの間に直流電圧が印haされる。
られ、フィラメントとの間に直流電圧が印haされる。
基板としては炭化珪素焼結体、シリコン単結晶、モリブ
デン、炭化タングステン焼結体、立方晶窒化硼素焼結体
など種々の種類が用いられる。そして基板ホルダとフィ
ラメント間に電圧を印加して放電を発生させ、基板表面
に電子衝撃を加える。すると放電により気体が分解しダ
イヤモンドが或長ずる。
デン、炭化タングステン焼結体、立方晶窒化硼素焼結体
など種々の種類が用いられる。そして基板ホルダとフィ
ラメント間に電圧を印加して放電を発生させ、基板表面
に電子衝撃を加える。すると放電により気体が分解しダ
イヤモンドが或長ずる。
高周波プラズマCVD法は、反応ガスとしてはやはりメ
タンと水素の混合ガスを用いているが、メタン濃度は他
の方法と比べると約5%程度高いところでもダイヤモン
ドの合成が可能である。
タンと水素の混合ガスを用いているが、メタン濃度は他
の方法と比べると約5%程度高いところでもダイヤモン
ドの合成が可能である。
なお熱フィラメントCVD法は、装置が最も簡単であり
特に好ましい。
特に好ましい。
[発明の作用および効果]
本発明のダイヤモンド膜の形或方法では、CVD法によ
るダイヤモンド膜の形成に先立って、基板を構成する分
子の結合エネルギーより大きな光子エネルギーをもつレ
ーザー光が照射,される。これにより基板表面の分子の
結合が活性化され、自然酸化膜を形或している酸素が除
去ざれて3iの未結合手(ダングリングボンド)が多く
出るものと推察される。そしてこの活性化によって生じ
た未結合手は、次のダイヤモンド膜の形成工程において
ダイヤモンド核形或サイトになり易く、ダイヤモンドの
核発生密度が増加するものと考えられる。実際にレーザ
ー光を照則しないものに比べて、核発生密度は100倍
程度に増加している。このように密度が高くなると、結
晶粒の小さいまま隣りの結晶粒と結合して膜を形或する
ため、従来のものに比べて表面が平滑なダイヤモンド膜
を形或することができる。ざらに基板とダイヤモンド膜
との密着性も向上する。
るダイヤモンド膜の形成に先立って、基板を構成する分
子の結合エネルギーより大きな光子エネルギーをもつレ
ーザー光が照射,される。これにより基板表面の分子の
結合が活性化され、自然酸化膜を形或している酸素が除
去ざれて3iの未結合手(ダングリングボンド)が多く
出るものと推察される。そしてこの活性化によって生じ
た未結合手は、次のダイヤモンド膜の形成工程において
ダイヤモンド核形或サイトになり易く、ダイヤモンドの
核発生密度が増加するものと考えられる。実際にレーザ
ー光を照則しないものに比べて、核発生密度は100倍
程度に増加している。このように密度が高くなると、結
晶粒の小さいまま隣りの結晶粒と結合して膜を形或する
ため、従来のものに比べて表面が平滑なダイヤモンド膜
を形或することができる。ざらに基板とダイヤモンド膜
との密着性も向上する。
そして本発明のダイヤモンド膜の形或方法によれば、レ
ーザー光の照射とダイヤモンド膜の形戒とは連続して行
うことができるので、ダイヤモンド核の発生密度が極め
て向上したダイヤモンド膜を、容易に、かつ工数少なく
形或することができる。すなわち本発明は、レーザーフ
ラッシュ熱フィラメントCVD法とも称するべき新しい
ダイヤモンド膜の形戒方法を提案するものである。
ーザー光の照射とダイヤモンド膜の形戒とは連続して行
うことができるので、ダイヤモンド核の発生密度が極め
て向上したダイヤモンド膜を、容易に、かつ工数少なく
形或することができる。すなわち本発明は、レーザーフ
ラッシュ熱フィラメントCVD法とも称するべき新しい
ダイヤモンド膜の形戒方法を提案するものである。
[実施例]
以下実施例により具体的に説明する。
第1図に本実施例に用いたレーザーフラッシュ熱フィラ
メントCVD装置の概略構成図を示す。
メントCVD装置の概略構成図を示す。
この装置は、真空反応室10をもつ反応容滞1と、真空
反応室10内にエキシマレーザー光を照則するレーザー
照射装置2と、真空反応室10内に反応ガスを供給する
ガス供給部3と、よりなる。
反応室10内にエキシマレーザー光を照則するレーザー
照射装置2と、真空反応室10内に反応ガスを供給する
ガス供給部3と、よりなる。
真空反応室10内には基板ホルダ11が斜めに傾けられ
て保持ざれ、基板ホルダ11内には埋め込みヒータ12
が設けられている。基板ホルダ11にはシリコン基板1
3が保持され、シリコン基板13に対向してフィラメン
ト14が設けられている。また反応容器1には、レーザ
ー光導入ポート15が設けられ、レーザー光入躬窓16
よりシリコン基板13表面に45度の角度でレーザー光
が照射ざれるように構成されている。そして反応容器1
には、排気ポンプ18をもつ排気通路17が形或されて
いる。
て保持ざれ、基板ホルダ11内には埋め込みヒータ12
が設けられている。基板ホルダ11にはシリコン基板1
3が保持され、シリコン基板13に対向してフィラメン
ト14が設けられている。また反応容器1には、レーザ
ー光導入ポート15が設けられ、レーザー光入躬窓16
よりシリコン基板13表面に45度の角度でレーザー光
が照射ざれるように構成されている。そして反応容器1
には、排気ポンプ18をもつ排気通路17が形或されて
いる。
レーザー照則装置2は、エキシマレーザー光照躬部20
と照則されたレーザー光を絞るレンズ21とからなり、
レーザー光入射窓16よりレーザー光導入ポート]5を
通じて、基板ホルダ11に配置された基板13にエキシ
マレーザー光を照則するように構成ざれている。
と照則されたレーザー光を絞るレンズ21とからなり、
レーザー光入射窓16よりレーザー光導入ポート]5を
通じて、基板ホルダ11に配置された基板13にエキシ
マレーザー光を照則するように構成ざれている。
ガス供給部3は、マスフローコントローラ30をもち真
空反応室]Oに−メタンガスを供給するメタンガス供給
管31と、マスフローコントローラ32をもち真空反応
室10に水素ガスを供給する水素ガス供給管33とから
構成されている。
空反応室]Oに−メタンガスを供給するメタンガス供給
管31と、マスフローコントローラ32をもち真空反応
室10に水素ガスを供給する水素ガス供給管33とから
構成されている。
上記装置を用いてダイヤモンド膜を形或した方法を以下
に説明する。
に説明する。
基板13にはシリコンウエハを用い、RCA洗浄(重金
属、油脂、無機物を除去する洗浄方法〉および25μm
のダイヤモンド砥粒で傷付け処理後、真空反応室10の
基板ホルダ11に装着する。
属、油脂、無機物を除去する洗浄方法〉および25μm
のダイヤモンド砥粒で傷付け処理後、真空反応室10の
基板ホルダ11に装着する。
次に排気ポンプ18により真空反応室10内を真空とす
るとともに、基板ホルダ11の埋め込みヒータ12で基
板13を9 0 0 ’Cに加熱し、レーザー光入則窓
16より波長193nmのArFエキシマレーザー光を
照射する。このエキシマレーザー光はパルスエネルギー
1 80mJ/pu l se,ビーム断面積20m2
、パルス光子数1,12x101B/pu I se,
光子エネ/L,キ−6. 4eVである。なおレーザー
光はレンズ16により基板13全体に照躬されるように
設定され、レーザーパワー密度は360mJ/cm2
− pu I seてある。この照則パルス数は1〜5
である。又1パルスの発信時間は1 2nsecである
。
るとともに、基板ホルダ11の埋め込みヒータ12で基
板13を9 0 0 ’Cに加熱し、レーザー光入則窓
16より波長193nmのArFエキシマレーザー光を
照射する。このエキシマレーザー光はパルスエネルギー
1 80mJ/pu l se,ビーム断面積20m2
、パルス光子数1,12x101B/pu I se,
光子エネ/L,キ−6. 4eVである。なおレーザー
光はレンズ16により基板13全体に照躬されるように
設定され、レーザーパワー密度は360mJ/cm2
− pu I seてある。この照則パルス数は1〜5
である。又1パルスの発信時間は1 2nsecである
。
次にメタンカス供給管31及び水素ガス供給管33を開
き、マスフローコントローラ30、32て所定の流量に
調整した後真空反応室10に供給する。なおメタンガス
の供給量は50C/min、水素ガスは500cc/m
inとした。そしてフィラメント14でそのガスを活性
化して分解し、基板13の表面にダイヤモンド膜を形或
する。このとき基板13の表面温度は9 0 0 ’C
に制御ざれている。なおガスは排気ポンプ18によって
排気通路17より排気される。
き、マスフローコントローラ30、32て所定の流量に
調整した後真空反応室10に供給する。なおメタンガス
の供給量は50C/min、水素ガスは500cc/m
inとした。そしてフィラメント14でそのガスを活性
化して分解し、基板13の表面にダイヤモンド膜を形或
する。このとき基板13の表面温度は9 0 0 ’C
に制御ざれている。なおガスは排気ポンプ18によって
排気通路17より排気される。
第2図に本実施例におけるダイヤモンド核の発生密度を
示す。また比較として、レーザー光を照射しないこと以
外は本実施例と同様にして形或されたダイヤモンド膜の
核発生密度を示す。なお、核発生密度の測定は、或膜開
始から3分後の基板のSEM写真をとり、単位面積あた
りの結晶粒を数えることにより行なった。
示す。また比較として、レーザー光を照射しないこと以
外は本実施例と同様にして形或されたダイヤモンド膜の
核発生密度を示す。なお、核発生密度の測定は、或膜開
始から3分後の基板のSEM写真をとり、単位面積あた
りの結晶粒を数えることにより行なった。
第2図より明らかなように、本実施例の形或方法では、
核発生密度は従来の方法よりも100倍程度増加し、得
られたダイヤモンド膜の平滑性にも優れていた。なおレ
ーザーフラッシュの回数を1回と5回の2種類について
測定したが、いずれもダイヤモンド核発生密度は101
2/Cm2程度であり大きな差はない。したがって1回
で充分である。
核発生密度は従来の方法よりも100倍程度増加し、得
られたダイヤモンド膜の平滑性にも優れていた。なおレ
ーザーフラッシュの回数を1回と5回の2種類について
測定したが、いずれもダイヤモンド核発生密度は101
2/Cm2程度であり大きな差はない。したがって1回
で充分である。
第1図は実施例に用いたレーザーフラッシュ熱フィラメ
ントCVD装置の概略構戒説明図である。 第2図は実施例の方法と従来の方法のダイヤモンド核の
発生密度の差を示すグラフである。 1・・・反応容器 2・・・レーザー照削装置
3・・・ガス供給部 10・・・真空反応室11・
・・基板ホルダ 12・・・埋め込みヒータ13・
・・基板 14・・・フィラメント15・・
・レーザー光導入ポート 16・・・レーザー光入躬窓
ントCVD装置の概略構戒説明図である。 第2図は実施例の方法と従来の方法のダイヤモンド核の
発生密度の差を示すグラフである。 1・・・反応容器 2・・・レーザー照削装置
3・・・ガス供給部 10・・・真空反応室11・
・・基板ホルダ 12・・・埋め込みヒータ13・
・・基板 14・・・フィラメント15・・
・レーザー光導入ポート 16・・・レーザー光入躬窓
Claims (1)
- (1)基板表面に該基板を構成する分子の結合エネルギ
ーより大きな光子エネルギーをもつレーザー光を照射し
、次いでCおよびHを含む原料ガスの存在下でCVD法
により該基板表面にダイヤモンド膜を形成することを特
徴とするダイヤモンド膜の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30371989A JPH03166369A (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | ダイヤモンド膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30371989A JPH03166369A (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | ダイヤモンド膜の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03166369A true JPH03166369A (ja) | 1991-07-18 |
Family
ID=17924440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30371989A Pending JPH03166369A (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | ダイヤモンド膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03166369A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0752018A1 (en) * | 1994-05-12 | 1997-01-08 | Qqc, Inc. | Surface treatment techniques |
EP0739250A4 (en) * | 1994-01-18 | 1998-09-02 | Qqc Inc | USE OF LASERS FOR THE PRODUCTION OF COATINGS ON SUBSTRATES |
US8110332B2 (en) | 2007-02-28 | 2012-02-07 | Ricoh Company, Ltd. | Electrophotographic toner and method for producing the electrophotographic toner |
-
1989
- 1989-11-22 JP JP30371989A patent/JPH03166369A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0739250A4 (en) * | 1994-01-18 | 1998-09-02 | Qqc Inc | USE OF LASERS FOR THE PRODUCTION OF COATINGS ON SUBSTRATES |
EP0752018A1 (en) * | 1994-05-12 | 1997-01-08 | Qqc, Inc. | Surface treatment techniques |
EP0752018A4 (en) * | 1994-05-12 | 1998-09-02 | Qqc Inc | METHOD FOR SURFACE TREATMENT |
US8110332B2 (en) | 2007-02-28 | 2012-02-07 | Ricoh Company, Ltd. | Electrophotographic toner and method for producing the electrophotographic toner |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6660342B1 (en) | Pulsed electromagnetic energy method for forming a film | |
US5154945A (en) | Methods using lasers to produce deposition of diamond thin films on substrates | |
JPS5927754B2 (ja) | ダイヤモンドの合成法 | |
JPS61127121A (ja) | 薄膜形成方法 | |
JPS5927753B2 (ja) | ダイヤモンドの合成法 | |
JPH03166369A (ja) | ダイヤモンド膜の形成方法 | |
JPH0733243B2 (ja) | 光照射併用プラズマcvd法による硬質窒化ホウ素の製造法 | |
Regel et al. | Selective patterned deposition of diamond using a new technique | |
JPS59207621A (ja) | 薄膜形成方法 | |
JPS6054996A (ja) | ダイヤモンドの合成法 | |
JPH05213695A (ja) | ダイヤモンド薄膜の堆積方法 | |
JP3176086B2 (ja) | ダイヤモンド結晶及びダイヤモンド形成用基体 | |
JPS61236691A (ja) | ダイヤモンドの気相合成法 | |
JPH0341435B2 (ja) | ||
JPH07300677A (ja) | 光cvdによる成膜方法及びその装置 | |
JP2848498B2 (ja) | ダイヤモンドの合成方法、ダイヤモンド被覆切削工具の製造方法、及びダイヤモンド被覆切削工具の製造方法 | |
JPH04240189A (ja) | CVD法によるSi基板へのダイヤモンド膜形成方法 | |
JPS60200898A (ja) | 人工ダイヤモンドの析出生成装置 | |
JPH10259481A (ja) | 非晶質炭素系被膜の形成方法 | |
JPH1018042A (ja) | 薄膜作成装置 | |
JPH0689455B2 (ja) | 薄膜形成方法 | |
JPH06191997A (ja) | SiC結晶膜の形成法 | |
JP2995339B2 (ja) | 薄膜の作成方法 | |
JPH01298095A (ja) | ダイヤモンド状炭素膜の製造方法 | |
JPS61170037A (ja) | 気相成長装置 |