JPH03164838A - データ処理装置の製造試験自動化方式 - Google Patents
データ処理装置の製造試験自動化方式Info
- Publication number
- JPH03164838A JPH03164838A JP30431889A JP30431889A JPH03164838A JP H03164838 A JPH03164838 A JP H03164838A JP 30431889 A JP30431889 A JP 30431889A JP 30431889 A JP30431889 A JP 30431889A JP H03164838 A JPH03164838 A JP H03164838A
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- Japan
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- diagnostic program
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title abstract description 18
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 1
- 229940036310 program Drugs 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分舒〕
この発明はデータ処理装置の製造試験の動作確認試験に
おける自動化に関するものである。
おける自動化に関するものである。
データ処理装置の製造動作試験は診断プログラムを用い
て動作確認をしており1間欠的なエラーが発生した場合
にエラーを再現させる為に2人手によりデータ処理装置
の電圧、CLOCK、温度等を変化させてマージン試験
をしてエラーを再現させる等の手段が用いられている。
て動作確認をしており1間欠的なエラーが発生した場合
にエラーを再現させる為に2人手によりデータ処理装置
の電圧、CLOCK、温度等を変化させてマージン試験
をしてエラーを再現させる等の手段が用いられている。
次に従来の動作確認診断プログラムのフローを説明する
。第3図に示される。+11の診断プログラムが実行さ
れ(2)のエラー検出プログラムによりエラーが検知さ
れると診断プログラムが5TOPされ0υの手!I!I
ll!!作により電圧等の設定が人手によりなされ、再
度(1)の診断プログラムを実行する。この人手により
電圧、温度、CLOCKの各マージン設定作業が行われ
ている。
。第3図に示される。+11の診断プログラムが実行さ
れ(2)のエラー検出プログラムによりエラーが検知さ
れると診断プログラムが5TOPされ0υの手!I!I
ll!!作により電圧等の設定が人手によりなされ、再
度(1)の診断プログラムを実行する。この人手により
電圧、温度、CLOCKの各マージン設定作業が行われ
ている。
従来のデータ処理装置の製造動作N認試験は。
もしエラーが間欠的に発生した時にエラーを再現させろ
為に2人手により電圧、CLOCK、i度等を変化させ
ており、再度エラーを発生させるのに時間が費かってい
た。
為に2人手により電圧、CLOCK、i度等を変化させ
ており、再度エラーを発生させるのに時間が費かってい
た。
この発明は診断プログラムの中にハードウェアのマージ
ン試験が出来ろ命令語を持ち2診断プログラムがエラー
を検出すると自動的にデータ処理装置のマージンを変動
させ、エラーが発生したテストプログラムを再スタート
させ、エラーの発生摘出を向上させる事により品質の優
れた製品として出荷する事を目的とする。
ン試験が出来ろ命令語を持ち2診断プログラムがエラー
を検出すると自動的にデータ処理装置のマージンを変動
させ、エラーが発生したテストプログラムを再スタート
させ、エラーの発生摘出を向上させる事により品質の優
れた製品として出荷する事を目的とする。
この発明はデータ処理装置の製造試験における間欠エラ
ーを人手をかける事なくデータ処理装置の品質向上をす
る為に2診断プログラムにて自動的にデータ処理装置の
マージン試験を実施出来る様にしたものである。
ーを人手をかける事なくデータ処理装置の品質向上をす
る為に2診断プログラムにて自動的にデータ処理装置の
マージン試験を実施出来る様にしたものである。
この考案はデータ試験装置の命令語にマージン試験を実
施する命令語を備え2診断プログラムにおける間欠エラ
ー発生時に自動的にマージン試験を実行しエラーの摘出
率を向上する。
施する命令語を備え2診断プログラムにおける間欠エラ
ー発生時に自動的にマージン試験を実行しエラーの摘出
率を向上する。
第1図、第2図はこの発明の一実施例である。
以下に説明する。(1)〜(2)は上記従来と全く同一
の診断プログラムモジュールであ秒、 (3)はマージ
ン設定プログラムモジュールである。(3)のマージン
設定プログラムモジュールの詳細を第2図に示す。
の診断プログラムモジュールであ秒、 (3)はマージ
ン設定プログラムモジュールである。(3)のマージン
設定プログラムモジュールの詳細を第2図に示す。
(4)〜α1は各マージン(f4圧、CLOCK、温度
)を設定するプログラムであり、このプログラムにより
各マージン(例、電圧変′fIJ)を設定して、百度(
1)の診断プログラムが実行される。
)を設定するプログラムであり、このプログラムにより
各マージン(例、電圧変′fIJ)を設定して、百度(
1)の診断プログラムが実行される。
(1)の診断プログラムが実行され、エラーが発生する
と(2)のエラー検知プログラムにより(3)のマージ
ン設定プログラムにジャンプして、まずマージンT E
S T 1 (41の電圧変動のマージンがプログラ
ム的に設定され、再度(1)の診断プログラムが実行さ
れる。ここでマージン設定ポイントとエラー発生の有無
を記録しておく。
と(2)のエラー検知プログラムにより(3)のマージ
ン設定プログラムにジャンプして、まずマージンT E
S T 1 (41の電圧変動のマージンがプログラ
ム的に設定され、再度(1)の診断プログラムが実行さ
れる。ここでマージン設定ポイントとエラー発生の有無
を記録しておく。
エラーの’l生有mに関係なく次にマージンTES T
2 +51のクロック変動が設定され(1)の診断プ
ログラムが実行される。以上この動作を自動的にマージ
ンT E S T 7 Qlまで順に実施される。最終
的にマージン設定ポイントとエラー発生の有無関係によ
りエラーの解析を実施する。
2 +51のクロック変動が設定され(1)の診断プ
ログラムが実行される。以上この動作を自動的にマージ
ンT E S T 7 Qlまで順に実施される。最終
的にマージン設定ポイントとエラー発生の有無関係によ
りエラーの解析を実施する。
以上の様にこの発明によれば2診断プログラムによるエ
ラーが発生した時に自動的にマージン試験をするので、
今までの様に間欠故障が発生した時に再実行しても、エ
ラーの再現がなくなってしまうという事がなくなるとい
う効果がある。
ラーが発生した時に自動的にマージン試験をするので、
今までの様に間欠故障が発生した時に再実行しても、エ
ラーの再現がなくなってしまうという事がなくなるとい
う効果がある。
第1図、第2図はこの発明の一実施例によるデータ処理
装置の製造試験自動化方式による自動マージン試験診断
プログラムのフローチャートを示す。第3図は従来の診
断プログラムのフローチャートを示す。 図において(1)は診断プログラムモジュール、(2)
はエラー検出プログラムモジュール、 +31はマージ
ン設定プログラムモジュールである。 なお1図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
装置の製造試験自動化方式による自動マージン試験診断
プログラムのフローチャートを示す。第3図は従来の診
断プログラムのフローチャートを示す。 図において(1)は診断プログラムモジュール、(2)
はエラー検出プログラムモジュール、 +31はマージ
ン設定プログラムモジュールである。 なお1図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 診断プログラム試験において、間欠的なエラーが発生し
た場合に、自動的にマージン検査をする事により、デー
タ処理装置の初期不良を製造段階で摘出するデータ処理
装置の製造試験自動化方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30431889A JPH03164838A (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | データ処理装置の製造試験自動化方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30431889A JPH03164838A (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | データ処理装置の製造試験自動化方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03164838A true JPH03164838A (ja) | 1991-07-16 |
Family
ID=17931585
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30431889A Pending JPH03164838A (ja) | 1989-11-22 | 1989-11-22 | データ処理装置の製造試験自動化方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03164838A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005285114A (ja) * | 1996-03-01 | 2005-10-13 | Samsung Electronics Co Ltd | プロセッサの性能を強化する方法及び装置 |
-
1989
- 1989-11-22 JP JP30431889A patent/JPH03164838A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005285114A (ja) * | 1996-03-01 | 2005-10-13 | Samsung Electronics Co Ltd | プロセッサの性能を強化する方法及び装置 |
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