JPH03137621A - Tftパネルの製造方法 - Google Patents

Tftパネルの製造方法

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JPH03137621A
JPH03137621A JP1274952A JP27495289A JPH03137621A JP H03137621 A JPH03137621 A JP H03137621A JP 1274952 A JP1274952 A JP 1274952A JP 27495289 A JP27495289 A JP 27495289A JP H03137621 A JPH03137621 A JP H03137621A
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JP
Japan
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insulating film
pixel electrode
electrode
film
transparent
Prior art date
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Pending
Application number
JP1274952A
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English (en)
Inventor
Hisatoshi Mori
森 久敏
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Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、TFTアクティブマトリックス型液晶表示素
子に用いられるTFTパネルの製造方法に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
テレビジョン画像等を表示するTFTアクティブマトリ
ックス型液晶表示素子に用いられるTFTパネルは、透
明基板上に、多数の透明画素電極と、この各画素電極を
選択駆動する多数の薄膜トランジスタ(T P T)と
を縦横に配列形成したもので、各薄膜トランジスタのゲ
ート電極およびドレイン電極は各画素電極の列間に配線
されたゲートライン(走査ライン)およびデータライン
(信号ライン)につながっており、ソース電極は画素電
極に接続されている。
ところで、このTFTパネルとしては、一般に、薄膜ト
ランジスタと画素電極とを基板上に横に並べて形成した
ものが知られているが、最近では、基l上に薄膜トラン
ジスタとゲートラインおよびデータラインを形成し、こ
の基板上に上記薄膜トランジスタおよびゲート、データ
ラインを覆う透明絶縁膜を形成して、この透明絶縁膜の
上に画素電極を形成することが考えられている。このよ
うにすれば、画素電極と前記ゲートラインおよびデータ
ラインとの間隔を小さくしても、画素電極とゲート、デ
ータラインとの短絡をその間の上記透明絶縁膜によって
防ぐことができるから、画素電極の面積を大きくして液
晶表示素子の開口率を向上させるとともに、画素電極の
配列間隔を小さくして解像度を上げることができる。
第6図は、基板上に薄膜トランジスタを形成し、この基
板上に透明絶縁膜を形成して、この透明絶縁膜の上に画
素電極を形成した従来のTFTパネルの一部分の断面を
示している。
第6図において、図中1はガラス等からなる透明基板、
2は前記基板1上に形成された薄膜トランジスタであり
、この薄膜トランジスタ2は逆スタガー型のものである
。この薄膜トランジメタ2は、基板1上に形成されたゲ
ート電極3と、このゲート電極2の上に基板1のほぼ全
面にわたって形成された透明なゲート絶縁膜4と、この
ゲート絶縁膜4の上に前記ゲート電極2に対向させて形
成されたi型アモルファスシリコン(i−a−8i)か
らなるi型半導体層5と、このi型半導体層5の上にn
型不純物をドープしたn型アモルファスシリコン(n”
−a−81)からなるn型半導体層6を介して形成され
たソース電極7およびドレイン電極8とからなっており
、上記i型半導体層5のソース、ドレイン電極7.8間
の部分はチャンネル部となっている。なお、前記ゲート
電極3およびドレイン電極8は、図示しないゲートライ
ンおよびデータラインにそれぞれつながっている。また
、上記薄膜トランジスタ2を形成した基板1上には、そ
のほぼ全面にわたって、SOG (スピン・オン・ガラ
ス)からなる表面が平坦な透明絶縁膜9が形成されおり
、画素電極10は、上記透明絶縁膜9の上に、電極端部
が薄膜トランジスタ2のソース電極7に対向するように
して形成されている。そして、この画素電極10の前記
ソース電極7に対向する端部とその下の透明絶縁膜9に
は、前記ソース電極7に達するコンタクト孔11が設け
られており、画素電極10は、その上から上記コンタク
ト孔11内に充填したコンタクト金属12によって薄膜
トランジスタ2のソース電極7に接続されている。また
、13は上記透明絶縁膜9の上に画素電極10およびコ
ンタクト金属12を覆って形成されたSOGからなる透
明なオーバーコート絶縁膜であり、このオーバーコート
絶縁膜13の上には、前記薄膜トランジスタ2に対向さ
せて遮光膜(金属膜)14が形成されている。
このTFTパネルは、次のような製造方法で製造されて
いる。
まず、基板1上に薄膜トランジスタ2を形成した後、上
記基板1上に薄膜トランジスタ2を覆う厚さに透明絶縁
膜9を形成する。
次に、この透明絶縁膜9の上にITO等の透明導電膜を
堆積させ、この透明導電膜をパターニングして画素電極
10を形成する。
この後、上記画素電極10の端部およびその下の透明絶
縁膜9にコンタクト孔11をエツチングにより穿設し、
この後、その上に金属膜をメツキ等により堆積させて上
記コンタクト孔11内にコンタクト金属12を充填する
次に、上記透明絶縁膜9上の不要な金属膜をエツチング
除去し、この後、オーバーコート絶縁膜13を形成して
、その上に遮光膜14を形成する。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記のような従来のTFTパネルの製造
方法では、画素電極10を薄膜トランジスタ2のソース
電極7に接続するのに、まず画素電極10の端部および
その下の透明絶縁膜9にコンタクト孔11を穿設し、次
いで金属膜を堆積させてコンタクト孔11内にコンタク
ト金属12を充填して、この後上記透明絶縁膜9上の不
要な金属膜をエツチング除去しなければならず、したが
って、画素電極10とソース電極7との接続に多くの工
程を要していた。しかも、上記のように画素電極10と
ソース電極7とをコンタクト孔11内へのコンタクト金
属12の充填により接続するのでは、画素電極10とソ
ース電極7との確実な接続を得るために、コンタクト金
属12をコンタクト孔11内に完全に充填する必要があ
り、そのためにはコンタクト金属12となる金属膜をコ
ンタクト孔11の深さより十分厚く堆積させなければな
らないが、このように上記金属膜を厚く堆積させるので
は、その堆積および不要部分のエツチング除去に時間が
かかる。さらに、上記従来のTFTパネルの製造方法で
は、画素電極10を、透明絶縁膜9の上に透明導電膜を
堆積させてこの透明導電膜をバターニングすることで形
成しているため、画素電極10の形成も面倒であった。
本発明は上記のような実情にかんがみてなされたもので
あって、その目的とするところは、透明基板上に薄膜ト
ランジスタを形成し、この基板上に形成した透明絶縁膜
の上に画素電極を形成して、この画素電極を前記薄膜ト
ランジスタのソース電極に接続したTFTパネルを、少
ない工程数で容易に製造することができるTFTパネル
の製造方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のTFTパネルの製造方法は、透明基板上に薄膜
トランジスタを形成し、この基板上に前記薄膜トランジ
スタを十分厚く覆う厚さに透明絶縁膜を形成した後、こ
の透明絶縁膜のうち前記薄膜トランジスタのソース電極
上を含む画素電極形成領域を前記ソース電極の上面が露
出するレベルまでエツチングバックし、この後透明導電
膜を堆積させて、前記透明絶縁膜のエツチングバック面
および前記ソース電極の上に、前記透明絶縁膜の非エツ
チングバック部分に残された厚膜部分の上面に堆積した
透明導電膜とは前記厚膜部分の立上り面で切離された画
素電極を形成することを特徴とするものである。
〔作用〕
すなわち、本発明のTFTパネルの製造方法は、薄膜ト
ランジスタを形成した基板上に透明絶縁膜を形成し、こ
の透明絶縁膜の画素電極形成領域をエツチングバックし
て薄膜トランジスタのソース電極の上面を露出させると
ともに、この後に透明導電膜を堆積させて、上記透明絶
縁膜のエツチングバック面および前記ソース電極の上面
に堆積した透明導電膜で画素電極を形成するものであり
、この製造方法によれば、画素電極の形成時にこの画素
電極が前記ソース電極に直接接続されるから、画素電極
と前記ソース電極とをコンタクト金属で接続する必要は
ない。しかも、前記透明絶縁膜を薄膜トランジスタを十
分厚(覆う厚さに形成し、この透明絶縁膜のうち画素電
極形成領域だけをエツチングバックすれば、この透明絶
縁膜は、画素電極形成領域以外の非エツチングバック部
分にエツチングバック面に対して高く突出する厚膜部分
が残った形状となり、そのために、この後に堆積される
透明導電膜は前記透明絶縁膜の厚膜部分の立上り面には
被着しないから、前記透明絶縁膜のエツチングバック面
および前記ソース電極の上に堆積した透明導電膜で形成
される画素電極は、前記透明絶縁膜の画素電極形成領域
以外の部分に残された厚膜部分の上面に堆積した透明導
電膜とは前記厚膜部分の立上り面で切離された状態で形
成される。したがって、この製造方法によれば、前記透
明導電膜を堆積させるだけで、この透明導電膜をバター
ニングすることなく画素電極を形成することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図〜第5図に示した製造
工程図を参照して説明する。
まず、第1図に示すように、ガラス等からなる透明基板
1上に薄膜トランジスタ2を形成する。
なお、この薄膜トランジスタ2は、第6図に示した薄膜
トランジスタと同じ逆スタガー型のものであるから、そ
の構造の説明は図に同符号を付して省略し、またその形
成方法の説明も省略する。
次に、第2図に示すように、上記薄膜トランジスタ2を
形成した基板1上に、そのほぼ全面にわたってSOG 
(スピン・オン・ガラス)を薄膜トランジスタ2を十分
厚く覆う厚さ(約8000人)に塗布し、これを焼成し
て表面が平坦な透明絶縁膜9を形成する。
次に、第3図に示すように、上記透明絶縁膜(SOG膜
)9のうち、前記薄膜トランジスタ2のソース電極7上
を含む画素電極形成領域を、CF、+O□ (10%)
をエツチングガスとするRIEモードで、前記ソース電
極7の上面が露出するレベルまでエツチングバックする
。なお、このエツチングバックは、ソース電極7の上面
を完全に露出させるために、透明絶縁膜9のエツチング
バック面9aがソース電極7の上面レベルより若干低く
なるまで行なうのが望ましい。このように透明絶縁膜9
の画素電極形成領域をエツチングバックすると、薄膜ト
ランジスタ2のソース電極7の上面が露出するとともに
、透明絶縁膜9の画素電極形成領域以外の非エツチング
バック部分が、上記エツチングバック面9aに対して高
く突出しかつ側面がほぼ垂直に立上る厚膜部分9bとな
って残る。なお、この厚膜部分9bは、各画素電極形成
領域間を仕切るように格子状に残される。また、上記厚
膜部分9bは、第3図に示したように、薄膜トランジス
タ2のチャンネル部からドレイン電極8の外側縁にわた
る幅より若干広幅に、かつソース電極7側の側縁がソー
ス電極7のチャンネル部側縁部にラップするように残す
のが望ましい。
次に、第4図に示すように、上記透明導電膜9の上から
ITO等の透明導電膜aをスパッタリング法によって堆
積させ、前記透明絶縁膜9のエツチングバック面9aお
よび前記ソース電極7の上に堆積した透明導電膜aによ
って画素電極10を形成する。この場合、上記透明導電
膜aは、透明絶縁膜9のエツチングバック面9aおよび
ソース電極7上だけでなく、透明絶縁膜9の厚膜部分9
bの上にも堆積するが、この厚膜部分9bは、上記エツ
チングバック面9aに対して高く突出しかつその側面が
ほぼ垂直に立上った形状であるため、堆積される透明導
電11aは上記厚膜部分9bの立上り面には被着せず、
したがって、透明絶縁膜9のエツチングバック面9aお
よびソース電極7の上に堆積した透明導電膜aで形成さ
れる画素電極10は、上記厚膜部分9bの上面に堆積し
た透明導電膜aとはこの厚膜部分9bの立上り面で切離
された状態で形成される。
この後は、第5図に示すように、SOGを塗布してこれ
を焼成することにより表面が平坦なオーバーコート絶縁
膜(透明膜)13を形成し、その上に金属膜を堆積させ
てこの金属膜をパターニングすることにより遮光膜14
を形成して、TFTパネルを完成する。
すなわち、上記TFTパネルの製造は、薄膜トランジス
タ2を形成した基板1上に透明絶縁膜9を形成し、この
透明絶縁膜9の画素電極形成領域をエツチングバックし
て薄膜トランジスタ2のソース電極7の上面を露出させ
るとともに、この後に透明導電膜aを堆積させて、上記
透明絶縁膜9のエツチングバック面9aおよび前記ソー
ス電極7の上面に堆積した透明導電膜aで画素電極10
を形成するものであり、この製造方法によれば、画素電
極10の形成時にこの画素電極10が前記ソース電極7
に直接接続されるか”ら、画素電極10と前記ソース電
極7とをコンタクト金−で接続する必要はない。しかも
、上記のように、前記透明絶縁膜9を薄膜トランジスタ
2を十分厚く覆う厚さに形成し、この透明絶縁膜9のう
ち画素電極形成領域だけをエツチングバックすれば、こ
の透明絶縁膜9は、画素電極形成領域以外の非エツチン
グバック部分にエツチングバック面9aに対して高く突
出する厚膜部分9bが残った形状となり、そのために、
この後に堆積される透明導電膜aは前記透明絶縁膜9の
厚膜部分9bの立上り面には被着しないから、前記透明
絶縁膜9のエツチングバック面9aおよびソース電極7
の上に堆積した透明導電膜aで形成される画素電極10
は、透明絶縁膜9の画素電極形成領域以外の部分に残さ
れた厚膜部分9bの上面に堆積した透明導電膜aとは厚
膜部分9bの立上り面で切離された状態で形成される。
したがって、この製造方法によれば、前記透明導電膜a
を堆積させるだけで、この透明導電@aをバターニング
することなく画素電極lOを形成することができる。
したがって、上記製造方法によれば、透明基板1上に薄
膜トランジスタ2を形成し、この基板1上に形成した透
明絶縁膜9の上に画素電極1゜を形成して、この画素電
極10を前記薄膜トランジスタ2のソース電極7に接続
したTFTパネルを、少ない工程数で容易に製造するこ
とができる。
なお、上記実施例では、透明絶縁膜9およびオー1<−
コート絶縁膜13をSOGで形成しているが、この透明
絶縁膜9およびオーバーコート絶縁膜13は他の透明絶
縁材料で形成してもよいし、また、上記オーバーコート
絶縁膜13とその上の遮光膜14は必ずしも形成しなく
てもよい。さらに、上記実施例では、薄膜トランジスタ
2を逆スタガー型のものとしたが、この薄膜トランジス
タは逆スタガ−型でもよく、その場合は、この逆コブラ
ナー型薄膜トランジスタのソース電極を半導体層の外側
に延出させて形成しておいて、その上に形成した透明絶
縁膜の画素電極形成領域を、ソース電極を露出させるレ
ベルまでエツチングバックすればよい。
〔発明の効果〕
本発明のTFTパネルの製造方法によれば、画素電極の
形成時にこの画素電極が薄膜トランジスタのソース電極
に直接接続されるから、画素電極と前記ソース電極とを
コンタクト金属で接続する必要はなく、しかも、透明絶
縁膜のエツチングバック面および前記ソース電極の上に
堆積した透明導電膜で形成される画素電極は、前記透明
絶縁膜の画素電極形成領域以外の部分に残された厚膜部
分の上面に堆積した透明導電膜とは前記厚膜部分の立上
り面で切離された状態で形成されるために、前記透明導
電膜を堆積させるだけで、この透明導電膜をバターニン
グすることなく画素電極を形成することができる。した
がって、本発明によれば、透明基板上に薄膜トランジス
タを形成し、この基板上に形成した透明絶縁膜の上に画
素電極を形成して、この画素電極を前記薄膜トランジス
タのソース電極に接続したTFTパネルを、少ない工程
数で容易に製造することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第5図は本発明の一実施例を示すTFTパネル
の製造工程図、第6図は従来のTFTパネルの一部分の
断面図である。 1・・・透明基板、2・・・薄膜トランジスタ、7・・
・ソース電極、8・・・ドレイン電極、9・・・透明絶
縁膜、9a・・・エツチングバック面、9b・・・厚膜
部分、a・・・透明導電膜、1o・・・画素電極、13
・・・オーバーコート絶縁膜、14・・・遮光膜。 第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  透明基板上に薄膜トランジスタを形成し、この基板上
    に形成した透明絶縁膜の上に画素電極を形成して、この
    画素電極を前記薄膜トランジスタのソース電極に接続し
    たTFTパネルの製造方法において、 前記基板上に薄膜トランジスタを形成し、この基板上に
    前記薄膜トランジスタを十分厚く覆う厚さに透明絶縁膜
    を形成した後、この透明絶縁膜のうち前記薄膜トランジ
    スタのソース電極上を含む画素電極形成領域を前記ソー
    ス電極の上面が露出するレベルまでエッチングバックし
    、この後透明導電膜を堆積させて、前記透明絶縁膜のエ
    ッチングバック面および前記ソース電極の上に、前記透
    明絶縁膜の非エッチングバック部分に残された厚膜部分
    の上面に堆積した透明導電膜とは前記厚膜部分の立上り
    面で切離された画素電極を形成することを特徴とするT
    FTパネルの製造方法。
JP1274952A 1989-10-24 1989-10-24 Tftパネルの製造方法 Pending JPH03137621A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04268536A (ja) * 1991-02-25 1992-09-24 Sharp Corp アクティブマトリクス基板およびその製造方法
US6628060B2 (en) 2001-02-28 2003-09-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Color cathode ray tube

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04268536A (ja) * 1991-02-25 1992-09-24 Sharp Corp アクティブマトリクス基板およびその製造方法
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