JPH03127153A - メモリ回路の診断制御方式 - Google Patents

メモリ回路の診断制御方式

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Publication number
JPH03127153A
JPH03127153A JP1265732A JP26573289A JPH03127153A JP H03127153 A JPH03127153 A JP H03127153A JP 1265732 A JP1265732 A JP 1265732A JP 26573289 A JP26573289 A JP 26573289A JP H03127153 A JPH03127153 A JP H03127153A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
write
read
register
diagnostic
address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1265732A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiko Nakamura
昭彦 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Computertechno Ltd
Original Assignee
NEC Computertechno Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Computertechno Ltd filed Critical NEC Computertechno Ltd
Priority to JP1265732A priority Critical patent/JPH03127153A/ja
Publication of JPH03127153A publication Critical patent/JPH03127153A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はメモリ回路の診断制御方式に関し、特に情報処
理システムの内部メモリの診断り−ド/ライト制御方式
に関するものである。
従来技術 第2図jよ従来の内部メモリ回路のリード/ライト診断
制御方式を説明するためのブロック図である。診断対象
のRAMIはアドレスレジスタ2の内容であるリード/
ライトアドレスによりアドレス指定される。ライトデー
タレジスタ3はRAM1へのライトデータを一時格納し
、リードデータレジスタ6はRAMIからのリードデー
タを一時格納するものである。
ライトイネーブルレジスタ4はRAMIを書込み可能状
態とするライトイネーブル信号を格納し、ライトパルス
発生回路5はRAMIに対してライトパルスを供給する
ものである。スキャンインアウト手段80は前述の各レ
ジスタのスキャンインアウト動作を制御し、クロック供
給手段81はこれ等各部メモリ回路に対して動作クロッ
クを供給する。
次に動作を説明する。RAMIの診断ライトを行う際に
は、スキャンインアウト手段80の制御下においてスキ
ャンインによりアドレスレジスタ2に書込みを行うため
のRAMIのアドレスを設定し、ライトデータレジスタ
3には書込むデータを設定する。そして、ライトイネー
ブルレジスタ4に“1” (書込可)を設定した後、ク
ロック供給手段81によりクロックを印加し、ライトパ
ルス発生回路5からRAMIに対してライトパルスを供
給してRAMIにデータを書込む。複数ワードの診断ラ
イトを行う際には、上記手順を繰り返す。
一方、RAMIの診断リードを行う際には、スキャンイ
ンアウト手段80の制御下においてスキャンイン動作に
より、アドレスレジスタ2に読出しを行うためのRAM
Iのアドレスを設定する。
そして、ライトイネーブルレジスタ4に“0“(書込不
可)を設定した後、クロック供給手段81によりクロッ
クを印加し、ライトパルス発生回路5からRAMIに対
してライトパルスを供給してRAM1からリードデータ
レジスタ6にデータを受取り、リードデータレジスタ6
の内容をスキャンアウトすることにより、RAMIの内
容を読出す。複数ワードの診断リードを行う際には上記
手順を繰り返す。
上述した従来の内部メモリ回路の診断制御方式では、連
続的に複数ワードに関して診断リード/ライトする際に
は、1ワード毎にアドレスレジスタ、ライトデータレジ
スタ、ライトイネーブルレジスタに対してスキャンイン
動作を行って設定しなければならないので、診断リード
/ライト動作に多大な時間を要するという欠点がある。
発明の目的 そこで、本発明はかかる従来のものの欠点を解決すべく
なされたものであって、その目的とするところは、リー
ド/ライトの診断動作時に、連続的に複数ワードについ
て診断を行う場合にも、多大な時間を要することのない
高速診断リード/ライト制御方式を提供することにある
発明の構成 本発明によれば、メモリへの書込みデータを一時格納す
るライトデータレジスタと、前記メモリからの読出しデ
ータを一時格納するリードデータレジスタと、前記メモ
リに対するアドレスを格納するアドレスレジスタと、前
記アドレスレジスタの内容を動作クロックに同期してカ
ウントアツプ(ダウン)するアドレス加算手段と、書込
み診断モード指示に応答して、前記アドレスレジスタへ
書込みアドレスの初期値をロードすると共に前記ライト
データレジスタへ書込みデータをロードする書込み制御
手段と、読出し診断モード指示に応答して、前記アドレ
スレジスタへ読出しアドレスの初期値をロードする読出
し制御手段とを設け、書込み診断モード時には、前記書
込み制御手段によるロード動作の後、前記動作クロック
の歩進と前記書込みデータの前記ライトレジスタへのロ
ードとを行い、読出し診断モード時には、前記読出し制
御手段によるロード動作の後、前記動作クロックの歩進
と、前記リードデータレジスタからのデータ読出しとを
行うようにしたことを特徴とするメモリ回路の診断制御
方式が得られる。
実施例 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の実施例による内部メモリ回路のリード
/ライト制御方式のブロック図である。
本実施例の回路は、診断対象であるRAM1と、RAM
Iのリード/ライトアドレスを指示するアドレスレジス
タ2と、書込みデータを格納するライトデータレジスタ
3と、RAM1を書込み可能状態に設定するライトイネ
ーブルレジスタ4と、RAM1に対してライトパルスを
供給するライトパルス発生回路5と、RAMIからの読
出しデータを格納するリードデータレジスタ6と、アド
レス値の加算を行うアドレス加算回路7と、診断ライト
中であることを表示する診断ライトモードレジスタ8と
、診断リード中であることを表示する診断リードモード
レジスタつと、オアゲート10と、上記レジスタのスキ
ャンインアウトを行うスキャンインアウト手段80と、
本メモリ回路にクロックを印加するクロック供給手段8
1とから構成される。
診断ライトモードレジスタ8と診断リードモードレジス
タ9とには、各診断モード時に次の様に設定される。す
なわち、ライト診断モード時には、診断ライトモードレ
ジスタ8に“1”が、診断リードモードレジスタ9に“
Omが夫々設定され、診断リード時には、レジスタ8に
“0”が、レジスタ9に“1”が夫々設定される。
アドレスレジスタ2にはアドレス加算回路7の出力が信
号線53を介して入力され、アドレスレジスタ2は信号
線54を介してRAMIに対してリード/ライトアドレ
スを与える。ライトデータレジスタ3は信号線55を介
してRAM1に対して書込みデータを与える。また、ラ
イトデータレジスタ3は診断ライトモードレジスタ8の
値が“1”のときホールドされる。
RAMIはライトイネーブルレジスタ4の値により書込
み可能/不可能状態となり、レジスタ4の値が“1”の
とき書込み可能であり、“0”のとき不可能であるもの
とする。また、ライトイネーブルレジスタ4はオアゲー
ト10の出力52の値が“1“の時にホールドされる。
ライトパルス発生回路5はクロックが2回印加されると
信号線57を介してRAM1に対してライトパルスを1
回供給する。リードデータレジスタ6には、診断リード
モードレジスタ9の出力51の値が“1”のときRAM
Iの出力58の値がセットさ、れる。
アドレス加算回路7はクロックが印加されることにより
アドレス値が+1され、信号線53を介してアドレスレ
ジスタ2にこのアドレス値を与える。
また、アドレス加算回路7は加算タイミング指示回路7
1と加算器72とを有し、加算タイミング指示回路71
は診断ライト時には2クロツク毎に、診断リード時には
1クロツク毎に、加算器72に加算指示を与え、加算器
72は加算指示を与えられた時のみ値を+1する。
オアゲート10の出力52は診断ライトモードレジスタ
8の出力50と診断リードモードレジスタ9の出力51
のいずれかが“1”の時“1”となり、ライトイネーブ
ルレジスタ4の値をホールドする。
第3図はRAM1の診断ライトを行う手順を示すフロー
チャートである。まず最初に、診断ライトモードレジス
タ8に“1”、診断リードモードレジスタ9に“0°、
加算器72に第1ワードのアドレス値を夫々スキャンイ
ンする。次に、ライトデータレジスタ3に書込みデータ
を、ライトイネーブルレジスタ4に“12を夫々スキャ
ンインし、次にクロックを2回印加することにより、1
ワ一ド分の書込みを完了する。この後書込みを続ける場
合には、ステップ103〜105を繰り返す。
第5図はこの診断ライト実行時のタイムチャートである
第4図はRAMIの診断リードを行う手順を示すフロー
チャートである。まず最初に、診断ライトモードレジス
タ8に“O“、診断リードモードレジスタ9に“1”、
加算器72に第1ワードのアドレス値、及びライトイネ
ーブルレジスタ4にaolを夫々スキャンインする。次
にクロックを1回印加する。さらに次にもう1回クロッ
クを印加することにより、リードデータレジスタ6に読
出しデータを受取る。次にリードデータレジスタ6をス
キャンアウトし、1ワ一ド分データの読出しを完了する
。この後読出しを続ける場合には、ステップ115〜1
1Bを繰り返す。第6図はこの診断リード実行時のタイ
ムチャートである。
発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、メモリ診断リード
ライト時にリード/ライト動作に従い、必要に応じてラ
イトデータレジスタ、ライトイネーブルレジスタの内容
を保持し、かっ1ワード診断リード/ライトする毎にア
ドレスレジスタの値を増加させることにより、複数ワー
ド連続的に診断リードライトする際に、1ワード毎のア
ドレスレジスタ再設定等を不要にし、その結果スキャン
イン動作に要する時間を短縮でき、高速にメモリを診断
リード/ライト動作できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のブロック図、第2図は従来の
メモリ診断リード/ライト制御方式を示すブロック図、
第3図は本発明の実施例の診断ライト動作を示すフロー
チャート、第4図は本発明の実施例の診断リード動作を
示すフローチャート、第5図は診断ライト動作のタイム
チャート、第6図は診断リード動作のタイムチャートで
ある。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・RAM (メモリ) 2・・・・・・アドレスレジスタ 3・・・・・・ライトデータレジスタ 6・・・・・・リードデータレジスタ 7・・・・・・アドレス加算回路 8・・・・・・診断ライトモードレジスタ9・・・・・
・診断リードモードレジスタ80・・・・・・スキャン
インアウト手段81・・・・・・クロック供給手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)メモリへの書込みデータを一時格納するライトデ
    ータレジスタと、前記メモリからの読出しデータを一時
    格納するリードデータレジスタと、前記メモリに対する
    アドレスを格納するアドレスレジスタと、前記アドレス
    レジスタの内容を動作クロックに同期してカウントアッ
    プ(ダウン)するアドレス加算手段と、書込み診断モー
    ド指示に応答して、前記アドレスレジスタへ書込みアド
    レスの初期値をロードすると共に前記ライトデータレジ
    スタへ書込みデータをロードする書込み制御手段と、読
    出し診断モード指示に応答して、前記アドレスレジスタ
    へ読出しアドレスの初期値をロードする読出し制御手段
    とを設け、書込み診断モード時には、前記書込み制御手
    段によるロード動作の後、前記動作クロックの歩進と前
    記書込みデータの前記ライトレジスタへのロードとを行
    い、読出し診断モード時には、前記読出し制御手段によ
    るロード動作の後、前記動作クロックの歩進と、前記リ
    ードデータレジスタからのデータ読出しとを行うように
    したことを特徴とするメモリ回路の診断制御方式。
JP1265732A 1989-10-12 1989-10-12 メモリ回路の診断制御方式 Pending JPH03127153A (ja)

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JP1265732A JPH03127153A (ja) 1989-10-12 1989-10-12 メモリ回路の診断制御方式

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JP1265732A JPH03127153A (ja) 1989-10-12 1989-10-12 メモリ回路の診断制御方式

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Publication Number Publication Date
JPH03127153A true JPH03127153A (ja) 1991-05-30

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ID=17421229

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JP1265732A Pending JPH03127153A (ja) 1989-10-12 1989-10-12 メモリ回路の診断制御方式

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62165800A (ja) * 1986-01-16 1987-07-22 Mitsubishi Electric Corp 論理装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62165800A (ja) * 1986-01-16 1987-07-22 Mitsubishi Electric Corp 論理装置

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