JPH03118886A - 透過光を利用した選別装置 - Google Patents
透過光を利用した選別装置Info
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- JPH03118886A JPH03118886A JP25824089A JP25824089A JPH03118886A JP H03118886 A JPH03118886 A JP H03118886A JP 25824089 A JP25824089 A JP 25824089A JP 25824089 A JP25824089 A JP 25824089A JP H03118886 A JPH03118886 A JP H03118886A
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/3416—Sorting according to other particular properties according to radiation transmissivity, e.g. for light, x-rays, particle radiation
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は透過光によってナツツ等の被選別物の良否を決
定し選別する選別装置に関する。
定し選別する選別装置に関する。
[従来技術及びその問題点]
ナツツ、コーン等の中にはカビ類によって変質したもの
がある。またカビによっては強力な発ガン性物質である
Aflatoxinを生産するものがあり、そのような
カビによって汚染されたナツツは食用には適さず予め選
別して取り除いておかなければならない。
がある。またカビによっては強力な発ガン性物質である
Aflatoxinを生産するものがあり、そのような
カビによって汚染されたナツツは食用には適さず予め選
別して取り除いておかなければならない。
従来ナツツ類の選別方法としては、被選別物(ナツツ)
の表面の変色を検出して選別を行う色彩選別法があった
。しかしながらこの色彩選別は、内部の変質によって表
面が変色しているものに対しては有効ではあるが、内部
が変質しても表面が変色しておらず、外観は良品と区ヌ
f1がつかないものにつ、いては有効ではない。またこ
のように内部が変質しているにも拘わらず表面が変色し
ていないものについては、人手によっても選別が困難で
あった。
の表面の変色を検出して選別を行う色彩選別法があった
。しかしながらこの色彩選別は、内部の変質によって表
面が変色しているものに対しては有効ではあるが、内部
が変質しても表面が変色しておらず、外観は良品と区ヌ
f1がつかないものにつ、いては有効ではない。またこ
のように内部が変質しているにも拘わらず表面が変色し
ていないものについては、人手によっても選別が困難で
あった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、内部が変質
しているが、表面は変色していない不良品をも選別する
ことができる選別装置を提供することを目的とする。
しているが、表面は変色していない不良品をも選別する
ことができる選別装置を提供することを目的とする。
[問題点の解決手段]
上記目的を達成するために、本発明は、被選別物の良否
を決定し、不良な被選別物を除去する透過光を利用した
選別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
を照射する光照射装置と、前記被選別物を透過し拡散し
た光を集光する集光装置と、集光された透過光の内、波
長の異なる2種の特定光を夫々検出する2つの光検出手
段と、同光検出手段によって検出された波長の異なる2
種の特定光の強度の比率をとり、その比率が所定値より
上か下かによって前記被選別物の良否を判断する判断手
段とを具備してなることを特徴とする。
を決定し、不良な被選別物を除去する透過光を利用した
選別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
を照射する光照射装置と、前記被選別物を透過し拡散し
た光を集光する集光装置と、集光された透過光の内、波
長の異なる2種の特定光を夫々検出する2つの光検出手
段と、同光検出手段によって検出された波長の異なる2
種の特定光の強度の比率をとり、その比率が所定値より
上か下かによって前記被選別物の良否を判断する判断手
段とを具備してなることを特徴とする。
研究によれば、ナツツは500nm〜1400nmの波
長の光を通過させるということが分かつた。即ちこの波
長の光を利用すればナツツの内部の状態を調べることが
できる。
長の光を通過させるということが分かつた。即ちこの波
長の光を利用すればナツツの内部の状態を調べることが
できる。
第1図は良品ナツツ(a)と不良品ナツツ(b)に、各
々500nm〜1500.nmの光を当てて、光の拡散
透過率を調べたグラフである。この第1図に示すように
、良品と不良品とでは光の拡散透過率が異なる。さらに
第2図は、第1図に示す良品(a)と不良品(b)の光
の拡散透過率の差を示すグラフである。この図から見る
と波長1l100nと波長750nmの付近で良品と不
良品の拡散透過率の差が大きくなっている。この二つの
波長に着目して良品及び不良品の拡散透過率の比を第1
図から求めると、良品では、 11%(]10100n / 1.2%(75hm)
・1.75一方不良品では 2.8%(11000111) / 0.39%(
75Oam) = 7.18となる。
々500nm〜1500.nmの光を当てて、光の拡散
透過率を調べたグラフである。この第1図に示すように
、良品と不良品とでは光の拡散透過率が異なる。さらに
第2図は、第1図に示す良品(a)と不良品(b)の光
の拡散透過率の差を示すグラフである。この図から見る
と波長1l100nと波長750nmの付近で良品と不
良品の拡散透過率の差が大きくなっている。この二つの
波長に着目して良品及び不良品の拡散透過率の比を第1
図から求めると、良品では、 11%(]10100n / 1.2%(75hm)
・1.75一方不良品では 2.8%(11000111) / 0.39%(
75Oam) = 7.18となる。
この結果から波長1l100nと波長750nmの光に
着目して透過率の比を調べればナツツが内部で変質して
いるか否かが分かる。
着目して透過率の比を調べればナツツが内部で変質して
いるか否かが分かる。
[実施例]
以下図面を参照して本発明の実施例について説明する。
第3図は本発明にかかる選別装置を示すブロック図であ
る。この図において、1は光照射装置であり、電球2、
及び同電球2から遠ざかる方向に電球2から照射された
光は第2レンズ4、第2レンズ4によって集光され、ス
リット5によって絞られ、更に第3レンズ6によって平
行な光にされる。この結果被選別物(ナツツ)Aよりも
径が小さいビーム光が光照射装置1から照射される。
る。この図において、1は光照射装置であり、電球2、
及び同電球2から遠ざかる方向に電球2から照射された
光は第2レンズ4、第2レンズ4によって集光され、ス
リット5によって絞られ、更に第3レンズ6によって平
行な光にされる。この結果被選別物(ナツツ)Aよりも
径が小さいビーム光が光照射装置1から照射される。
一方7は観察点Sを挟んで、前記光照射装置1と対向し
て設けられた積分球であり、この積分球7は窓8から侵
入する光を効率良く集光する。
て設けられた積分球であり、この積分球7は窓8から侵
入する光を効率良く集光する。
まら積分球7にはフィルタ及び7オトダイオードからな
る一対の光電変換器9及び10が設けられており、これ
ら光電変換器9.10は各々750nmの波長(λ、)
の光及び1l100nの波長(λ、)の光を検出して電
気信号に変換し、対応して設けられた増幅器11及び1
2を介して平面分割回路13及び判定点検出回路14に
供給する。ここで増幅器11.12の出力レベルは被選
別物Aが観察点Sを通過するとき都度その透過度に応じ
て低下する信号となる。
る一対の光電変換器9及び10が設けられており、これ
ら光電変換器9.10は各々750nmの波長(λ、)
の光及び1l100nの波長(λ、)の光を検出して電
気信号に変換し、対応して設けられた増幅器11及び1
2を介して平面分割回路13及び判定点検出回路14に
供給する。ここで増幅器11.12の出力レベルは被選
別物Aが観察点Sを通過するとき都度その透過度に応じ
て低下する信号となる。
平面分割回路13において、増幅器11から供給された
電気信号(E(λI))は可変利得増幅器15に供給さ
れる。増幅器15は増幅器11から供給された電気信号
を、所定の利得に増幅して(k−E(λ1) )加算器
16へ供給する。
電気信号(E(λI))は可変利得増幅器15に供給さ
れる。増幅器15は増幅器11から供給された電気信号
を、所定の利得に増幅して(k−E(λ1) )加算器
16へ供給する。
また増幅器11の出力は比較器17の反転端子に供給さ
れる。一方向比較器17の非反転端子には所定の正の基
準電位が加えられており、従って反転端子に供給される
信号の電圧が同基準電位よりも低いときに比較器17は
論理“1”の信号をオアゲート18に出力する。なお、
この基準電位は第4図の70チヤートの最上に示すよう
に極めて低く設定されており、ナツツ以外の、例えば石
等のように全く光を透過しないものが通過したときに増
幅器11の出力(E(λl))と交差するように設定さ
れている。
れる。一方向比較器17の非反転端子には所定の正の基
準電位が加えられており、従って反転端子に供給される
信号の電圧が同基準電位よりも低いときに比較器17は
論理“1”の信号をオアゲート18に出力する。なお、
この基準電位は第4図の70チヤートの最上に示すよう
に極めて低く設定されており、ナツツ以外の、例えば石
等のように全く光を透過しないものが通過したときに増
幅器11の出力(E(λl))と交差するように設定さ
れている。
また平面分割回路13において、増幅器12から供給さ
れた電気信号(E(λ2))は加算器16に供給され、
ここで増幅器15の出力から減算され(kE(λ1)−
E(λ2))、この減算結果が比較器19の非反転端に
供給される。
れた電気信号(E(λ2))は加算器16に供給され、
ここで増幅器15の出力から減算され(kE(λ1)−
E(λ2))、この減算結果が比較器19の非反転端に
供給される。
比較器19の反転端は接地されており、従って加算器1
6の出力がプラスの時に論理“1nの信号をオアゲート
18に供給する。ここで不良品における透過率の比(E
(1g)/E(λ□))と良品における透過率の比(E
(λz)/E(λ1))では不良品の比が良品の比より
も大きいことは既に述べた。従って利得にの値をそれら
の比の中間値に設定しておくことにより、良品が観察点
S通過したときには加算器16の出力がマイナスになり
、不良品が観察点Sを通過したときには同出力がプラス
になる。
6の出力がプラスの時に論理“1nの信号をオアゲート
18に供給する。ここで不良品における透過率の比(E
(1g)/E(λ□))と良品における透過率の比(E
(λz)/E(λ1))では不良品の比が良品の比より
も大きいことは既に述べた。従って利得にの値をそれら
の比の中間値に設定しておくことにより、良品が観察点
S通過したときには加算器16の出力がマイナスになり
、不良品が観察点Sを通過したときには同出力がプラス
になる。
更に平面分割回路13において、増幅器12の出力は比
較器20に供給される。この比較器20の機能は前述し
た比較器17の機能と同一であり、説明を省略する。
較器20に供給される。この比較器20の機能は前述し
た比較器17の機能と同一であり、説明を省略する。
以上説明した平面分割回路13の機能をまとめると、第
5図に示すよになる。第5図は縦軸にE(λ2)をとり
、横軸にE(λ、)をとった座標である。まず増幅器1
1から出力される信号E(λ1)については、この信号
が基準値よりも低いときに比較器17の出力が1″とな
る。また増幅器12から出力される信号E(λ、)につ
いては、この信号が基準値よりも低いときに比較器20
の出力が1”となる。また増幅器11.12の出力につ
いてE(λI)、E(λ2)がkE(λ1)−E(λ、
)〉0のときに比較器19の出力が“1”となる。即ち
第5図において、増幅器11.12の出力E(λ、)
、 E (λ2)が、直線a、b及びCによって画成さ
れる斜線が施された領域内に位置するとぎにオアゲート
18の出力が“1 ”となり、この時被選別物が排除さ
れる。
5図に示すよになる。第5図は縦軸にE(λ2)をとり
、横軸にE(λ、)をとった座標である。まず増幅器1
1から出力される信号E(λ1)については、この信号
が基準値よりも低いときに比較器17の出力が1″とな
る。また増幅器12から出力される信号E(λ、)につ
いては、この信号が基準値よりも低いときに比較器20
の出力が1”となる。また増幅器11.12の出力につ
いてE(λI)、E(λ2)がkE(λ1)−E(λ、
)〉0のときに比較器19の出力が“1”となる。即ち
第5図において、増幅器11.12の出力E(λ、)
、 E (λ2)が、直線a、b及びCによって画成さ
れる斜線が施された領域内に位置するとぎにオアゲート
18の出力が“1 ”となり、この時被選別物が排除さ
れる。
このオアゲート18の出力はアンドゲート19に供給さ
れる。
れる。
一方、判定点検出回路14において、増幅器11.12
の出力は加算器21に供給される。加算器21は増幅器
11,12の出力を加算して微分回路22に供給する。
の出力は加算器21に供給される。加算器21は増幅器
11,12の出力を加算して微分回路22に供給する。
微分回路22は加算器21の出力を微分してその結果を
各々比較器23の非反転端及び比較器24の反転端に供
給する。
各々比較器23の非反転端及び比較器24の反転端に供
給する。
比較器23の反転端及び比較器24の反転端には基準電
圧が供給されており、比較器23は加算器21の信号が
立ち下がるとき、即ち微分回路22の出力がマイナスの
ときに論理“1′の信号を出力し、比較器24は加算器
21の信号が立ち上がるとき、即ち微分回路22の信号
がプラスのときに論理“1″の信号を出力する。
圧が供給されており、比較器23は加算器21の信号が
立ち下がるとき、即ち微分回路22の出力がマイナスの
ときに論理“1′の信号を出力し、比較器24は加算器
21の信号が立ち上がるとき、即ち微分回路22の信号
がプラスのときに論理“1″の信号を出力する。
比較器23及び24の出力は各々フリップ70ツブ(F
F)25のセット端及びリセット端に供給され、FF2
5をセットしリセットする。即ちFF25は、被選別物
が観察点Sに入り、光照射装置1からの光を遮り、増幅
器11.12の出力が低下し始めると、比較器23の出
力が1”となってセットされ、被選別物が観察点Sを通
過することにより、増幅器11,12の出力が上昇を始
めると比較器24の出力が“1”となってリセットされ
る。
F)25のセット端及びリセット端に供給され、FF2
5をセットしリセットする。即ちFF25は、被選別物
が観察点Sに入り、光照射装置1からの光を遮り、増幅
器11.12の出力が低下し始めると、比較器23の出
力が1”となってセットされ、被選別物が観察点Sを通
過することにより、増幅器11,12の出力が上昇を始
めると比較器24の出力が“1”となってリセットされ
る。
このFF25からの信号はアンドゲート19に供給され
、オアゲート1Bから供給される良否判品が観察部R5
を通過したときに論理゛1 ”の信号が出力され、これ
が遅延回路26によって所定の時間遅らされてドライバ
27に供給される。
、オアゲート1Bから供給される良否判品が観察部R5
を通過したときに論理゛1 ”の信号が出力され、これ
が遅延回路26によって所定の時間遅らされてドライバ
27に供給される。
ドライバ27は遅延回路26から不良信号を受けるとイ
ジェクタ28を駆動して通過する被選別物を排除する。
ジェクタ28を駆動して通過する被選別物を排除する。
以上の構成を有する選別装置の構成について説明する。
第4図のσ、β、γ、δは各々、観察部Sに被選別物を
存在しないとき、観察部Sに良品が存在するとき、観察
部Sに不良品が存在するとき、観察部Sに異種の選別物
、例えば石等が存在するときを示しており、第5図には
a、β、γのE(λ1)−E(λ2)座標上での位置が
示されている。
存在しないとき、観察部Sに良品が存在するとき、観察
部Sに不良品が存在するとき、観察部Sに異種の選別物
、例えば石等が存在するときを示しており、第5図には
a、β、γのE(λ1)−E(λ2)座標上での位置が
示されている。
まずナツツAが観察位置Sにないとき、光照射装置1か
らの光は積分球7によって直接集光され、その内の2種
類の異なる特定波長(λ0、λ2)の光が光電変換器9
.10によって検出され、各々増幅器11.12によっ
て増幅される。これら増幅信号は変化のない平旦な信号
であり(第4図11■の0部分参照)、従って微分回路
22の出力はゼロに維持され、比較器23.24の出力
は共に“O″となり、FF25は作動しない。この結果
アンドゲート19の出力はO″となり、イジェクタ28
は作動しない。
らの光は積分球7によって直接集光され、その内の2種
類の異なる特定波長(λ0、λ2)の光が光電変換器9
.10によって検出され、各々増幅器11.12によっ
て増幅される。これら増幅信号は変化のない平旦な信号
であり(第4図11■の0部分参照)、従って微分回路
22の出力はゼロに維持され、比較器23.24の出力
は共に“O″となり、FF25は作動しない。この結果
アンドゲート19の出力はO″となり、イジェクタ28
は作動しない。
次に良品が観察位置Sを通過したときについて説明する
。光照射装置1から照射される光の径はナツツAよりも
小さいので、ナツツが観察位置Sに位置するときには、
ナツツは照射される光の全てを遮り、これによって光照
射装置1から積分球7に直接光が達することはない。
。光照射装置1から照射される光の径はナツツAよりも
小さいので、ナツツが観察位置Sに位置するときには、
ナツツは照射される光の全てを遮り、これによって光照
射装置1から積分球7に直接光が達することはない。
ナツツAに照射された光はナツツの内部を拡散しながら
透過して積分球7に達する。この透過光の内上述の特定
光が光電変換器9.10によって検出され、増幅器11
.12によって増幅される。
透過して積分球7に達する。この透過光の内上述の特定
光が光電変換器9.10によって検出され、増幅器11
.12によって増幅される。
この信号(E(λI)、E(λ2))は加算器21に供
給され、加算されて(第4図℃参照)微分回路22に供
給される。微分回路22で加算器21の出力が微分され
(第4図℃参照)、比較器23.24に供給される。こ
の結果微分回路22の出力が立ち下がったときに比較器
23によってFF25がセットされ、次いで微分回路2
2の出力が立ち上がったときに比較器24によってFF
25がリセットさる(第4図■、■、X参照)。これに
よってFF25からアンドゲート19に被選別物が観察
部Sを通過したことを知らせる信号が供給される。
給され、加算されて(第4図℃参照)微分回路22に供
給される。微分回路22で加算器21の出力が微分され
(第4図℃参照)、比較器23.24に供給される。こ
の結果微分回路22の出力が立ち下がったときに比較器
23によってFF25がセットされ、次いで微分回路2
2の出力が立ち上がったときに比較器24によってFF
25がリセットさる(第4図■、■、X参照)。これに
よってFF25からアンドゲート19に被選別物が観察
部Sを通過したことを知らせる信号が供給される。
一方増幅器11.12からの信号(E(λ□)、E(λ
2))のレベルは、観察位置Sにナツツがないときに比
べて低くなる(第4図のI、IIのβ参照)。この場合
、積分球7に達する僅かな透過光によって信号の底レベ
ルは比較器17.20の基準電圧よりも高く、比較器1
7.20の出力は“0″となる。また通過するナツツA
は良品なのでkE(λ1)E(λりくOとなり、比較器
19の出力も″“0″となり(第4図のX参照)、従っ
てオアゲート18及びアンドゲート19からは“0″の
論理信号が出力される。この結果良品が観察位置Sを通
過するときはイジェクタ28は作動せず、通過するナツ
ツAを排除しない。
2))のレベルは、観察位置Sにナツツがないときに比
べて低くなる(第4図のI、IIのβ参照)。この場合
、積分球7に達する僅かな透過光によって信号の底レベ
ルは比較器17.20の基準電圧よりも高く、比較器1
7.20の出力は“0″となる。また通過するナツツA
は良品なのでkE(λ1)E(λりくOとなり、比較器
19の出力も″“0″となり(第4図のX参照)、従っ
てオアゲート18及びアンドゲート19からは“0″の
論理信号が出力される。この結果良品が観察位置Sを通
過するときはイジェクタ28は作動せず、通過するナツ
ツAを排除しない。
次に不良品が観察位置Sを通過したときについて説明す
る(第4図γ)。不良品が観察位置Sを通過したとき、
比較器17.20の出力は”o”であるが、 kE(λ1)E(λ2)〉0となり、比較器19の出力
が゛1”となる(第4図X参照)。この信号がアンドゲ
ート19に供給される。
る(第4図γ)。不良品が観察位置Sを通過したとき、
比較器17.20の出力は”o”であるが、 kE(λ1)E(λ2)〉0となり、比較器19の出力
が゛1”となる(第4図X参照)。この信号がアンドゲ
ート19に供給される。
一方上述したようにFF25からは被選別物の通過信号
がアンドゲート19に供給され、この結果アンドゲート
19から排除信号が遅延回路26に出力され(第4図℃
参照)、所定の時間遅れてドライバ27が起動されてイ
ジェクタ28が駆動される。この結果不良なナツツが排
除される。
がアンドゲート19に供給され、この結果アンドゲート
19から排除信号が遅延回路26に出力され(第4図℃
参照)、所定の時間遅れてドライバ27が起動されてイ
ジェクタ28が駆動される。この結果不良なナツツが排
除される。
また石等の異物が観察物Sを通過した場合には(第4図
δ)、光が全く透過しないため、増幅器11.12のレ
ベルが比較器17.20の基準電圧以下になる(第4図
℃参照)。この結果比較器17.20から論理″1′°
の信号が出力され(第4図℃参照)、オアゲート18を
介してアンドゲート19に供給される。こうしてFF2
5からは被選別物の通過信号がアンドゲート19に供給
されることにより、アンドゲート19から論理パ1”の
信号が出力され(第4図℃参照)、この結果イジェクタ
28によって異物が排除される。
δ)、光が全く透過しないため、増幅器11.12のレ
ベルが比較器17.20の基準電圧以下になる(第4図
℃参照)。この結果比較器17.20から論理″1′°
の信号が出力され(第4図℃参照)、オアゲート18を
介してアンドゲート19に供給される。こうしてFF2
5からは被選別物の通過信号がアンドゲート19に供給
されることにより、アンドゲート19から論理パ1”の
信号が出力され(第4図℃参照)、この結果イジェクタ
28によって異物が排除される。
次に第6図(a)及び(b)は光照射装置の他の実施例
を示すブロック図である。第6(a)図では、それぞれ
上述した特定波長(λいλ2)の光を発生するレーザ発
生装置30.31からの光がレンズ32.33を介して
絞られて光ビームとなり、ダイクロイイックミラー34
に供給されて合成され、被選別物Aに照射される。
を示すブロック図である。第6(a)図では、それぞれ
上述した特定波長(λいλ2)の光を発生するレーザ発
生装置30.31からの光がレンズ32.33を介して
絞られて光ビームとなり、ダイクロイイックミラー34
に供給されて合成され、被選別物Aに照射される。
第6(b)図では、第3図に示す光照射装置に更にレン
ズ40が設けられ、照射される光を更に絞って被選別物
に照射する。
ズ40が設けられ、照射される光を更に絞って被選別物
に照射する。
第7は被選別物を透過した光の収集装置の他の実施例を
示している。被選別物Aを透過した光はレンズ50.5
1.52によって集光されてダイクロイックミラー53
に供給され、2条に分離されて光電変換器9、lOに供
給される。
示している。被選別物Aを透過した光はレンズ50.5
1.52によって集光されてダイクロイックミラー53
に供給され、2条に分離されて光電変換器9、lOに供
給される。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、被選別物の良否を
決定し、不良な被選別物を除去する透過光を利用した選
別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
ビームを照射する光照射装置と、前記被選ヌjl物を透
過し拡散した光を集光する集光装置と、集光された透過
光の内、波長の異なる2種の特定光を夫々検出する2つ
の光検出手段と、同光検出手段によって検出された波長
の異なる2種の特定光の強度の比率をとり、その比率が
所定値より上か下かによって前記被選別物の良否を判断
する判断手段とを具備したので、内部が変質しているに
もかかわらず表面が変色していない被選別物をも選別す
ることができる。
決定し、不良な被選別物を除去する透過光を利用した選
別装置において、 前記被選別物に対して、同被選別物よりも小さい径の光
ビームを照射する光照射装置と、前記被選ヌjl物を透
過し拡散した光を集光する集光装置と、集光された透過
光の内、波長の異なる2種の特定光を夫々検出する2つ
の光検出手段と、同光検出手段によって検出された波長
の異なる2種の特定光の強度の比率をとり、その比率が
所定値より上か下かによって前記被選別物の良否を判断
する判断手段とを具備したので、内部が変質しているに
もかかわらず表面が変色していない被選別物をも選別す
ることができる。
また本発明では、前記光検出手段によって検出された前
記特定光の強度が所定値以下に低下したことを検出して
異種の被選別物を判別をする判別手段を設けたので、石
等の光を全く透過しない異物が混在しているときでもそ
れを排除することをできる。
記特定光の強度が所定値以下に低下したことを検出して
異種の被選別物を判別をする判別手段を設けたので、石
等の光を全く透過しない異物が混在しているときでもそ
れを排除することをできる。
第1図及び第2図は各々良品と不良品の光の透過率、及
びその差を示したグラフ、第3図は本発明にかかる選別
装置の構成を示すブロック図、第4図は同選別装置の動
作を説明するだめのタイミングチャート、第5図は特定
波長の光の強度を関数として選別区分を示したグラフ、
第6図(a)、(b)は各々本発明にかかる光照射装置
の他の実施例を示すブロック図、第7図は本発明に係る
集光装置の他の実施例を示すブロック図である。 1:光照射装置、7:積分球(集光装置)、9.10:
光電変換器(光検出器)、15:可変利得増幅器、 16、 ■ 16:加算器、19:比較器(以上15.9が判断手段
)
びその差を示したグラフ、第3図は本発明にかかる選別
装置の構成を示すブロック図、第4図は同選別装置の動
作を説明するだめのタイミングチャート、第5図は特定
波長の光の強度を関数として選別区分を示したグラフ、
第6図(a)、(b)は各々本発明にかかる光照射装置
の他の実施例を示すブロック図、第7図は本発明に係る
集光装置の他の実施例を示すブロック図である。 1:光照射装置、7:積分球(集光装置)、9.10:
光電変換器(光検出器)、15:可変利得増幅器、 16、 ■ 16:加算器、19:比較器(以上15.9が判断手段
)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被選別物の良否を決定し、不良な被選別物を除去す
る透過光を利用した選別装置において、前記被選別物に
対して、同被選別物よりも小さい径の光ビームを照射す
る光照射装置と、前記被選別物を透過し拡散した光を集
光する集光装置と、集光された透過光の内、波長の異な
る2種の特定光を夫々検出する2つの光検出手段と、同
光検出手段によって検出された波長の異なる2種の特定
光の強度の比率をとり、その比率が所定値より上か下か
によって前記被選別物の良否を判断する判断手段とを具
備してなることを特徴とする透過光を利用した選別装置
。 2、前記光検出手段によって検出された前記特定光の強
度が所定値以下に低下したことを検出して異種の被選別
物を判別をする判別手段を有することを特徴とする請求
項第1項記載の選別装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1258240A JPH0634974B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 透過光を利用した選別装置 |
GB9014816A GB2236848B (en) | 1989-10-03 | 1990-07-04 | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
DE19904023979 DE4023979A1 (de) | 1989-10-03 | 1990-07-25 | Sortiervorrichtung unter verwendung von transmittierter strahlung |
US07/873,875 US5190163A (en) | 1989-10-03 | 1992-04-22 | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
SG146194A SG146194G (en) | 1989-10-03 | 1994-10-10 | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
HK127194A HK127194A (en) | 1989-10-03 | 1994-11-17 | Sorting apparatus utilizing transmitted light |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1258240A JPH0634974B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 透過光を利用した選別装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03118886A true JPH03118886A (ja) | 1991-05-21 |
JPH0634974B2 JPH0634974B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=17317476
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1258240A Expired - Lifetime JPH0634974B2 (ja) | 1989-10-03 | 1989-10-03 | 透過光を利用した選別装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0634974B2 (ja) |
DE (1) | DE4023979A1 (ja) |
GB (1) | GB2236848B (ja) |
HK (1) | HK127194A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0796253A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-04-11 | Satake Eng Co Ltd | 豆類色彩選別機 |
JP2008064681A (ja) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Iwate Univ | 受粉蕾の検出方法及び装置 |
JP2012513302A (ja) * | 2008-12-23 | 2012-06-14 | ビューラー ソーテックス リミテッド | 分類方法及び装置 |
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US5835200A (en) * | 1990-04-24 | 1998-11-10 | Gersan Establishment | Method and apparatus for examining an object |
GB2274165B (en) * | 1990-04-24 | 1994-10-26 | Gersan Ets | Method and apparatus for examining a diamond |
GB9009132D0 (en) * | 1990-04-24 | 1990-06-20 | Gersan Ets | Method and apparatus for examining an object |
JP3303283B2 (ja) | 1994-07-27 | 2002-07-15 | 株式会社サタケ | 豆類色彩選別機 |
DE29511344U1 (de) * | 1995-07-13 | 1996-11-14 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung zur Messung von optischen Kenngrößen transparenter Materialien |
BE1018793A3 (nl) * | 2009-06-17 | 2011-09-06 | Best 2 N V | Werkwijze voor het onderscheiden en sorteren van producten waarbij de concentratie van een bestanddeel van deze producten wordt bepaald. |
CN111229649B (zh) * | 2020-01-20 | 2023-09-01 | 湖北民族大学 | 一种物品分级方法及自动分级系统 |
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JPS592546A (ja) * | 1982-06-25 | 1984-01-09 | Matsushita Electric Works Ltd | コイルの製造方法 |
Family Cites Families (7)
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DE2533873C3 (de) * | 1975-07-29 | 1979-01-25 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Vorrichtung zum Erkennen von Flaschenfarben |
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US4919534A (en) * | 1988-09-30 | 1990-04-24 | Environmental Products Corp. | Sensing of material of construction and color of containers |
-
1989
- 1989-10-03 JP JP1258240A patent/JPH0634974B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-07-04 GB GB9014816A patent/GB2236848B/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-07-25 DE DE19904023979 patent/DE4023979A1/de not_active Ceased
-
1994
- 1994-11-17 HK HK127194A patent/HK127194A/xx not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
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Cited By (4)
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JP2012513302A (ja) * | 2008-12-23 | 2012-06-14 | ビューラー ソーテックス リミテッド | 分類方法及び装置 |
JP2016014673A (ja) * | 2008-12-23 | 2016-01-28 | ビューラー ソーテックス リミテッドBuhler Sortex Ltd | 分類方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB9014816D0 (en) | 1990-08-22 |
GB2236848A (en) | 1991-04-17 |
JPH0634974B2 (ja) | 1994-05-11 |
HK127194A (en) | 1994-11-25 |
GB2236848B (en) | 1994-05-11 |
DE4023979A1 (de) | 1991-04-18 |
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