JPS6058813B2 - 米粒の不良検出方法 - Google Patents
米粒の不良検出方法Info
- Publication number
- JPS6058813B2 JPS6058813B2 JP52145550A JP14555077A JPS6058813B2 JP S6058813 B2 JPS6058813 B2 JP S6058813B2 JP 52145550 A JP52145550 A JP 52145550A JP 14555077 A JP14555077 A JP 14555077A JP S6058813 B2 JPS6058813 B2 JP S6058813B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rice
- light
- signal
- reflected light
- red light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/342—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
- B07C5/3425—Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour of granular material, e.g. ore particles, grain
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、米粒の不良米の検出、とくに不良米のうち
、焼米とシラタ米とを検出して選別する方法に関するも
のである。
、焼米とシラタ米とを検出して選別する方法に関するも
のである。
従来、この種米粒の不良検出方法として、たとえば、第
５図に示すように、シュート４上を移動してくる米粒１
の両側にそれぞれ１対の投光器５Ｏａ、５０ｂと光電素
子５１ａ、５１ｂを備え、米粒１の表面で反射した光の
色調を検出して演算部５２に入力し、演算部５２からの
信号で、作動−する不良米選別機５３によつて、正常米
ｌｃと着色米ｌｆに選別することが知られている。
５図に示すように、シュート４上を移動してくる米粒１
の両側にそれぞれ１対の投光器５Ｏａ、５０ｂと光電素
子５１ａ、５１ｂを備え、米粒１の表面で反射した光の
色調を検出して演算部５２に入力し、演算部５２からの
信号で、作動−する不良米選別機５３によつて、正常米
ｌｃと着色米ｌｆに選別することが知られている。
ところが、この方法では、米粒の色調のみを検出するた
め不良米の原因究明に必要な焼米とシラタ米の区別がで
きないことや、米粒の表面のみを検出するため米粒の内
部が着色した不良米に対しては誤つて正常米として選別
される欠点があつた。
め不良米の原因究明に必要な焼米とシラタ米の区別がで
きないことや、米粒の表面のみを検出するため米粒の内
部が着色した不良米に対しては誤つて正常米として選別
される欠点があつた。
この発明は、不良米のうち、焼米は赤褐色に変色し、シ
ラタ米は表面の反射率が大きくなることに着目してなさ
れたもので、米粒に照射して得ら’れる反射光と透過光
の放射エネルギーの比を算出することによりシラタ米を
検出し、上記反射光と透過光のそれぞれについて、赤色
光成分を含む光と含まない光の放射エネルギーの比を算
出することにより焼米を検出し、もつて良米、焼米およ
びシラタ米に選別でき、しかも、米粒の内部が変色した
場合でも不良米として選別することのできる米粒の不良
検出方法を提供することを目的とするものてある。
ラタ米は表面の反射率が大きくなることに着目してなさ
れたもので、米粒に照射して得ら’れる反射光と透過光
の放射エネルギーの比を算出することによりシラタ米を
検出し、上記反射光と透過光のそれぞれについて、赤色
光成分を含む光と含まない光の放射エネルギーの比を算
出することにより焼米を検出し、もつて良米、焼米およ
びシラタ米に選別でき、しかも、米粒の内部が変色した
場合でも不良米として選別することのできる米粒の不良
検出方法を提供することを目的とするものてある。
以下、この発明の実施例を図面にもとづいて説明する。
第１図は、この発明の構成を示す概略側面図て、１は米
粒、２は貯蔵室、３は貯蔵室２内の米粒１を分離して送
るバイブレーションフィーダ、４はシュート、５はジェ
ット空気流を利用したシラタ米選別機、６は同じく焼米
選別機、７はシラタ米貯蔵室、８は焼米貯蔵室、９は正
常米貯蔵室、１０は米粒１に対し白色光を照射する投光
器、１１は第１の反射光光電素子、１２は第２の反射光
光電素子、１３は第１の透過光光電素子、１４は第２の
透過光光電素子、１５は演算部である。つぎに、第２図
の概略平面図にもとづいて、この発明の光学系を説明す
る。
粒、２は貯蔵室、３は貯蔵室２内の米粒１を分離して送
るバイブレーションフィーダ、４はシュート、５はジェ
ット空気流を利用したシラタ米選別機、６は同じく焼米
選別機、７はシラタ米貯蔵室、８は焼米貯蔵室、９は正
常米貯蔵室、１０は米粒１に対し白色光を照射する投光
器、１１は第１の反射光光電素子、１２は第２の反射光
光電素子、１３は第１の透過光光電素子、１４は第２の
透過光光電素子、１５は演算部である。つぎに、第２図
の概略平面図にもとづいて、この発明の光学系を説明す
る。
上記シュート４上の一定径路を分離状態で移動する米粒
１に対して、投光器１０の白色光ａを入射光レンズ１６
で平行な入射光１にして照射する。
１に対して、投光器１０の白色光ａを入射光レンズ１６
で平行な入射光１にして照射する。
米粒１に照射された入射光１は米粒表面１ａて反射する
反射光ｒと米粒内面１ｂを屈折しなから透過する透過光
ｔとに分けられる。上記反射光１は集光レンズ１７ａで
集光されたのち、半透明鏡（ハーフミラー）１８ａで分
光され、一方の反射光は赤色光成分を含む反射光ＲＲと
して上記第１の反射光光電素子１１に入光され、他方の
反射光は赤色吸収フィルター１９ａを通過させることに
よつて赤色光成分を含まない反射光ｒ−Ｒとして上記第
２の反射光光電素子１２に入光される。上記透過光ｔに
ついても、反射光ｒの場合と同様に、集光レンズ１７ｂ
１半透明鏡１８ｂ１赤色吸収フィルター１９ｂを介する
ことによつて、赤色光成分を含む透過光ＴＲは上記第１
の透過光光電素子１３に、赤色光成分を含まない透過光
ｔ−１は上記第２の透過光光電素子１４にそれぞれ入光
される。
反射光ｒと米粒内面１ｂを屈折しなから透過する透過光
ｔとに分けられる。上記反射光１は集光レンズ１７ａで
集光されたのち、半透明鏡（ハーフミラー）１８ａで分
光され、一方の反射光は赤色光成分を含む反射光ＲＲと
して上記第１の反射光光電素子１１に入光され、他方の
反射光は赤色吸収フィルター１９ａを通過させることに
よつて赤色光成分を含まない反射光ｒ−Ｒとして上記第
２の反射光光電素子１２に入光される。上記透過光ｔに
ついても、反射光ｒの場合と同様に、集光レンズ１７ｂ
１半透明鏡１８ｂ１赤色吸収フィルター１９ｂを介する
ことによつて、赤色光成分を含む透過光ＴＲは上記第１
の透過光光電素子１３に、赤色光成分を含まない透過光
ｔ−１は上記第２の透過光光電素子１４にそれぞれ入光
される。
なお、上記光学系はほぼ同一平面に配置されるのが望ま
しく、また入射光１と反射光ｒが米粒１の接線に対して
ほぼ３００になるように投光器１０や半透明鏡１８ａ，
１８ｂ等を配置するのが効率がよい。
しく、また入射光１と反射光ｒが米粒１の接線に対して
ほぼ３００になるように投光器１０や半透明鏡１８ａ，
１８ｂ等を配置するのが効率がよい。
第３図は米粒の性質を示すもので、ａのように正常米１
Ｃは全体が半透明で、反射光ｒと透過光ｔの放射エネル
ギーがほぼ等しく、ｂのようにシ．ラタ米１ｄは全体が
乳白色に濁つており、反射光ｒの放射エネルギーが透過
光よりも大きく、ｃのように焼米１ｅは全体的にあるい
は部分的に赤褐色に変色しており反射光ｒ１透過光ｔの
うち少くとも一方は赤色光成分αを多く含んている。
Ｃは全体が半透明で、反射光ｒと透過光ｔの放射エネル
ギーがほぼ等しく、ｂのようにシ．ラタ米１ｄは全体が
乳白色に濁つており、反射光ｒの放射エネルギーが透過
光よりも大きく、ｃのように焼米１ｅは全体的にあるい
は部分的に赤褐色に変色しており反射光ｒ１透過光ｔの
うち少くとも一方は赤色光成分αを多く含んている。
さらに、第４図のブロック図にもとづいて、不良米の検
出方法を説明する。前述の光学系によつて、各光電素子
１１，１２，１３，１４に入光した各光ＲＲ，ｒ−Ｒ，
ｔＲ，ｔ−、は、赤色光成分を含む反射光信号ＲＲｌ赤
色光成分を含まない反射光信号Ｒ−Ｒ、赤色光成分を含
む透過光信号ＴＲｌ赤色光成分を含まない透過光信号Ｔ
−Ｒの電気信号にそれぞれ変換される。
出方法を説明する。前述の光学系によつて、各光電素子
１１，１２，１３，１４に入光した各光ＲＲ，ｒ−Ｒ，
ｔＲ，ｔ−、は、赤色光成分を含む反射光信号ＲＲｌ赤
色光成分を含まない反射光信号Ｒ−Ｒ、赤色光成分を含
む透過光信号ＴＲｌ赤色光成分を含まない透過光信号Ｔ
−Ｒの電気信号にそれぞれ変換される。
まず、不良米のうちのシラタ米の検出方法を説明する。
上記赤色光成分を含む反射光信号ＲＲと赤色光信号を含
む透過光信号ＴＲは第１の比較器２０に入力され、ここ
で両信号ＲＲ，ＴＲの比ＲＲ／ＴＲを易算出してその結
果を第１の信号Ａとして出力し、第１の設定器２１から
の第１の基準信号Ｂとともに第１の減算器２２に入力さ
れ、ここで減算Ａ一Ｂが算出されて、その算出結果が（
Ａ−Ｂ）〉０の場合にシラタ米指令信号Ｃが出力される
。
上記赤色光成分を含む反射光信号ＲＲと赤色光信号を含
む透過光信号ＴＲは第１の比較器２０に入力され、ここ
で両信号ＲＲ，ＴＲの比ＲＲ／ＴＲを易算出してその結
果を第１の信号Ａとして出力し、第１の設定器２１から
の第１の基準信号Ｂとともに第１の減算器２２に入力さ
れ、ここで減算Ａ一Ｂが算出されて、その算出結果が（
Ａ−Ｂ）〉０の場合にシラタ米指令信号Ｃが出力される
。
シラタ米は第３図ｂのように、反射光ｒが透過光ｔより
もその放射エネルギーが大きいので、上記比ＲＲ／ＴＲ
ｌすなわち第１の信号Ａは１よりも大きい。したがつて
、基準信号Ｂが１となるように設定器２１を調整してお
けば、（Ａ−Ｂ）〉０となり、第１の減算器２２からシ
ラタ米選別信号Ｃが出力され、シラタ米選別機５が作動
し、第１図に示すように、シラタ米１ｄはシラタ米貯蔵
室７に選別される。なお、上記の例は、シラタ米として
の選別基準を、反射光ｒが透過光ｔよりも少しでも上回
つた場合としているが、もう少しシビアに、たとえば、
反射光ｒが透過光ｔよりも１．５倍以上になつた米粒を
シラタ米として選別しようとする場合には、第１の基準
信号Ｂの値が１．５となるように設定器２１を調整すれ
ばよい。
もその放射エネルギーが大きいので、上記比ＲＲ／ＴＲ
ｌすなわち第１の信号Ａは１よりも大きい。したがつて
、基準信号Ｂが１となるように設定器２１を調整してお
けば、（Ａ−Ｂ）〉０となり、第１の減算器２２からシ
ラタ米選別信号Ｃが出力され、シラタ米選別機５が作動
し、第１図に示すように、シラタ米１ｄはシラタ米貯蔵
室７に選別される。なお、上記の例は、シラタ米として
の選別基準を、反射光ｒが透過光ｔよりも少しでも上回
つた場合としているが、もう少しシビアに、たとえば、
反射光ｒが透過光ｔよりも１．５倍以上になつた米粒を
シラタ米として選別しようとする場合には、第１の基準
信号Ｂの値が１．５となるように設定器２１を調整すれ
ばよい。
つぎに、不良米のうちの焼米の検出方法を説明する。
上記赤色光成分を含む反射光信号ＲＲと赤色光成分を含
まない反射光信号Ｒ−１は第２の比較器２３に入力され
、ここで両信号ＲＲ，Ｒ−Ｒの比ＲＲ／Ｒ−、を算出し
てその結果を第２の信号Ｄとして出力し、第２の設定器
２４からの第２の基準信号Ｅとともに第２の減算器２５
に入力され、ここで減算Ｄ上が算出されて、この反射光
比算出結果が（Ｄ上）〉０の場合に第１の指令信号Ｆが
出力される。
まない反射光信号Ｒ−１は第２の比較器２３に入力され
、ここで両信号ＲＲ，Ｒ−Ｒの比ＲＲ／Ｒ−、を算出し
てその結果を第２の信号Ｄとして出力し、第２の設定器
２４からの第２の基準信号Ｅとともに第２の減算器２５
に入力され、ここで減算Ｄ上が算出されて、この反射光
比算出結果が（Ｄ上）〉０の場合に第１の指令信号Ｆが
出力される。
透過光についてもこれと同様に、赤色光成分を含む透過
光信号ＴＲと赤色光成分を含まない透過光信号Ｔ−Ｒは
、第３の比較器２６に入力され、ここで両信号ＴＲ，Ｔ
−Ｒの比ＴＲ／Ｔ−Ｒを算出してその結果を第３の信号
Ｇとして出力し、第３の設定器２７からの第３の基準信
号Ｈとともに第３の減算器２８に入力され、ここで減算
Ｇ−Ｈが算出されて、この透過光比算出結果が（Ｇ−Ｈ
）〉０の場合に第２の指令信号Ｊが出力される。
光信号ＴＲと赤色光成分を含まない透過光信号Ｔ−Ｒは
、第３の比較器２６に入力され、ここで両信号ＴＲ，Ｔ
−Ｒの比ＴＲ／Ｔ−Ｒを算出してその結果を第３の信号
Ｇとして出力し、第３の設定器２７からの第３の基準信
号Ｈとともに第３の減算器２８に入力され、ここで減算
Ｇ−Ｈが算出されて、この透過光比算出結果が（Ｇ−Ｈ
）〉０の場合に第２の指令信号Ｊが出力される。
２９はオアゲートで、上記第１の指令信号Ｆまたは第２
の指令信号Ｊのうちの少くとも一方に出力があるときに
、焼米選別信号Ｋを出力するものである。
の指令信号Ｊのうちの少くとも一方に出力があるときに
、焼米選別信号Ｋを出力するものである。
焼米は、第３図ｃのように、反射光ｒ１透過光ｔのうち
少くとも一方は赤色光成分を多く含んでおり、上記比Ｒ
Ｒ／Ｒ−Ｒ，ＴＲ／Ｔ−Ｒすなわち第２の信号Ｄ１第３
の信号Ｇのうち少くとも一方は１よりも大きい。
少くとも一方は赤色光成分を多く含んでおり、上記比Ｒ
Ｒ／Ｒ−Ｒ，ＴＲ／Ｔ−Ｒすなわち第２の信号Ｄ１第３
の信号Ｇのうち少くとも一方は１よりも大きい。
したがつて、基準信号ＥおよびＨが１となるように設定
器２４および２７を調整しておけば、（Ｄ上），（Ｇ−
Ｈ）のうち少くとも一方がＯより大となり、第１の指令
信号Ｆまたは第２の指令信号Ｊのどちらかに出力が生じ
、オアケート２９から焼米選別信号Ｋが出力され、焼米
選別機６が作動し、第１図に示すように、焼米１ｅは焼
米貯蔵室８に選別される。焼米の場合も、その選別基準
を第２の設定器２牡第３の設定器２７を調整することに
より任意に定めることができ、また、第３の設定器２７
を省略して、第２の設定器２４からの基準信号Ｅを第３
の減算器２８の一方の入力としてもよい。
器２４および２７を調整しておけば、（Ｄ上），（Ｇ−
Ｈ）のうち少くとも一方がＯより大となり、第１の指令
信号Ｆまたは第２の指令信号Ｊのどちらかに出力が生じ
、オアケート２９から焼米選別信号Ｋが出力され、焼米
選別機６が作動し、第１図に示すように、焼米１ｅは焼
米貯蔵室８に選別される。焼米の場合も、その選別基準
を第２の設定器２牡第３の設定器２７を調整することに
より任意に定めることができ、また、第３の設定器２７
を省略して、第２の設定器２４からの基準信号Ｅを第３
の減算器２８の一方の入力としてもよい。
良米１Ｃに対しては、第１図に示すように、シラタ米選
別機５、焼米選別機６共に作動することはなく、シュー
ト４直下に位置した正常米貯蔵室９に落下して貯蔵され
る。なお、上記各光電素子１１，１２，１３，１４はホ
トダイオードやホトトランジスタなどからなり、演算部
１５内の各比較器２０，２３，２６、設定器２１，２４
，２７、減算器２２，２５，２８は演算増幅器などで構
成した周知の回路を使用するものである。
別機５、焼米選別機６共に作動することはなく、シュー
ト４直下に位置した正常米貯蔵室９に落下して貯蔵され
る。なお、上記各光電素子１１，１２，１３，１４はホ
トダイオードやホトトランジスタなどからなり、演算部
１５内の各比較器２０，２３，２６、設定器２１，２４
，２７、減算器２２，２５，２８は演算増幅器などで構
成した周知の回路を使用するものである。
以上詳述したように、この発明に係る米粒の不良検出方
法は、米粒に照射して得られる反射光と透過光を光電素
子によつてそれぞれ電気信号に変換し、両電気信号の比
を比較器で算出するようにしたので、表面の反射率が大
きいシラタ米を不良米の中から区別でき、上記反射光を
透過光のぞれぞれについて、赤色光成分を含む光と赤色
光成分を含まない光とに分光したのち、光電素子によつ
て電気信号に変換し、赤色光成分を含む反射光信号と赤
色光成分を含まない反射光信号の比を比較器て算出した
反射光比算出結果と赤色光成分を含む透過光信号と赤色
光成分を含まない透過光信号の比を比較器で算出した透
過光比算出結果のうち、少くとも一方の算出結果によつ
て焼米を検出するようにしたので、不良米の中から焼米
を区別でき、かつ、米粒のどちらの表面に焼けがある場
合でも、また表面は正常で内部にのみ焼けがある場合で
も焼米を検出できる。
法は、米粒に照射して得られる反射光と透過光を光電素
子によつてそれぞれ電気信号に変換し、両電気信号の比
を比較器で算出するようにしたので、表面の反射率が大
きいシラタ米を不良米の中から区別でき、上記反射光を
透過光のぞれぞれについて、赤色光成分を含む光と赤色
光成分を含まない光とに分光したのち、光電素子によつ
て電気信号に変換し、赤色光成分を含む反射光信号と赤
色光成分を含まない反射光信号の比を比較器て算出した
反射光比算出結果と赤色光成分を含む透過光信号と赤色
光成分を含まない透過光信号の比を比較器で算出した透
過光比算出結果のうち、少くとも一方の算出結果によつ
て焼米を検出するようにしたので、不良米の中から焼米
を区別でき、かつ、米粒のどちらの表面に焼けがある場
合でも、また表面は正常で内部にのみ焼けがある場合で
も焼米を検出できる。
さらに、これらの検出は、光の大小、すなわち信号の大
小の比を算出ノするのて、単に色彩の有無を検知する方
法にくらべ、正確に検出できる。図面の簡単な説明第１
図はこの発明に係る米粒の不良検出方法を示す概略側面
図、第２図は光学系を示す概略平面７図、第３図は米粒
の性質を示すもので、ａは正常米、ｂはシラタ米、ｃは
焼米、第４図は演算部のブロック図、第５図は従来の米
粒の不良検出方法を示す概略側面図である。
小の比を算出ノするのて、単に色彩の有無を検知する方
法にくらべ、正確に検出できる。図面の簡単な説明第１
図はこの発明に係る米粒の不良検出方法を示す概略側面
図、第２図は光学系を示す概略平面７図、第３図は米粒
の性質を示すもので、ａは正常米、ｂはシラタ米、ｃは
焼米、第４図は演算部のブロック図、第５図は従来の米
粒の不良検出方法を示す概略側面図である。
１・・・・・・米粒、５・・・・・・シラタ米選別機、
６・・・・・・焼米選別機、１０・・・・・・投光器、
１１，１２，１３，１４・・・・・光電素子、２０，２
３，２６・・・・・・比較器、２１，２４，２７・・・
・・設定器、２２，２５，２８・・・・・・減算器、ａ
・・・・・・白色光、ｉ・・・・・・入射光、ｒ・・・
・・・反射光、ｔ・・・・・・透過光、ＲＲ・・・・赤
色光成５分を含む反射光、ｒ−Ｒ・・・・・赤色光成分
を含まない反射光、ＴＲ・・・・・・赤色光成分を含む
透過光、ｔ−、・・・・赤色光成分を含まない透過光。
６・・・・・・焼米選別機、１０・・・・・・投光器、
１１，１２，１３，１４・・・・・光電素子、２０，２
３，２６・・・・・・比較器、２１，２４，２７・・・
・・設定器、２２，２５，２８・・・・・・減算器、ａ
・・・・・・白色光、ｉ・・・・・・入射光、ｒ・・・
・・・反射光、ｔ・・・・・・透過光、ＲＲ・・・・赤
色光成５分を含む反射光、ｒ−Ｒ・・・・・赤色光成分
を含まない反射光、ＴＲ・・・・・・赤色光成分を含む
透過光、ｔ−、・・・・赤色光成分を含まない透過光。
Claims (1)
- １ 一定経過を移動する米粒に白色光を照射して得られ
る反射光と透過光をそれぞれ光電素子によつて電気信号
に変換し、両電気信号の比を比較器で算出してシラタ米
を検出するとともに、上記反射光と透過光のそれぞれに
ついて、赤色光成分を含む光と赤色光成分を含まない光
とに分光したのち、光電素子によつて電気信号に変換し
、この赤色光成分を含む反射光信号と赤色光成分を含ま
ない反射光信号の比を比較器で算出した反射光比算出結
果と、赤色光成分を含む透過光信号と赤色光成分を含ま
ない透過光信号の比を比較器で算出した透過光比算出結
果のうち、少くとも一方の算出結果によつて焼米を検出
することを特徴とする米粒の不良検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52145550A JPS6058813B2 (ja) | 1977-12-02 | 1977-12-02 | 米粒の不良検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52145550A JPS6058813B2 (ja) | 1977-12-02 | 1977-12-02 | 米粒の不良検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5478190A JPS5478190A (en) | 1979-06-22 |
| JPS6058813B2 true JPS6058813B2 (ja) | 1985-12-21 |
Family
ID=15387761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52145550A Expired JPS6058813B2 (ja) | 1977-12-02 | 1977-12-02 | 米粒の不良検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6058813B2 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5626246A (en) * | 1979-08-09 | 1981-03-13 | Satake Eng Co Ltd | Automatic control device for color selector |
| JPS56125664A (en) * | 1980-03-07 | 1981-10-02 | Ketsuto Kagaku Kenkyusho:Kk | Grain quality discriminating device for unpolished rice |
| JPS576056U (ja) * | 1980-06-11 | 1982-01-12 | ||
| JPS57151804A (en) * | 1981-03-13 | 1982-09-20 | Satake Eng Co Ltd | Detecting device for cracked grain of rice |
| JPS57153249A (en) * | 1981-03-18 | 1982-09-21 | Ketsuto Kagaku Kenkyusho:Kk | Discriminating method for grain quality of unpolished rice |
| JPS57158557A (en) * | 1981-03-26 | 1982-09-30 | Ketsuto Kagaku Kenkyusho:Kk | Discrimination method for grain quality of polished rice |
| JPS58159882A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-22 | 株式会社東洋精米機製作所 | 粒状物の選別装置 |
| JPS58154435U (ja) * | 1982-04-08 | 1983-10-15 | 株式会社安西製作所 | 色彩選別機 |
| JPS5946180A (ja) * | 1982-09-07 | 1984-03-15 | 株式会社ケツト科学研究所 | 胴割米判別装置 |
| JPS60161782A (ja) * | 1983-10-24 | 1985-08-23 | 林 福治 | 粒子の光選別機構 |
| JPS61114786A (ja) * | 1984-11-08 | 1986-06-02 | 株式会社 サタケ | 色彩選別機の光電検出装置 |
| JPS62106878A (ja) * | 1985-11-03 | 1987-05-18 | 株式会社 サタケ | 色彩選別機の制御装置 |
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| JPH0811223B2 (ja) * | 1987-02-16 | 1996-02-07 | 株式会社佐竹製作所 | 色彩選別機の光電検出装置 |
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| JPS63315179A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-12-22 | 株式会社 サタケ | 色彩選別装置 |
| JPH05223705A (ja) * | 1992-02-10 | 1993-08-31 | Kubota Corp | 穀物仕分け設備 |
| CN106391509A (zh) * | 2016-11-16 | 2017-02-15 | 湄潭县宫廷香米业有限责任公司 | 一种大米色选机 |
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|---|---|---|---|---|
| JPS5332729U (ja) * | 1976-08-27 | 1978-03-22 |
-
1977
- 1977-12-02 JP JP52145550A patent/JPS6058813B2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5332729U (ja) * | 1976-08-27 | 1978-03-22 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5478190A (en) | 1979-06-22 |
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