JPH04335142A - プラスチック粒の定性分析方法及び装置 - Google Patents
プラスチック粒の定性分析方法及び装置Info
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- JPH04335142A JPH04335142A JP4038492A JP3849292A JPH04335142A JP H04335142 A JPH04335142 A JP H04335142A JP 4038492 A JP4038492 A JP 4038492A JP 3849292 A JP3849292 A JP 3849292A JP H04335142 A JPH04335142 A JP H04335142A
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- light
- particles
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- plastics
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/44—Resins; Plastics; Rubber; Leather
- G01N33/442—Resins; Plastics
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29B—PREPARATION OR PRETREATMENT OF THE MATERIAL TO BE SHAPED; MAKING GRANULES OR PREFORMS; RECOVERY OF PLASTICS OR OTHER CONSTITUENTS OF WASTE MATERIAL CONTAINING PLASTICS
- B29B17/00—Recovery of plastics or other constituents of waste material containing plastics
- B29B17/02—Separating plastics from other materials
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- B29B2017/0203—Separating plastics from plastics
-
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- Y02W—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO WASTEWATER TREATMENT OR WASTE MANAGEMENT
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- Y02W30/62—Plastics recycling; Rubber recycling
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、互いに組成の相違する
各種プラスチック類の粒子に対して汎用プラスチックの
相対的含有濃度についての放射スペクトル分析、好まし
くは蛍光又はラマンスペクトル分析による定性分析を行
うに当って、まず短波長光線、好ましくは紫外線の照射
により生成した比較的長波長光線の放射スペクトルの比
較的狭い波長範囲内における放射光線強度を検出し、次
いで分析対象プラスチック類について予め設定された離
散的波長又は波長範囲におけるスペクトル検出操作を行
って上記各種プラスチック類の粒子を同定するプラスチ
ック粒の定性分析方法及び装置に関する。
各種プラスチック類の粒子に対して汎用プラスチックの
相対的含有濃度についての放射スペクトル分析、好まし
くは蛍光又はラマンスペクトル分析による定性分析を行
うに当って、まず短波長光線、好ましくは紫外線の照射
により生成した比較的長波長光線の放射スペクトルの比
較的狭い波長範囲内における放射光線強度を検出し、次
いで分析対象プラスチック類について予め設定された離
散的波長又は波長範囲におけるスペクトル検出操作を行
って上記各種プラスチック類の粒子を同定するプラスチ
ック粒の定性分析方法及び装置に関する。
【0002】
【従来の技術】産業経済循環及び原料資源循環の観点か
ら見ると、使用済みプラスチック類の再生利用(リサイ
クリング)は、一次原材料の石油及びエネルギーの節約
並びに廃棄物の量的削減の目的に対して益々その意義を
増加しつつある。その理由は、原料だけではなく、廃棄
物置場もまた枯渇しつつあるからである。プラスチック
類はその種類が多い上に、厳密に定義された機械技術的
性質及び化学的性質において互いに相違するので、その
適用分野もまた互いに相違する。従って、使用済みプラ
スチックを混成物の形態で回収し再生利用するのは得策
ではない。何故ならば、そのような再生プラスチック類
は品質的に格下げした製品であるばかりではなく、幾度
もの繰り返し再生利用には到底耐えられず、また一部に
は互いに相性が悪いことも起こる。つまり原料資源再生
利用において各プラスチック類は種別に分別して回収し
再加工することが要請される。
ら見ると、使用済みプラスチック類の再生利用(リサイ
クリング)は、一次原材料の石油及びエネルギーの節約
並びに廃棄物の量的削減の目的に対して益々その意義を
増加しつつある。その理由は、原料だけではなく、廃棄
物置場もまた枯渇しつつあるからである。プラスチック
類はその種類が多い上に、厳密に定義された機械技術的
性質及び化学的性質において互いに相違するので、その
適用分野もまた互いに相違する。従って、使用済みプラ
スチックを混成物の形態で回収し再生利用するのは得策
ではない。何故ならば、そのような再生プラスチック類
は品質的に格下げした製品であるばかりではなく、幾度
もの繰り返し再生利用には到底耐えられず、また一部に
は互いに相性が悪いことも起こる。つまり原料資源再生
利用において各プラスチック類は種別に分別して回収し
再加工することが要請される。
【0003】しかしこの要請に応えるには、凡てのプラ
スチック製製品に一義的且つ容易に判読可能な標識を付
ける以外に方法がない。このような製品標識方法が義務
ずけられ実施されることになれば、金型メーカーはプラ
スチック製品製造用金型内に上記標識を組み入れる方法
を模索することになろう(参照:ホイエル:高種別純度
再生利用の前提条件としての一義的な製品標識、プラス
チック再生利用会議(Heuel, O.: Eind
eutige Productkennzeichnu
ng als Voraussetzung fuer
ein sortenreines Recycli
ng, Kunststoff−Recycling−
Tag)、ベルリン、1989年9月21〜22日)。 しかしこの制度の悪用が皆無であろうと云う保証はない
。今日利用されているプラスチック類の数は100種以
上にも達し、このことはプラスチック類の種別広域回収
を困難にし、また別途の回収施設が必要になると同時に
場合によっては消費者側の回収組織の設立も補足的に必
要となり、かなりの出費を伴う欠点がある。
スチック製製品に一義的且つ容易に判読可能な標識を付
ける以外に方法がない。このような製品標識方法が義務
ずけられ実施されることになれば、金型メーカーはプラ
スチック製品製造用金型内に上記標識を組み入れる方法
を模索することになろう(参照:ホイエル:高種別純度
再生利用の前提条件としての一義的な製品標識、プラス
チック再生利用会議(Heuel, O.: Eind
eutige Productkennzeichnu
ng als Voraussetzung fuer
ein sortenreines Recycli
ng, Kunststoff−Recycling−
Tag)、ベルリン、1989年9月21〜22日)。 しかしこの制度の悪用が皆無であろうと云う保証はない
。今日利用されているプラスチック類の数は100種以
上にも達し、このことはプラスチック類の種別広域回収
を困難にし、また別途の回収施設が必要になると同時に
場合によっては消費者側の回収組織の設立も補足的に必
要となり、かなりの出費を伴う欠点がある。
【0004】プラスチック類の同定に蛍光スペクトル分
析方法を利用することは知られており、この方法では、
分析対象物質に対して短波長光線を照射した際に上記分
析対象物質から放射される比較的長波長光線を適切な分
光器によって放射スペクトルに分解し、上記分析対象物
質の特性的放射強度を波長の関数として検出測定するか
又は電気信号に比例変換するかして解析する(アレン及
びマックケラー:化学と工業 (Allen, N.S
. and McKellar,J.F.: Che
m. and Ind.)、ロンドン、1978年、9
07〜913頁;会社刊行物:ウォータールー・サイエ
ンチフィック社、光ルミネッセンス応用ノート#1(W
aterloo Scientific Inc.,
Photoluminescence Applic
ation Note #1)、1989年)。しかし
放射スペクトル分析方法をプラスチック類の分析に応用
することは従来においては実質的にプラスチック類の学
術的研究の域を出なかったと云えよう。
析方法を利用することは知られており、この方法では、
分析対象物質に対して短波長光線を照射した際に上記分
析対象物質から放射される比較的長波長光線を適切な分
光器によって放射スペクトルに分解し、上記分析対象物
質の特性的放射強度を波長の関数として検出測定するか
又は電気信号に比例変換するかして解析する(アレン及
びマックケラー:化学と工業 (Allen, N.S
. and McKellar,J.F.: Che
m. and Ind.)、ロンドン、1978年、9
07〜913頁;会社刊行物:ウォータールー・サイエ
ンチフィック社、光ルミネッセンス応用ノート#1(W
aterloo Scientific Inc.,
Photoluminescence Applic
ation Note #1)、1989年)。しかし
放射スペクトル分析方法をプラスチック類の分析に応用
することは従来においては実質的にプラスチック類の学
術的研究の域を出なかったと云えよう。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】よって本発明の課題は
、大量に発生し且つ互いに組成の相違する各種プラスチ
ック類の粒子を高速且つ的確に同定して種類別に分別す
るに当って、個々の上記各種プラスチック類粒子の上記
同定用定性分析と上記種類別分別とに要する経費が上記
分別によりプラスチック類粒子1個当りに付与された価
値よりも歴然と低くなるように冒頭に述べた放射スペク
トル分析方法及び装置を改良することである。
、大量に発生し且つ互いに組成の相違する各種プラスチ
ック類の粒子を高速且つ的確に同定して種類別に分別す
るに当って、個々の上記各種プラスチック類粒子の上記
同定用定性分析と上記種類別分別とに要する経費が上記
分別によりプラスチック類粒子1個当りに付与された価
値よりも歴然と低くなるように冒頭に述べた放射スペク
トル分析方法及び装置を改良することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、互いに組成の
相違する各種プラスチック類の粒子に対して汎用プラス
チックの相対的含有濃度についての放射スペクトル分析
、好ましくは蛍光又はラマンスペクトル分析による定性
分析を行うに当って、まず短波長光線、好ましくは紫外
線の照射により生成した比較的長波長光線の放射スペク
トルの比較的狭い波長範囲内における放射光線強度を検
出し、次いで分析対象プラスチック類について予め設定
された離散的波長又は波長範囲におけるスペクトル検出
操作を行って上記各種プラスチック類の粒子を同定する
プラスチック粒の定性分析方法及び装置において、個々
の上記各種プラスチック類粒子に短波長光線パルスを照
射して生ずる放射光の離散的波長又は波長範囲における
強度からアルゴリズムによって特性値を決定し、上記特
性値を予め設定された限界基準値と比較することによっ
て分別信号を得るように構成した。
相違する各種プラスチック類の粒子に対して汎用プラス
チックの相対的含有濃度についての放射スペクトル分析
、好ましくは蛍光又はラマンスペクトル分析による定性
分析を行うに当って、まず短波長光線、好ましくは紫外
線の照射により生成した比較的長波長光線の放射スペク
トルの比較的狭い波長範囲内における放射光線強度を検
出し、次いで分析対象プラスチック類について予め設定
された離散的波長又は波長範囲におけるスペクトル検出
操作を行って上記各種プラスチック類の粒子を同定する
プラスチック粒の定性分析方法及び装置において、個々
の上記各種プラスチック類粒子に短波長光線パルスを照
射して生ずる放射光の離散的波長又は波長範囲における
強度からアルゴリズムによって特性値を決定し、上記特
性値を予め設定された限界基準値と比較することによっ
て分別信号を得るように構成した。
【0007】上記各種プラスチック類粒子に照射される
短波長光線の波長は100〜500nm、好ましくは1
80〜400nmであるのがよい。
短波長光線の波長は100〜500nm、好ましくは1
80〜400nmであるのがよい。
【0008】照射される上記短波長光線のトリガ可能な
パルス頻度は、100〜600パルス/秒、好ましくは
100〜200パルス/秒であるのがよい。
パルス頻度は、100〜600パルス/秒、好ましくは
100〜200パルス/秒であるのがよい。
【0009】上記各種プラスチック類粒子は、単数の又
は互いに平行して流れる複数のライン上において、一つ
宛、相互間隔を保ちながら、供給地点から測定地点を経
て種類別の各分別地点へと所定の経路上を連続的に搬送
し、上記測定地点において上記短波長光線を照射するの
がよい。
は互いに平行して流れる複数のライン上において、一つ
宛、相互間隔を保ちながら、供給地点から測定地点を経
て種類別の各分別地点へと所定の経路上を連続的に搬送
し、上記測定地点において上記短波長光線を照射するの
がよい。
【0010】上記各種プラスチック類粒子が汚染されて
いる場合には、レーザ光線パルスの照射によりその表面
を部分的に清浄化することができる。表面汚染物は上記
照射の際に発生するプラスマによって除去される。
いる場合には、レーザ光線パルスの照射によりその表面
を部分的に清浄化することができる。表面汚染物は上記
照射の際に発生するプラスマによって除去される。
【0011】上記の分析方法の実施に際して実質的に、
紫外線パルス発生用光源と、放射スペクトル作成用分光
器と、放射光線強度を電気信号に変換するスペクトル検
出器と、上記電気信号を加工して分別用信号を発生する
電子計算機とから成る装置を使用する。
紫外線パルス発生用光源と、放射スペクトル作成用分光
器と、放射光線強度を電気信号に変換するスペクトル検
出器と、上記電気信号を加工して分別用信号を発生する
電子計算機とから成る装置を使用する。
【0012】上記各種プラスチック類粒子が上記測定地
点に到着する際にトリガ装置、好ましくは光学的障壁、
から発生する信号を介して照射光パルスを起動するのが
よい。
点に到着する際にトリガ装置、好ましくは光学的障壁、
から発生する信号を介して照射光パルスを起動するのが
よい。
【0013】上記光学的障壁の出力信号を発生するため
には、個々の上記各種プラスチック類粒子間の相互間隔
は少なくとも1.0mmあるのがよい。搬送速度の増加
に伴い、個々の上記各種プラスチック類粒子間の相互間
隔をより大きくする必要が起こる。
には、個々の上記各種プラスチック類粒子間の相互間隔
は少なくとも1.0mmあるのがよい。搬送速度の増加
に伴い、個々の上記各種プラスチック類粒子間の相互間
隔をより大きくする必要が起こる。
【0014】光電池に向けて照射される光線で上記光学
的障壁を構成するのがよい。上記光学的障壁により個々
の上記各種プラスチック類粒子間の相互間隔を測定する
ことができる。上記照射光線を上記粒子で遮るとトリガ
信号が発生する。
的障壁を構成するのがよい。上記光学的障壁により個々
の上記各種プラスチック類粒子間の相互間隔を測定する
ことができる。上記照射光線を上記粒子で遮るとトリガ
信号が発生する。
【0015】上記光学的障壁はレーザ光線単独で又は通
常光線とレーザ光線とを組み合せて構成することができ
る。これにより上記各種プラスチック類粒子を立体的に
検出することができる。
常光線とレーザ光線とを組み合せて構成することができ
る。これにより上記各種プラスチック類粒子を立体的に
検出することができる。
【0016】場合によっては、上記各種プラスチック類
粒子をレーザ照射により清浄化する装置を併置すること
ができる。
粒子をレーザ照射により清浄化する装置を併置すること
ができる。
【0017】上記測定地点に続いて搬送経路が設けられ
、上記搬送経路に沿って上記各種プラスチック類粒子が
上記定性分析的組成別に分別される。上記分別は上記各
種プラスチック類粒子の空中自由落下時の送風停止によ
って行うことができる。
、上記搬送経路に沿って上記各種プラスチック類粒子が
上記定性分析的組成別に分別される。上記分別は上記各
種プラスチック類粒子の空中自由落下時の送風停止によ
って行うことができる。
【0018】上記各種プラスチック類粒子の予備分別を
、例えば白色光の照射と吸収スペクトル分光の応用とに
よって色別に行うことができる。
、例えば白色光の照射と吸収スペクトル分光の応用とに
よって色別に行うことができる。
【0019】紫外線パルス発生用光源としては特に、ス
ペクトルフィルター濾波・パルス方式フラッシュランプ
、フィルター濾波・シャッター制御方式連続波フラッシ
ュランプ、エキシマレーザ、紫外線域用シャッター制御
方式連続波イオンレーザ、紫外線域用周波数倍率器付き
パルス方式固体レーザ、フィルター濾波・シャッター制
御方式蛍光、フィルター濾波・シャッター制御方式日光
、稀ガス内衝撃波からのフィルター濾波光、放電からの
フィルター濾波光、連続波電弧からのシャッター制御方
式フィルター濾波光、レーザ誘導絶縁破壊スパーク濾波
光、ストローブ光又は写真撮影用フラッシュランプを使
用することができる。
ペクトルフィルター濾波・パルス方式フラッシュランプ
、フィルター濾波・シャッター制御方式連続波フラッシ
ュランプ、エキシマレーザ、紫外線域用シャッター制御
方式連続波イオンレーザ、紫外線域用周波数倍率器付き
パルス方式固体レーザ、フィルター濾波・シャッター制
御方式蛍光、フィルター濾波・シャッター制御方式日光
、稀ガス内衝撃波からのフィルター濾波光、放電からの
フィルター濾波光、連続波電弧からのシャッター制御方
式フィルター濾波光、レーザ誘導絶縁破壊スパーク濾波
光、ストローブ光又は写真撮影用フラッシュランプを使
用することができる。
【0020】照射用光学系として特に、ホログラフィッ
クレンズ及びフレネルレンズを含む透過性レンズ類の組
み合せ、凸型と凹型、球面と非球面の反射鏡類の組み合
せ、上記組み合せについて結合用光学系と出力光学系と
を備えた単一光ファイバ又は上記組み合せについて時に
は末端形状の相違する結合用光学系と出力光学系とを備
えた光ファイバ束が適することが実証された。
クレンズ及びフレネルレンズを含む透過性レンズ類の組
み合せ、凸型と凹型、球面と非球面の反射鏡類の組み合
せ、上記組み合せについて結合用光学系と出力光学系と
を備えた単一光ファイバ又は上記組み合せについて時に
は末端形状の相違する結合用光学系と出力光学系とを備
えた光ファイバ束が適することが実証された。
【0021】スペクトル弁別器として、回折格子分光器
及びプリズム分光器、あらゆる種類の光学的フィルター
、干渉計、或はまた回折格子ポリクロメーター及びプリ
ズムポリクロメーターが使用できる。
及びプリズム分光器、あらゆる種類の光学的フィルター
、干渉計、或はまた回折格子ポリクロメーター及びプリ
ズムポリクロメーターが使用できる。
【0022】検出器として、所謂光増幅用強化ダイオー
ド・アレイ、ダイオード・アレイ、フォトマルチプライ
ヤー、フォトダイオード、所謂CDDアレイ(電荷結合
検出器グループ)、熱電素子アレイ、ビデオカメラ又は
、予め設定された波長のみに応答するスペクトル選択性
光検出器が適当である。
ド・アレイ、ダイオード・アレイ、フォトマルチプライ
ヤー、フォトダイオード、所謂CDDアレイ(電荷結合
検出器グループ)、熱電素子アレイ、ビデオカメラ又は
、予め設定された波長のみに応答するスペクトル選択性
光検出器が適当である。
【0023】
【実施例】以下本発明の実施例につき図1を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
【0024】互いに組成の相違する各種プラスチック類
の粒子(2)は搬送速度3.5m/sで運転されるベル
トコンベヤ(1)によって順々に上記測定地点(3)へ
と搬送される。上記測定地点(3)へ到着するたびに、
上記プラスチック各粒子はHe/Neレーザ(7)から
発して焦点合わせレンズ(5)及びミラー(6)を経て
上記光電池(4)へと導かれるレーザ光線を遮ることに
より捕捉される。上記捕捉に際に発生するトリガ信号は
電子式検出器(8)によって電気信号に変換され、上記
フラッシュランプ(9)からの紫外線パルスを起動する
ために使用される。上記フィルター(10)で濾波され
た紫外線は照射用光学系(11)により上記プラスチッ
ク粒子(2)の表面へ焦点合わせされる。上記プラスチ
ック粒子(2)からの放射光線はリレー光学系を経て分
光器(13)及びこれに後続する検出器(14)に受容
される。上記電気計算機(15)は、上記検出器(14
)より供与される電気信号から数値的比例値を決定し、
この値を予め設定された限界基準値と比較することによ
り分別用制御信号を発生する。
の粒子(2)は搬送速度3.5m/sで運転されるベル
トコンベヤ(1)によって順々に上記測定地点(3)へ
と搬送される。上記測定地点(3)へ到着するたびに、
上記プラスチック各粒子はHe/Neレーザ(7)から
発して焦点合わせレンズ(5)及びミラー(6)を経て
上記光電池(4)へと導かれるレーザ光線を遮ることに
より捕捉される。上記捕捉に際に発生するトリガ信号は
電子式検出器(8)によって電気信号に変換され、上記
フラッシュランプ(9)からの紫外線パルスを起動する
ために使用される。上記フィルター(10)で濾波され
た紫外線は照射用光学系(11)により上記プラスチッ
ク粒子(2)の表面へ焦点合わせされる。上記プラスチ
ック粒子(2)からの放射光線はリレー光学系を経て分
光器(13)及びこれに後続する検出器(14)に受容
される。上記電気計算機(15)は、上記検出器(14
)より供与される電気信号から数値的比例値を決定し、
この値を予め設定された限界基準値と比較することによ
り分別用制御信号を発生する。
【0025】
【発明の効果】本発明は上述のような構成であるから、
大量に発生し且つ互いに組成の相違する各種プラスチッ
ク類の粒子を経済的に同定分別することができる。
大量に発生し且つ互いに組成の相違する各種プラスチッ
ク類の粒子を経済的に同定分別することができる。
【図1】プラスチック粒の定性分析装置の模式的説明図
1 ベルトコンベヤ
2 プラスチック粒子
3 測定地点
4 光電池
5 焦点合わせレンズ
6 ミラー
7 He/Neレーザ
8 電子式検出器
9 フラッシュランプ
10 フィルター
11 照射用光学系
12 リレー光学系
13 分光器
14 検出器
15 電子計算機
Claims (13)
- 【請求項1】互いに組成の相違する各種プラスチック類
の粒子に対して汎用プラスチックの相対的含有濃度につ
いての放射スペクトル分析、好ましくは蛍光又はラマン
スペクトル分析による定性分析を行うに当って、まず短
波長光線、好ましくは紫外線の照射により生成した比較
的長波長光線の放射スペクトルの比較的狭い波長範囲内
における放射光線強度を検出し、次いで分析対象プラス
チック類について予め設定された離散的波長又は波長範
囲におけるスペクトル検出操作を行って上記各種プラス
チック類の粒子を同定するプラスチック粒の定性分析方
法において、個々の上記各種プラスチック類粒子に短波
長光線パルスを照射して生ずる放射光の離散的波長又は
波長範囲における強度からアルゴリズムによって特性値
を決定し、上記特性値を予め設定された限界基準値と比
較することによって分別信号を得ることを特徴とする上
記プラスチック粒の定性分析方法。 - 【請求項2】上記各種プラスチック類粒子に照射される
短波長光線の波長が100〜500nm、好ましくは1
80〜400nmである請求項1の定性分析方法。 - 【請求項3】照射される上記短波長光線のトリガ可能な
パルス頻度は、100〜600パルス/秒、好ましくは
100〜200パルス/秒である請求項1又は2の定性
分析方法。 - 【請求項4】上記各種プラスチック類粒子は、単数の又
は互いに平行して流れる複数のライン上において、一つ
宛、相互間隔を保ちながら、供給地点から測定地点を経
て種類別の各分別地点へと所定の経路上を連続的に搬送
し、上記測定地点において上記短波長光線を照射する請
求項1〜3の何れか1項の定性分析方法。 - 【請求項5】個々の上記各種プラスチック類粒子間の相
互間隔は少なくとも1.0mmある請求項4の定性分析
方法。 - 【請求項6】汚染された上記各種プラスチック類粒子の
表面をレーザ光線パルスの照射によ部分的に清浄化する
請求項1〜5の何れか1項の定性分析方法。 - 【請求項7】上記各種プラスチック類粒子の予備分別を
、例えば白色光の照射と吸収スペクトル分光の応用とに
よって色別に行う請求項1〜6の何れか1項の定性分析
方法。 - 【請求項8】a)短波長光線パルス発生用光源(9)と
、 b)放射スペクトル作成用分光器(13)と、c)放射
光線強度を電気信号に変換するスペクトル検出器(14
)と、 d)上記電気信号を加工して分別用信号を発生する電子
計算機(15)とから成る請求項1〜7の何れか1項の
定性分析方法に使用する装置。 - 【請求項9】上記各種プラスチック類粒子が上記測定地
点に到着する際にトリガ装置から発生する信号を介して
照射光パルスを起動する請求項8の装置。 - 【請求項10】光電池に向けて照射される光線で上記ト
リガ装置を構成する請求項8又は9の装置。 - 【請求項11】レーザで上記トリガ装置を構成する請求
項8〜10の何れか1項の装置。 - 【請求項12】上記各種プラスチック類粒子をレーザ照
射により部分的に清浄化する装置を併置する請求項8〜
11の何れか1項の装置。 - 【請求項13】上記測定地点(3)に続いて搬送経路を
設ける請求項8〜12の何れか1項の装置。
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