JP3058196U - 選別装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 粒状製品中のあらゆる異物をより完全に除去
できる選別装置の提供。 【構成】 本考案の選別装置は、選別対象物１及びバッ
クグラウンド４に近赤外波長域の光を照射する光源２，
２’，６と、選別対象物及びバックグラウンドに紫外波
長域の光を照射する光源３，３’５と、近赤外光検知装
置１１，１２，８と、蛍光光検知装置９，１０，７と、
を光電選別部に設けている。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、選別装置に関し、特に、精米中に混入する異物を有効に選別除去す ることができる選別装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

可視光を照射光として使用する従来の色彩選別機では選別できなかった、被選 別物と同色のプラスチック、石等の異物や透明なガラス又はプラスチック等の異 物を選別する装置として、照射光として近赤外領域の波長の光を被選別物に照射 し、粒状製品と異物との近赤外光の反射率の差をセンサ等により検出しイジェク タ等によって吹き飛ばすように成された選別機がある。このような選別機によれ ば、製品との色差の少ない異物や透明若しくは半透明の異物を選別することがで きる。

【０００３】 しかしながら、異物の中には、製品と色差がなく且つ近赤外反射スペクトルが 類似の物もあり、このような異物は上記の選別機では選別できない。例えば、精 米の選別において、磁器やシリカゲルは、精米と色差もなく且つ近赤外反射スペ クトルも類似しているため、上記のような近赤外光による選別機や色差による選 別機では選別除去できなかった。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

本考案は、上記の如き従来の選別機では選別できなかった異物をも選別でき粒 状製品中のあらゆる異物をより完全に除去できる選別装置を提供することを目的 とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するために、本考案者らは、種々検討する中で、精米に３６０ ｎｍ付近にピークを有する紫外線を照射すると、精米は青白く蛍光反応を示すの に対して、上記の磁器やシリカゲル等の無機的な異物の多くはこのような紫外線 の波長域で蛍光反応を示すものは少ないことを発見した。

【０００６】 図１はこのような特性を示した分光特性を示すグラフである。図１において、 精米は、照射した紫外線が反射して３６０ｎｍ付近に大きなピークがある一方で ４００ｎｍから５００ｎｍの波長域の蛍光を発している。これに対して、磁器や シリカゲルは、同じく照射した紫外線が反射して３６０ｎｍ付近に大きなピーク を生じるが、４００ｎｍから５００ｎｍの波長域において精米のような蛍光の発 光は見られない。

【０００７】 本考案者は、このような蛍光の発光の有無を選別装置に応用して本願考案を完 成した。

【０００８】 本考案の選別装置は、選別対象物及びバックグラウンド（背景）に近赤外波長 域の光を照射する光源と、選別対象物及びバックグラウンドに紫外波長域の光を 照射する光源と、近赤外光検知装置と、蛍光光検知装置と、を光電選別部に設け ている。

【０００９】

【実施例】

図２は、本考案の選別装置の光電選別部の概略構成図である。選別装置の光電 選別部以外の構成すなわちシュートによる被選別物を供給するための構成及び異 物検出信号を受けて空気銃によって排除する構成等は、従来の装置と変わらない ので、説明を簡素化して明確化すべく省略している。

【００１０】 本考案においては、選別対象物（精米）１を照射するように、２つの光源２， ２’及び３，３’が選別対象物の通路の左右に設けられている。光源２，２’は 、１４５０ｎｍ付近のいわゆる近赤外光を射出する光源であり、光源３，３’は 、３６０ｎｍ付近の紫外光を射出するブラックライト等の光源である。

【００１１】 一方、選別対象物の通路の背後には、従来の選別装置と同様にバックグラウン ド４が設けられている。更に、バックグラウンドに４００ｎｍないし５００ｎｍ の波長域の光を照射するための蛍光灯等の光源５及びバックグラウンドに近赤外 光を照射するための電球等の光源６が設けられている。光源５及び６の光度は、 バックグラウンドによる４００ｎｍ〜５００ｎｍの光及び近赤外光の反射率が良 品である精米による蛍光光量及び近赤外光の反射率と等しくなるように予め設定 される。

【００１２】 選別対象物及びバックグラウンドによって反射された光は蛍光光用検出素子７ 及び近赤外光用８によって検知される。蛍光光用検出素子７は蛍光光を検知する ように成されている。すなわち、蛍光光用検出素子７の前方には集光レンズ９及 び４００ｎｍないし５００ｎｍの波長のみを透過するフィルタ１０が配設されて おり、従って、４００ｎｍないし５００ｎｍの波長域の光のみが蛍光光用検出素 子７に到達する。蛍光光用検出素子７は、この波長域に感度を有する素子である 。一方、近赤外光用検出素子８は近赤外光を検知するように成されている。すな わち、近赤外光用検出素子８の前方には集光レンズ１１及び近赤外光（例えば、 １４５０ｎｍ）の波長のみを透過するフィルタ１２が配設されており、従って、 近赤外の波長域の光のみが近赤外光用検出素子８に到達する。近赤外光用検出素 子８は、この波長域に感度を有する素子である。

【００１３】 蛍光光用検出素子７の出力は比較器１３に供給され、予め設定された基準レベ ル１と比較されて、ＨｉｇｈかＬｏｗの信号を出力する。一方、近赤外光用検出 素子８の出力は比較器１４に供給され、予め設定された基準レベル２と比較され て、ＨｉｇｈかＬｏｗの信号を出力する。

【００１４】 以上のような構成において、良品である精米が投下された場合には、検出素子 ７及び８は異常を検知しない。これに対して、精米と同色のプラスチックや石等 の異物が投下されると、これらは近赤外波長域において精米と異なる波長特性を 有するので、近赤外光用素子８によって異常が検知される。近赤外光用素子８に よって異常が検知されると、異物検知信号が発せられ、この異物検知信号に応じ て空気銃が作動せしめられてこれらの異物がはじき飛ばされて選別排除される。

【００１５】 一方、精米と同色のシリカゲルや磁器等の異物が投下されると、これらは近赤 外波長域において精米とほぼ等しい波長特性を有するので、近赤外光用素子８に よっては異常が検知されない。しかしながら、３６０ｎｍ近辺の紫外光が照射さ れた場合に、精米は蛍光反応を示して４００ｎｍないし５００ｎｍの光を発する のに対して、シリカゲルや磁器はこのような蛍光反応を示さない。従って、シリ カゲルや磁器等の異物が投下されると、蛍光光用素子７によって異常が検知され る。蛍光光用素子７によって異常が検知されると、異物検知信号が発せられ、こ の異物検知信号に応じて空気銃が作動せしめられてこれらの異物がはじき飛ばさ れて選別排除される。

【００１６】 上記以外のゴミ等の一般的な異物は、当然に近赤外光波長特性も蛍光光波長特 性も精米とは異なるため、蛍光光用検出素子７及び赤外光用検出素子８のいずれ の検出素子によっても異常が検知され、選別排除される。

【００１７】

【考案の効果】

以上に述べたように、本考案の選別装置によれば、選別対象物と色差がある通 常の異物はもちろんのこと、透明なガラスやプラスチック等の如き色差がないも のが選別排除できる他、シリカゲルや磁器のように色差がなく且つ赤外域での分 光特性が似通った異物も選別排除することができ、ほぼ全ての異物の排除が可能 となり、極めて精度の高い選別を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】精米、シリカゲル及び磁器の紫外光の反射強度
及び蛍光発光強度の分光特性を示すグラフである。

【図２】本考案による選別装置の概略構成図である。

【符号の説明】

１ 選別対象物、 ２，２’，３，３’５，６ 光源
４ バックグラウンド、 ７ 蛍光光用検出素子、８
近赤外光用検出素子、 ９，１１ 集光レンズ、１
０，１２ フィルタ、 １３，１４ 比較器

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】シュートから流下される粒状被選別物に光
   線を照射し、被選別物からの反射光を検知し、検知信号
   に基づいて異物を選別除去する選別装置において、 被選別対象物及びバックグラウンドに近赤外波長域の光
   を照射する光源と、同被選別対象物及びバックグラウン
   ドに紫外波長域の光を照射する光源と、被選別対象物に
   よって反射された近赤外光を検知するための近赤外光検
   知装置と、被選別対象物によって反射された蛍光光を検
   知するための蛍光光検知装置と、を光電選別部に設けた
   ことを特徴とする選別装置。