JPH0311083B2 - - Google Patents
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- JPH0311083B2 JPH0311083B2 JP22443784A JP22443784A JPH0311083B2 JP H0311083 B2 JPH0311083 B2 JP H0311083B2 JP 22443784 A JP22443784 A JP 22443784A JP 22443784 A JP22443784 A JP 22443784A JP H0311083 B2 JPH0311083 B2 JP H0311083B2
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- composite film
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- capacitor
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- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 28
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 25
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 12
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 229920006380 polyphenylene oxide Polymers 0.000 claims description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 9
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 claims description 8
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 claims description 8
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 5
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 4
- 239000011104 metalized film Substances 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 7
- -1 Polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 2
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 1
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 1
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
産業上の利用分野
本発明は、両面金属化フイルムを用い、かつプ
ラスチツク材料により外装を施したコンデンサに
関するものである。 従来例の構成とその問題点 近年、電子機器の小形化、回路基板の生産性の
向上などのため、電子部品のチツプ化が急速に進
行してきている。チツプ部品の実装時には、電子
部品自体も高温となるため、プラスチツクフイル
ムコンデンサのチツプ化に際しては、大幅な耐熱
性の向上が必要である。 プラスチツクフイルムコンデンサは、温度特性
や部品の信頼性においてすぐれた特性を示すこと
から広く使用されているが、誘電体材料として、
主としてポリエチレンテレフタレートフイルムや
ポリプロピレンフイルム等が用いられており、こ
れらの誘電体フイルムの耐熱性が十分でないた
め、チツプ工法での実装時の高温に耐えられない
のが現状である。 発明の目的 本発明は、こうした現状に鑑み、チツプ工法で
の実装時の高温に耐えうる耐熱性を有するととも
に、フイルムコンデンサの特徴をも兼ね備えたコ
ンデンサを得ることを目的とするものである。 発明の構成 この目的を達成するために本発明は、誘電体と
してポリフエニレンサルフアイドフイルムを用
い、その両面に真空蒸着等により電極を形成して
両面金属化フイルムとし、その片面または両面に
誘電体として優れた特性を示すとともに、良好な
耐熱性を有するポリフエニレンオキサイドを主成
分とする薄膜をグラビアコート法またはリバース
コート法等により形成して構成した複合フイルム
を巻回または積層し、この両端面に金属溶射法等
により電極引出し部を形成することにより、チツ
プ工法での実装時の高温に耐えうるとともに、フ
イルムコンデンサの特長である良好な温度特性、
周波数特性を有し、かつ高信頼性を示すコンデン
サを開発したものである。 すなわち、従来のフイルムコンデンサでは、チ
ツプ工法での実装時の高温雰囲気中では、誘電体
フイルムの収縮によりコンデンサ素子が変形し、
外装の破損をもたらすとともに、その特性の大幅
な劣化も確認された。 これに対し、本発明のコンデンサでは、誘電体
として耐熱性の良好なポリフエニレンサルフアイ
ドおよびポリフエニレンオキサイドを用いること
により、チツプ工法での実装時の高温による複合
フイルムの収縮に伴う素子変形を大幅に減少させ
ることができ、また200℃における曲げ弾性率300
Kg/mm2以上の機械特性を有する外装材料を用いて
外装を施すことにより、外装の保持力を確保して
素子変形を抑制することにより、チツプ工法での
実装時の耐えうるものとしたものである。外装材
料としては、無機充填剤を配合したエポキシ樹脂
等の使用が可能である。また、外装工法として
は、流動侵漬法、モールド工法などが用いられう
るが、外装材料、外装工法ともに特に制約される
ものではない。 実施例の説明 以下、本発明の実施例について、その比較例と
対比させて説明する。 第1図に本発明の実施例によるコンデンサの構
造を示す。同図Aは巻回型素子モールドタイプ、
同図Bは積層型素子モールドタイプである。 図において、1は複合フイルムを巻回または積
層した素子、2は素子1の両端面に金属材料を溶
射して成る電極引出し部、3はリード端子、4は
外装部である。 第2図に巻回前または積層前の複合フイルムの
断面の示す。同図Aはポリフエニレンオキサイド
塗工薄膜装を両面に形成したもの、同図Bはポリ
フエニレンオキサイド塗工薄膜装を片面に形成し
たものである。 図において、5はポリフエニレンサルフアイド
フイルム、6は蒸着金属電極層、7はポリフエニ
レンオキサイド塗工薄膜層である。 第1表に、実施例および比較例のコンデンサの
誘電体材料、複合フイルムの構造、素子の構造、
外装材料および外装工法、外装材料の曲げ弾性
率、外装の最薄部の厚みを示している。なお、外
装材料の曲げ弾性率については、硬質プラスチツ
クの曲げ試験方法(JIS K7203)により求めた。
また、その値については、樹脂の主剤、硬化剤、
充填剤の配合比を選ぶことにより変化させること
ができる。外装の最薄部を厚みは、X線透視装置
により計測した。 第2表には、第1表に示した実施例および比較
例のコンデンサのチツプ工法での実装時の特性変
化(静電容量変化率)とコンデンサの外観変化に
ついての試験結果を示す。コンデンサの静電容量
は、LCRメーター(YHP製:4274A)にて測定
した。外観変化については、割れおよび素子の変
形を目視にて確認、評価した。なお、第2表に示
した試験における供試コンデンサの印刷配線基板
への実装の条件は半田槽デイツプ方式で、半田温
度は260℃、デイツプ時間は5秒、デイツプ回数
は1回、プリヒートは100℃で50秒間であつた。
ラスチツク材料により外装を施したコンデンサに
関するものである。 従来例の構成とその問題点 近年、電子機器の小形化、回路基板の生産性の
向上などのため、電子部品のチツプ化が急速に進
行してきている。チツプ部品の実装時には、電子
部品自体も高温となるため、プラスチツクフイル
ムコンデンサのチツプ化に際しては、大幅な耐熱
性の向上が必要である。 プラスチツクフイルムコンデンサは、温度特性
や部品の信頼性においてすぐれた特性を示すこと
から広く使用されているが、誘電体材料として、
主としてポリエチレンテレフタレートフイルムや
ポリプロピレンフイルム等が用いられており、こ
れらの誘電体フイルムの耐熱性が十分でないた
め、チツプ工法での実装時の高温に耐えられない
のが現状である。 発明の目的 本発明は、こうした現状に鑑み、チツプ工法で
の実装時の高温に耐えうる耐熱性を有するととも
に、フイルムコンデンサの特徴をも兼ね備えたコ
ンデンサを得ることを目的とするものである。 発明の構成 この目的を達成するために本発明は、誘電体と
してポリフエニレンサルフアイドフイルムを用
い、その両面に真空蒸着等により電極を形成して
両面金属化フイルムとし、その片面または両面に
誘電体として優れた特性を示すとともに、良好な
耐熱性を有するポリフエニレンオキサイドを主成
分とする薄膜をグラビアコート法またはリバース
コート法等により形成して構成した複合フイルム
を巻回または積層し、この両端面に金属溶射法等
により電極引出し部を形成することにより、チツ
プ工法での実装時の高温に耐えうるとともに、フ
イルムコンデンサの特長である良好な温度特性、
周波数特性を有し、かつ高信頼性を示すコンデン
サを開発したものである。 すなわち、従来のフイルムコンデンサでは、チ
ツプ工法での実装時の高温雰囲気中では、誘電体
フイルムの収縮によりコンデンサ素子が変形し、
外装の破損をもたらすとともに、その特性の大幅
な劣化も確認された。 これに対し、本発明のコンデンサでは、誘電体
として耐熱性の良好なポリフエニレンサルフアイ
ドおよびポリフエニレンオキサイドを用いること
により、チツプ工法での実装時の高温による複合
フイルムの収縮に伴う素子変形を大幅に減少させ
ることができ、また200℃における曲げ弾性率300
Kg/mm2以上の機械特性を有する外装材料を用いて
外装を施すことにより、外装の保持力を確保して
素子変形を抑制することにより、チツプ工法での
実装時の耐えうるものとしたものである。外装材
料としては、無機充填剤を配合したエポキシ樹脂
等の使用が可能である。また、外装工法として
は、流動侵漬法、モールド工法などが用いられう
るが、外装材料、外装工法ともに特に制約される
ものではない。 実施例の説明 以下、本発明の実施例について、その比較例と
対比させて説明する。 第1図に本発明の実施例によるコンデンサの構
造を示す。同図Aは巻回型素子モールドタイプ、
同図Bは積層型素子モールドタイプである。 図において、1は複合フイルムを巻回または積
層した素子、2は素子1の両端面に金属材料を溶
射して成る電極引出し部、3はリード端子、4は
外装部である。 第2図に巻回前または積層前の複合フイルムの
断面の示す。同図Aはポリフエニレンオキサイド
塗工薄膜装を両面に形成したもの、同図Bはポリ
フエニレンオキサイド塗工薄膜装を片面に形成し
たものである。 図において、5はポリフエニレンサルフアイド
フイルム、6は蒸着金属電極層、7はポリフエニ
レンオキサイド塗工薄膜層である。 第1表に、実施例および比較例のコンデンサの
誘電体材料、複合フイルムの構造、素子の構造、
外装材料および外装工法、外装材料の曲げ弾性
率、外装の最薄部の厚みを示している。なお、外
装材料の曲げ弾性率については、硬質プラスチツ
クの曲げ試験方法(JIS K7203)により求めた。
また、その値については、樹脂の主剤、硬化剤、
充填剤の配合比を選ぶことにより変化させること
ができる。外装の最薄部を厚みは、X線透視装置
により計測した。 第2表には、第1表に示した実施例および比較
例のコンデンサのチツプ工法での実装時の特性変
化(静電容量変化率)とコンデンサの外観変化に
ついての試験結果を示す。コンデンサの静電容量
は、LCRメーター(YHP製:4274A)にて測定
した。外観変化については、割れおよび素子の変
形を目視にて確認、評価した。なお、第2表に示
した試験における供試コンデンサの印刷配線基板
への実装の条件は半田槽デイツプ方式で、半田温
度は260℃、デイツプ時間は5秒、デイツプ回数
は1回、プリヒートは100℃で50秒間であつた。
【表】
【表】
【表】
【表】
上表から明らかなように、誘電体材料として、
従来使用されているポリエチレンテレフタレート
やポリプロピレンの薄膜誘電体では、耐熱性が不
十分なため、チツプ工法での実装時の高温に耐え
られないのに対して、耐熱性に優れたポリフエニ
レンサルフアイドフイルムおよびポリフエニレン
オキサイド薄膜を誘電体材料として用いることに
より、コンデンサのチツプ工法での実装時の特性
変化(静電容量変化率)およびコンデンサの外観
変化について、大幅に改善され、良好な結果が得
られる。 また、上記ポリフエニレンサルフアイドおよび
ポリフエニレンオキサイドを誘電体とするコンデ
ンサ素子に、200℃における曲げ弾性率が300Kg/
mm2以上のプラスチツク材料を用いて外装を施すこ
とにより、外装の最薄部の厚みが0.3mm以上であ
れば、コンデンサのチツプ工法での実装時の特性
変化(静電容量変化率)およびコンデンサの外観
変化については、いずれも良好な結果が得られ
る。なお、外装の最薄部の厚みについては、製造
上の問題から0.5mm以上とするのが好ましい。 発明の効果 以上の結果から明らかなように、本発明のコン
デンサは、チツプ工法での実装時における高温に
耐えるとともに、フイルムコンデンサの優れた特
性をも具備するものであり、これにより、電子機
器の小形化、回路基板の生産性の向上に大きく寄
与するものである。
従来使用されているポリエチレンテレフタレート
やポリプロピレンの薄膜誘電体では、耐熱性が不
十分なため、チツプ工法での実装時の高温に耐え
られないのに対して、耐熱性に優れたポリフエニ
レンサルフアイドフイルムおよびポリフエニレン
オキサイド薄膜を誘電体材料として用いることに
より、コンデンサのチツプ工法での実装時の特性
変化(静電容量変化率)およびコンデンサの外観
変化について、大幅に改善され、良好な結果が得
られる。 また、上記ポリフエニレンサルフアイドおよび
ポリフエニレンオキサイドを誘電体とするコンデ
ンサ素子に、200℃における曲げ弾性率が300Kg/
mm2以上のプラスチツク材料を用いて外装を施すこ
とにより、外装の最薄部の厚みが0.3mm以上であ
れば、コンデンサのチツプ工法での実装時の特性
変化(静電容量変化率)およびコンデンサの外観
変化については、いずれも良好な結果が得られ
る。なお、外装の最薄部の厚みについては、製造
上の問題から0.5mm以上とするのが好ましい。 発明の効果 以上の結果から明らかなように、本発明のコン
デンサは、チツプ工法での実装時における高温に
耐えるとともに、フイルムコンデンサの優れた特
性をも具備するものであり、これにより、電子機
器の小形化、回路基板の生産性の向上に大きく寄
与するものである。
第1図A,Bはそれぞれ本発明の実施例のコン
デンサを示す斜視図、第2図A,Bはそれぞれ同
コンデンサに用いられる複合フイルム断面図ので
ある。 1……素子、2……電極引出し部、4……外装
部、5……ポリフエニレンサルフアイドフイル
ム、6……蒸着金属電極層、7……ポリフエニレ
ンオキサイド塗工薄膜層。
デンサを示す斜視図、第2図A,Bはそれぞれ同
コンデンサに用いられる複合フイルム断面図ので
ある。 1……素子、2……電極引出し部、4……外装
部、5……ポリフエニレンサルフアイドフイル
ム、6……蒸着金属電極層、7……ポリフエニレ
ンオキサイド塗工薄膜層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ポリフエニレンサルフアイドフイルムの両面
に電極を形成した両面金属化フイルムの片面また
は両面に、ポリフエニレンオキサイドを主成分と
する薄膜を形成して複合フイルムを構成するとと
もに、その複合フイルムを巻回または積層し、か
つ巻回または積層した複合フイルムの両端面に電
極引出し部を形成し、かつ200℃における曲げ弾
性率が300Kg/mm2以上のプラスチツク材料からな
る外装体で被覆したことを特徴とするコンデン
サ。 2 ポリフエニレンサルフアイドフイルムの両面
に電極を形成した両面金属化フイルムの片面また
は両面に、ポリフエニレンオキサイドを主成分と
する薄膜を形成して複合フイルムを構成するとと
もに、その複合フイルムを巻回または積層し、か
つ巻回または積層した複合フイルムの両端面に電
極引出し部を形成し、かつ200℃における曲げ弾
性率が300Kg/mm2以上のプラスチツク材料からな
る最薄部の厚み0.5mm以上の外装体で被覆したこ
とを特徴とするコンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22443784A JPS61102021A (ja) | 1984-10-25 | 1984-10-25 | コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22443784A JPS61102021A (ja) | 1984-10-25 | 1984-10-25 | コンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61102021A JPS61102021A (ja) | 1986-05-20 |
JPH0311083B2 true JPH0311083B2 (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=16813755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22443784A Granted JPS61102021A (ja) | 1984-10-25 | 1984-10-25 | コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61102021A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0770413B2 (ja) * | 1987-09-18 | 1995-07-31 | 松下電器産業株式会社 | フィルムコンデンサの製造方法 |
JPH0770419B2 (ja) * | 1987-09-18 | 1995-07-31 | 松下電器産業株式会社 | フィルムコンデンサの製造方法 |
-
1984
- 1984-10-25 JP JP22443784A patent/JPS61102021A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61102021A (ja) | 1986-05-20 |
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