JPH03100174A - イオンビームによる表面改質装置 - Google Patents

イオンビームによる表面改質装置

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JPH03100174A
JPH03100174A JP23734889A JP23734889A JPH03100174A JP H03100174 A JPH03100174 A JP H03100174A JP 23734889 A JP23734889 A JP 23734889A JP 23734889 A JP23734889 A JP 23734889A JP H03100174 A JPH03100174 A JP H03100174A
Authority
JP
Japan
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ion beam
target
work
ion
irradiated
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Pending
Application number
JP23734889A
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English (en)
Inventor
Keiji Arimatsu
有松 啓治
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はイオンビームを利用した表面改質装置に係り、
特に構造が簡単で装置構成の容易なダイナミックミキシ
ング装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の装置は、第2回イオン注入表層処理シンポジウム
予稿表69〜70ページの「セミロードロック式大容量
表面改質装置」に記載のように被処理物下方に電子ビー
ム蒸発器を設け、被処理物面に対向する位置にイオン源
を配置した構成になっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術は、蒸発器が被処理物の下方に位置しなけ
ればならない、という構造上の制約があり、また、蒸発
器には電源、及び制御装置が必要であり、高価な上、制
御性、信鯨性にも問題があった。さらに、−a的に、被
処理物はイオンビームの照射範囲より小さいため、被処
理物を外れたイオンビームは、処理室等を加熱するとい
う問題があった。
本発明の目的は、特別な蒸発装置を設けることなく、イ
オンビームを有効に利用したイオンビームミキシング装
置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、イオン源とこれに対向するスパッタターゲ
ットの中間位置にイオンビーム照射範囲よりも小さい断
面積の被処理物を配置し、イオンビームによるターゲッ
トのスパッタとイオンビームにより、イオンビームミキ
シングを行う構成とすることにより達成される。
〔作 用〕
イオン源とスパッタターゲットの間に、イオンビームの
照射範囲より小さい断面積の被処理物を配置しているの
で、被処理物は、イオン源からのイオン注入とともに、
被処理物部分を通りぬけたイオンビームによってターゲ
ットからスパッタされた粒子が付着し、被処理物を回転
運動させることによって、スパッタ粒子とイオンビーム
から成る、イオンビームミキシング成膜を行うことがで
きる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図及び第2図により説明
する。
第1図は第2図の上面図である0両図で、被処理物5は
、回転ホルダ6に取付けられ、自転運動する。イオン源
l及びスパッタターゲット3は、被処理物5をはさむ位
置に配置されている。イオン源1から引出されたイオン
ビーム2は、一部は被処理物5に注入され、他の一部は
スパッタターゲット3に打込まれ、ターゲットをスパッ
タする。
スパッタされた粒子4は、被処理物5に付着する。
被処理物5は自転運動しているので、被処理物5表面に
は、スパッタ粒子4及びイオンビーム2によりイオンビ
ームミキシングが行われ新物質が成膜される。
他の実施例を第3図及び第4図に示す。第3図は第4図
の上面図であり、小形の被処理物5を同時に多数処理す
る場合の例を示している。動作は第1図、第2図に示し
た場合と同様である。
本発明によれば、特別な蒸発源を必要とすることなく、
イオンビームミキシング処理をすることが可能である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、特別な蒸発装置なしにイオンビームミ
キシング処理ができるので、 1)蒸発装置が不要となり、それに伴なう、電源、制御
装置、冷却機構も不要になるため、経済性、信頼性が増
す。
2)蒸発装置は、被処理物の下方に配置する必要があっ
たが、その制限がなくなるため、設計の自由度が増す。
また、従来、被処理物がイオンビームの範囲より小さい
場合、被処理物を照射しなかったイオンビームは、装置
の他の部分を照射して加温するため、冷却対策が必要で
あったのが不要になり、装置が簡潔になる効果もある。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は、本発明の一実施例で、第1図は第2
図の上面図である。第3図、第4図は他の実施例で、第
3図は第4図の上面図である。 1・・・イオン源、2・・・イオンビーム、3・・・ス
パッタターゲット、4・・・スパッタ粒子、5・・・被
処理物、6・・・回転ホルダ。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 1. イオン源を備えた真空処理容器内において、前記
    イオン源で加速されたイオンビームによって照射される
    位置に、成膜の素材となるターゲットを設けるとともに
    、前記ターゲットと前記イオン源との中間の前記イオン
    ビームによって照射される位置に、前記イオンビームの
    照射範囲よりも小さい断面積を有する被処理物を配置し
    たことを特徴とするイオンビームによる表面改質装置。
  2. 2. 前記ターゲットは、前記イオンビームの照射方向
    に対して、その対向面が角度変更自在に設置されている
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のイオンビ
    ームによる表面改質装置。
  3. 3. 前記被処理物は、前記イオンビームに照射されつ
    つ回転運動するように設置されていることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載のイオンビームによる表面改
    質装置。
JP23734889A 1989-09-14 1989-09-14 イオンビームによる表面改質装置 Pending JPH03100174A (ja)

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