JPH029766A - セラミックス基板 - Google Patents
セラミックス基板Info
- Publication number
- JPH029766A JPH029766A JP62304471A JP30447187A JPH029766A JP H029766 A JPH029766 A JP H029766A JP 62304471 A JP62304471 A JP 62304471A JP 30447187 A JP30447187 A JP 30447187A JP H029766 A JPH029766 A JP H029766A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic substrate
- substrate
- grain boundary
- boundary phase
- sintering
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 51
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims abstract description 36
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims abstract description 29
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 6
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 8
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 13
- 239000000843 powder Substances 0.000 abstract description 13
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 abstract description 7
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract description 4
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 abstract 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 21
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 2
- -1 etc.) as necessary Substances 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 239000006082 mold release agent Substances 0.000 description 1
- 150000002823 nitrates Chemical class 0.000 description 1
- SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N palladium silver Chemical compound [Pd].[Ag] SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し発明の目的コ
(産業上の利用分野)
本発明は、熱伝導性に優れかつその表面に信頼性の寓い
導電層を形成しうるセラミクス基板に関する。
導電層を形成しうるセラミクス基板に関する。
(従来の技術)
窒化アルミニウム(AρN)セラミックスは、熱伝導性
が良好で放熱性に優れ、かつ電気絶縁性等の電気的特性
も優れているので半導体用の基板材料として注目を集め
ている。
が良好で放熱性に優れ、かつ電気絶縁性等の電気的特性
も優れているので半導体用の基板材料として注目を集め
ている。
このA1N焼結1体は、基板材料として用いる場合は次
のように製造される。すなわち、AρN粉末原料に焼結
助剤(希土類元素酸化物、アルカリ土類酸化物等)を、
所定量配合し、更に必要に応じてバインダ(アルカリ系
樹脂等)を添加して全体を充分に混合し、得られた混合
体を例えばドクターブレード法によりグリーンシートに
成形した後、窒素雰囲気中にて焼結するものである。
のように製造される。すなわち、AρN粉末原料に焼結
助剤(希土類元素酸化物、アルカリ土類酸化物等)を、
所定量配合し、更に必要に応じてバインダ(アルカリ系
樹脂等)を添加して全体を充分に混合し、得られた混合
体を例えばドクターブレード法によりグリーンシートに
成形した後、窒素雰囲気中にて焼結するものである。
さて、AN Nセラミックスを半導体用基板として用い
る場合には、半導体装置する面に導電性の表面層を形成
することが必要である。この方法として、基板の表面に
あらかじめガラス屑を被覆し、その上にスクリーン印刷
等により電極部や回路等の導電層を形成することが行な
われている。
る場合には、半導体装置する面に導電性の表面層を形成
することが必要である。この方法として、基板の表面に
あらかじめガラス屑を被覆し、その上にスクリーン印刷
等により電極部や回路等の導電層を形成することが行な
われている。
また、AgN基板表面に直接銅層を形成する方法(Di
rect Bond Cupper法)あるいは、厚膜
法を適用して金、銀−パラジウム等の導電性のメタライ
ズ層を設けることも試みられている。
rect Bond Cupper法)あるいは、厚膜
法を適用して金、銀−パラジウム等の導電性のメタライ
ズ層を設けることも試みられている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、従来の^1Nセラミックス基板では、次
のような問題点がある。
のような問題点がある。
すなわち、基板の表面にガラス層を形成する場合では、
熱伝導性が低いガラス層の存在によって基板全体の熱伝
導性が低下し、熱伝導性の高いへ1Nセラミックスを用
いる効果がなくなる。また、へIN基板表面に直接銅層
を形成する場合は、接合時の温度柔性が厳しく、許容温
度範囲が狭いため接合状態を安定した均一なものにする
ことが困難である。更に厚膜法による場合は、^j!N
セラミックス表面とメタライズ層との接合強度が小さく
、両者間に剥離現象を生じることがあり基板としての信
頼性が必ずしも充分でない、特に高温時の接合強度が小
さいと5メタライズ層に半導体素子あるいは導電ワイヤ
を、ろう付けあるいははんだ付けする際に、メタライズ
層と基板との接合状態が極めて不安定なものとなる。
熱伝導性が低いガラス層の存在によって基板全体の熱伝
導性が低下し、熱伝導性の高いへ1Nセラミックスを用
いる効果がなくなる。また、へIN基板表面に直接銅層
を形成する場合は、接合時の温度柔性が厳しく、許容温
度範囲が狭いため接合状態を安定した均一なものにする
ことが困難である。更に厚膜法による場合は、^j!N
セラミックス表面とメタライズ層との接合強度が小さく
、両者間に剥離現象を生じることがあり基板としての信
頼性が必ずしも充分でない、特に高温時の接合強度が小
さいと5メタライズ層に半導体素子あるいは導電ワイヤ
を、ろう付けあるいははんだ付けする際に、メタライズ
層と基板との接合状態が極めて不安定なものとなる。
本発明は、上記問題点を考慮してなされたもので、Al
l Nセラミックスの持つ高熱伝導性を損ねることなく
維持し、かつその表面に信頼性の高い接合状態で導電層
を形成しうるセラミックス基板を提供することを目的と
する。
l Nセラミックスの持つ高熱伝導性を損ねることなく
維持し、かつその表面に信頼性の高い接合状態で導電層
を形成しうるセラミックス基板を提供することを目的と
する。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段及び作用)本発明は、窒
化アルミニウムを主成分とするセラミックス基板であっ
て、基板中の粒界相を基板の表面部分に偏在させたこと
を特徴とするセラミックス基板である。
化アルミニウムを主成分とするセラミックス基板であっ
て、基板中の粒界相を基板の表面部分に偏在させたこと
を特徴とするセラミックス基板である。
半導体用基板に用いる窒化アルミニウムは、焼結助剤と
してY2 03 、CaO等を含有する。これらの焼結
助剤は、焼結時に液相となりへIN結晶粒の粒界に存在
し、AρN結晶粒を強固に結合して焼結体を、緻密化す
るものと考えられる。しがしながら、半導体用基板とし
て、熱伝導性を考えた場合、焼結助剤に含まれ粒界相に
存在する酸素は熱伝導性を低下させる要因のひとつであ
る。
してY2 03 、CaO等を含有する。これらの焼結
助剤は、焼結時に液相となりへIN結晶粒の粒界に存在
し、AρN結晶粒を強固に結合して焼結体を、緻密化す
るものと考えられる。しがしながら、半導体用基板とし
て、熱伝導性を考えた場合、焼結助剤に含まれ粒界相に
存在する酸素は熱伝導性を低下させる要因のひとつであ
る。
本発明のAN Nセラミックス基板は、へIN焼結体中
の粒界相を基板の表面部分に偏在させることにより、基
板中央部の酸素量を減少させて熱伝導性を向上させると
ともに、基板の表面部分に偏在させた粒界相を基板表面
に設ける導電層との接合作用に寄与させることにより導
電層との接合強度をも向上させるものである。本発明の
へjNセラミックス基板では、粒界相に酸素を含むこと
により、基板表面に接合する導電層との接合状態を改善
する。
の粒界相を基板の表面部分に偏在させることにより、基
板中央部の酸素量を減少させて熱伝導性を向上させると
ともに、基板の表面部分に偏在させた粒界相を基板表面
に設ける導電層との接合作用に寄与させることにより導
電層との接合強度をも向上させるものである。本発明の
へjNセラミックス基板では、粒界相に酸素を含むこと
により、基板表面に接合する導電層との接合状態を改善
する。
また、本発明のAN Nセラミックス基板は、焼結助剤
として、希土類元素酸化物およびアルカリ土類元素酸化
物を単独または複合で0.01〜10重量%、好ましく
は0.5〜7重量%含むものである。
として、希土類元素酸化物およびアルカリ土類元素酸化
物を単独または複合で0.01〜10重量%、好ましく
は0.5〜7重量%含むものである。
焼結助剤は、余り少ないと焼結体緻密化の効果がなく、
逆に余り多いと熱伝導性を大きく劣化させることがある
。希土類元素酸化物としては、なとえばY2O3、Ce
O2、La2 03等が好ましく、またアルカリ土類元
素酸化物してはCa02SrO1BaOが適用出来る。
逆に余り多いと熱伝導性を大きく劣化させることがある
。希土類元素酸化物としては、なとえばY2O3、Ce
O2、La2 03等が好ましく、またアルカリ土類元
素酸化物してはCa02SrO1BaOが適用出来る。
また、これらの酸化物は、出発原料として酸化物以外の
炭酸塩、硝酸塩等の他の化合物の形態で添加してもよい
、希土類元素酸化物のなかで、Y2O3は、少量の添加
で熱伝導性を向上させる効果が大きく好ましいものであ
る。
炭酸塩、硝酸塩等の他の化合物の形態で添加してもよい
、希土類元素酸化物のなかで、Y2O3は、少量の添加
で熱伝導性を向上させる効果が大きく好ましいものであ
る。
本発明のAgNセラミックス基板において、基板の表面
部分に偏、在させた粒界相を適宜調整し、かつ、表面粗
度、平坦度を向上させるため表面処理を行うと有効であ
る0例えば、ホーニング加工等により基板の最外表面を
一部除去する処理が連用できる。
部分に偏、在させた粒界相を適宜調整し、かつ、表面粗
度、平坦度を向上させるため表面処理を行うと有効であ
る0例えば、ホーニング加工等により基板の最外表面を
一部除去する処理が連用できる。
本発明の^j!Nセラミックス基板は、例えば次のよう
にして得ることができる。
にして得ることができる。
すなわち、窒化アルミニウムに焼結助剤を添加してなる
粉末の成形体を焼結する工程において、前記成形体を焼
結温度まで加熱して焼結し、焼結体を冷却する途中で焼
結体を焼結温度より低い温度で一定時間保持する熱処理
を行なうものである。
粉末の成形体を焼結する工程において、前記成形体を焼
結温度まで加熱して焼結し、焼結体を冷却する途中で焼
結体を焼結温度より低い温度で一定時間保持する熱処理
を行なうものである。
AINセラミ・yクスは、約1800〜1900℃、窒
素雰囲気中で焼結を行なう、その後、A1Nセラミ・ソ
クスでは、焼結温度から焼結体を冷却するが、この冷却
の過程の途中において、焼結体を焼結温度よりも低い所
定の温度に一定時間保持する熱処理を行なう、焼結温度
から熱処理を開始するまでの冷却速度は例えば約り00
℃/時間である。
素雰囲気中で焼結を行なう、その後、A1Nセラミ・ソ
クスでは、焼結温度から焼結体を冷却するが、この冷却
の過程の途中において、焼結体を焼結温度よりも低い所
定の温度に一定時間保持する熱処理を行なう、焼結温度
から熱処理を開始するまでの冷却速度は例えば約り00
℃/時間である。
この熱処理の温度は焼結温度1800〜1900℃より
50〜300°C低い1750〜1600℃とする。ま
た、熱処理の時間は30分〜6時間とする。この熱処理
の雰囲気は焼結雰囲気と同じ窒素雰囲気とする。
50〜300°C低い1750〜1600℃とする。ま
た、熱処理の時間は30分〜6時間とする。この熱処理
の雰囲気は焼結雰囲気と同じ窒素雰囲気とする。
この熱処理工程の際、焼結体中の粒界相が、徐々に表面
部に移動し、表面部分に偏在するようになるものと思わ
れる。
部に移動し、表面部分に偏在するようになるものと思わ
れる。
なお、熱処理の東件は、焼結体に含有する焼結助剤の量
、焼結体の厚さ(基板としては通常0.5〜1.5隋程
度)等により適宜選択することができる。
、焼結体の厚さ(基板としては通常0.5〜1.5隋程
度)等により適宜選択することができる。
訛な、一般にセラミックスの焼結の際はセラミックス製
の敷板に成形体を載置して行なうが、焼結時に成形体と
敷板とが接着することがある。これを防止するために、
離型材が用いられ、従来は窒化はう素、炭化けい素、カ
ーボン等の粉末が用いられる。しかしながら、^JIN
セラミックスの場合、従来のものでは、離型材と接して
いる部分に離型材が付着したり、あるいは変質層が生じ
、これらの部分を研削等の方法で除去することが必要で
ある。そこで本発明のAll Nセラミックス基板を焼
結する際に、は次のものを用いて行なう、すなわち、A
j Nセラミックス基板の焼成温度よりも若干(約50
〜100℃程度)高い温度にて仮焼した^JIN粉末を
粉砕して得た5〜200μmの粉末を離型材として使用
すると、焼成後の離型材は容易に離脱しかつ変質層の生
成もほとんどない。
の敷板に成形体を載置して行なうが、焼結時に成形体と
敷板とが接着することがある。これを防止するために、
離型材が用いられ、従来は窒化はう素、炭化けい素、カ
ーボン等の粉末が用いられる。しかしながら、^JIN
セラミックスの場合、従来のものでは、離型材と接して
いる部分に離型材が付着したり、あるいは変質層が生じ
、これらの部分を研削等の方法で除去することが必要で
ある。そこで本発明のAll Nセラミックス基板を焼
結する際に、は次のものを用いて行なう、すなわち、A
j Nセラミックス基板の焼成温度よりも若干(約50
〜100℃程度)高い温度にて仮焼した^JIN粉末を
粉砕して得た5〜200μmの粉末を離型材として使用
すると、焼成後の離型材は容易に離脱しかつ変質層の生
成もほとんどない。
(実施例)
本発明例:
窒化アルミニウム粉末に焼結助剤としてY2 03 3
11C量%を添加し、さらに有機質バインダ、界面活性
剤および溶剤を加え混合したスラリーを、ドクターブレ
ード法により厚さ0.5園のシートに成形した。そして
、このシートを切断して40×40鴎の板状の成形体を
成形した。この成形体は窒素雰囲気中で温度700℃ま
で加熱し脱脂しな、ついで、得られた成形体を敷粉(離
型材)を介在させて複数枚、積重したものを窒素雰囲気
中で焼結した。なお敷粉は、へIN粉末(平均粉径0,
6μm)を整粒した後、1850℃で仮焼し、粉砕した
後、分級して得られた粒径10μm程度のものを用いた
。
11C量%を添加し、さらに有機質バインダ、界面活性
剤および溶剤を加え混合したスラリーを、ドクターブレ
ード法により厚さ0.5園のシートに成形した。そして
、このシートを切断して40×40鴎の板状の成形体を
成形した。この成形体は窒素雰囲気中で温度700℃ま
で加熱し脱脂しな、ついで、得られた成形体を敷粉(離
型材)を介在させて複数枚、積重したものを窒素雰囲気
中で焼結した。なお敷粉は、へIN粉末(平均粉径0,
6μm)を整粒した後、1850℃で仮焼し、粉砕した
後、分級して得られた粒径10μm程度のものを用いた
。
焼結は、次のように行なった。すなわち、1800℃ま
で500℃/11の昇温速度で昇温し、1800℃で2
時間保持した後、1700℃まで急冷し、1700℃で
4時間保持する熱処理を行なった。得られた焼結体の表
面変質層(約10μl)をホーニング加工で除去した。
で500℃/11の昇温速度で昇温し、1800℃で2
時間保持した後、1700℃まで急冷し、1700℃で
4時間保持する熱処理を行なった。得られた焼結体の表
面変質層(約10μl)をホーニング加工で除去した。
比較例:
前記の本発明例に示したものと同等の成形体を、次のよ
うに焼結した。すなわち500℃/Hの昇温速度で18
00℃まで昇温し、1800℃で2時間保持した後、熱
処理を行なうことな〈従来通り、室温迄除冷した。つい
でホーニング加工を施した。
うに焼結した。すなわち500℃/Hの昇温速度で18
00℃まで昇温し、1800℃で2時間保持した後、熱
処理を行なうことな〈従来通り、室温迄除冷した。つい
でホーニング加工を施した。
比較例:
窒化アルミニウム粉末に焼結助剤を添加しない原料を用
いて、本発明例と同様に成形体を得た。
いて、本発明例と同様に成形体を得た。
得られた成形体を、次のように焼結した6すなわち50
0で/Hの昇温速度で1900℃まで昇温し、6時間保
持した後、熱処理を行なうことなく室温迄徐冷し、つい
でホーニング加工を施した。
0で/Hの昇温速度で1900℃まで昇温し、6時間保
持した後、熱処理を行なうことなく室温迄徐冷し、つい
でホーニング加工を施した。
このようにして得られたA、l!N焼結基板について、
各々、xH回、折による相同定を行ない、また熱伝導率
を測定するとともに、導電層のメタライズを行ない比較
した。導電層のメタライズは、HO−Ti (Noコ
Ti= 1: 2)でなるペースト状のものを用い、
このペーストをAjN焼結基板に厚さ約10μ信で塗布
し、窒素雰囲気中、約1700℃で焼成して形成した。
各々、xH回、折による相同定を行ない、また熱伝導率
を測定するとともに、導電層のメタライズを行ない比較
した。導電層のメタライズは、HO−Ti (Noコ
Ti= 1: 2)でなるペースト状のものを用い、
このペーストをAjN焼結基板に厚さ約10μ信で塗布
し、窒素雰囲気中、約1700℃で焼成して形成した。
これらの結果を第1表に示す。
(以下余白)
第1表
第1表中、X!1回折評価の「+」はX線回折線強度を
示すものである。また粒界相としてはYAG相(3Y2
o3・5AN 2 o3) 、YAL相(Y2
03八41203) 、 YAH相 (2Y2 0
3 ・ 八ρ 2 03 ) 、Y2O3等が検出
された。
示すものである。また粒界相としてはYAG相(3Y2
o3・5AN 2 o3) 、YAL相(Y2
03八41203) 、 YAH相 (2Y2 0
3 ・ 八ρ 2 03 ) 、Y2O3等が検出
された。
第1表に示すように、本発明例によるものは、YAG相
等の粒界相が表面に偏在し、中央部では少ない、このよ
うに構造により、本発明例のものは、熱伝導率が大きく
かつ導電層めメタライズも良好である。
等の粒界相が表面に偏在し、中央部では少ない、このよ
うに構造により、本発明例のものは、熱伝導率が大きく
かつ導電層めメタライズも良好である。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明によれば、熱伝導性に優れか
つその表面に信顆性の高い導電層を形成しうる窒化アル
ミニウムセラミックス基板を得ることが出来る。
つその表面に信顆性の高い導電層を形成しうる窒化アル
ミニウムセラミックス基板を得ることが出来る。
代理人 弁理士 則 近 憲 佑
同 湯山幸夫
手
杭
補
正
書
(自発)
平成
年
月
Claims (4)
- (1)窒化アルミニウムを主成分とするセラミックス基
板であって、基板中の粒界相を基板の表面部分に偏在さ
せたことを特徴とするセラミックス基板。 - (2)粒界相は、酸素を含むものである特許請求の範囲
第1項記載のセラミックス基板。 - (3)セラミックス基板は、焼結助剤として希土類元素
酸化物およびアルカリ土類元素酸化物を単独または複合
で0.01〜10重量%含むものである特許請求の範囲
第1項記載のセラミックス基板。 - (4)セラミックス基板は、焼結助剤としてイットリウ
ム酸化物を0.01〜10重量%含むものである特許請
求の範囲第1項記載のセラミックス基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62304471A JPH029766A (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | セラミックス基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62304471A JPH029766A (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | セラミックス基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH029766A true JPH029766A (ja) | 1990-01-12 |
Family
ID=17933418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62304471A Pending JPH029766A (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | セラミックス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH029766A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4947788A (en) * | 1988-10-17 | 1990-08-14 | Eastman Kodak Company | Development station having toner monitor |
US5141889A (en) * | 1990-11-30 | 1992-08-25 | Motorola, Inc. | Method of making enhanced insulated gate bipolar transistor |
US7211216B2 (en) * | 2004-06-18 | 2007-05-01 | Ngk Insulators, Ltd. | Aluminum nitride ceramic, semiconductor manufacturing member, and manufacturing method for aluminum nitride ceramic |
JP2021130571A (ja) * | 2020-02-18 | 2021-09-09 | 京セラ株式会社 | 窒化アルミニウム基板、電子装置及び電子モジュール |
-
1987
- 1987-12-03 JP JP62304471A patent/JPH029766A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4947788A (en) * | 1988-10-17 | 1990-08-14 | Eastman Kodak Company | Development station having toner monitor |
US5141889A (en) * | 1990-11-30 | 1992-08-25 | Motorola, Inc. | Method of making enhanced insulated gate bipolar transistor |
US7211216B2 (en) * | 2004-06-18 | 2007-05-01 | Ngk Insulators, Ltd. | Aluminum nitride ceramic, semiconductor manufacturing member, and manufacturing method for aluminum nitride ceramic |
US7605102B2 (en) | 2004-06-18 | 2009-10-20 | Ngk Insulators, Ltd. | Aluminum nitride ceramic and semiconductor manufacturing member |
JP2021130571A (ja) * | 2020-02-18 | 2021-09-09 | 京セラ株式会社 | 窒化アルミニウム基板、電子装置及び電子モジュール |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5038565B2 (ja) | セラミックス回路基板およびその製造方法 | |
JP2000058631A5 (ja) | ||
JPH09153567A (ja) | 高熱伝導性窒化珪素回路基板および半導体装置 | |
JP4387563B2 (ja) | サセプタ及びサセプタの製造方法 | |
JP4804046B2 (ja) | 窒化アルミニウム質セラミックス、半導体製造部材及び窒化アルミニウム質セラミックスの製造方法 | |
CN1155759A (zh) | 氮化硅陶瓷电路基片及使用该陶瓷基片的半导体器件 | |
JP2698780B2 (ja) | 窒化けい素回路基板 | |
JP3408298B2 (ja) | 高熱伝導性窒化けい素メタライズ基板,その製造方法および窒化けい素モジュール | |
CA2276951A1 (en) | Ceramic base material | |
JPH029766A (ja) | セラミックス基板 | |
JP2772273B2 (ja) | 窒化けい素回路基板 | |
JPS6184037A (ja) | 窒化アルミニウム系セラミツクス基板 | |
JP2000143349A (ja) | 窒化アルミニウム質焼結体およびそれを用いた静電チャック | |
JPH08319187A (ja) | 高熱伝導性窒化けい素回路基板 | |
JPH02275765A (ja) | 窒化アルミニウム焼結体の製造方法 | |
JP2563809B2 (ja) | 半導体用窒化アルミニウム基板 | |
JP2772274B2 (ja) | 複合セラミックス基板 | |
JPH08236599A (ja) | ウェハ保持装置 | |
JP3623107B2 (ja) | 静電チャック | |
JPS6217076A (ja) | 窒化アルミニウム粉末組成物 | |
JP3370532B2 (ja) | 静電チャック | |
JPH10189698A (ja) | 静電チャック | |
JP5073135B2 (ja) | 窒化アルミニウム焼結体、その製造方法及び用途 | |
JPH08109069A (ja) | 窒化アルミニウム焼結体 | |
JP3588253B2 (ja) | 静電チャック |