JPH0295035U - - Google Patents

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JPH0295035U
JPH0295035U JP147789U JP147789U JPH0295035U JP H0295035 U JPH0295035 U JP H0295035U JP 147789 U JP147789 U JP 147789U JP 147789 U JP147789 U JP 147789U JP H0295035 U JPH0295035 U JP H0295035U
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JP
Japan
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vacuum container
masking
repair
section
pattern
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【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案に係るパターン白欠陥の修正
をするための膜形成方法に蒸着を用いた装置を示
す概略断面図、第2図はこの考案に係るパターン
白欠陥の修正をするための膜形成方法にスパツタ
リングを用いた装置を示す概略断面図、第3図a
は、白欠陥の大きさ、形状を合わせるための開口
部の平面図、第3図bは第3図aのA―A′断面
図、第4図はフオトマスクの表面の一部を示す図
、第5図aはサーマルヘツドの一部を示す図、第
5図bは第5図aのB―B′断面図である。 2……白欠陥部、10……真空容器、12……
ベローズ、14……開口部、16……Cr材、1
9……顕微鏡。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 基板上に形成されたパターン欠陥を修正するリ
    ペア装置において、加熱手段、電圧供給手段、及
    び、発生粒子源等からなる粒子発生部を内蔵し、
    該発生粒子源と対向する部位に空孔部を有する真
    空容器と、該真空容器の排気手段と、該空孔部外
    側に摺動可能に配置された種々形状の開口部を有
    するマスキング部と、該マスキング部を摺動する
    マスキング可変手段と、該マスキング部を介して
    該真空容器に装着される修正基板と該真空容器と
    のシール部と、該修正基板の大気側に配置される
    該修正基板のパターン欠陥検出手段とを具備する
    ことを特徴とするパターン白欠陥リペア装置。
JP147789U 1989-01-10 1989-01-10 Pending JPH0295035U (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006299292A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Ulvac Kyushu Corp 真空成膜装置及び成膜方法
JP2011089203A (ja) * 2010-10-25 2011-05-06 Ulvac Kyushu Corp 真空成膜装置及び成膜方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006299292A (ja) * 2005-04-15 2006-11-02 Ulvac Kyushu Corp 真空成膜装置及び成膜方法
JP4691385B2 (ja) * 2005-04-15 2011-06-01 アルバック九州株式会社 真空成膜装置
JP2011089203A (ja) * 2010-10-25 2011-05-06 Ulvac Kyushu Corp 真空成膜装置及び成膜方法

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