JPH0285370A - 酸化物薄膜の製造方法 - Google Patents
酸化物薄膜の製造方法Info
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- JPH0285370A JPH0285370A JP27942788A JP27942788A JPH0285370A JP H0285370 A JPH0285370 A JP H0285370A JP 27942788 A JP27942788 A JP 27942788A JP 27942788 A JP27942788 A JP 27942788A JP H0285370 A JPH0285370 A JP H0285370A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、有機金属の原料を用い、化学気相成長法(
CVD) により、基板上に酸化物薄膜を堆積させる
酸化物薄膜の製造方法に関する。
CVD) により、基板上に酸化物薄膜を堆積させる
酸化物薄膜の製造方法に関する。
(従来の技術)
従来の酸化物薄膜の製造方法としては、例えば第3図に
示すようなものがある。
示すようなものがある。
真空室1内に、アルゴン(Ar)等の不活性ガスを、ポ
ンプ4によって導入し、真空室1内を減圧にし、ターゲ
ット2と基板3との間に高電圧を印加して放電を行わせ
る。そうすることによって、基板3にターゲット2の元
素を堆積し薄膜が形成される。
ンプ4によって導入し、真空室1内を減圧にし、ターゲ
ット2と基板3との間に高電圧を印加して放電を行わせ
る。そうすることによって、基板3にターゲット2の元
素を堆積し薄膜が形成される。
これはいわゆるスパッタ法といわれている〔ジャパニー
ズ・ジャーナル・アプライド・フィジックス(Jpn、
J、 Appl、 Phys、) Vol、 26.
、、、No、7.1987年参照〕。したがって、こ
のような方法で酸化物薄膜の積層体を製造する場合には
、ターゲットを組成の異なるものと交換するか、他のス
パッタ装置を用いる必要がある。
ズ・ジャーナル・アプライド・フィジックス(Jpn、
J、 Appl、 Phys、) Vol、 26.
、、、No、7.1987年参照〕。したがって、こ
のような方法で酸化物薄膜の積層体を製造する場合には
、ターゲットを組成の異なるものと交換するか、他のス
パッタ装置を用いる必要がある。
その他、各酸化物の原料(YzO3,Ban、 CuO
等)を、別々の蒸発源から電子ビーム等によって加熱し
、対向する基板上に薄膜を堆積させる方法〔フィジカル
・レビュー・レターズ(Phys、 Rev、 Let
t、)Vol、 58. ’No、25.1987参
照〕ヲ用イテ酸化物薄膜の積層構造体を製造する方法が
ある。
等)を、別々の蒸発源から電子ビーム等によって加熱し
、対向する基板上に薄膜を堆積させる方法〔フィジカル
・レビュー・レターズ(Phys、 Rev、 Let
t、)Vol、 58. ’No、25.1987参
照〕ヲ用イテ酸化物薄膜の積層構造体を製造する方法が
ある。
(発明が解決しようとする課題)
ところでこのような従来の酸化物薄膜の製造方法にあっ
ては、スパッタ法では、堆積する膜の組成はターゲット
の元素組成や、スパッタ条件(電圧の印加条件や圧力や
ガス混合比)に大きく依存し、コントロールが困難であ
り、良質の膜を得ることが難く、また均一な組成の膜を
大面積にわたって作製することは更に困難であり、量産
もできず、実用には向かない。特にYBa、Cu、0.
の膜は、その組成比を1:2:3にすることが重要であ
り、鉄膜の作成は極めて困難である。更に酸化物薄膜の
積層体を製造する場合には、ターゲットを組成の異なる
ものと交換するか、他のスパッタ装置を用いる必要があ
り、生産性に欠けると考えられる。
ては、スパッタ法では、堆積する膜の組成はターゲット
の元素組成や、スパッタ条件(電圧の印加条件や圧力や
ガス混合比)に大きく依存し、コントロールが困難であ
り、良質の膜を得ることが難く、また均一な組成の膜を
大面積にわたって作製することは更に困難であり、量産
もできず、実用には向かない。特にYBa、Cu、0.
の膜は、その組成比を1:2:3にすることが重要であ
り、鉄膜の作成は極めて困難である。更に酸化物薄膜の
積層体を製造する場合には、ターゲットを組成の異なる
ものと交換するか、他のスパッタ装置を用いる必要があ
り、生産性に欠けると考えられる。
また電子ビーム等による方法では、酸化のコントロール
等に難しい点が多く、酸化物薄層の積層構造体を製造す
る場合では、更に組成のコントロールが困難であり、作
成が一層困難である。また従来の薄膜製造方法において
は、単にくっついた原料同士を反応させる為に、電熱炉
等に膜を挿入して、空気もしくは酸素の雰囲気中で90
0℃位の温度で加熱する、熱処理が必要なことから、半
導体基板の材料として珪素を使った場合、高温(900
℃)の熱処理を行うと珪素が酸化してしまうので、半導
体デバイスや集積回路の基板材料として、珪素を使うこ
とができない。そのため基板材料の選択が限定されて、
コストが高くなり、またその応用範囲が限定されるとい
う問題があった。
等に難しい点が多く、酸化物薄層の積層構造体を製造す
る場合では、更に組成のコントロールが困難であり、作
成が一層困難である。また従来の薄膜製造方法において
は、単にくっついた原料同士を反応させる為に、電熱炉
等に膜を挿入して、空気もしくは酸素の雰囲気中で90
0℃位の温度で加熱する、熱処理が必要なことから、半
導体基板の材料として珪素を使った場合、高温(900
℃)の熱処理を行うと珪素が酸化してしまうので、半導
体デバイスや集積回路の基板材料として、珪素を使うこ
とができない。そのため基板材料の選択が限定されて、
コストが高くなり、またその応用範囲が限定されるとい
う問題があった。
この発明はこのような従来の課題に着目してなされたも
ので、膜堆積後の熱処理を必要とせず、容易に有機金属
を原料とした、酸化物薄膜を得ることができる、酸化物
薄膜の製造方法を提供することをその目的とする。
ので、膜堆積後の熱処理を必要とせず、容易に有機金属
を原料とした、酸化物薄膜を得ることができる、酸化物
薄膜の製造方法を提供することをその目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記の課題を解決するための手段として、そ
の構成を、有機金属を加熱して気化させた気体と、H,
0に酸素を供給しながら加熱して気化させ、前記2つの
気体を、混合して加熱することにより、i板上に酸化物
を生成することとした。
の構成を、有機金属を加熱して気化させた気体と、H,
0に酸素を供給しながら加熱して気化させ、前記2つの
気体を、混合して加熱することにより、i板上に酸化物
を生成することとした。
(実施例)
以下この発明を、トリス(ジピバロイルメタナト)イン
ドリウムY(CIIHI90□)3 (以下Y ([]
PM) 3ト言つ)、ビス(ヘキサフルオロアセチルア
セトン)バリウム、Ba (C5HF802) 2 (
以下Ba (HFA) 2と言つ)およびビス(ヘキサ
フルオロアセチルアセトン)銅CLI (C5HF60
2) 2 (以下Cu (HFA) 2と言う)の3種
類の有機金属を用いて酸化物薄膜を基板に形成する例に
より図面に基づいて説明する。
ドリウムY(CIIHI90□)3 (以下Y ([]
PM) 3ト言つ)、ビス(ヘキサフルオロアセチルア
セトン)バリウム、Ba (C5HF802) 2 (
以下Ba (HFA) 2と言つ)およびビス(ヘキサ
フルオロアセチルアセトン)銅CLI (C5HF60
2) 2 (以下Cu (HFA) 2と言う)の3種
類の有機金属を用いて酸化物薄膜を基板に形成する例に
より図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の実施例の、酸化物薄膜を製造する装置
の構成図で、3個の蒸発槽11があり、これを加熱する
為の蒸発槽(バブラ)用ヒータ12がある。蒸発槽11
には、マス70−コントローラ13から、バルブ14を
経て、図示しないポンプにより、不活性ガスを導入する
バイブ15があり、バルブ16を経て蒸発ガスを出す吐
出管17が取付けられている。また別の蒸発槽18があ
り、これを加熱する蒸発槽用ヒータ19がある。蒸発槽
18にはバルブ20を経て、図示しないポンプにより、
不活性ガスを導入するパイプ21があり、バルブ22を
纒て蒸発ガスを出す吐出管23が取付けられている。3
個の蒸発槽11からの吐出管17と、別の蒸発槽18か
らの吐出管23とは、−個所に集合して、混合器25に
連結している。混合器25に続いて反応管26が設けら
れ、反応管26の内部に基板27が載置されており、反
応管26の周囲にはヒータ28が設けられている。また
反応管26はダクト29に連接し、ダクト29は排気ポ
ンプ30に連接している。
の構成図で、3個の蒸発槽11があり、これを加熱する
為の蒸発槽(バブラ)用ヒータ12がある。蒸発槽11
には、マス70−コントローラ13から、バルブ14を
経て、図示しないポンプにより、不活性ガスを導入する
バイブ15があり、バルブ16を経て蒸発ガスを出す吐
出管17が取付けられている。また別の蒸発槽18があ
り、これを加熱する蒸発槽用ヒータ19がある。蒸発槽
18にはバルブ20を経て、図示しないポンプにより、
不活性ガスを導入するパイプ21があり、バルブ22を
纒て蒸発ガスを出す吐出管23が取付けられている。3
個の蒸発槽11からの吐出管17と、別の蒸発槽18か
らの吐出管23とは、−個所に集合して、混合器25に
連結している。混合器25に続いて反応管26が設けら
れ、反応管26の内部に基板27が載置されており、反
応管26の周囲にはヒータ28が設けられている。また
反応管26はダクト29に連接し、ダクト29は排気ポ
ンプ30に連接している。
有機金属の原料を蒸発槽11に入れ、蒸発槽用ヒータ1
2によって加熱して原料を気化させ、蒸発槽内の蒸気圧
を一定の値に保持している。蒸発槽11にはヘリウム、
アルゴン、ネオン等の不活性ガス力、ハイフ15ヲ通過
シ、マスフローコントローラ13およびバルブ14を経
て、供給されている。マスフローコントローラ13によ
り、少なくとも蒸発槽11に流す不活性ガスの量を調整
すると、または蒸発槽用ヒータ12による加熱の調整を
することにより、反応管26へ送る気化した有機金属原
料の、流量の調節を行っている。
2によって加熱して原料を気化させ、蒸発槽内の蒸気圧
を一定の値に保持している。蒸発槽11にはヘリウム、
アルゴン、ネオン等の不活性ガス力、ハイフ15ヲ通過
シ、マスフローコントローラ13およびバルブ14を経
て、供給されている。マスフローコントローラ13によ
り、少なくとも蒸発槽11に流す不活性ガスの量を調整
すると、または蒸発槽用ヒータ12による加熱の調整を
することにより、反応管26へ送る気化した有機金属原
料の、流量の調節を行っている。
また別の蒸発槽18の中にはH,0を入れ、蒸発槽用ヒ
ータ19によって加熱する。更に蒸発槽18には、ヘリ
ウム、ネオン、アルゴン等の不活性ガスに、酸素や酸化
窒素を加えたものが、バイブ21を通過して、バルブ2
0を経て供給されている。
ータ19によって加熱する。更に蒸発槽18には、ヘリ
ウム、ネオン、アルゴン等の不活性ガスに、酸素や酸化
窒素を加えたものが、バイブ21を通過して、バルブ2
0を経て供給されている。
蒸発槽11からは、不活性ガスをキャリアガスとして、
気化した原料が送出され、蒸発槽18からは不活性ガス
をキャリアガスとして、酸素や酸化窒素および気化した
H2Oが送出される。そしてそれぞれの蒸発槽から送出
されるガスは、吐出管17゜23を通過して、混合器2
5によって混合され、反応管26に到達する。
気化した原料が送出され、蒸発槽18からは不活性ガス
をキャリアガスとして、酸素や酸化窒素および気化した
H2Oが送出される。そしてそれぞれの蒸発槽から送出
されるガスは、吐出管17゜23を通過して、混合器2
5によって混合され、反応管26に到達する。
反応管26では、それぞれの蒸発槽11からの気化した
原料、および蒸発槽18からの酸素や酸化窒素および気
化したH、0が、ヒータ28によって加熱される。そし
て反応管26内には、基板27が載置されていて、基板
27はヒータ28または赤外線等により、所定の温度に
加熱されている。
原料、および蒸発槽18からの酸素や酸化窒素および気
化したH、0が、ヒータ28によって加熱される。そし
て反応管26内には、基板27が載置されていて、基板
27はヒータ28または赤外線等により、所定の温度に
加熱されている。
基板としては5rTiO=、 MgO,YS2 (安
定化ジルコニア)等を用いることができる。基板の種類
により、膜の特性が変化する。この原因は基板と超伝導
薄膜との格子定数、熱膨張率の相違が考えられる。特性
的には、3r’l” in3が現在最適である。
定化ジルコニア)等を用いることができる。基板の種類
により、膜の特性が変化する。この原因は基板と超伝導
薄膜との格子定数、熱膨張率の相違が考えられる。特性
的には、3r’l” in3が現在最適である。
そして加熱された基板27上に、混合器25を通過した
ガスが流れ込むと、反応管26内では、流れ込んだガス
が基板27上で、次のような反応を起こし、酸化膜が基
板27に堆積する。
ガスが流れ込むと、反応管26内では、流れ込んだガス
が基板27上で、次のような反応を起こし、酸化膜が基
板27に堆積する。
MR,+ H2O→MO+2RH(1)閘’ R3’
+(3/2) H20→(1/2) M2’ Q
、+ 3R’ H(2)(ただしMは金属、Rは有機基
) 前記YBa2Cu30yの酸化物超伝導薄膜を形成する
ときには、原料にY (DPM)、、Ba (HFA)
2およびCu (HFA) 2を用いると、前記(1
)式の反応はBa ・(HFA)、 + 820 −+
Ba ・0 + Ba −HCu ・(HFA)2
+ H,0−Cu ・0 + Cu −Hとなり、前記
(2)式の反応は Y(DPM)3 + (3/2) H20→(1/2)
y2o3+ 3Y −Hとなり、上記下線の化合物が更
に反応しあってBaO+ CuO+ (1/2) Y2
O3+ KO2となり、最i的に Y、Ba、Cu、Oy ができる。
+(3/2) H20→(1/2) M2’ Q
、+ 3R’ H(2)(ただしMは金属、Rは有機基
) 前記YBa2Cu30yの酸化物超伝導薄膜を形成する
ときには、原料にY (DPM)、、Ba (HFA)
2およびCu (HFA) 2を用いると、前記(1
)式の反応はBa ・(HFA)、 + 820 −+
Ba ・0 + Ba −HCu ・(HFA)2
+ H,0−Cu ・0 + Cu −Hとなり、前記
(2)式の反応は Y(DPM)3 + (3/2) H20→(1/2)
y2o3+ 3Y −Hとなり、上記下線の化合物が更
に反応しあってBaO+ CuO+ (1/2) Y2
O3+ KO2となり、最i的に Y、Ba、Cu、Oy ができる。
このときの組成コントロールは、各原料の供給量を、蒸
発槽11の温度や、キャリアガスの流量を変化させるこ
とにより増減させて、容易に実現できる。また酸化物中
の酸素組成は、他の蒸発槽18から、酸素を同時に供給
することにより、コントロールできる。なお酸素の代わ
りに、空気、オゾンまたは酸化窒素等を使用しても、同
様な効果が得られる。
発槽11の温度や、キャリアガスの流量を変化させるこ
とにより増減させて、容易に実現できる。また酸化物中
の酸素組成は、他の蒸発槽18から、酸素を同時に供給
することにより、コントロールできる。なお酸素の代わ
りに、空気、オゾンまたは酸化窒素等を使用しても、同
様な効果が得られる。
さらに上記の反応にあっては、有機金属と水素との化合
物は気体であるため、基板上に不要な不純物が残らず、
良質な膜が堆積される。またこの反応は一般に500℃
以下の、比較的低温で起こるため、電子回路等の配線等
に、この酸化物を使用することができる。
物は気体であるため、基板上に不要な不純物が残らず、
良質な膜が堆積される。またこの反応は一般に500℃
以下の、比較的低温で起こるため、電子回路等の配線等
に、この酸化物を使用することができる。
前記CVO装置を用い、Y (DPM) s、 B (
HFA) 2およびCu (HFA) 2を用いて酸化
物薄膜を製造する場合には各原料を充填した蒸発槽の温
度は次の範囲とし、原料を反応管に導くガスラインの温
度を各原料の分解温度以下とするのが好ましい; 蒸発槽温度 (リ Y(DPM)3 140〜390 ℃(0
) Ba(HFA)z 200 〜270
℃(/l) CLI (HFA)2 60
〜300 ℃尚上記の各原料はそれぞれ次に示すよ
うな物性をもっている。
HFA) 2およびCu (HFA) 2を用いて酸化
物薄膜を製造する場合には各原料を充填した蒸発槽の温
度は次の範囲とし、原料を反応管に導くガスラインの温
度を各原料の分解温度以下とするのが好ましい; 蒸発槽温度 (リ Y(DPM)3 140〜390 ℃(0
) Ba(HFA)z 200 〜270
℃(/l) CLI (HFA)2 60
〜300 ℃尚上記の各原料はそれぞれ次に示すよ
うな物性をもっている。
i) Y(DPM>3について
数トル(罷1(g)以下の減圧中において、この原料は
140℃近くから蒸気圧をもち、昇華をはじめる。
140℃近くから蒸気圧をもち、昇華をはじめる。
また融点は160℃近くにある。また酸素中では390
℃近くで分解が起こる。
℃近くで分解が起こる。
ii) Ba(HFA)2
同じ<245℃近くに融点をもつが、同時に分解も起こ
る。ただし、220℃近くから昇華がはじまる。450
℃近くで酸素中において分解する。
る。ただし、220℃近くから昇華がはじまる。450
℃近くで酸素中において分解する。
1ii) Cu()IFA)。
同じ<66℃近くから昇華が始まり、100℃近くに融
点をもつ。分解は300℃近くで起きる。
点をもつ。分解は300℃近くで起きる。
以上の結果を、熱分析から得ている。
次に、第2図は本発明の他の実施例で、有機金属および
酸素の蒸発槽31から、蒸発ガスが、混合器を介せず、
直ちに反応管36に到達するものである。その他の部分
は第1図の実施例と同様で、同一部材は同一符号を以っ
て示す。蒸発槽31から蒸発ガスを送り出す吐出管35
があり、反応管36に入る吐出管35の長さを調節する
ことにより各原料間の不要な反応をおさえることができ
る。
酸素の蒸発槽31から、蒸発ガスが、混合器を介せず、
直ちに反応管36に到達するものである。その他の部分
は第1図の実施例と同様で、同一部材は同一符号を以っ
て示す。蒸発槽31から蒸発ガスを送り出す吐出管35
があり、反応管36に入る吐出管35の長さを調節する
ことにより各原料間の不要な反応をおさえることができ
る。
実施例I
Y (OP M) 3. Ba (HFA)2およびC
u (HFA) 2を用い、第1図の装置を使用して次
の表に示す条件で各原料ガスを反応管に通し、SrT+
Oz基板上に酸化物薄膜を作製した。即ち所定温度に加
熱した蒸発槽からキャリヤーガスのアルゴンにより、0
□、H2Oと共に反応管に原料ガスを導入した。反応管
はあらかじめ電気炉で600℃に加熱し、ここに原料ガ
スを導入すると基板上に表に示す堆積物が蒸着した。
u (HFA) 2を用い、第1図の装置を使用して次
の表に示す条件で各原料ガスを反応管に通し、SrT+
Oz基板上に酸化物薄膜を作製した。即ち所定温度に加
熱した蒸発槽からキャリヤーガスのアルゴンにより、0
□、H2Oと共に反応管に原料ガスを導入した。反応管
はあらかじめ電気炉で600℃に加熱し、ここに原料ガ
スを導入すると基板上に表に示す堆積物が蒸着した。
ガスライン温度は225 ℃±1℃
反応管温度は600℃
水蒸気の圧力は26トル
蒸発槽の温度は、原料の分解温度より低い値で、かつ十
分な蒸気圧をとれる温度とした。基板上に堆積した物質
をX線回折およびBPMAにより同定した。
分な蒸気圧をとれる温度とした。基板上に堆積した物質
をX線回折およびBPMAにより同定した。
実施例2
Y(DPM) 3. Ba(HFA) 2 JsよびC
u (HFA) 2を用い、第1図の装置により次の条
件でY−Ba−Cu−0酸化物超伝導体艙膜を作製した
。
u (HFA) 2を用い、第1図の装置により次の条
件でY−Ba−Cu−0酸化物超伝導体艙膜を作製した
。
作製条件
0□流量 + 3p/m1n
H20温度:25℃
基板温度二600℃
配管温度:240℃
基板としてSrTiO3を用いた。先ず上記温度に加熱
した蒸発槽からキャリガスのアルゴンにより0□。
した蒸発槽からキャリガスのアルゴンにより0□。
H2Oと共に反応管に原料を導入した。この際反応管の
圧力を約10トルに保持した。反応管内の基板をあらか
じめ電気炉で600℃に加熱し、ここに原料を導入する
と分解して基板上に10X10X10、厚さ約1100
0nの膜が堆積した。膜の組成を発光分光分析により測
定したところ、Y、Ba2Cu、Oy(但しyは(3,
5<y<7.0 )であった。
圧力を約10トルに保持した。反応管内の基板をあらか
じめ電気炉で600℃に加熱し、ここに原料を導入する
と分解して基板上に10X10X10、厚さ約1100
0nの膜が堆積した。膜の組成を発光分光分析により測
定したところ、Y、Ba2Cu、Oy(但しyは(3,
5<y<7.0 )であった。
第4図に得られたY、Ba2Cu、Oy超伝導体の電気
抵抗の温度依存性を示す。
抵抗の温度依存性を示す。
原料の供給量は蒸発槽温度、ガス流量を変化することに
より容易にコントロールすることができる。
より容易にコントロールすることができる。
Ba/Y、Cu/Yの比率が10%以下の誤差となる範
囲は約5QX15mmであった。この面積は、反応管の
内径が25印と細いためで、反応管の形状を変更するこ
とにより、容易に大面積化ができる。
囲は約5QX15mmであった。この面積は、反応管の
内径が25印と細いためで、反応管の形状を変更するこ
とにより、容易に大面積化ができる。
更に、本発明においては、前記の如くして3種以上の有
機金属を加熱して気化させた気体を、酸素と混合加熱す
ることに酸化物薄膜を生成し、次いで気化した気体の流
量を制御することにより、構成元素が同一で特性の異な
る酸化物を積層することにより酸化物薄膜積層構造体を
製造することができる。尚酸素を混合する場合には実施
例1の方法と同様に820を供給しても特性的には変化
しない。気体の流量の制御は、原料の蒸発槽の温度また
はキャリヤガスの流量を制御することにより行われる。
機金属を加熱して気化させた気体を、酸素と混合加熱す
ることに酸化物薄膜を生成し、次いで気化した気体の流
量を制御することにより、構成元素が同一で特性の異な
る酸化物を積層することにより酸化物薄膜積層構造体を
製造することができる。尚酸素を混合する場合には実施
例1の方法と同様に820を供給しても特性的には変化
しない。気体の流量の制御は、原料の蒸発槽の温度また
はキャリヤガスの流量を制御することにより行われる。
こ゛の方法によると同じ装置で酸化物超伝導薄膜間に絶
縁膜を挿入した酸化物薄膜積層構造体を作成することが
でき、従って酸化物超伝導薄膜を用いた電子素子を容易
に作製することができる。
縁膜を挿入した酸化物薄膜積層構造体を作成することが
でき、従って酸化物超伝導薄膜を用いた電子素子を容易
に作製することができる。
実施例3
Y (DPM) 3. Ba ()IFA) 2および
Cu (tlFA)2を用い、第1図において酸素用H
,0蒸発槽を用いない他は同様の装置を用いて次の条件
でY−Ba−Cu−0酸化物超伝導体薄膜を製造した。
Cu (tlFA)2を用い、第1図において酸素用H
,0蒸発槽を用いない他は同様の装置を用いて次の条件
でY−Ba−Cu−0酸化物超伝導体薄膜を製造した。
作製条件
0□流量 : 3j!/min
基板温度 二600℃
混合器温度=240℃
吐出量温度:240℃
反応管内圧: 1330Pa
即ちY(DPM)3. Ha(I(FA)2右よびCu
(HFA) 、を別々に3個の蒸発槽11に入れ、蒸
発槽用ヒータ12により加熱して原料を気化させ蒸発槽
内の蒸気圧を一定の値に保持し、蒸発槽11には不活性
ガスとしてアルゴンをパイプ15を通し、マスフローコ
ントローラー13およびバルブ14を経て、上記流量で
供給した。また蒸発槽ヒータ12により蒸発槽の温度を
上記温度に加熱し、反応管26へ送る気化した各有機金
属原料の流量を調節した。
(HFA) 、を別々に3個の蒸発槽11に入れ、蒸
発槽用ヒータ12により加熱して原料を気化させ蒸発槽
内の蒸気圧を一定の値に保持し、蒸発槽11には不活性
ガスとしてアルゴンをパイプ15を通し、マスフローコ
ントローラー13およびバルブ14を経て、上記流量で
供給した。また蒸発槽ヒータ12により蒸発槽の温度を
上記温度に加熱し、反応管26へ送る気化した各有機金
属原料の流量を調節した。
一方酸素をバルブ22を経て供給し、それぞれの蒸発槽
から送出されるガスと酸素を吐出管17.23を経て混
合器25で混合し、反応管26へ導入した(この際酸素
に水を供給しても特性的には変化しなかった)。反応管
26をヒータ28により加熱し、5rT102基板27
を600℃に加熱した。混合器25上を通過したガスを
反応管26内に通し、基板27上に酸化膜を堆積させた
。この膜を空気中、850℃で熱処理することにより、
第4図に示す特性の超伝導膜YBa2Cu30y〈但し
yは6.5< y <7.0) が得られた。
から送出されるガスと酸素を吐出管17.23を経て混
合器25で混合し、反応管26へ導入した(この際酸素
に水を供給しても特性的には変化しなかった)。反応管
26をヒータ28により加熱し、5rT102基板27
を600℃に加熱した。混合器25上を通過したガスを
反応管26内に通し、基板27上に酸化膜を堆積させた
。この膜を空気中、850℃で熱処理することにより、
第4図に示す特性の超伝導膜YBa2Cu30y〈但し
yは6.5< y <7.0) が得られた。
次にY (DPM) ff+ Ba (HFA) 2お
よびCu (HFA) 2の不活性ガス流量を各々30
0cc/分、 375 cc/分および10cc/分と
し、他の条件を前記と同様にし、薄膜を作成し、空気中
、850℃で熱処理することにより緑色の絶縁性薄膜(
Y2BaCuO,)を得た。
よびCu (HFA) 2の不活性ガス流量を各々30
0cc/分、 375 cc/分および10cc/分と
し、他の条件を前記と同様にし、薄膜を作成し、空気中
、850℃で熱処理することにより緑色の絶縁性薄膜(
Y2BaCuO,)を得た。
以下同様に操作を繰返して第5図に示す積層構造体を得
た。第5図において27は基板、41は超伝導膜、42
は絶縁性薄膜を示す。
た。第5図において27は基板、41は超伝導膜、42
は絶縁性薄膜を示す。
有機金属材料としてY ([lPM) 3の代わりにラ
ンタン(Ln)系元素の有機化合物、例えばトリスシク
ロペンタジエチル化合物(C5H5)、L、およびトリ
スメチルシクロペンタジエチル化合物(CL−Cstl
s) 3Ln等を用いてLnlBa2Cu30yの超伝
導膜を得ることができた。
ンタン(Ln)系元素の有機化合物、例えばトリスシク
ロペンタジエチル化合物(C5H5)、L、およびトリ
スメチルシクロペンタジエチル化合物(CL−Cstl
s) 3Ln等を用いてLnlBa2Cu30yの超伝
導膜を得ることができた。
また、本例においては、有機金属としてY (DPM)
3゜8a (HFA) 2およびCu (HFA)
xを用いたが、有機バリウム化合物としてBa (DP
M) 2. Ba (PPM) 2.有機イツトリウム
化合物としてY (tlFA) 5、有機銅化合物とし
てCu (OP M) 2.Cu (P PM) 2を
用いることができる。
3゜8a (HFA) 2およびCu (HFA)
xを用いたが、有機バリウム化合物としてBa (DP
M) 2. Ba (PPM) 2.有機イツトリウム
化合物としてY (tlFA) 5、有機銅化合物とし
てCu (OP M) 2.Cu (P PM) 2を
用いることができる。
但しDPM ニジピバロイルメタネートHFA :ヘキ
サフルオロアセチルアセトンPPM :ペンタフルオロ
プロパノイルピバロイルメタン を示す。
サフルオロアセチルアセトンPPM :ペンタフルオロ
プロパノイルピバロイルメタン を示す。
(発明の効果)
以上、説明したように、この発明によれば、1種類以上
の有機金属を加熱して気化させた気体と、H2Oに酸素
を供給しながら加熱して気化させた気体とを、混合して
加熱することにより酸化物薄膜を生成する為、薄膜形成
後の反応を促進させる為の、高温での加熱を行うことな
く、低温で良質の酸化物が得られる。よって高温の熱処
理を省略でき、高温の熱処理が不可能な、電子回路の配
線等に、このようにして生成した酸化物薄膜を使用でき
る。
の有機金属を加熱して気化させた気体と、H2Oに酸素
を供給しながら加熱して気化させた気体とを、混合して
加熱することにより酸化物薄膜を生成する為、薄膜形成
後の反応を促進させる為の、高温での加熱を行うことな
く、低温で良質の酸化物が得られる。よって高温の熱処
理を省略でき、高温の熱処理が不可能な、電子回路の配
線等に、このようにして生成した酸化物薄膜を使用でき
る。
また図示する装置を用い、蒸発槽の温度、流量をかえる
ことにより、組成のコントロールが容易で、酸化物超伝
導体膜の作成に加えて、気化した気体の流量を制御する
ことによって組成の異なる酸化物薄膜を積層して酸化物
薄膜積層構造体が製造されるた応、容易に超伝導薄膜、
絶縁薄膜等の特性の異なる薄膜の積層体を製造すること
ができ、この酸化物薄膜積層構造体を用いることにより
、酸化物超伝導体を用いたジョセフソン素子のような超
伝導デバイスを容易に作成することができるという効果
が得られる。
ことにより、組成のコントロールが容易で、酸化物超伝
導体膜の作成に加えて、気化した気体の流量を制御する
ことによって組成の異なる酸化物薄膜を積層して酸化物
薄膜積層構造体が製造されるた応、容易に超伝導薄膜、
絶縁薄膜等の特性の異なる薄膜の積層体を製造すること
ができ、この酸化物薄膜積層構造体を用いることにより
、酸化物超伝導体を用いたジョセフソン素子のような超
伝導デバイスを容易に作成することができるという効果
が得られる。
第1図は本発明の実施例に係る薄膜製造装置の構成図、
第2図は本発明の他の実施例の製造装置の構成図、
第3図は従来の酸化物薄膜製造装置の構成図、第4図は
本発明の方法により作製した超伝導薄膜抵抗の温度依存
性を示す曲線図、 第5図は実施例3で得られた酸化物積層体の構成図であ
る。
本発明の方法により作製した超伝導薄膜抵抗の温度依存
性を示す曲線図、 第5図は実施例3で得られた酸化物積層体の構成図であ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、1種類以上の有機金属を加熱して気化させた気体と
、H_2Oに酸素を供給しながら加熱して気化させた気
体とを、混合して加熱することにより、酸化物薄膜を生
成することを特徴とする酸化物薄膜の製造方法。 2、3種類以上の有機金属を加熱して気化させた気体を
、酸素と混合加熱することにより酸化物薄膜を製造する
に当たり、気化した気体の流量を制御することにより、
構成元素が同一で特性の異なる酸化物薄膜を積層するこ
とを特徴とする酸化物薄膜積層構造体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27942788A JPH0285370A (ja) | 1988-06-07 | 1988-11-07 | 酸化物薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63-138401 | 1988-06-07 | ||
JP13840188 | 1988-06-07 | ||
JP27942788A JPH0285370A (ja) | 1988-06-07 | 1988-11-07 | 酸化物薄膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0285370A true JPH0285370A (ja) | 1990-03-26 |
Family
ID=26471436
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27942788A Pending JPH0285370A (ja) | 1988-06-07 | 1988-11-07 | 酸化物薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0285370A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2261444A (en) * | 1991-11-12 | 1993-05-19 | Fujitsu Ltd | Chemical vapor phase growth of silicides in the presence of water |
WO1995018249A1 (fr) * | 1993-12-24 | 1995-07-06 | Seiko Epson Corporation | Procede et appareil de traitement d'une surface au plasma sous pression atmospherique, procede de production d'un dispositif a semi-conducteurs et procede de production d'une tete d'imprimante a jet d'encre |
US5686151A (en) * | 1993-09-14 | 1997-11-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of forming a metal oxide film |
US8994382B2 (en) | 2006-04-12 | 2015-03-31 | Novo Nordisk A/S | Absolute position determination of movably mounted member in medication delivery device |
US9522238B2 (en) | 2005-05-10 | 2016-12-20 | Novo Nordisk A/S | Injection device comprising an optical sensor |
US9950117B2 (en) | 2009-02-13 | 2018-04-24 | Novo Nordisk A/S | Medical device and cartridge |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01308808A (ja) * | 1988-06-06 | 1989-12-13 | Mitsubishi Metal Corp | 膜状超電導体の製造方法 |
-
1988
- 1988-11-07 JP JP27942788A patent/JPH0285370A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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