JPH03243779A - 酸化物超電導薄膜製造装置 - Google Patents
酸化物超電導薄膜製造装置Info
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- JPH03243779A JPH03243779A JP2037439A JP3743990A JPH03243779A JP H03243779 A JPH03243779 A JP H03243779A JP 2037439 A JP2037439 A JP 2037439A JP 3743990 A JP3743990 A JP 3743990A JP H03243779 A JPH03243779 A JP H03243779A
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Classifications
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、酸化物超電導薄膜を製造するための装置に関
する。
する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課題]酸化物
超電導薄膜の製造方法として、スパッタリング法や真空
蒸着法を代表とする物理気相成長法(PVD法)や、気
化した揮発性化合物で基板の表面に薄膜を析出させる化
学気相成長法(CVD法)等が従来から実施されてきた
。
超電導薄膜の製造方法として、スパッタリング法や真空
蒸着法を代表とする物理気相成長法(PVD法)や、気
化した揮発性化合物で基板の表面に薄膜を析出させる化
学気相成長法(CVD法)等が従来から実施されてきた
。
これらのPVD法やCVD法等の方法では、良質な超電
導薄膜を得るために、減圧した状態で薄膜を製造するた
め、減圧用真空系統が不可欠であったり、高周波発生装
置や蒸着装置が必要であったりして、装置全体が大掛り
で高価なものにならざるを得なかった。このため、単に
組成の試作実験を行うためだけに超電導薄膜製造装置を
導入することは、経済的な面から容易でなかった。
導薄膜を得るために、減圧した状態で薄膜を製造するた
め、減圧用真空系統が不可欠であったり、高周波発生装
置や蒸着装置が必要であったりして、装置全体が大掛り
で高価なものにならざるを得なかった。このため、単に
組成の試作実験を行うためだけに超電導薄膜製造装置を
導入することは、経済的な面から容易でなかった。
また、CVD法では反応槽内に、単に気化した揮発性化
合物と反応酸素ガスとを流入するので、薄膜を析出させ
る酸化物に対する反応槽内での気化した揮発性化合物と
反応用酸素ガスが希釈するという欠点があった。
合物と反応酸素ガスとを流入するので、薄膜を析出させ
る酸化物に対する反応槽内での気化した揮発性化合物と
反応用酸素ガスが希釈するという欠点があった。
更に、従来のPVD法やCVD法等の方法によって得ら
れたB i−3r−Ca−Cu−0系超電導薄膜及びY
−B a−Cu−0系超電導薄膜は、減圧下での析出
のため酸素の欠陥を生じ、薄膜の結晶が不完全となって
いた。このため、薄膜の結晶を形成した後に、更に酸素
雰囲気下で再熱処理を行わなければ、薄膜は高温で安定
した超電導現象を引出せる薄膜を作ることが出来なかっ
た。
れたB i−3r−Ca−Cu−0系超電導薄膜及びY
−B a−Cu−0系超電導薄膜は、減圧下での析出
のため酸素の欠陥を生じ、薄膜の結晶が不完全となって
いた。このため、薄膜の結晶を形成した後に、更に酸素
雰囲気下で再熱処理を行わなければ、薄膜は高温で安定
した超電導現象を引出せる薄膜を作ることが出来なかっ
た。
[発明の目的]
本発明は、前述した問題点を解決するためのもので、大
気圧の下で化学気相成長法によって超電導現象を示す薄
膜を製造するための装置を提供することを目的とする。
気圧の下で化学気相成長法によって超電導現象を示す薄
膜を製造するための装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は上記目的を達成させるために、それぞれ異なる
金属の有機錯体を内部に収容しその内部にキャリアガス
が導入される複数のベッセルと、各ベッセル内の金属の
有機錯体を気化させるためのヒータと、各ベッセルで気
化された有機錯体とキャリアガスとが導入される導管と
、その導管の出口において気化された有機錯体に対し反
応用酸素ガスを混合するためにその反応用酸素ガスを導
く酸素用導管と、前記酸素用導管を通過する反応用酸素
ガスを加熱するヒータと、前記気化された有機錯体と反
応用酸素ガスとを混合したものを噴出するノズルと、そ
のノズルの噴出先に配置されて薄膜が形成される基板と
、その基板を加熱するためのヒータとから構成したもの
である。
金属の有機錯体を内部に収容しその内部にキャリアガス
が導入される複数のベッセルと、各ベッセル内の金属の
有機錯体を気化させるためのヒータと、各ベッセルで気
化された有機錯体とキャリアガスとが導入される導管と
、その導管の出口において気化された有機錯体に対し反
応用酸素ガスを混合するためにその反応用酸素ガスを導
く酸素用導管と、前記酸素用導管を通過する反応用酸素
ガスを加熱するヒータと、前記気化された有機錯体と反
応用酸素ガスとを混合したものを噴出するノズルと、そ
のノズルの噴出先に配置されて薄膜が形成される基板と
、その基板を加熱するためのヒータとから構成したもの
である。
[作用]
複数の金属有機錯体を大気圧中で気化し、それをアルゴ
ンや窒素などのキャリアガスによって移送し、その気化
した金属有機錯体とキャリアガスに反応用酸素ガスを混
合し、その混合物をノズルからヒータで加熱した基板に
向けて噴き出し、基板上で分解反応を促進し酸化膜を析
出する。
ンや窒素などのキャリアガスによって移送し、その気化
した金属有機錯体とキャリアガスに反応用酸素ガスを混
合し、その混合物をノズルからヒータで加熱した基板に
向けて噴き出し、基板上で分解反応を促進し酸化膜を析
出する。
また、ノズルはネジ式とし、上下に調整することにより
反応ガスの流れ方を制御し、基板への析出速度及び面積
も制御出来る構造とした。
反応ガスの流れ方を制御し、基板への析出速度及び面積
も制御出来る構造とした。
[実施例]
次に、本発明を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の装置概要図である。薄膜形成用の原料
としての金属有機錯体を気化するために、複数個の独立
したベッセル、例えば第一ベツセルloa、第二ベッセ
ルlOb、第三ベッセル10c及び第四ベッセル10d
が備えられる。これら第一ベツセル10a、第二ベッセ
ル10b。
としての金属有機錯体を気化するために、複数個の独立
したベッセル、例えば第一ベツセルloa、第二ベッセ
ルlOb、第三ベッセル10c及び第四ベッセル10d
が備えられる。これら第一ベツセル10a、第二ベッセ
ル10b。
第三ベッセルlOc及び第四ベッセル10dの内部に、
それぞれ第一ボート12a、第二ボート12b、第三ボ
ート12c及び第四ボート12が設けられ、それら各ボ
ート内に異なる金属有機錯体が収容される。また、各ベ
ッセル10a。
それぞれ第一ボート12a、第二ボート12b、第三ボ
ート12c及び第四ボート12が設けられ、それら各ボ
ート内に異なる金属有機錯体が収容される。また、各ベ
ッセル10a。
10b、10c及び10dの外側に、ヒータ14a、1
4b、14c及び14dが備えられる。これらヒータ1
4a、14b、14c及び14dは100℃〜350℃
の範囲内で任意の温度に調節できるもので、これらヒー
タ14a。
4b、14c及び14dが備えられる。これらヒータ1
4a、14b、14c及び14dは100℃〜350℃
の範囲内で任意の温度に調節できるもので、これらヒー
タ14a。
14b、14c及び14dによって各ボート内に収容さ
れたそれぞれの金属有機錯体が昇華又は蒸発させられる
。
れたそれぞれの金属有機錯体が昇華又は蒸発させられる
。
前記第一ベッセル10a、第二ベッセル10b、第三ベ
ッセル10c及び第四ベッセルlOdにはそれぞれ、ア
ルゴンや窒素等のキャリアガスを各ベッセル内へ導入す
る導入口16a。
ッセル10c及び第四ベッセルlOdにはそれぞれ、ア
ルゴンや窒素等のキャリアガスを各ベッセル内へ導入す
る導入口16a。
16b、16c及び16dが設けられている。このキャ
リアガスは、各ベッセル毎に製膜条件に応じて各々50
cc/+in〜500 cc/++inの範囲内で任
意に調節できるものとされている。また、各ベッセルに
おいては、各導入口の反対側は同一の導管18と連絡し
ており、各導入口から各ベッセルに入ったキャリアガス
が全てこの導管18へ導かれるようになっている。この
導管18の外側にはヒータ20が備れられ、このヒータ
20は前記ヒータ14a、14b、14cおよび14d
の内の最高温度と同じかそれ以上の温度とし、導管18
の内部でも各金属有機錯体の気化を保たせる。この導管
18の先端は、それより径大の二重管としての混合管2
2の内部に導かれ、その混合管22は薄膜を形成するた
めの反応槽24の内部にのみ開口するように設定される
。
リアガスは、各ベッセル毎に製膜条件に応じて各々50
cc/+in〜500 cc/++inの範囲内で任
意に調節できるものとされている。また、各ベッセルに
おいては、各導入口の反対側は同一の導管18と連絡し
ており、各導入口から各ベッセルに入ったキャリアガス
が全てこの導管18へ導かれるようになっている。この
導管18の外側にはヒータ20が備れられ、このヒータ
20は前記ヒータ14a、14b、14cおよび14d
の内の最高温度と同じかそれ以上の温度とし、導管18
の内部でも各金属有機錯体の気化を保たせる。この導管
18の先端は、それより径大の二重管としての混合管2
2の内部に導かれ、その混合管22は薄膜を形成するた
めの反応槽24の内部にのみ開口するように設定される
。
一方、内部に酸素が導入される酸素用ベッセル26は、
金属有機錯体を気化するための前記複数個のベッセルと
は独立して備えられる。その酸素用ベッセル26の外側
にヒータ28が備えられ、そのヒータ28によって酸素
用ベッセル26内の酸素が加熱される。酸素用ベッセル
26は酸素導管30を介して前記混合管22と連結され
ている。この混合管22内において酸素用ベッセル26
から導入される酸素と、前記導管18から導入される原
料ガスとが混合される。なお、酸素用ベッセル26と混
合管22とを連結する酸素導管26は、前記導管18を
加熱するヒータ20によって加熱される。
金属有機錯体を気化するための前記複数個のベッセルと
は独立して備えられる。その酸素用ベッセル26の外側
にヒータ28が備えられ、そのヒータ28によって酸素
用ベッセル26内の酸素が加熱される。酸素用ベッセル
26は酸素導管30を介して前記混合管22と連結され
ている。この混合管22内において酸素用ベッセル26
から導入される酸素と、前記導管18から導入される原
料ガスとが混合される。なお、酸素用ベッセル26と混
合管22とを連結する酸素導管26は、前記導管18を
加熱するヒータ20によって加熱される。
この混合管22の開口部には、混合管22の軸方向に沿
って変位できるようにノズル32が螺合されている。こ
のノズル32は鉛直下方向に開口部が向けられている。
って変位できるようにノズル32が螺合されている。こ
のノズル32は鉛直下方向に開口部が向けられている。
前記反応槽20内のノズル32の鉛直下方には、ヒータ
34の上に載せられた基板36が配置される。このヒー
タ34は600〜1000℃の範囲内で任意に調節でき
るものとされている。この反応槽24にはガス排出口3
8が設けられている。
34の上に載せられた基板36が配置される。このヒー
タ34は600〜1000℃の範囲内で任意に調節でき
るものとされている。この反応槽24にはガス排出口3
8が設けられている。
以上のような構成において、例えば第一ボート12a内
にビスマス(Bi)のβ−ジケトン錯体r有機錯体)で
あるB i(Cs Hs)−を収容し、第二ボート12
b内にストロンチウム(Sr)のβ−ジケトン錯体(有
機錯体)である5r(Ct+H+++Oz)*を収容し
、第三ボート12c内にカルシウム(Ca)のβ−ジケ
トン錯体(有機錯体)であるca(C++H40□)3
を収容し、第四ボート12C内に銅(Cu)のβ−ジケ
トン錯体(有機錯体)であるCu(CzH+eOxlz
を収容する。そして、ヒータ14a、14b、14c及
び14dで、第一ベツセル10a、第二ベッセルlOb
、第三ベッセル10c及び第四ベッセル10d内の各β
−ジケトン錯体をそれぞれ150℃、270℃、240
℃及び120℃で加熱し、各β−ジケトン錯体を気化さ
せる。それと共に、各ベッセル10a。
にビスマス(Bi)のβ−ジケトン錯体r有機錯体)で
あるB i(Cs Hs)−を収容し、第二ボート12
b内にストロンチウム(Sr)のβ−ジケトン錯体(有
機錯体)である5r(Ct+H+++Oz)*を収容し
、第三ボート12c内にカルシウム(Ca)のβ−ジケ
トン錯体(有機錯体)であるca(C++H40□)3
を収容し、第四ボート12C内に銅(Cu)のβ−ジケ
トン錯体(有機錯体)であるCu(CzH+eOxlz
を収容する。そして、ヒータ14a、14b、14c及
び14dで、第一ベツセル10a、第二ベッセルlOb
、第三ベッセル10c及び第四ベッセル10d内の各β
−ジケトン錯体をそれぞれ150℃、270℃、240
℃及び120℃で加熱し、各β−ジケトン錯体を気化さ
せる。それと共に、各ベッセル10a。
10b、10c及び10d内に、導入口16a。
16b、16c及び16dより各々120cc/ll1
in、 120cc/win、 120cc/wi
n及び150cc/winでキャリアガスを供給する。
in、 120cc/win、 120cc/wi
n及び150cc/winでキャリアガスを供給する。
各種β−ジケトン錯体の蒸気を含んだキャリアガスは、
その後、導管18内で混合されて混合管22に至る。こ
の際、ヒーター20で導管18内を280℃の温度で加
熱し、導管18内を通過する各種β−ジケトン錯体を蒸
気状態に保たせる。
その後、導管18内で混合されて混合管22に至る。こ
の際、ヒーター20で導管18内を280℃の温度で加
熱し、導管18内を通過する各種β−ジケトン錯体を蒸
気状態に保たせる。
一方、酸素用ベッセル26内に導入される反応用酸素ガ
スは、ヒーター28によって450℃に加熱される。こ
の加熱された反応用酸素ガスは酸素導管30を経て混合
管22に至るが、その酸素導管30内では前記ヒーター
20によって、各種β−ジケトン錯体と同一温度に加熱
される。
スは、ヒーター28によって450℃に加熱される。こ
の加熱された反応用酸素ガスは酸素導管30を経て混合
管22に至るが、その酸素導管30内では前記ヒーター
20によって、各種β−ジケトン錯体と同一温度に加熱
される。
混合管22内において、各種β−ジケトン錯体の蒸気を
含んだキャリアガスと、反応用酸素ガスとが混合され、
その混合された原料ガスはノズル32から反応槽24内
に鉛直下方に噴射される。
含んだキャリアガスと、反応用酸素ガスとが混合され、
その混合された原料ガスはノズル32から反応槽24内
に鉛直下方に噴射される。
この原料ガスが噴射される鉛直下方位置に、ヒーター3
4によって700℃に加熱されたマグネシア(MgO)
基板36が配置されており、このMgO基板の直上で原
料ガスが分解反応を起こし、MgO基板36の表面に酸
化膜が析出する。
4によって700℃に加熱されたマグネシア(MgO)
基板36が配置されており、このMgO基板の直上で原
料ガスが分解反応を起こし、MgO基板36の表面に酸
化膜が析出する。
分解反応が終了した混合ガスは反応槽24のガス排出口
38より排出される。
38より排出される。
このような構造を有する装置で作成した酸化物超電導薄
膜は、再熱処理することなく高温で安定した超電導現象
を示すことができる。この薄膜の組成は、各ベッセル毎
の金属の有機錯体を加熱する各ヒータの加熱温度とキャ
リアガスの各流量とを制御することによって容易に調整
することができる。
膜は、再熱処理することなく高温で安定した超電導現象
を示すことができる。この薄膜の組成は、各ベッセル毎
の金属の有機錯体を加熱する各ヒータの加熱温度とキャ
リアガスの各流量とを制御することによって容易に調整
することができる。
また1反応槽24ヘノズル32から噴出する前の段階で
、混合管22内部で有′a錯体と反応用酸素ガスとを混
合して原料ガスとし、その原料ガスを反応槽24内で、
基板36に直接噴射させる。
、混合管22内部で有′a錯体と反応用酸素ガスとを混
合して原料ガスとし、その原料ガスを反応槽24内で、
基板36に直接噴射させる。
これによって、反応槽24内での効率良く原料ガスを基
板36に吹き付けることができる。
板36に吹き付けることができる。
更に、ノズル32よりの原料ガスを鉛直下方に噴射させ
ることによって、基板36の表面に薄膜を均等な厚さに
形成することができる。そのノズル32の位置を基板3
6に対して変位させることによって、基板36の面積の
大小に適用させることができ、しかも薄膜の析出速度を
調節することができる。
ることによって、基板36の表面に薄膜を均等な厚さに
形成することができる。そのノズル32の位置を基板3
6に対して変位させることによって、基板36の面積の
大小に適用させることができ、しかも薄膜の析出速度を
調節することができる。
以上の方法で1時間析出させて得られる薄膜の厚さは3
〜4μmであった。この薄膜の厚さは析出時間の長短に
よって変化させることができる。
〜4μmであった。この薄膜の厚さは析出時間の長短に
よって変化させることができる。
第2図に、この実施例で得られた薄膜のX線回折パター
ン特性を示す、この結果から得られた薄膜はその特性か
ら、B i−S r−Ca−0系の高温超電導膜である
ことが確認することができる。また、第3図の温度抵抗
特性からは95°にで抵抗がOになるとこが確認された
。
ン特性を示す、この結果から得られた薄膜はその特性か
ら、B i−S r−Ca−0系の高温超電導膜である
ことが確認することができる。また、第3図の温度抵抗
特性からは95°にで抵抗がOになるとこが確認された
。
[発明の効果]
以上のように本発明に係る酸化物超電導薄膜製造装置に
よれば、大気圧の下でしかも再熱処理することなく超電
導薄膜が製造でき、しかも低コストで装置を作ることが
できる。従って、手軽に超電導製膜の実験が可能になる
と共に、他の成分の超電導薄膜の発見が容易になり、今
後この分野の研究開発の促進に大いに貢献できるもので
ある。
よれば、大気圧の下でしかも再熱処理することなく超電
導薄膜が製造でき、しかも低コストで装置を作ることが
できる。従って、手軽に超電導製膜の実験が可能になる
と共に、他の成分の超電導薄膜の発見が容易になり、今
後この分野の研究開発の促進に大いに貢献できるもので
ある。
第1図は本発明の酸化物超電導薄膜製造装置の一実施例
を示す概要図、第2図は本発明の薄膜製造装置により製
膜したB 1−5r−Ca−Cu−0系超電導薄膜のX
11回折パターン、第3図は本発明の薄膜製造装置によ
り製膜したB1−5r−Ca−Cu−0系超電導薄膜の
温度抵抗特性である。 10a、10b、10c、 10d−・−・−・ベセ
ッル、2a、12b、12c、 12d−・−・ボー
ト、4a、14b、14c、 14d−−−−−・ヒ
ータ、8・・・・・・導管、 20・・・・・・
ヒータ、2・・・・・・混合管、 24・・・・・・
反応槽、6・・・・・・酸素用ベッセル、28・・・・
・・ヒーターO・・・・・・酸素導管、 32・・・・
・・ノズル、4・・・・・・ヒータ、 36・・・
・・・基板。 第2図
を示す概要図、第2図は本発明の薄膜製造装置により製
膜したB 1−5r−Ca−Cu−0系超電導薄膜のX
11回折パターン、第3図は本発明の薄膜製造装置によ
り製膜したB1−5r−Ca−Cu−0系超電導薄膜の
温度抵抗特性である。 10a、10b、10c、 10d−・−・−・ベセ
ッル、2a、12b、12c、 12d−・−・ボー
ト、4a、14b、14c、 14d−−−−−・ヒ
ータ、8・・・・・・導管、 20・・・・・・
ヒータ、2・・・・・・混合管、 24・・・・・・
反応槽、6・・・・・・酸素用ベッセル、28・・・・
・・ヒーターO・・・・・・酸素導管、 32・・・・
・・ノズル、4・・・・・・ヒータ、 36・・・
・・・基板。 第2図
Claims (3)
- (1)それぞれ異なる金属の有機錯体を内部に収容しそ
の内部にキャリアガスを導入する複数のベッセルと、各
ベッセル内の金属の有機錯体を気化させるためのヒータ
と、各ベッセルで気化された有機錯体とキャリアガスと
が導入される導管と、その導管の出口において気化され
た有機錯体に対し反応用酸素ガスを混合するためにその
反応用酸素ガスを導く酸素用導管と、前記酸素用導管を
通過する反応用酸素ガスを加熱するヒータと、前記気化
された有機錯体と反応用酸素ガスとを混合したものを噴
出するノズルと、そのノズルの噴出先に配置されて薄膜
が形成される基板と、その基板を加熱するためのヒータ
とから成ることを特徴とする酸化物超電導薄膜製造装置
。 - (2)前記基板と前記ノズルとを反応槽内に配置し、そ
の反応槽内と連通せずに前記ノズルに至る混合管を備え
、その混合管内で前記気化された有機錯体と反応用酸素
ガスとを混合させることを特徴とする請求項1記載の酸
化物超電導薄膜製造装置。 - (3)前記ノズルが基板との間の距離を可変可能にし、
前記ノズルを鉛直下方に開口させたことを特徴とする請
求項1記載の酸化物超電導薄膜製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2037439A JPH07108764B2 (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 酸化物超電導薄膜製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2037439A JPH07108764B2 (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 酸化物超電導薄膜製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03243779A true JPH03243779A (ja) | 1991-10-30 |
JPH07108764B2 JPH07108764B2 (ja) | 1995-11-22 |
Family
ID=12497545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2037439A Expired - Lifetime JPH07108764B2 (ja) | 1990-02-20 | 1990-02-20 | 酸化物超電導薄膜製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07108764B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007039750A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Furukawa Co Ltd | 原子層堆積装置 |
JP2007239083A (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-20 | Nagaoka Univ Of Technology | 基材表面に金属酸化物膜を形成する方法及び該方法に使用する大気開放型cvd装置のノズル |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63307277A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-14 | Kawasaki Steel Corp | 金属酸化物薄膜作製用の光mocvd装置 |
JPH01212218A (ja) * | 1988-02-19 | 1989-08-25 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超電導酸化物薄膜の製造方法 |
JPH03218908A (ja) * | 1990-01-25 | 1991-09-26 | Fujikura Ltd | 酸化物超電導体の製造方法 |
-
1990
- 1990-02-20 JP JP2037439A patent/JPH07108764B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63307277A (ja) * | 1987-06-05 | 1988-12-14 | Kawasaki Steel Corp | 金属酸化物薄膜作製用の光mocvd装置 |
JPH01212218A (ja) * | 1988-02-19 | 1989-08-25 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超電導酸化物薄膜の製造方法 |
JPH03218908A (ja) * | 1990-01-25 | 1991-09-26 | Fujikura Ltd | 酸化物超電導体の製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007039750A (ja) * | 2005-08-03 | 2007-02-15 | Furukawa Co Ltd | 原子層堆積装置 |
JP2007239083A (ja) * | 2006-03-13 | 2007-09-20 | Nagaoka Univ Of Technology | 基材表面に金属酸化物膜を形成する方法及び該方法に使用する大気開放型cvd装置のノズル |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07108764B2 (ja) | 1995-11-22 |
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