JPH01240664A - 超電導薄膜の気相合成方法 - Google Patents
超電導薄膜の気相合成方法Info
- Publication number
- JPH01240664A JPH01240664A JP63150952A JP15095288A JPH01240664A JP H01240664 A JPH01240664 A JP H01240664A JP 63150952 A JP63150952 A JP 63150952A JP 15095288 A JP15095288 A JP 15095288A JP H01240664 A JPH01240664 A JP H01240664A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- superconducting thin
- vapor phase
- superconducting
- complexes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 38
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 title 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 16
- 239000007858 starting material Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims abstract description 8
- YRKCREAYFQTBPV-UHFFFAOYSA-N acetylacetone Chemical compound CC(=O)CC(C)=O YRKCREAYFQTBPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 claims abstract description 4
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 claims abstract description 4
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims abstract description 3
- QAMFBRUWYYMMGJ-UHFFFAOYSA-N hexafluoroacetylacetone Chemical class FC(F)(F)C(=O)CC(=O)C(F)(F)F QAMFBRUWYYMMGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 6
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 claims description 2
- -1 dibivaloylmethane Chemical compound 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 6
- YRAJNWYBUCUFBD-UHFFFAOYSA-N 2,2,6,6-tetramethylheptane-3,5-dione Chemical compound CC(C)(C)C(=O)CC(=O)C(C)(C)C YRAJNWYBUCUFBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910015901 Bi-Sr-Ca-Cu-O Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910002480 Cu-O Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910009203 Y-Ba-Cu-O Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 9
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 4
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 3
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- SYQQWGGBOQFINV-FBWHQHKGSA-N 4-[2-[(2s,8s,9s,10r,13r,14s,17r)-10,13-dimethyl-17-[(2r)-6-methylheptan-2-yl]-3-oxo-1,2,6,7,8,9,11,12,14,15,16,17-dodecahydrocyclopenta[a]phenanthren-2-yl]ethoxy]-4-oxobutanoic acid Chemical compound C1CC2=CC(=O)[C@H](CCOC(=O)CCC(O)=O)C[C@]2(C)[C@@H]2[C@@H]1[C@@H]1CC[C@H]([C@H](C)CCCC(C)C)[C@@]1(C)CC2 SYQQWGGBOQFINV-FBWHQHKGSA-N 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000012876 carrier material Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 125000005594 diketone group Chemical group 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 1
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、気相合成により酸化物系超電導薄膜を基板上
に析出させる方法に関する。
に析出させる方法に関する。
1986年12月にアメリカ合衆国ピ;−ストン大字の
チュー教授により、液体窒素温度を越える温度で超電導
特性を有するBa−Y−Cu−0系の物質が発見されて
以来、急速な素材開発や応用技術が進展している。
チュー教授により、液体窒素温度を越える温度で超電導
特性を有するBa−Y−Cu−0系の物質が発見されて
以来、急速な素材開発や応用技術が進展している。
この超電導材料の薄膜化のためには、Ar”イオン等を
超電導材料系のターゲット材料に衝突させ、打ち出され
た超電導物質の原子又は分子を基板上に析出させるスパ
ッタリングや蒸着法等の物理的方法が採用され、これに
よって32000〜100OOOA/clllの高い電
流密度を有する薄膜が得みれる。
超電導材料系のターゲット材料に衝突させ、打ち出され
た超電導物質の原子又は分子を基板上に析出させるスパ
ッタリングや蒸着法等の物理的方法が採用され、これに
よって32000〜100OOOA/clllの高い電
流密度を有する薄膜が得みれる。
しかしながら、このような物理的気相析出法では、析出
条件として1気圧以下の減圧下で行うことが絶対条件で
あり、雰囲気中の酸素分圧が充分でないため、形成され
る薄膜は酸素欠陥を生じ、超電導現象を引き起こすこと
ができない。
条件として1気圧以下の減圧下で行うことが絶対条件で
あり、雰囲気中の酸素分圧が充分でないため、形成され
る薄膜は酸素欠陥を生じ、超電導現象を引き起こすこと
ができない。
このため、物理的気相析出法による超電導材′;叫の薄
膜を得るには、−旦形成された薄膜を酸素を富化した雰
囲気中で800・〜1000℃の温度に加熱する酸化ア
ニールを行う必要がある。
膜を得るには、−旦形成された薄膜を酸素を富化した雰
囲気中で800・〜1000℃の温度に加熱する酸化ア
ニールを行う必要がある。
5発胡が解決しようとする課題〕
このように、物理的気相析出法による超電導薄膜の製造
において不可欠なアニールは、その温度が比較的高いた
めに、石英、サファイア、シリコン等の基板と薄膜との
間の化学反応による不純物拡散の問題や、基板と薄膜と
の間の熱膨張係数の差によるクラック発生の問題を生じ
る。
において不可欠なアニールは、その温度が比較的高いた
めに、石英、サファイア、シリコン等の基板と薄膜との
間の化学反応による不純物拡散の問題や、基板と薄膜と
の間の熱膨張係数の差によるクラック発生の問題を生じ
る。
とくに、基板と薄膜との間の不純物拡散の問題は、鉛や
ニオブ等の電極間に上記析出基板等からなる絶縁体と超
電導体薄膜を交互に挟み込む構造を有する超電導薄膜を
5QUID(超電導量子干渉計)やジョセフソン素子等
の電子デバイスやセンサー等へ応用したとき、超電導体
薄膜としての機能を果たさなくなる。
ニオブ等の電極間に上記析出基板等からなる絶縁体と超
電導体薄膜を交互に挟み込む構造を有する超電導薄膜を
5QUID(超電導量子干渉計)やジョセフソン素子等
の電子デバイスやセンサー等へ応用したとき、超電導体
薄膜としての機能を果たさなくなる。
したがって、アニール工程における基板材料から超電導
薄膜への不純物拡散の問題を解決しない限り、物理的気
相析出法による実用的な超電導薄膜の製造は不可能であ
る。
薄膜への不純物拡散の問題を解決しない限り、物理的気
相析出法による実用的な超電導薄膜の製造は不可能であ
る。
本発明の超電導薄膜の形成方法は、化学的気を目合成方
法の採用によってアニール処理工程を不要としたもので
ある。
法の採用によってアニール処理工程を不要としたもので
ある。
従来、超電導薄膜の形成に化学的気を目合成方法が用い
られなかった理由は、Biのようなイオン半径が大きく
且つ原子量も大きい物質を蒸発又は昇華させる担体物質
が見当たらず、Bi、 Sr、 Ca。
られなかった理由は、Biのようなイオン半径が大きく
且つ原子量も大きい物質を蒸発又は昇華させる担体物質
が見当たらず、Bi、 Sr、 Ca。
Cu等の超電導物質を気を口中に化学的且つ安定して供
給することができなかったためである。
給することができなかったためである。
本発明者は、超電導薄膜の化学的気相合成に関して、β
−ジケトン錯体の適用が極めてを効であることを見出し
、本発明を完成した。
−ジケトン錯体の適用が極めてを効であることを見出し
、本発明を完成した。
本発明は超電導薄膜を形成する金属のβ−ジケトン錯体
を出発原料とし、同出発原料と酸化性ガスとの反応によ
って基板上へ薄膜を析出させる超電導薄膜の気相合成方
法である。
を出発原料とし、同出発原料と酸化性ガスとの反応によ
って基板上へ薄膜を析出させる超電導薄膜の気相合成方
法である。
本発明の超電導薄膜を形成する金属としては、Bi、
Sr、 Ca、 Cu、 Y、 Baおよびランタニド
系元素の中の1種または2種以上が好適に用いられる。
Sr、 Ca、 Cu、 Y、 Baおよびランタニド
系元素の中の1種または2種以上が好適に用いられる。
最も好ましい例としては、La、 Sr、 Y、 Ba
およびランタニド系元素等の金属よりなるβ−ジケトン
の2種以上とCu よりなるβ−ジケトンとの組合せを
出発原料とした場合を挙げることができる。
およびランタニド系元素等の金属よりなるβ−ジケトン
の2種以上とCu よりなるβ−ジケトンとの組合せを
出発原料とした場合を挙げることができる。
また、上記の超電導材料を形成する金属の1種又は2種
以上と錯体を形成するβ−ジケトン類はアセチルアセト
ン(C3H802)、ジビバロイルメタン(C1lH2
o02)、ヘキサフルオロアセチルアセトン(C682
F602)等が好適である。
以上と錯体を形成するβ−ジケトン類はアセチルアセト
ン(C3H802)、ジビバロイルメタン(C1lH2
o02)、ヘキサフルオロアセチルアセトン(C682
F602)等が好適である。
超電導物質は一般に(1)、 La−5r−Cu−0
系、(2)、 Y−Ba−Cu−0系、(3)、 B1
−3i−Ca −Cu −〇系の3つの型があるが、こ
れらの超電導物質を本発明により得るには、出発原料と
して、冬型の構成金属のβ−ジケトン錯体の組合せを用
い酸化性ガスとの反応によって、それぞれの型の超電導
物質が得られる。
系、(2)、 Y−Ba−Cu−0系、(3)、 B1
−3i−Ca −Cu −〇系の3つの型があるが、こ
れらの超電導物質を本発明により得るには、出発原料と
して、冬型の構成金属のβ−ジケトン錯体の組合せを用
い酸化性ガスとの反応によって、それぞれの型の超電導
物質が得られる。
これらのβ−ジケトン錯体が、昇華させる温度域が低温
であること、低温域で昇華が可能であることによって、
安定した原料供給ができる点から最も有効である。
であること、低温域で昇華が可能であることによって、
安定した原料供給ができる点から最も有効である。
本発明の酸化雲囲気としては、前記β−ジケトン錯体を
充分な酸素雰囲気下において分解させるのに充分な温度
と酸素分圧を有する条件に維持する必要がある。
充分な酸素雰囲気下において分解させるのに充分な温度
と酸素分圧を有する条件に維持する必要がある。
析出温度としては、400〜1100℃で、とくに析出
される薄膜の諸特性の点から600〜1000℃の範囲
にあることが好ましい。
される薄膜の諸特性の点から600〜1000℃の範囲
にあることが好ましい。
また、酸素分圧は上記析出温度の下では、析出される薄
膜が酸素欠陥を生じる理由から、酸素分圧が0.1 気
圧以上である必要があり、さらに、超電導現象を高温域
で実現させる観点から、酸素分圧は0.5〜2気圧の範
囲にあることが望ましい。
膜が酸素欠陥を生じる理由から、酸素分圧が0.1 気
圧以上である必要があり、さらに、超電導現象を高温域
で実現させる観点から、酸素分圧は0.5〜2気圧の範
囲にあることが望ましい。
さらに、原料温度はその安定性を図る意味において、2
50 ℃以下の温度に保ち、キャリアガスはN2.
Ar等の中性ガスを適用することが必要である。
50 ℃以下の温度に保ち、キャリアガスはN2.
Ar等の中性ガスを適用することが必要である。
本発明の実施に際して使用する反応装置としては、従来
の気相合成装置を任意に使用できる。
の気相合成装置を任意に使用できる。
第1図に示す装置を用いて本発明を実施した。
同図において、1は吸湿管、2は流量計、3は温度調節
器、4は原料発生器、5は反応管、6は電気炉、7は電
気炉温度調節器、8は基板発熱体、9はレコーダー、そ
れに10はスライダックを示す。
器、4は原料発生器、5は反応管、6は電気炉、7は電
気炉温度調節器、8は基板発熱体、9はレコーダー、そ
れに10はスライダックを示す。
同装置において、キャリアガスとしてArを用い、キャ
リアガスはまず吸湿管1で微量の水分を脱水した後、流
量計2を通じて一定流量のAr ガスが温度調節器3に
て温度制御された原料発生器4に供給される。石英反応
管5は電気炉温度調節器7によって制御された電気炉6
で加熱されており、β−ジケトン錯体が熱分解される。
リアガスはまず吸湿管1で微量の水分を脱水した後、流
量計2を通じて一定流量のAr ガスが温度調節器3に
て温度制御された原料発生器4に供給される。石英反応
管5は電気炉温度調節器7によって制御された電気炉6
で加熱されており、β−ジケトン錯体が熱分解される。
このとき、発熱体で加熱された基板8上にβ=ニジケト
ン体の熱分解により生成するB I 20 v 。
ン体の熱分解により生成するB I 20 v 。
CaO,SrO,CuOが形成され、B1−3r−Ca
−Cu−0系の超電導薄膜が形成される。
−Cu−0系の超電導薄膜が形成される。
出発原料として、Bi(C++ HI302)2とCu
(C+ lH+ s O2) 2と5r(C,+H,
902)−およびCu(C5H7O2)2を用いた。
(C+ lH+ s O2) 2と5r(C,+H,
902)−およびCu(C5H7O2)2を用いた。
上記、Ba、 Y、 Cuのβ−ジケトン錯体をそれぞ
れ160℃、 140℃、110℃に保ち、Arガス
をlBOm fl/min、酸素ガスを500m p/
min供給し、反応容器内を1気圧に維持した。電気炉
温度400℃、基板温度600℃とし、基板材質として
は5rTiO3(チタン酸ストロンチウム)、ジルコニ
ア1 マク不シアを用いた。
れ160℃、 140℃、110℃に保ち、Arガス
をlBOm fl/min、酸素ガスを500m p/
min供給し、反応容器内を1気圧に維持した。電気炉
温度400℃、基板温度600℃とし、基板材質として
は5rTiO3(チタン酸ストロンチウム)、ジルコニ
ア1 マク不シアを用いた。
上記3種類の基板には、いずれも超電、ダ薄膜が形成さ
れたが、X線回折によってその構造はB1− Sr −
Ca −Cu −0系超電導物質であることが確認され
ると同時に、C軸に強く配向していた。
れたが、X線回折によってその構造はB1− Sr −
Ca −Cu −0系超電導物質であることが確認され
ると同時に、C軸に強く配向していた。
生成した超電導薄膜は、98にで抵抗がゼロとなった。
〔発明の効果)
本発明によって以・下の効果を奏することができる。
イ、従来の物理的気相析出法と異なり、1気圧以上の圧
力下においても超電導薄膜の合成が可能であり、処理条
件の選択に余裕ができる。
力下においても超電導薄膜の合成が可能であり、処理条
件の選択に余裕ができる。
口、酸素分圧を任意に選択することができ、現状の最大
の問題点である熱処理が不要となる。
の問題点である熱処理が不要となる。
ハ、従来の物理的気相合成方法で不可欠である、高価な
高周波発生装置や蒸着装置が不要となる。
高周波発生装置や蒸着装置が不要となる。
二、ジョセフソン素子や5QIJIDa子等の電子デバ
イスへの応用として有力な製造プロセスとなり得る。
イスへの応用として有力な製造プロセスとなり得る。
第1図は、本発明の方法を実施するための気相合成装置
を示す。
を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、超電導薄膜を形成する金属元素のβ−ジケトン錯体
を出発原料とし、同出発原料と酸化性ガスとの反応によ
って基板上へ薄膜を析出させることを特徴とする超電導
薄膜の気相合成方法。 2、超電導薄膜を形成する金属元素がBi、Sr、Ca
、Cu、Y、Baおよびランタニド系元素からなる群の
中から選択された1種または2種以上からなる特許請求
の範囲第1項に記載の超電導薄膜の気相合成方法。 3、β−ジケトン錯体がアセチルアセトン、ジビバロイ
ルメタン、ヘキサフルオロアセチルアセトンの錯体であ
る特許請求の範囲第1項に記載の超電導薄膜の気相合成
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63150952A JPH01240664A (ja) | 1987-11-27 | 1988-06-18 | 超電導薄膜の気相合成方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62-300566 | 1987-11-27 | ||
JP30056687 | 1987-11-27 | ||
JP63150952A JPH01240664A (ja) | 1987-11-27 | 1988-06-18 | 超電導薄膜の気相合成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01240664A true JPH01240664A (ja) | 1989-09-26 |
Family
ID=26480375
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63150952A Pending JPH01240664A (ja) | 1987-11-27 | 1988-06-18 | 超電導薄膜の気相合成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01240664A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01286916A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-17 | Oki Electric Ind Co Ltd | 超伝導体薄膜の形成方法 |
CN114380676A (zh) * | 2021-12-28 | 2022-04-22 | 东部超导科技(苏州)有限公司 | 一种多元稀土共晶高温超导原材料及其制备方法和应用 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01104774A (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化物超伝導体薄膜の製造方法 |
-
1988
- 1988-06-18 JP JP63150952A patent/JPH01240664A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01104774A (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化物超伝導体薄膜の製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01286916A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-17 | Oki Electric Ind Co Ltd | 超伝導体薄膜の形成方法 |
CN114380676A (zh) * | 2021-12-28 | 2022-04-22 | 东部超导科技(苏州)有限公司 | 一种多元稀土共晶高温超导原材料及其制备方法和应用 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5212148A (en) | Method for manufacturing oxide superconducting films by laser evaporation | |
US5185317A (en) | Method of forming superconducting Tl-Ba-Ca-Cu-O films | |
US5296460A (en) | CVD method for forming Bi -containing oxide superconducting films | |
JPH01104774A (ja) | 酸化物超伝導体薄膜の製造方法 | |
US5141918A (en) | Method of forming an oxide superconducting thin film of a single phase having no carbonate | |
JPH01240664A (ja) | 超電導薄膜の気相合成方法 | |
Malandrino et al. | Effect of Ba Ca Cu precursor matrix on the formation and properties of superconducting Tl2Ba2Can− 1CunOx films A combined metalorganic chemical vapour deposition and thallium vapour diffusion approach | |
Malandrino et al. | Growth of epitaxial TlBaCaCuO a-axis oriented films on LaAlO3 buffer layers grown on SrTiO3 (100) substrates | |
US5489573A (en) | Thallium-calcium-barium-copper-oxide superconductor with silver and method | |
JP2986799B2 (ja) | 薄膜形成方法及び薄膜形成装置 | |
JPH04333572A (ja) | 酸化物超電導体用mo原料の気化方法 | |
JPH09195050A (ja) | 酸化物又は金属の製造方法 | |
Schmaderer et al. | High-Tc-superconductors prepared by CVD | |
JPH0214827A (ja) | 超電導性酸化物層の製造方法 | |
JP2551983B2 (ja) | 化学気相成長を用いた酸化物超伝導膜の作成方法 | |
JPH0297426A (ja) | 超電導薄膜の製造方法 | |
JPH01316462A (ja) | 超電導セラミツク線材の製造方法 | |
JP3038758B2 (ja) | 酸化物超電導薄膜の製造方法 | |
JPH01219016A (ja) | 酸化物を分散させた超電導セラミツク薄膜の製造法 | |
JP2733693B2 (ja) | Ln▲下2▼▲下−▼▲下x▼Ce▲下x▼CuO▲下4▼▲下−▼▲下y▼単結晶及びLn▲下2▼▲下−▼▲下x▼Ce▲下x▼CuO▲下4▼▲下−▼▲下y▼薄膜の製造方法 | |
JP2821207B2 (ja) | Mocvd法による酸化物超電導体の合成方法 | |
JPH01220311A (ja) | 超電導セラミック線材の製造法 | |
JPH01316906A (ja) | 超電導コイル | |
JPH01208323A (ja) | 薄膜製造法 | |
JPH01252526A (ja) | 銅を含有する酸化物超電導体膜の製造方法 |