JPH0273969A - 対向式スパッタリング法 - Google Patents

対向式スパッタリング法

Info

Publication number
JPH0273969A
JPH0273969A JP22473588A JP22473588A JPH0273969A JP H0273969 A JPH0273969 A JP H0273969A JP 22473588 A JP22473588 A JP 22473588A JP 22473588 A JP22473588 A JP 22473588A JP H0273969 A JPH0273969 A JP H0273969A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
targets
plasma
plasma flow
arc discharge
sputtering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22473588A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Suzuki
巧一 鈴木
Hiroyasu Kojima
啓安 小島
Takuji Oyama
卓司 尾山
Satoru Takagi
悟 高木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP22473588A priority Critical patent/JPH0273969A/ja
Publication of JPH0273969A publication Critical patent/JPH0273969A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、対向式スバ・ンタリング法に関するものであ
る。
[従来の技術] 従来より対向式マグネトロンスパッタリング法が知られ
ている。これは、2つのマグネトロンカソードを対向さ
せ配置し、マグネトロンスパッタリングを行なうととも
に、磁場によってプラズマを2つのカソード間に閉じ込
め、かつ基板をカソードの外側に配置して薄膜を形成す
る方法である。この方法は基板の高速粒子によるダメー
ジが低減される点で有利であり、磁性膜作成等に用いら
れていた。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、この方法は、カソードに加えられる電圧
によるグロー放電を基本としているため、そのプラズマ
密度には制約があり、かつ、大面積化が困難(せいぜい
20cmφ)という欠点があった。
[課題を解決するための手段] 本発明は、」1記の課題を解決すべくなされたものであ
り、アーク放電によって発生したプラズマ流を両側から
挟むように2つのターゲットを対向させて平行に配置し
、該2つのターゲットにそれぞれ−に記プラズマ流より
tlの電位をIjえて該プラズマ中のイオンをターゲッ
トへ加速し、スパッタリングを行い、上記2つのターゲ
ットの外側でターゲットに垂直な平面内に基体を配置し
、該2つのターゲット間から発生した粒子を該基体上に
付着させて薄膜を形成することを特徴とする対向式スパ
ッタリング法を提供するものである。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の基本的構成を示す図である。アーク放
電プラズマ流発生源1とアノード3の間で、アーク放電
プラズマ流2を形成する。ターゲット4 (a)、4 
(b)をそれぞれ有するカソード5 (a) 、5 (
bl をターゲット4fa1.4(b)を内側にして、
アーク放電プラズマ流2を挟んで対向して配置し、第1
図には図示していないが、カソード5 fa) 、 5
 (1))に、それぞれアーク放電プラズマ流2よりも
負の電位を与え、該プラズマ流2中のイオンをターゲッ
ト5(a)。
5(b)に加速し、スパッタリングを行なう。基体6を
、ターゲット4 (a)、 4 (b)の外側で、ター
ゲット4 (at 、4 (b)に垂直な平面内に配置
し、ターゲット4 (a)、 4 fb)間から発生し
た粒子を基体6上に付着させて薄膜を形成する。
本発明において、アーク放電プラズマ流2は、第1図に
は図示していないが、磁場手段によってシート状に変形
されたシートプラズマであってもよい。この場合ターゲ
ット4(al、4(bl ヘシートプラズマ中のイオン
が均一に入射し、均一なエロージョン領域が得られ、効
率的なスパッタリングができるので、大変好ましい。
以上、アーク放電プラズマ流2としてシートプラズマを
用いる場合の具体的な方法について説明する。
第2図は本発明の方法によってコーティングを行うにあ
たって用いる装置の一例を示したものである。第2図は
第1図をへ方向、即ち、ターゲットに平行な方向から見
たところである。
本発明においては、アーク放電によるプラズマ流を用い
る。かかるアーク放電プラズマ流は、アーク放電プラズ
マ流発生源1とアノード3の間でプラズマ発生用直流電
源24によってアーク放電を行うことが生成される。
かかるアーク放電プラズマ流発生源1としては、複合陰
極型プラズマ発生装置、又は両者を絹み合わせたプラズ
マ発生装置が好ましい。このようなプラズマ発生装置に
ついては真空第25巻第10号(1982年発行)に記
載されている。
複合陰極型プラズマ発生装置とは、熱容量の小さい補助
陰極と、Laceからなる主陰極とを有し、該補助陰極
に初期放電を集中させ、それを利用して主陰極LaB5
を加熱し、主陰極LaBeが最終陰極としてアーク放電
を行うようにしたプラズマ発生装置である。その−例を
第3図に示ず。補助陰極52としてはW、TalMo等
の高融点金属からなるコイル又はバイブ状のもの等が挙
げられる。
このような複合陰極型プラズマ発生装置においては、熱
容量の小さな補助陰極52を集中的に初期放電で加熱し
、初期陰極として動作させ、間接的に1aBaの主陰極
51を加熱し、最終的には1、aBaの主陰極51によ
るアーク放電へと移行させる方式であるので、補助陰極
52が2500℃以七の高温になって寿命に影響する以
前にl a B sの主陰極51が1500℃〜180
0℃に加熱され、大電子流放出可能になるので、補助陰
極のそれ以上の温度1−1昇が避けられるという点が大
きな利点である。
又、圧力勾配型プラズマ発生装置とは、陰極と陽極の間
に中間電極を介在させ、陰極領域をI Torr程度に
、そして陽極領域をl1l−’Torr程度に保って放
電を行うものであり、陽極領域からのイオン逆流による
陰極の損傷がない上に、中間電極のない放電形式のもの
と比較して、放電電子流をつくりだすだめのキャリアガ
スのガス効率が飛躍的に高く、大電流放電が可能である
という利点を有している。
複合陰極型プラズマ発生装置と、圧力勾配型プラズマ発
生装置とは、それぞれ1−記のような利点を有しており
、両者を組み合わせたプラズマ発生装置、即ち、陰極と
して複合陰極を用いると共に中間電極も配したプラズマ
発生装置は、」二記利点を同時に得ることができるので
本発明のアーク放電プラズマ流発生源lとして大変好ま
しい。
第2図にはアーク放電プラズマ発生源1として、第3図
のような複合陰極31と、環状永久磁石を含む第1中間
電極32、空芯コイルを含む第2中間電極を有する第2
中間電極33を有するものを用いた場合を示した。
本発明においては、プラズマ発生源lとアノード3をス
パッタリング領域25を挟むように配置し、2個以上の
空芯コイル26によってプラズマ発生源lからアノード
3方向に向かう磁場27を形成し、プラズマ発生源1か
ら発生したアーク放電による高密度のプラズマ流を真空
室23に引き出す。さらに、引き出したプラズマをシー
ト状にするために、一対の永久磁石28をプラズマガン
とスパッタリング領域25の間で、同極面を対向させて
プラズマを2つのターゲット方向から挟み(例えば、N
極とN極を対向させる)、かつ、永久磁石のN極、ある
いは、S極面をターゲット而4 fal 、 4 (b
l と平行になるように配置し、プラズマをターゲット
4(al、4(b) と平行な方向におしつぶし、シー
ト状の高密度プラズマ29を形成する。又、シートプラ
ズマ29を挟むようにターゲット4 (a)、 4 (
bl を配置し、ターゲット4 (a)、4 (b)が
シートプラズマ29に対して負になるように、ターゲッ
ト4(al、 4 (b)にスパッタリング電源30(
a) 、 (b)によってそれぞれスパッタリング電圧
を印加する。
第2図において、永久磁石28によってシート状に変形
されたシートプラズマ29は、図面に垂直な方向に幅を
有している。ガス導入口34からは、放電用ガスが導入
される。又、真空室23は、排気手段によってIn−”
Torr程度又はそれ以下に保たれることが望ましい。
本発明において用いられるターゲット4(a)4(b)
としては、金属、合金、これらの酸化物、硼化物、炭化
物、珪化物あるいはこれらのうち1又は2種類具」二を
含む混合物からなるターゲットが使用でき、特に限定さ
れるものではないが、金属酸化物膜を形成する場合には
、金属酸化物ターゲットを用いると、製膜条件の制御が
容易で良質の膜が得られるので好ましい。
特に、錫を含む酸化インジウム膜を形成する場合には、
非常に低抵抗の膜が得られるという理由から錫を5〜1
0重量%含む酸化インジウムターゲットが好ましい。
又、本発明においては、ガス導入「J34から真空室2
3へ導入される放電用ガスとしては、特に限定されない
が、八「等の不活性ガスが好ましい。又、真空室23内
のガス雰囲気は、スパッタリングガスとしてのArなと
の不活性ガスの他に、第2図には図示していないが、真
空室23に設けられたガス導入手段により、反応ガスと
して0□、 N2などを、0〜40体積%添加してもよ
い。
以」二、第2図によって、シートプラズマ29を用いる
場合について説明したが、永久磁石28を配置すること
を除けば、アーク放電プラズマ流2としてシート状でな
く円柱状のプラズマ流を用いる場合も全く同様である。
本発明において、薄膜を形成する基体6は第1図に図示
した位置(第2図で、図面の手前又は裏側で、図面に対
して平行な位置)に静止していてもよいし、第1図のタ
ーゲットの矢印方向に搬送してもよい。
本発明において薄膜を形成する基体6としては、ガラス
、プラスチック、金属からなる基体やフィルムなどが使
用でき、特に限定されるものではないが、耐熱性の低い
もの、例えば、プラスチックからなる基板又はフィルム
あるいはあらかじめ有機高分子膜を有するガラス板など
にも十分に適用できる。
又、本発明において基体6上に形成される薄膜としては
、金属膜、合金膜、金属の酸化物。
窒化物、硼化物、珪化物、あるいはこれらのうちl又は
2種類以」二を含む混合物からなる薄膜等が形成でき、
特に限定されるものではない。
例えば、低抵抗で高透過率の透明導電膜を得ることもで
きる。かかる透明導電膜としては、錫を含む酸化インジ
ウム膜、アンチモンを含んだ酸化錫膜、アルミニウムを
含んだ酸化亜鉛膜等が好適な例として挙げられる。
本発明においては、ターゲット4 (al、4 (bl
は同じ材質からなっていてもよいし、互いに異なる材質
であってもよい。
又、スパッタリング電源30 (al 、 30 (b
l によって、ターゲット4 (a) 、 4 (bl
 に同じ電圧を5えてもよいし、 4 fa)、4 (
b)それぞれ異なる電圧を与えてもよい。スパッタリン
グ電圧を上げれば、アーク放電プラズマ流から、より多
くのイオンがそのターゲットに入射し、スパッタスピー
ドがにがる。30 fal 、 30 (bl を独立
に制御できるので、ターゲット4 (al 、 4 (
b)を異なる材質とし、基体6に形成する薄膜の組成比
をコントロールすることもできる。
ターゲット4 (a)、4 (bl間の距離はアーク放
電プラズマ流2の厚みにもよるが、2〜20cm程度が
好ましい。ターゲットがプラズマ流2に直接触れるか、
又は近づきすぎると、ターゲットの温度が上がりすぎる
ため、ターゲット表面とアーク放電プラズマ流のターゲ
ットに最も近い部分との距離は1〜10cmであること
が好ましい。
アーク放電プラズマ流2をシート材に変形する場合には
厚み0.5〜5cm程度にすることが好ましい。
又、基体6は、ターゲット4 (a)、4 (b)から
1〜20cm離れたところに配置又は搬送するのが好ま
しい。これより遠くなるとスパッタされた粒子が基体ス
パッタリングに有効に付着しない。又、これより近いと
、基体6の温度が非常に上昇してしまうためである。
[作用] 本発明は、アーク放電によるプラズマ流をイオン源とし
、該プラズマ流の両側に配置されたターゲットにイオン
を加速してスパッタリングを行なわせるものである。
又、基体は第1図のように配するので、直接に高速の粒
子が基体へ入射することがなく、基体の損傷が小さい。
[実施例] 実施例1 基板として、ノンアルカリガラス(旭硝子社製ANガラ
ス(商品名) )  (IOcmX IOcm)を用い
、又、ターゲット4 (a)、4 (b)としてSnを
7.5重量%含んだ酸化インジウムの焼結体(100m
X 40c+n)を7cm離して、第1図のように配置
し、第2図のような装置で以下のような方法で基板上に
1ゴ0膜(錫を含む酸化インジウム膜)を形成した。
まず、真空室23をI X 10−’Torr程度に排
気した後、アーク放電プラズマ流発生装置1にA「を3
4から導入し、24によって放電電流を20OAに設定
し、アーク放電プラズマ流を発生させ、永久磁石28に
よって、シートプラズマ29(厚さ1cm)を形成した
。その後、真空室23にArと02の混合ガス(Ar:
0□=99:I)を導入し、真空室23をI X 1O
−3Torr程度とした。そこで、ターゲット4 (a
) 、 4 (b)にそれぞれ30 (at 、 30
 (bl によって−400■のスパッタリング電圧を
印加し、スパッタリングを行なった。基板は第1図に示
すような位置で、ターゲット4 fa) 、 4 (b
lか65cm離さた位置に置き1分間ITO膜を製膜し
た。製膜中の基板温度は200℃以下であった。形成さ
れたITO膜の特性は、最も厚いところで膜厚: 40
00人、比抵抗:3XIO−’Ω・cm、波長550n
mでの透過率二80%であった。
[発明の効果] 本発明においては、アーク放電によるプラズマを利用し
ているため、従来の対向式マグネトロンスパッタに利用
されているグロー放電型プラズマに比べて、プラズマの
密度が50〜100倍高く、ガスの電離度は、数十%と
なり、イオン密度、電子密度、中性活性種密度も非常に
高い。よって、従来の対向式マグネトロンスパッタ法よ
りも非常に甲い製膜速度が得られる。
又、シートプラズマを用いれば、シートプラズマ中のイ
オンが均一にターゲットに入射し、ターゲットの均一な
エロージョン領域が得られ、有効ターゲット面積も増大
し、効率的なスパッタリングが可能である。
又、基体に直接高速の粒子が入射して損傷がおこったり
、不純物の混入も少ないという効果も有している。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の基本的構成を示す斜視図、第2図は本
発明の方法によって薄膜形成を行なうにあたり用いる装
置の一例を示した断面図(第1図の六方向から見たとこ
ろ)、第3図は本発明においてアーク放電プラズマ流を
発生させるだめの複合陰極型のプラズマ発生装置の一例
を示す断面図である。 1:アーク放電プラズマ流発生源 2:アーク放電プラズマ流 3、アノード 4 (al 、 4 (bl  ・ターゲット5 (a
l、 5 (b)  :カソード6:基 体 7:基体の搬送方向 23:真空室 24:プラズマ発生用直流電源 25ニスバツタリング領域 26:空芯コイル 27:空芯コイルによって作られる磁場の方向28:永
久磁石 29:シートプラズマ 30ニスバツタリング電源 31:複合陰極 32:環状永久磁石を内蔵した第1中間電極33:空芯
コイルを内蔵した第2中間電極51 : LaBa主陰
極 52:Taバイブの補助陰極 53:陰極を保護するためのWからなる円板54:Mo
からなる円筒 55:Moからなる円板状の熱シールド56:冷却水 57:ステンレスからなる陰極支持台 58:ガス導入口 手糸売ネm正書 平成1年12月2 日

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、アーク放電によって発生したプラズマ流を両側から
    挟むように2つのターゲットを対向させて平行に配置し
    、該2つのターゲットにそれぞれ上記プラズマ流より負
    の電位を与えて該プラズマ中のイオンをターゲットへ加
    速し、スパッタリングを行い、上記2つのターゲットの
    外側でターゲットに垂直な平面内に基体を配置し、該2
    つのターゲット間から発生した粒子を該基体上に付着さ
    せて薄膜を形成することを特徴とする対向式スパッタリ
    ング法。 2、アーク放電によって発生したプラズマ流が、磁場手
    段によってシート状に変形したシートプラズマであるこ
    とを特徴とする請求項1記載の対向式スパッタリング法
JP22473588A 1988-09-09 1988-09-09 対向式スパッタリング法 Pending JPH0273969A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22473588A JPH0273969A (ja) 1988-09-09 1988-09-09 対向式スパッタリング法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22473588A JPH0273969A (ja) 1988-09-09 1988-09-09 対向式スパッタリング法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0273969A true JPH0273969A (ja) 1990-03-13

Family

ID=16818421

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22473588A Pending JPH0273969A (ja) 1988-09-09 1988-09-09 対向式スパッタリング法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0273969A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003027216A (ja) * 2001-07-18 2003-01-29 Honda Motor Co Ltd 透明導電膜の製造方法および装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003027216A (ja) * 2001-07-18 2003-01-29 Honda Motor Co Ltd 透明導電膜の製造方法および装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Minami et al. Highly conductive and transparent zinc oxide films prepared by rf magnetron sputtering under an applied external magnetic field
JP2921874B2 (ja) 高効率シートプラズマスパタリング装置
EP0385475A2 (en) Method of forming a transparent conductive film
JP2635385B2 (ja) イオンプレーティング方法
JPS61221363A (ja) スパツタ装置
JPH11335815A (ja) 透明導電膜付き基板および成膜装置
JP3254782B2 (ja) 両面スパッタ成膜方法及びその装置並びにスパッタ成膜システム
JPH0273969A (ja) 対向式スパッタリング法
JPH0273963A (ja) 低温基体への薄膜形成方法
JPH08232064A (ja) 反応性マグネトロンスパッタ装置
JPH0329216A (ja) 透明電導膜の形成方法
JPH0273967A (ja) 高効率スパッタリング方法
JPS6112866A (ja) プラズマ集中型高速スパツタ装置
JPH0273972A (ja) マグネトロンスパッタリング法
JP2004124171A (ja) プラズマ処理装置及び方法
JPH0361364A (ja) シートプラズマを利用した薄膜形成方法
JPH07122133B2 (ja) イオンプレ−テイング方法とその装置
JPH0273965A (ja) ダブルシートプラズマスパッタリング法
JPH11279756A (ja) 透明導電膜の形成方法
JPH01162762A (ja) スパッタリング装置
JPH02228469A (ja) イオンプレーティング方法
JPH0344463A (ja) シートプラズマを利用した薄膜形成方法
JP2874548B2 (ja) アーク放電プラズマによる被膜の形成方法
JPH056286B2 (ja)
JPH0273970A (ja) 薄膜形成方法