JPH0273963A - 低温基体への薄膜形成方法 - Google Patents

低温基体への薄膜形成方法

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JPH0273963A
JPH0273963A JP22347788A JP22347788A JPH0273963A JP H0273963 A JPH0273963 A JP H0273963A JP 22347788 A JP22347788 A JP 22347788A JP 22347788 A JP22347788 A JP 22347788A JP H0273963 A JPH0273963 A JP H0273963A
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Takeshi Harano
原納 猛
Satoru Takagi
悟 高木
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Asahi Glass Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、低温基体への薄膜形成方法に関するものであ
る。
[従来の技術] 無機ガラスや有機物フィルムなどの透明基板にコーティ
ングされた錫を含む酸化インジウム、フッ素を含む酸化
錫、アンチモンを含む酸化錫、アルミニウムを含む酸化
亜鉛などの酸化物透明導電膜は、液晶やELなとの表示
用デバイスの透明電極として利用されており、その典型
例が、錫を添加した酸化インジウム膜(ITO)である
。従来、低比抵抗(2X10−’Ωcn+)のITO膜
は、基板上での反応性、および、結晶性を高めるために
、無機ガラス基板を300〜400℃に加熱し、電子ビ
ーム蒸着(EB蒸着)法、あるいは第2図に示すような
りCマグネトロンスパッタ法によって成膜されていた。
[発明の解決しようとする課題] 一方、有機物を基板とする場合や液晶カラーデイスプレ
ーの基板となるカラーフィルターを付けた無機ガラスに
ITO膜をコーティングする場合にも、EB蒸着、ある
いはDCマグネトロンスパッタ法によって成膜されてい
る。しかし、これらの基板は200℃以上に加熱できな
いため、基板上でのインジウムと酸素の反応、結晶化は
充分に行われず、低比抵抗のITO膜は、実現できなか
ったく≧4 X 10−’ΩCll1)。そのため、基
板加熱の代替手法としてイオンブレーティングなどのプ
ラズマを利用した活性化手法も用いられているが、EB
蒸着をベースとしたイオンブレーティングやマグネトロ
ンスパッタリングは、いわゆるグロー放電を利用し、プ
ラズマを形成しているため、ガス、あるいは原料物質の
電離度は1%程度と低く、ITOなどの透明電導性酸化
物を効率よく形成するのに必要な、化学的に活性なイオ
ン、中性活性種の数は十分ではない。そのため、膜質の
改善は多少なされるものの、基板を300〜400℃に
加熱した場合のような、低比抵抗で透明な膜はできにく
い。したがって、低いシート抵抗を得るためには、膜厚
を厚くし、かつ透明性を得るために成膜速度を非常に遅
(しなければならず、高温基体への成膜に比べても、非
常に長い成膜時間を要するという欠点を有していた。
[問題点を解決するための手段] 本発明の目的は、従来技術の有していた前述の欠点を解
消しようとするものであり、 200℃以下の低温基体
に、透明で比抵抗の低い導電性酸化物の薄膜を従来に比
較して、著しく早い成膜速度で成膜できる低温基体への
薄膜形成方法を新たに提供するものである。
即ち、本発明は、前述の問題点を解決すべくなされたも
のであり、200℃以下の基体上に薄膜を形成する低温
基体への薄膜形成方法において、アーク放電によって発
生したアーク放電プラズマ流を磁場によってシート状に
変形し、該シートプラズマ中のイオンを、シートプラズ
マに対して負の電位に保たれたターゲットに加速してス
パッタリングを行い、シートプラズマを挟んで該ターゲ
ットと対向して配置した200℃以下の基体上に薄膜を
形成することを特徴とする低温基体への薄膜形成方法を
提供するものである。
第1図は本発明の方法によってコーティングを行うにあ
たって用いる装置の一例を示したものである。
本発明においては、アーク放電によるプラズマ流を用い
る。かかるアーク放電プラズマ流は、アーク放電プラズ
マ流発生源1とアノード2の間で、プラズマ発生用直流
電源4を印加してアーク放電を行うことで生成される。
かかるアーク放電プラズマ流発生源1としては、複合陰
極型プラズマ発生装置、又は、圧力勾配型プラズマ発生
装置、又は両者を組み合わせたプラズマ発生装置が好ま
しい。このようなプラズマ発生装置については、真空第
25巻第10号(1982年発行)に記載されている。
複合陰極型プラズマ発生装置とは、熱容量の小さい補助
陰極と、LaB sからなる主陰極とを有し、該補助陰
極に初期放電を集中させ、それを利用して主陰極Lav
gを加熱し、主陰極1aBgが最終陰極としてアーク放
電を行うようにしたプラズマ発生装置である。例えば第
3図のような装置が挙げられる。補助陰極としてはW、
Ta、Moなどの高融点金属のコイル又はバイブ状のも
のが挙げられる。
このような複合陰極型プラズマ発生装置においては、熱
容量の小さな補助陰極52を集中的に初期放電で加熱し
、初期陰極として動作させ、間接的にLavgの主陰極
51を加熱し、最終的にはLaB、の主陰極51による
アーク放電へと移行させる方式であるので、補助陰極5
2が2500℃以上の高温になって外曲に影響する以前
に1aBsの主陰極51が1500℃〜1800℃に加
熱され、大電子流放出可能になるので、補助陰極52の
それ以上の温度上昇が避けられるという点が大きな利点
である。
又、圧力勾配型プラズマ発生装置とは、陰極と陽極の間
に中間電極を介在させ、陰極領域をI Torr程度に
、そして陽極領域を10−”Torr程度に保って放電
を行うものであり、陽極領域からのイオン逆流による陰
極の損傷がない上に、中間電極のない放電形式のものと
比較して、放電電子流をつ(りだすためのキャリアガス
のガス効率が飛躍的に高く、大電流放電が可能であると
いう利点を有している。
複合陰極型プラズマ発生装置と、圧力勾配型プラズマ発
生装置とは、それぞれ上記のような利点を有しており、
両者を組み合わせたプラズマ発生装置、即ち、陰極とし
て複合陰極を用いると共に中間電極も配したプラズマ発
生装置は、上記利点を同時に得ることができるので本発
明のアーク放電プラズマ流発生源1として大変好ましい
第1図にはアーク放電プラズマ発生源1として第3図の
ような複合陰極21と、環状永久磁石を含む第1中間電
極22、空芯コイルを含む第2中間電極を有する第2中
間電極23を有するものを用いた場合を示した。
本発明においては、プラズマ発生源1とアノード2を、
両者の間にスパッタリング領域5が位置するように配置
し、2個以上の空芯コイル6によってプラズマ発生源1
からアノード2方向に向かう磁場7を形成し、プラズマ
発生源lから発生したアーク放電による高密度のプラズ
マ流を真空室3に引き出す。さらに、引き出したプラズ
マをシート状にするために、一対の永久磁石8をプラズ
マ発生源1とスパッタリング領域5の間で、同極面を対
向させてプラズマをターゲット10と基体9方向がら挟
み(例えば、N極とN極を対向させる)、がっ、永久磁
石のN極、あるいは、S極面をターゲット10面、あ、
;°ハ 3″ 8−・−; るいは、被膜を形成する基体9面と平行になるように配
置し、プラズマをターゲット10、あるいは基板9と平
行な方向におしつぶし、シートプラズマ11を形成する
。又、シートプラズマ11を挟むようにターゲットlO
と基体9を配置し、ターゲット10がシートプラズマ1
.1に対して負になるように、ターゲットIOにスパッ
タリング電源12によってスパタリング電圧を印加する
第1図において、一対の永久磁石8によってシート状に
変形されたシートプラズマ11は、第1図の上から下方
向の厚さ及び第1図に垂直な方向に幅を有している。ガ
ス導入口13からは、放電用ガスが導入される。又、真
空室3は、排気手段によって1O−3Torr程度又は
それ以下に保たれることが望ましい。
本発明において用いられるターゲットエ0としては、金
属、合金、これらの酸化物、硼化物、炭化物、珪化物あ
るいはこれらのうち1又は2種類以上を含む混合物から
なるターゲットが使用でき、特に限定されるものではな
いが、金属酸化物膜を形成する場合には、金属酸化物タ
ーゲットを用いると、製膜条件の制御が容易で良質の膜
が得られるので好ましい。特に、錫を含む酸化インジウ
ム膜を形成する場合には、非常に低抵抗の膜が得られる
という理由から錫を5〜l03fi%含む酸化インジウ
ムターゲットが好ましい。
又、本発明においては、ガス導入口13がら真空室3へ
導入される放電用ガスとしては、特に限定されないが、
Arなどの不活性ガスが好ましい。又、真空室3内のガ
ス雰囲気は、スパッタリングガスとしてのArなどの不
活性ガスの他に、第1図には図示していないが、真空室
3に設けられたガス導入手段により、反応ガスとして0
□、Ntナトを、0〜40体積%添加してもよい。
本発明において薄膜を形成する基体9としては、ガラス
、プラスチック、金属からなる基体やフィルムなどが使
用でき、特に限定されるものではないが、耐熱性の低い
もの、例えば、ブラスチックからなる基板又はフィルム
あるいはあらかじめ有機高分子膜を有するガラス板例え
ば、カラーフィルター膜を有する液晶カラーデイスプレ
ー用ガラス基板などにも十分に適用できる。
又、本発明において基体9上に形成される薄膜としては
、金属膜、合金膜、金属の酸化物、窒化物、硼化物、珪
化物、あるいはこれらのうちl又は2種類以上を含む混
合物からなる薄膜等が形成でき、特に限定されるもので
はないが、本発明の方法は、低抵抗で高透過率の透明導
電膜を得るのに最適である。かかる透明導電膜としては
、錫を含む酸化インジウム膜、アンチモンを含んだ酸化
錫膜、アルミニウムを含んだ酸化亜鉛膜等が好適な例と
して挙げられる。
本発明の方法は、液晶表示素子等のデイスプレー用の透
明電極、太陽電池等の電極、熱線反射ガラス、電磁遮蔽
ガラス、低放射率(Low−Emissivity)ガ
ラス等の製造にも適用できる。
本発明において、製膜中、基体9は静止していても良い
し、搬送されても良い。特に、第1図において、紙面の
手前から裏側へ垂直に向かう方向、又は、裏側から手前
へ垂直に向かう方向に搬送しながら、スパッタリングを
行なうと、装置の配置の点でも有利であり、連続して製
膜を行なうことができるので好ましい。
本発明においては、アーク放電プラズマ流発生源1に印
加する直流電源4や、プラズマ流をシート状に変形する
永久磁石8等を調整すれば、厚さ0.5〜3cm、幅1
0〜50cm、長さ2ぐ3m程度のシートプラズマを容
易に形成できる。
また、本発明において、シートプラズマ11と基体9の
間の距離は2〜30cm程度であることが好ましい。こ
れより近づけると基体の温度が大幅に上昇してしまい、
耐熱性の弱い基体には適用できなくなる。又、これより
離すとスパッタリングによってターゲットからたたきだ
された粒子が有効に基体に付着しな(なる。
又、本発明において、シートプラズマ11表面とターゲ
ット10の間の距離は1〜10cm程度であることか好
ましい。これより近づけるとターゲットの温度が大幅に
上昇してしまい、低融点のターゲットが使用できなくな
る。又、これより離すとスパッタリングパワーが有効に
投入されなくなってしまう。
本発明においては、1000〜l0000人/sec程
度の成膜速度が得られ、マグネトロスパッタリング等の
従来の成膜方法に比べ2〜5倍程度の高速で良質の膜が
成膜できる。
例えば、錫を含む酸化インジウムのターゲットを用いて
ITO膜を製膜する場合、2000〜5000人/se
c程度の製膜速度で比抵抗3 X 10−’Ω・cm以
下の低抵抗のITO膜が得られる。
[作用] 本発明において、使用されるシートプラズマは、アーク
放電を利用しているため、従来のマグネトロンスパッタ
やイオンブレーティングに利用されているグロー放電型
プラズマに比べて、プラズマの密度が50〜100倍高
く、ガスの電離度は、数十%となり、イオン密度、電子
密度、中性活性種密度も非常に高い。このような高密度
のプラズマにターゲットと基板を対向させ、プラズマに
対して、ターゲットに負の電圧を印加すると、ターゲッ
ト方向に非常に多数のイオンを取り出すことが可能とな
り、従来のマグネトロンスパッタリングに比較して、2
〜5倍の高速スパッタリングを実現できる。さらに、酸
素、アルゴン等の雰囲気ガスの多くは、反応性の高いイ
オンや中性の活性状態を取り、加えてスパッタリングさ
れた粒子や酸素原子等の反応ガス粒子も基板に到達する
前に、高密度のシートプラズマの中を通り、反応性の高
いイオンや中性の活性種となる。その結果、基板上での
反応性が高まり、基板加熱がなくとも、比抵抗の低い透
明導電膜が、従来よりも高速の成膜速度で実現できる。
[実施例] 実施例1 第3図に示すような複合陰極21を有する圧力勾配型の
アーク放電プラズマ流発生源1を配置した第1図のよう
なスパッタリング装置を用い、ターゲット10として錫
を7.5重量%添加した酸化インジウムの焼結体(10
cmX 40cm)を使用し、加熱していないノンアル
カリガラス基板上(旭硝子社製ANガラス(商品名) 
、 10cmX30cI11)にITO膜を以下の方法
によりコーティングした。
まず、真空室3内をl X 10−’Torr以下に排
気した後、プラズマ発生源1に13からアルゴンガスな
導入し、放電電流を180Aに設定し、シートプラズマ
11を発生させた。この後、スパッタリング圧力がI 
X 10−”Torrで、酸素分圧が2%になるように
、アルゴン、および酸素ガスを真空室3内に導入した。
ここで、ターゲットにスパッタリング電源12により一
400vのスパッタリング電圧を印加し、基板静止の状
態で1分間ITO膜を成膜した。ターゲットIOとシー
トプラズマ11間は約3CI11、シートプラズマ11
と基板9間は約4cm、ターゲットIOと基板9間は約
8cmであった。この時のスパッタリング電流は、9.
3Aであり、成膜中の基板温度上昇は110℃以下であ
った。コーティングされたITO膜の特性は、膜厚: 
4800人、比抵抗:  2.5X 10−’Ωam、
波長550nI11での透過率=82%であった。
実施例2 また、基板としてポリエステルフィルム、および耐熱温
度200℃の液晶デイスプレー用のカラーフィルターを
あらかじめコーティングしたノンアルカリガラス基板(
旭硝子社製ANガラス)を使用した場合にも、実施例1
と同様のITO膜特性を得た。この場合、ポリエステル
フィルムの透過率の低下、カラーフィルターの劣化等は
、発生しなかった。
[比較例] 実施例1と同程度のターゲットサイズを持つ第2図のよ
うなりCマグネトロンスパッタリング装置を用い、ター
ゲット32として、実施例1と同様の錫を7.5重量%
添加した酸化インジウムの焼結体を使用し、実施例1と
同様のガラス基板上にITO膜を以下の方法によりコー
ティングした。
まず、スパッタリング装置内をl X 10−’Tor
r以下に排気した後、スパッタリング圧力が1×10−
”Torrで、酸素分圧が2%になるように、アルゴン
、および酸素ガスをスパッタリングチャンバー内にガス
導入口35から導入した。ここで、ターゲット32に一
400Vのスパッタリング電圧をスパッタリング電源3
4により印加し、基板静止の状態で1分間ITO膜を成
膜した。この時のスパッタリング電流は、 3.OAで
あった。ターゲット32と基板31間は約80filで
あり、成膜中の基板温度上昇は150℃以下であった。
コーティングされたITO膜の特性は、膜厚:1800
人、比抵抗:  7.2X 10−’Ωam、波長55
0nmでの透過率:80%であった。
以上のように、低温基板への透明導電膜のコーティング
において、本発明による高密度シートプラズマスパッタ
リング方法は、従来のDCマグネトロンスパッタ法に比
較して、2〜5倍の高速成膜速度で、比抵抗の低い透明
導電性酸化物被膜が形成できる。
[発明の効果] 本発明は、加熱のできない有機フィルムや有機膜のコー
ティングされた無機ガラス基板にマグネトロンスパッタ
リング等の従来の成膜方法に比べ、2〜5倍の成膜速度
で、従来法による膜と同等か、あるいはそれ以下の比抵
抗を持つ透明導電膜がコーティングできるという優れた
効果を有する。さらに、本発明では、マグネトロンスパ
ッタリングのようにターゲット裏面にマグネットを使用
していないこと、さらにプラズマを大面積で均一にシー
ト状(こ形成するという理由から、ターゲットのエロー
ジョンは、均一になり、ターゲットの利用効率も著しく
向上するという優れた効果も有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法によってコーティングを行う為に
用いる装置の一例を示す説明図、第2図は従来のマグネ
トロンスパッタリング法の為の装置の一例を示す説明図
、第3図は本発明におけるプラズマ発生源の陰極として
の複合陰極の一例を示す断面図である。 l:アーク放電プラズマ流発生源 2ニアノード 3:真空室 4:プラズマ発生用直流電源 5ニスバツタリング領域 6:空芯コイル 7:空芯コイルによって作られる磁場の方向8:永久磁
石 9:基 体 10:ターゲット 11:シートプラズマ 12ニスバツタリング電源 13:ガス導入口 21:複合陰極 22:環状永久磁石を内蔵した第1中間電極23:空芯
コイルを内蔵した第2中間電極31:基 板 32:ターゲット 33: 34: 35: 36: 37: 5J : 52; 53: 54・ 55: 56: 57: 58= 永久磁石 スパッタリング電源 ガス導入口 プラズマ エロージョン領域 LaB5主陰極 Taバイブの補助陰極 陰極を保護するためのWからなる円板 Moからなる円筒 Moからなる円板状の熱シールド 冷却水 ステンレスからなる陰極支持台 ガス導入口 、・衣。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、200℃以下の基体上に薄膜を形成する低温基体へ
    の薄膜形成方法において、アーク放電によって発生した
    アーク放電プラズマ流を磁場によってシート状に変形し
    、該シートプラズマ中のイオンを、シートプラズマに対
    して負の電位に保たれたターゲットに加速してスパッタ
    リングを行い、シートプラズマを挟んで該ターゲットと
    対向して配置した200℃以下の基体上に薄膜を形成す
    ることを特徴とする低温基体への薄膜形成方法。 2、透明又は半透明の基体上に透明導電膜を形成するこ
    とを特徴とする請求項1記載の低温基体への薄膜形成方
    法。 3、基体がプラスチックからなる基板又はフィルムであ
    ることを特徴とする請求項1又は2記載の低温基体への
    薄膜形成方法。 4、基体が、有機高分子被膜を有するガラス基体である
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の低温基体への薄
    膜形成方法。 5、基体が、カラーフィルターを有するガラス板である
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の低温基体への薄
    膜形成方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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