JP2008223112A - プラズマ処理装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】シート形状のプラズマを用い、処理対象が3次元構造である場合でも処理を均一に行うことのできるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】中間電極から陽極に向かって引き出されたプラズマに対して、対向する方向からプラズマ軸に向かう一対の磁界を印加して該方向に交差する方向にプラズマ径を広げ、プラズマの断面形状を扁平にする。一対の磁界の印加方向を軸を中心に回転させ、プラズマの扁平な方向を軸を中心に傾斜させる。これにより、立体構造の基板の端部(側面部)にプラズマを傾斜させて接近させることができるため、基板の中央部と端部の処理速度の分布を低減し、処理速度を向上させることができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、プラズマ処理装置に関し、特に、直流高密度プラズマを用いた処理装置に関する。
高密度プラズマを用いて成膜等を行うプラズマ処理装置としては、プラズマ源から引き出したプラズマに成膜原料ガスを供給し、反応生成物等を基板上に付着させる化学的気相成長(CVD)装置や、プラズマによってイオン化した材料を蒸着するイオンプレーティング装置等が知られている。プラズマ生成法としては、アーク放電を用いることにより、高密度プラズマを生成できることが知られている。特に、プラズマ生成室と成膜室との間に、オリフィスを兼用する中間電極を配置し、プラズマ生成室内の圧力を成膜室の圧力より高くする圧力勾配型放電は、成膜室の反応ガスや逆流イオンがプラズマ生成室に逆流するのを防ぐことができ、反応ガスによる陰極の化学的損傷および逆流イオンによる陰極の物理的損傷を防止することができることが非特許文献1等に開示されている。
また、上記非特許文献1には、中間電極を通って成膜室側に引き出された円柱状のプラズマを挟むように、二枚の角型永久磁石を配置することにより、永久磁石の磁界によりプラズマの幅を広げ、巾が広く、厚みの薄いシート状のプラズマに変換できることが開示されている。一般にプラズマは、その表面のみが利用されているため、平面状基板の近くにシート状プラズマを生じさせることにより、プラズマを高効率で利用でき、平面状基板等に高効率で成膜を行うことが可能となる。
溶融塩 Vol.31 No.2 別刷 1988年5月
上述のようにプラズマ形状を、巾が広く、厚さの薄いシート状プラズマに変換することにより、平面状基板に対する成膜効率を向上させることが可能であるが、成膜対象(ワーク)が3次元の複雑な構造である場合には、シート状プラズマからワークまでの距離が均一ではないため、均一に成膜することができない。
本発明の目的は、シート形状のプラズマを用い、処理対象が3次元構造である場合でも処理を均一に行うことのできるプラズマ処理装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明によれば、以下のようなプラズマ処理装置が提供される。すなわち、所定の軸に沿って順に配置された、陰極、中間電極および陽極と、中間電極と陽極との間の空間に基板を保持する基板保持部と、中間電極から陽極に向かって引き出されたプラズマに対して、プラズマ軸に向かう一対の磁界を対向する方向から印加して該方向に交差する方向にプラズマ径を広げる磁界印加部とを有する。磁界印加部は、一対の磁界の印加方向を軸を中心に回転させ、プラズマ径を広げる方向を軸を中心に傾斜させる手段を備える。これにより、立体構造の基板の端部(側面部)にプラズマを傾斜させて接近させることができるため、基板の中央部と端部の処理速度の分布を低減し、処理速度を向上させることができる。
磁界印加部は、一対の磁界を印加するために、軸を挟んで対向配置された一対の磁界発生部と、一対の磁界発生部を相互の位置関係を保ったまま軸を中心に回転させる回転機構部とを備える構成にすることができる。一対の磁界発生部を回転させることにより、プラズマを傾斜させることができる。
回転機構部には、回転機構部を回転駆動する駆動部と、駆動部を制御する制御部とが接続された構成にすることができる。この場合、制御部は、プラズマ処理中に予め定めた角度にプラズマを傾斜させることにより、処理速度の分布を均一化することができる。
基板保持部が、プラズマ軸に対して交差する方向に基板を搬送する搬送機構を備える場合には、制御部は、搬送機構により搬送されている基板の位置に応じて、予め定めた角度にプラズマを傾斜させる構成にすることができる。これにより、インライン装置で搬送しながらプラズマ処理をする場合であっても、処理速度の分布を低減することができる。
このように、本発明では、シート形状のプラズマを傾斜させることにより、3次元構造の処理対象の各部位に接近させることができるため、プラズマ処理を均一に行うことができる。
本発明の一実施の形態の直流高密度プラズマを用いた処理装置について図面を用いて説明する。
(第1の実施の形態)
第1の実施の形態の直流高密度プラズマを用いた処理装置は、プラズマCVD法により成膜を行う装置である。この成膜装置の構成について図1〜図3を用いて説明する。図1に示したように、この成膜装置は、連結されたプラズマ室1と成膜室7とを有している。プラズマ室1には、陰極2および第1および第2の中間電極3がプラズマ軸(図1のz軸)に沿って順に配置されている。陰極2は、グロー放電(プラズマ)からアーク放電(直流高密度プラズマ11)に移行させるのに適した公知の複合陰極構造である。第1および第2の中間電極3は、プラズマ11を通過させるための貫通孔をその中心に有する。プラズマ室1には、放電ガス4を導入するための放電ガス導入口4aが備えられている。第1および第2の中間電極3の貫通孔は、オリフィスとしても作用し、プラズマ室1の圧力を成膜室7の圧力よりも高く維持し、圧力勾配を形成する。
成膜室7には、z軸上に陽極5が配置されている。成膜室7には、陽極5とプラズマ室1との間の空間に、原料ガス8を導入するための原料ガス導入管8aと、基板6を保持する基板ホルダ16が備えられている。成膜室7に設けられた排気口9は、不図示の真空排気装置に接続されている。
陰極2、第1および第2の中間電極3、および陽極5には、電源10が接続されている。第1および第2の中間電極3には、陰極2の電位と陽極5の電位の間の中間電位が印加され、プラズマ11に電位勾配を与えてプラズマを陰極2から陽極5へスムーズに導く作用をする。
プラズマ室1の外側、ならびに、成膜室7の外側にはそれぞれ、中心軸がz軸に一致するように電磁石12が配置されている。電磁石12は、z軸方向の磁場を形成することにより、陰極2から生じたプラズマ11をz軸を中心にビーム状に収束させる。これにより、プラズマ11は、第1および第2中間電極3の中央の穴を通過し、陽極5方向に引き出される。
中間電極3と基板6との間には、プラズマ室1と成膜室7との連結部近傍に、図1に示すようにプラズマ室1を挟んで向かい合う一対の直方体形状の永久磁石13が配置されている。一対の永久磁石13の長手方向は、z軸に直交する方向(図2ではx軸に平行な方向)に配置され、互いに向かい合う面がN極、外側の面がS極となるように着磁されている。
一対の永久磁石13は、図2に示すように、プラズマ室1の外側に配置されたリング状の回転機構14に搭載されており、リング状回転機構14の回転中心軸は、プラズマ室1の中心軸(z軸)と一致している。リング状回転機構14には、これを回転駆動するモーター等の駆動部21と、駆動部21を制御する制御部22が接続されている。よって、制御部22の制御下で駆動部21が、リング状回転機構14を回転させることにより、一対の永久磁石13を相互の位置関係を維持した状態で所定の角度まで回転させることができる。
一対の永久磁石13は、互いに向かい合う面がN極となるように着磁されているため、これらによって形成される磁界は図3(a),(b)のようになる。ただし、図3(a),(b)は、一対の永久磁石13がいずれもy軸上に配置されている場合について図示しており、図3(a)は、x軸方向から見た磁力線を、図3(b)は、y軸方向から見た磁力線を示している。図3(a)からわかるように、一対の永久磁石13のN極からy軸に沿って出た磁力線はそれぞれ、プラズマ11の中心軸(z軸方向)に向かった後、中心軸に沿う方向に向きを変える。これにより、プラズマ11は、y軸方向については、磁界によって閉じこめる方向の力を受け、プラズマ11の径はy軸方向について押し縮められる。一方、x軸方向については、図3(b)に示したように磁力線は広がる方向に進むため、プラズマ11の径はx軸方向に広がる。
このようにプラズマ11は、一対の永久磁石13の磁界によってy軸方向に圧縮され、x軸方向については広げられるため、y軸方向の厚さが薄く、x軸方向に幅広のシート形状のプラズマになる。プラズマ11のxy面に平行な断面は、図4(b)に示したように、x方向に薄く広がった扁平な形状となる。
図3(a)、(b)および図4(b)に示したプラズマ11は、一対の永久磁石対13がy軸方向に沿って上下に対向配置されている状態であるが、リング状回転機構14を回転させることにより、一対の永久磁石13を対向させたまま、その向きをz軸を中心に回転させると、それに応じて磁界も傾斜するため、シート形状のプラズマ11も傾斜する。すなわち、図4(a)および図4(c)のように永久磁石対をy軸に対して傾斜させると、シート形状のプラズマ11もその主平面方向が永久磁石13の長手方向と平行になるように傾斜する。
このように一対の永久磁石13を回転させ、シート形状のプラズマ11を傾斜させることにより、基板6の側面部にシート形状のプラズマ11を接近させることができる。よって、基板6の形状に合わせてプラズマ11を傾斜させることにより、基板6の所望の部位にプラズマ11を接近させることができる。
以下、本実施の形態の直流高密度プラズマを用いた成膜装置を用いて、基板6にCVD法により成膜する場合の各部の動作について説明する。ここでは、基板6として、円筒を軸方向に沿って2分割した半円筒形状の基板を用い、その外周面に成膜する場合について説明する。
まず、半円筒形状の基板6を、シート状のプラズマ11の中心軸(z軸)に対して凸、すなわち半円筒の外周面がプラズマ11に向くように基板ホルダ16に取り付ける。成膜室7およびプラズマ室1を排気口9から所定の真空度まで排気する。プラズマ室1にアルゴン、ヘリウム等の放電ガス4を導入し、電源10から陰極2と陽極5間に直流電圧を印加し、グロー放電によるプラズマを生じさせる。放電開始直後3〜5分程度はグロー放電であるが、グロー放電を続けると、陰極2が加熱され熱電子を放出するようになり、これによりグロー放電の電離度が上昇して高密度放電すなわちアーク放電に移行し、直流高密度プラズマ11が生じる。電源10により電圧が印加され、抵抗が接続された第1および第2の中間電極3は、プラズマ11に電位勾配を与え、陰極2から陽極5にスムーズに導く。また、第1および第2の中間電極3は、オリフィス作用によりプラズマ室1の圧力を成膜室7の圧力よりも高く維持し、その圧力勾配により、成膜室の反応ガスや逆流イオンがプラズマ生成室に逆流するのを防ぐ。
プラズマ室1および成膜室7の外部に配置された電磁石12はz軸を中心にプラズマ11を絞り、プラズマ11をビーム状に収束することにより、第1および第2中間電極3の中央の穴を通過させるようにガイドするとともに、陽極5にプラズマ11を導く。
第1および第2の中間電極3から引き出されたプラズマ11は、一対の永久磁石13の磁界によって、シート形状に広げられて成膜室7に引き出される。
成膜室7内に原料ガス導入管8aから原料ガス8を供給すると、成膜室7内に引き出されたシート形状のプラズマ11に原料ガス8が曝され、分解物や反応生成物等が生じ、基板6の外周面に堆積する。プラズマ11による原料ガス8の分解反応や生成反応は、プラズマ11の表面において生じるため、シート形状に広げられたプラズマ11を用いることにより、プラズマ11を高効率で利用して反応を生じさせることができ、成膜速度を向上させることができる。
成膜の途中で、制御部22が回転機構14を回転させることにより一対の永久磁石13の向きを変え、プラズマ11を傾斜させることにより、立体形状の基板6の外周面の周方向端部における処理速度(成膜速度)を向上させることができる。これにより、外周面全体の成膜速度の分布を低減し、外周面全体の成膜速度を向上させることができる。
具体的には、図4(b)のように、一対の永久磁石13の長手方向をx軸方向に平行に配置している場合に、シート形状のプラズマ11の主平面はxz平面に平行であり、基板6の外周面のうちy軸上の領域(中央領域)40とプラズマ11との距離が最も近くなる。このため、基板6の中央領域40の成膜速度が大きくなり、左右端部43a、43bは、成膜速度の最も小さい領域となる。つぎに、図4(a)のように、一対の永久磁石13をz軸を中心に所定の角度だけ傾斜させると、シート形状のプラズマ11の主平面もそれに対応して所定の角度だけ傾斜するため、基板6の外周面のうち中央領域40よりも所定の角度だけずれた領域41がプラズマ11に最も接近する。これにより、領域41の成膜速度が最大となり、左端部43aの成膜速度は、図4(b)よりも大きくなる。さらに、図4(c)のように、一対の永久磁石13を図4(a)の場合とは逆向きに所定の角度だけ傾斜させると、シート形状のプラズマ11の主平面もそれに応じて図4(a)とは逆向きに所定の角度だけ傾斜するため、基板6の外周面のうち中央領域40から図4(a)とは逆向きに所定の角度だけずれた領域42がプラズマ11に最も接近する。これにより、領域42の成膜速度が最大となり、右端部43bの成膜速度は図4(b)よりも大きくなる。
よって、制御部22は、成膜中に図4(a)、(b)、(c)の傾斜状態に変化させ、各傾斜状態でそれぞれ所定の時間ずつ成膜を行う方法、または、成膜中にリング状回転機構14を所定の角度範囲で連続的に揺動させる方法を行うことにより、基板6の外周面の周方向端部と中央部との成膜速度差を低減できる。これにより、所定の膜厚以上の膜が外周面全体に形成されるのに要する時間を短縮できる。
成膜を行った後、プラズマ11を停止させ、成膜室7およびプラズマ室1を大気圧まで戻し、基板6を取り出す。
このように、本実施の形態の成膜装置は、シート形状にプラズマ11を広げ、しかも、プラズマ11を基板6に対して傾斜させることができるため、立体形状の基板6の側面方向にプラズマ11を接近させることができる。これにより、基板の外周面全体の成膜速度の分布を低減でき、成膜に要する時間を短縮できる。また、中央領域40と左右端部43a、43bの膜厚の差を低減でき、均一な膜を成膜することができる。
発明者らの実験によると、プラズマ11を図4(b)の状態に固定していた場合、中央領域40の成膜速度は、端部43a、43bの成膜速度よりも50%程度大きかったが、図4(a),(b),(c)の状態にプラズマ11を順に傾斜させた場合、中央領域40の成膜速度が、端部43a、43bの成膜速度よりも20%大きい程度まで成膜速度差を低減することができた。このように、プラズマ11を傾斜させることにより、膜厚速度の分布が低減されることが確認された。
なお、制御部22は、プラズマの回転を連続的に行うかもしくは断続的に行うか、連続的に行う場合には、揺動の周期や振幅の値をどうするか等について、ユーザから指示を受け取り、実行するように構成することができる。なお、永久磁石13のリング状回転機構14は、手動で回転させることも可能である。
(第2の実施の形態)
第2の実施の形態として、インライン成膜装置について説明する。インライン成膜装置は、第1の実施の形態の図1の成膜装置の構成と基本構造は同じであるが、成膜室7には、真空を保ったまま基板を搬入および搬出するためのロードロック室が連結されている。また、図示しないが、成膜室7内には、基板ホルダ16をx軸方向に移動させる基板搬送機構が配置されている。
基板搬送機構は、図5(a),(b),(c)に示したように、成膜室7内で基板6を連続してx軸方向に移動させる。基板6は、図5(a),(b),(c)の順に移動しながら成膜処理が施される。リング状回転機構14には、回転駆動部21と、制御部22とが接続されている。他の構成は、第1の実施の形態と同様である。
制御部22は、基板の搬送位置に合わせて、図5(a),(b),(c)のように順に一対の永久磁石13を傾斜させることにより、基板6の外周面における成膜の均一性を向上させる。制御部22は、搬送に連動させて図5(a),(b),(c)の角度に段階的にプラズマ11を傾斜させることも可能であるし、搬送に連動させて連続的にプラズマ11を傾斜させる(揺動させる)ことも可能である。
第2の実施の形態のインライン装置では、図5(a)、(c)に示したように基板6がy軸から離れている位置では、基板6がy軸上に位置する時よりも、プラズマ11を大きく傾斜させることができる。このため、図5(a)、(c)では基板6の端部43a、43bとプラズマ11との距離を、図4(a)、(c)の場合よりも小さくすることができ、端部43a、43bにおける成膜速度をより向上させることができる。よって、中央領域40と端部43a、43bとで成膜速度の差が小さく、均一な膜を成膜することができる。
発明者らの実験によると、インライン装置で、図5(a),(b),(c)の状態にプラズマ11を順に回転させながら成膜を行った場合、中央領域40の成膜速度と、端部43a、43bの成膜速度との差を10%程度以下にまで低減できることが確認された。
このように、第2の実施の形態では、成膜装置をインライン装置にした場合に、プラズマ11を傾斜させることにより、立体構造の基板6に対して、成膜速度の分布を低減でき、成膜に要する時間を短縮できるとともに、膜厚を均一化することができる。
なお、第1および第2の実施の形態では、シート状のプラズマを用いてプラズマCVD法により成膜を行う成膜装置について説明したが、本発明は、プラズマCVD法による成膜装置に限られるものではなく、イオンプレーティング法により成膜を行う装置や、シート状のプラズマを用いて基板6の表面改質処理等の他の処理を行う装置に適用することも可能である。
第1の実施の形態の直流高密度プラズマを用いた成膜装置の構成を示すブロック図。 図1の成膜装置のA−A断面図。 図1の成膜装置の一対の永久磁石13について、(a)x方向から見た磁界の磁力線を示す説明図、(b)y方向から見た磁界の磁力線を示す説明図。 (a)、(b)及び(c)図1の成膜装置の一対の永久磁石対13を回転させた場合のプラズマ11と基板6との位置関係を示す説明図。 第2の実施の形態のインライン成膜装置において、一対の永久磁石対13を回転させた場合のプラズマ11と基板6との位置関係を示す説明図。
符号の説明
1…プラズマ室、2…陰極、3…第1および第2の中間電極、4…放電ガス、4a…放電ガス導入管、5…陽極、6…基板、7…成膜室、8…原料ガス、8a…原料ガス導入管、9…排気口、10…電源、11…プラズマ、12…電磁石、13…永久磁石、16…基板ホルダ。

Claims (4)

  1. 所定の軸に沿って順に配置された、陰極、中間電極および陽極と、前記中間電極と陽極との間の空間に基板を保持する基板保持部と、前記中間電極から陽極に向かって引き出されたプラズマに対して、前記軸に向かう一対の磁界を対向する方向から印加して該方向に交差する方向にプラズマ径を広げる磁界印加部とを有し、
    前記磁界印加部は、前記一対の磁界の印加方向を前記軸を中心に回転させ、前記プラズマ径を広げる方向を前記軸を中心に傾斜させる手段を備えることを特徴とするプラズマ処理装置。
  2. 請求項1に記載の成膜装置おいて、前記磁界印加部は、前記一対の磁界を印加するために、前記軸を挟んで対向配置された一対の磁界発生部と、前記一対の磁界発生部を相互の位置関係を保ったまま前記軸を中心に回転させる回転機構部とを備えることを特徴とするプラズマ処理装置。
  3. 請求項1または2に記載のプラズマ処理装置において、前記回転機構部には、前記回転機構部を回転駆動する駆動部と、前記駆動部を制御する制御部とが接続され、該制御部は、プラズマ処理中に予め定めた角度に前記プラズマを傾斜させることを特徴とするプラズマ処理装置。
  4. 請求項3に記載のプラズマ処理装置において、前記基板保持部は、前記プラズマ軸に対して交差する方向に基板を搬送する搬送機構を備え、前記制御部は、前記搬送機構により搬送されている基板の位置に応じて、予め定めた角度に前記プラズマを傾斜させることを特徴とするプラズマ処理装置。
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