JPS60200956A - 放電反応装置 - Google Patents

放電反応装置

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Publication number
JPS60200956A
JPS60200956A JP5533884A JP5533884A JPS60200956A JP S60200956 A JPS60200956 A JP S60200956A JP 5533884 A JP5533884 A JP 5533884A JP 5533884 A JP5533884 A JP 5533884A JP S60200956 A JPS60200956 A JP S60200956A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
recess
magnetic field
magnetic
discharge
uniformly
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5533884A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuo Asamaki
麻蒔 立男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Anelva Corp
Original Assignee
Canon Anelva Corp
Anelva Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Anelva Corp, Anelva Corp filed Critical Canon Anelva Corp
Priority to JP5533884A priority Critical patent/JPS60200956A/ja
Publication of JPS60200956A publication Critical patent/JPS60200956A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • H01J37/3408Planar magnetron sputtering

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 行いたい場合に適用して特に効果がある。
これらの放電反応装置は、被加工体の表面を高速且つ均
一に加工したい場合に用いられることが多い。これらの
狙いに一つの端緒を与えるものに。
本件発明者による特公昭44−19684の提案があり
放電電流の制御法を与えるが、どこにでも取り付けられ
るような簡便な装置を与えることはできていない。その
後の発展として作られ現用されているマグネトロンスパ
ッタリングには、ターゲットが一様にスパッタリングさ
れないためターゲツト材の利用率が悪いと言う欠点があ
る。エツチングの分野ではこれらを改善すべくバンドマ
グネトロンが発表されたが(D、C,Hinsonら:
 5efniconductorInternatio
nal Oct、1983.P2O3) 、これらは2
面の工7チングは出来るが1面のみエツチングしたい場
合に不向である。CVDや表面窒化においても同様であ
る。
本願の発明の目的はこれらの欠点を除いた新規な装置を
提供することにある。
次にこの発明を図面により詳しく説明する。
第1図、第2図および第窒3図の実施例において10は
活性種発生機構で、ここで発生した活性種により、基体
51を加工する。11は電源、12は絶縁体、13は電
極構造20の支持体を兼ねたシールド管である。21は
磁場設定のための磁石で、磁力線26を発生する。22
 、23は磁極、24はこれらを囲う真空容器を兼ねた
外囲器、27はシールド、29は水冷管、28は凹みで
ある。5oは基体支持機構で、51が加工される基体、
52が基体ホルダー、53は絶縁体。
54が電源である。40は真空系で、41が真空容器。
42がバリアプルリーク、43は排気管、44は排気方
向を示しここに排気系がとりつけられる。
この装置は通常のスパッタリング、エツチング。
CVD 、表面窒化1表面酸化装置などと同様に運転さ
れる。例えば、スパッタ装置の場合内部を所定の圧力迄
排気後、バリアプルリークよりアルゴンガスを導入し所
定の圧力に設定後、電源11を働作させると、凹み28
とその周囲の壁と、磁力線26とで囲まれた空間に放電
が閉じ込められる。しかも電場と磁場が直交していて極
めて高い密度で。
しかも凹み全面にわたって一様に分イロして放電プラズ
マが得られる。
スパッタリング装置にこの発明を適用すると。
ターゲットとして使う凹みの内側は一様にスパッタリン
グされるので、ターゲット材料の利用率は極めてよくな
る。また、バンドマグネトロンと比較すると片面だけで
放電が行われるので、不必要な部分のスパッタリングに
よる材料の純度の低下。
あるいは不必要な部分をターゲツト材でおうと材料の利
用率の低下を防ぐことが出来る。エツチングの場合も同
様で、(この場合基体25をこの位置に置く)一様なエ
ツチングができるとともに他の不必要な放電による汚染
や近傍の構造物のエツチング防止ができる。これらは、
放電を磁場によりホローに閉じ込め、一つの面のみで一
様な放電を行うことが出来るようになったことにより可
能となったものである。この場合イオンの効果により。
エツチングの場合は異方性エツチングが2表面の酸化や
窒化を行うときには高速化ができる。この実施例におい
ては、加熱手段を示してないが適当な加熱方法を用いれ
ば反応を促進することができる。このことは、基体を5
1の位置におく場合も同様である。
第4図にはさらに別の実施例を示しである。この実施例
は、磁場を強くするために磁極23と240間の距離を
小さくした例であり、第2図の実施例と全く同様に理解
することができる。
第5図には、他の実施例を示しである。この実施例は、
さらに強力な磁場を得るために馬蹄形磁石を用いた例で
あり、第2図の実施例を全く同様に理解することができ
る。
第6図には、さらに別の実施例を示しである。
この実施例においては、磁場の形をもう一つの磁場発生
機構60で変形させようとするものである。
この実施例において機構60は機構20とほぼ上下対る
。この磁力線66により、磁力線26は下方に曲げられ
、基板250表面に殆んど並行となり、より均一な加工
が可能となる。磁石61を図の左右方向に第6図よりも
短くするときは、磁力線は26′のように双峰形となる
。このように、もう一つの磁場発生機構60の形状を適
当に選ぶことにより自由に磁場26の形状を決定できる
。このような磁場発生機構は単にこの実施例のみならず
第4量う図、第5図の実施例にも適用できるし、必要に
応じ多数の磁石を用いることにより所望の磁力線形状を
実現することができる。
本発明は以上説明した通りであって、放電反応装置にお
いて被加工物の表面を高速且つ均一に加工する上で著効
を奏するものである。半導体装置その他の製造、加工に
本発明の貢献するところは大きく、工業上有為の発明と
いうことができる。
なお2以上の実施例の説明は何ら限定的な意味をもつも
のではなく7本発明の主旨を尊重する多数の変形が可能
であることは言う迄もない。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図はこの発明の実施例を示す図。 第3図は第2図の3−3′断面を示す図、第4図から第
6図の実施例はそれぞれ別の実施例を示す図であ5゜図
中、28は凹み、21は磁場設定用磁石。 26は210発する磁力線の例、11は電源である。 特許出願人 日電アネルバ株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 面の一部に凹みを設け、前記凹みの近傍に磁場を設定す
    る手段を配し、前記磁場設定手段の少くとも一部は凹み
    の背部に配置し1発生した磁場の少くとも一部は前記凹
    みの縁部の一端から発して他端に入射せしめ、前記凹み
    の表面に電圧を印加する手段を設けて凹みの内部とその
    近傍に放電を発生せしめ、前記凹みの近傍に配置した基
    体の表面を加工することを特徴とした放電反応装置。
JP5533884A 1984-03-23 1984-03-23 放電反応装置 Pending JPS60200956A (ja)

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JP5533884A JPS60200956A (ja) 1984-03-23 1984-03-23 放電反応装置

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JP5533884A JPS60200956A (ja) 1984-03-23 1984-03-23 放電反応装置

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JPS60200956A true JPS60200956A (ja) 1985-10-11

Family

ID=12995731

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JP5533884A Pending JPS60200956A (ja) 1984-03-23 1984-03-23 放電反応装置

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JP (1) JPS60200956A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61179872A (ja) * 1984-10-25 1986-08-12 アプライド マテリアルズ インコ−ポレ−テツド マグネトロンエンハンスプラズマ補助式化学蒸着のための装置ならびに方法
JPS63183263U (ja) * 1987-05-12 1988-11-25
JPH0681144A (ja) * 1992-03-20 1994-03-22 Internatl Business Mach Corp <Ibm> パッセージを充てんする方法および装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61179872A (ja) * 1984-10-25 1986-08-12 アプライド マテリアルズ インコ−ポレ−テツド マグネトロンエンハンスプラズマ補助式化学蒸着のための装置ならびに方法
JPS63183263U (ja) * 1987-05-12 1988-11-25
JPH0681144A (ja) * 1992-03-20 1994-03-22 Internatl Business Mach Corp <Ibm> パッセージを充てんする方法および装置

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