JPS61292817A - 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 - Google Patents
透明電導性金属酸化物膜の形成方法Info
- Publication number
- JPS61292817A JPS61292817A JP13399185A JP13399185A JPS61292817A JP S61292817 A JPS61292817 A JP S61292817A JP 13399185 A JP13399185 A JP 13399185A JP 13399185 A JP13399185 A JP 13399185A JP S61292817 A JPS61292817 A JP S61292817A
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- oxide film
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は反応性スパッタリングにより透明電導性金属酸
化物膜を製造する方法に関するものである。
化物膜を製造する方法に関するものである。
[従来の技術]
従来より透明電導性金属酸化物膜の形成方法として、反
応性スパッタリング法は比較的容易に、かつ品質の優れ
た薄膜が再現性よく得られることから広く使用されてき
た。
応性スパッタリング法は比較的容易に、かつ品質の優れ
た薄膜が再現性よく得られることから広く使用されてき
た。
[発明の解決しようとする問題点]
しかし、従来の反応性スパッタリング法は、ターゲー、
トとして金属あるいは金属合金、あるいは金属酸化物の
いずれを用−いても均質で高品位の膜を得るためには膜
形成において基板温度を一定の高温にし1i必要があっ
た0例えば低抵抗、高透過率であることが望ましい透明
電導性薄膜を得るためには基板の温度を400°C程度
の高温におく必要があった。ターゲットの材料を選択し
、スパッタリング中のガス圧、ターゲットと基板との距
離等の条件を厳密に制御することによって基板を比較的
低温にしたままで低抵抗の薄膜が得られることもあるが
、その抵抗率、透過率は基板温度を一定高温に保持した
ものに比べ、ともに充分なものとは言えなかった。
トとして金属あるいは金属合金、あるいは金属酸化物の
いずれを用−いても均質で高品位の膜を得るためには膜
形成において基板温度を一定の高温にし1i必要があっ
た0例えば低抵抗、高透過率であることが望ましい透明
電導性薄膜を得るためには基板の温度を400°C程度
の高温におく必要があった。ターゲットの材料を選択し
、スパッタリング中のガス圧、ターゲットと基板との距
離等の条件を厳密に制御することによって基板を比較的
低温にしたままで低抵抗の薄膜が得られることもあるが
、その抵抗率、透過率は基板温度を一定高温に保持した
ものに比べ、ともに充分なものとは言えなかった。
本発明は基板温度を比較的低温に保ったままで従来法で
得られるものよりも特性の優れた透明電導性金属酸化物
膜を形成する方法に提供することを目的とするものであ
る。
得られるものよりも特性の優れた透明電導性金属酸化物
膜を形成する方法に提供することを目的とするものであ
る。
[問題点を解決するための手段]
本発明は前述の問題点を解決すべくなされたものであり
、金属単体あるいは金属合金をターゲットとし、反応性
ガスとして酸素を含む雰囲気中で反応性スパッリング中
により基板面上いて基板とターゲットとの間に電子エミ
ッターを配置し、該電子エミッターからの熱電子電流量
により雰囲気ガス及び/又はスパッター粒子をイオン化
して基板とターゲットとの間のプラズマ密度を増加させ
た雰囲気下において透明電導性金属酸化物膜を基板面上
に被着することを特徴とする透明電導性金属酸化物膜の
形成方法をある。
、金属単体あるいは金属合金をターゲットとし、反応性
ガスとして酸素を含む雰囲気中で反応性スパッリング中
により基板面上いて基板とターゲットとの間に電子エミ
ッターを配置し、該電子エミッターからの熱電子電流量
により雰囲気ガス及び/又はスパッター粒子をイオン化
して基板とターゲットとの間のプラズマ密度を増加させ
た雰囲気下において透明電導性金属酸化物膜を基板面上
に被着することを特徴とする透明電導性金属酸化物膜の
形成方法をある。
以下、本発明を第1図に従って詳細に説明する。
第1図は、本発明を実施するために使用するスパッター
装置の一例の概略図を示したものであり、lはスパッタ
ー装置、2は真空室、3は基板、4はスパッター用のタ
ーゲット、5は基板3とターゲット4との間に配置され
た電子エミッター、6はマグネトロン、7はフィラメン
ト、8はリフレクタ−19はアノード、lOはシャッタ
ー、11はバルブ、 12はヒーター、13は基板ホル
ダーを示す0図示した例はマグネトロンスパッタリング
装置であり、スパー/鼾二源としてのターゲットにマグ
ネトロン6により特殊な磁界をかけ、スパッター粒子を
その磁場の中に閉じ込め、電離効率を上げてプラズマ密
度を上げることにより高付着速度が得られ、又導入され
る気体の圧力を下げることができるようにしたものであ
るが、勿論これに限定されることなく他の方式のスパッ
ター装置も利用できる。
装置の一例の概略図を示したものであり、lはスパッタ
ー装置、2は真空室、3は基板、4はスパッター用のタ
ーゲット、5は基板3とターゲット4との間に配置され
た電子エミッター、6はマグネトロン、7はフィラメン
ト、8はリフレクタ−19はアノード、lOはシャッタ
ー、11はバルブ、 12はヒーター、13は基板ホル
ダーを示す0図示した例はマグネトロンスパッタリング
装置であり、スパー/鼾二源としてのターゲットにマグ
ネトロン6により特殊な磁界をかけ、スパッター粒子を
その磁場の中に閉じ込め、電離効率を上げてプラズマ密
度を上げることにより高付着速度が得られ、又導入され
る気体の圧力を下げることができるようにしたものであ
るが、勿論これに限定されることなく他の方式のスパッ
ター装置も利用できる。
本発明におけるスパッタリングガスとしては通常使用さ
れているアルゴンガスが使用され。
れているアルゴンガスが使用され。
又、反応性ガスとしては酸素ガスが使用される。又、タ
ーゲットとしては、形成する薄膜に応じた金属単体又は
、金属合金が使用される。
ーゲットとしては、形成する薄膜に応じた金属単体又は
、金属合金が使用される。
本発明によって、好ましく形成される透明電導性酸化物
膜としてはsbがドーピングされた5n02、Snがド
ーピングされたIn2O3などの酸化物の透明電導薄膜
が代表的である。
膜としてはsbがドーピングされた5n02、Snがド
ーピングされたIn2O3などの酸化物の透明電導薄膜
が代表的である。
例えば、酸化錫透明電導薄膜の場合には5n−sb金合
金らなるターゲットと反応性ガスとして酸素ガスを用い
て反応性スパッタリングを行なd sbのドーピングさ
れた透明電導性徴化錫薄膜を形成し、又、酸化インジウ
ム透明電導薄膜の場合には、In−5+金合金らなるタ
ーゲットと反応性ガスとして酸素ガスを用いて反応性ス
パッタリングを行なわせ、Snのドーピングされた透明
電導性酸化インジウム薄膜を形成する。
金らなるターゲットと反応性ガスとして酸素ガスを用い
て反応性スパッタリングを行なd sbのドーピングさ
れた透明電導性徴化錫薄膜を形成し、又、酸化インジウ
ム透明電導薄膜の場合には、In−5+金合金らなるタ
ーゲットと反応性ガスとして酸素ガスを用いて反応性ス
パッタリングを行なわせ、Snのドーピングされた透明
電導性酸化インジウム薄膜を形成する。
第1図に示した電子エミッター5は、基板3とターゲッ
ト4との間に置かれ、熱電子を放出スルフィラメント7
、熱電子を反射するりフレフタ−8,電子を引き出し、
加速し、運動方向を規制するアノード9から構成されて
いる。かかる電子エミッター5により熱電子は真空室2
の中心方向に引き出され、上から飛んでくるスパッター
粒子、及び/又は真空室内の雰囲気ガスの一部を3オン
化、活性化する。このような雰囲気の中でスパッター粒
子と反応性ガスとが反応し、反応性スパッタリングによ
り金属酸化物膜が基板面に形成される。このように、ス
パッター粒子及び/又は雰囲気ガスの一部がイオン化さ
れ、活性化されているため、基板が比較的低温でも一部
のない透明な低抵抗の透明電導性金属酸化物膜が形成さ
れる。なお、電子エミッターから放出される電子の電流
量は、フィラメントに流れる電子量と電圧とによって決
まり、電子のエネルギーは主にアノードとフィラメント
の間の電位差によって決められる。
ト4との間に置かれ、熱電子を放出スルフィラメント7
、熱電子を反射するりフレフタ−8,電子を引き出し、
加速し、運動方向を規制するアノード9から構成されて
いる。かかる電子エミッター5により熱電子は真空室2
の中心方向に引き出され、上から飛んでくるスパッター
粒子、及び/又は真空室内の雰囲気ガスの一部を3オン
化、活性化する。このような雰囲気の中でスパッター粒
子と反応性ガスとが反応し、反応性スパッタリングによ
り金属酸化物膜が基板面に形成される。このように、ス
パッター粒子及び/又は雰囲気ガスの一部がイオン化さ
れ、活性化されているため、基板が比較的低温でも一部
のない透明な低抵抗の透明電導性金属酸化物膜が形成さ
れる。なお、電子エミッターから放出される電子の電流
量は、フィラメントに流れる電子量と電圧とによって決
まり、電子のエネルギーは主にアノードとフィラメント
の間の電位差によって決められる。
また1本発明において、スパッタリングによる薄膜形成
時の真空室の圧力は3 X 1O−3Torr以下の真
空度とし、この真空度で薄膜形成を行なうことが好まし
い。
時の真空室の圧力は3 X 1O−3Torr以下の真
空度とし、この真空度で薄膜形成を行なうことが好まし
い。
また、ターゲットの表面からターゲットの原子を叩き出
すための陽イオンを発生させるための方式としては、陽
極と陰極とを対向させ、アルゴン等の不活性ガスを導入
して、陽極と陰極との間に直流電圧、又は高周波電圧を
加えて、放電を起させ、陽イオンを発生させる方式など
が利用できる0例えば、陰極を構成するターゲットが電
導性の場合には、極間に直流電圧、又は高周波電圧を加
え、又、ターゲットが絶縁性の場合には、高周波電圧が
加えられる。
すための陽イオンを発生させるための方式としては、陽
極と陰極とを対向させ、アルゴン等の不活性ガスを導入
して、陽極と陰極との間に直流電圧、又は高周波電圧を
加えて、放電を起させ、陽イオンを発生させる方式など
が利用できる0例えば、陰極を構成するターゲットが電
導性の場合には、極間に直流電圧、又は高周波電圧を加
え、又、ターゲットが絶縁性の場合には、高周波電圧が
加えられる。
本発明による薄膜乞脛誠するに当っては、まずガラス、
プラスチック、セラミック等の各種材料から選ばれる所
定の基板3を真空室2内の基板ホルダーにセットし、真
空室2内を10−6〜1O−5Torr程度減圧にした
後、真空室z内にアルゴンなどのスパッターガスと反応
性ガスとして酸素をを所定量導入し、更に所定の真空度
例えば2 X 10−’〜3×10弓程度の真空度に調
整する。
プラスチック、セラミック等の各種材料から選ばれる所
定の基板3を真空室2内の基板ホルダーにセットし、真
空室2内を10−6〜1O−5Torr程度減圧にした
後、真空室z内にアルゴンなどのスパッターガスと反応
性ガスとして酸素をを所定量導入し、更に所定の真空度
例えば2 X 10−’〜3×10弓程度の真空度に調
整する。
次いでターゲット4に高周波電圧、あるいは直流電圧を
印加するとともに、電子エミッター5に電流、電圧を加
え、テレスパッタリングを行なった後、シャッター10
を開いてスパッタリングを行ない、上記基板3面上に薄
膜を形成する。
印加するとともに、電子エミッター5に電流、電圧を加
え、テレスパッタリングを行なった後、シャッター10
を開いてスパッタリングを行ない、上記基板3面上に薄
膜を形成する。
[実施例]
第1図のようなマグネトロン型スパッタリング装置を用
いて次のような方法により酸化インジウム透明電導性被
膜を形成した。ターゲット源のターゲットとしてはIn
−In−9OSn−10wt$の合金を用いた。膜形成
に当っては真空室を5×1O−6Torrに減圧した後
、酸素とアルゴンの混合ガスを真空室内に導入し、該室
ケタ圧力を1×1O−3Torrに保ち、直流マグネト
ロンターゲットの放電を開始させ、ついで電子エミッタ
ーのタングステンフィラメントに電流を流して、電子エ
ミッターから放出される熱電子によりアルゴンガスと酸
素ガスと、スパッター粒子の一部をイオン化し、活性化
して基板とターゲットとの間のプラズマ密度を増加させ
た雰囲気下において、室温のガラス基板上に約80八/
分程度の付着速度で酸化インジウム透明導電性被膜(膜
厚1000人)を形成した。
いて次のような方法により酸化インジウム透明電導性被
膜を形成した。ターゲット源のターゲットとしてはIn
−In−9OSn−10wt$の合金を用いた。膜形成
に当っては真空室を5×1O−6Torrに減圧した後
、酸素とアルゴンの混合ガスを真空室内に導入し、該室
ケタ圧力を1×1O−3Torrに保ち、直流マグネト
ロンターゲットの放電を開始させ、ついで電子エミッタ
ーのタングステンフィラメントに電流を流して、電子エ
ミッターから放出される熱電子によりアルゴンガスと酸
素ガスと、スパッター粒子の一部をイオン化し、活性化
して基板とターゲットとの間のプラズマ密度を増加させ
た雰囲気下において、室温のガラス基板上に約80八/
分程度の付着速度で酸化インジウム透明導電性被膜(膜
厚1000人)を形成した。
このようにして得られた膜は同一条件で作成した比較法
(電子エミッターなし)と比べ透明で吸収がなく、比抵
抗も2 X 10−4Ω箇と高温基板(300℃以上)
に形成した膜のそれと同程度であった・ [効 果〕 本発明によれば、電子エミッターからに熱電子放出量(
エミッション電流)により基板とターゲットとの間のプ
ラズマ密度を増加させることがで二泗る。又、このプラ
ズマ密度の制御は電子エミッターにより行なうことがで
きるので。
(電子エミッターなし)と比べ透明で吸収がなく、比抵
抗も2 X 10−4Ω箇と高温基板(300℃以上)
に形成した膜のそれと同程度であった・ [効 果〕 本発明によれば、電子エミッターからに熱電子放出量(
エミッション電流)により基板とターゲットとの間のプ
ラズマ密度を増加させることがで二泗る。又、このプラ
ズマ密度の制御は電子エミッターにより行なうことがで
きるので。
ターゲットに加える電力とは独立にプラズマ密度の制御
を行なうことができる。
を行なうことができる。
第1図は本発明を実施するためのスパッタ装置の一具体
例の概略図であり、lはスパッター装置、2は真空室、
3は基板、4はターゲット、5は電子エミッター、7は
フィラメント、8はリフレクタ−19はアノードを示す
。
例の概略図であり、lはスパッター装置、2は真空室、
3は基板、4はターゲット、5は電子エミッター、7は
フィラメント、8はリフレクタ−19はアノードを示す
。
Claims (3)
- (1)金属単体あるいは金属合金をターゲットとし、反
応性ガスとして酸素を含む雰囲気中で反応性スパッタリ
ング法により基板面上に透明電導性金属酸化物質を形成
する方法において、基板とターゲットとの間に電子エミ
ッターを配置し、該電子エミッターからの熱電子により
雰囲気ガス、及び/又はスパッター粒子をイオン化して
基板とターゲットとの間のプラズマ密度を増加させた雰
囲気下において透明電導性金属酸化物膜を基板面上に被
着することを特徴とする透明電導性金属酸化物膜の形成
方法。 - (2)透明電導性金属酸化物膜が錫を含む酸化インジウ
ム透明電導性薄膜であることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の透明電導性金属酸化物膜の形成方法。 - (3)透明電導性金属酸化物膜がアンチモンを含む酸化
錫透明電導性薄膜であることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の透明電導性金属酸化物膜の形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13399185A JPH06101252B2 (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13399185A JPH06101252B2 (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61292817A true JPS61292817A (ja) | 1986-12-23 |
JPH06101252B2 JPH06101252B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=15117829
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13399185A Expired - Lifetime JPH06101252B2 (ja) | 1985-06-21 | 1985-06-21 | 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06101252B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6372875A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-02 | Hitachi Ltd | スパツタリング装置 |
JP2017066483A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 神港精機株式会社 | マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法 |
JP2018115356A (ja) * | 2017-01-17 | 2018-07-26 | 神港精機株式会社 | マグネトロンスパッタ法による反応膜の形成装置および形成方法 |
JP2018119185A (ja) * | 2017-01-26 | 2018-08-02 | 神港精機株式会社 | マグネトロンスパッタ法による装飾被膜の形成方法 |
JP2020117787A (ja) * | 2019-01-25 | 2020-08-06 | 神港精機株式会社 | マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法 |
-
1985
- 1985-06-21 JP JP13399185A patent/JPH06101252B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6372875A (ja) * | 1986-09-17 | 1988-04-02 | Hitachi Ltd | スパツタリング装置 |
JP2017066483A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 神港精機株式会社 | マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法 |
JP2018115356A (ja) * | 2017-01-17 | 2018-07-26 | 神港精機株式会社 | マグネトロンスパッタ法による反応膜の形成装置および形成方法 |
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JP2020117787A (ja) * | 2019-01-25 | 2020-08-06 | 神港精機株式会社 | マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06101252B2 (ja) | 1994-12-12 |
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