JPS61292817A - 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 - Google Patents

透明電導性金属酸化物膜の形成方法

Info

Publication number
JPS61292817A
JPS61292817A JP13399185A JP13399185A JPS61292817A JP S61292817 A JPS61292817 A JP S61292817A JP 13399185 A JP13399185 A JP 13399185A JP 13399185 A JP13399185 A JP 13399185A JP S61292817 A JPS61292817 A JP S61292817A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transparent conductive
metal oxide
oxide film
target
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP13399185A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH06101252B2 (ja
Inventor
巧一 鈴木
昌史 多田
悟 高木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AGC Inc
Original Assignee
Asahi Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Glass Co Ltd filed Critical Asahi Glass Co Ltd
Priority to JP13399185A priority Critical patent/JPH06101252B2/ja
Publication of JPS61292817A publication Critical patent/JPS61292817A/ja
Publication of JPH06101252B2 publication Critical patent/JPH06101252B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は反応性スパッタリングにより透明電導性金属酸
化物膜を製造する方法に関するものである。
[従来の技術] 従来より透明電導性金属酸化物膜の形成方法として、反
応性スパッタリング法は比較的容易に、かつ品質の優れ
た薄膜が再現性よく得られることから広く使用されてき
た。
[発明の解決しようとする問題点] しかし、従来の反応性スパッタリング法は、ターゲー、
トとして金属あるいは金属合金、あるいは金属酸化物の
いずれを用−いても均質で高品位の膜を得るためには膜
形成において基板温度を一定の高温にし1i必要があっ
た0例えば低抵抗、高透過率であることが望ましい透明
電導性薄膜を得るためには基板の温度を400°C程度
の高温におく必要があった。ターゲットの材料を選択し
、スパッタリング中のガス圧、ターゲットと基板との距
離等の条件を厳密に制御することによって基板を比較的
低温にしたままで低抵抗の薄膜が得られることもあるが
、その抵抗率、透過率は基板温度を一定高温に保持した
ものに比べ、ともに充分なものとは言えなかった。
本発明は基板温度を比較的低温に保ったままで従来法で
得られるものよりも特性の優れた透明電導性金属酸化物
膜を形成する方法に提供することを目的とするものであ
る。
[問題点を解決するための手段] 本発明は前述の問題点を解決すべくなされたものであり
、金属単体あるいは金属合金をターゲットとし、反応性
ガスとして酸素を含む雰囲気中で反応性スパッリング中
により基板面上いて基板とターゲットとの間に電子エミ
ッターを配置し、該電子エミッターからの熱電子電流量
により雰囲気ガス及び/又はスパッター粒子をイオン化
して基板とターゲットとの間のプラズマ密度を増加させ
た雰囲気下において透明電導性金属酸化物膜を基板面上
に被着することを特徴とする透明電導性金属酸化物膜の
形成方法をある。
以下、本発明を第1図に従って詳細に説明する。
第1図は、本発明を実施するために使用するスパッター
装置の一例の概略図を示したものであり、lはスパッタ
ー装置、2は真空室、3は基板、4はスパッター用のタ
ーゲット、5は基板3とターゲット4との間に配置され
た電子エミッター、6はマグネトロン、7はフィラメン
ト、8はリフレクタ−19はアノード、lOはシャッタ
ー、11はバルブ、 12はヒーター、13は基板ホル
ダーを示す0図示した例はマグネトロンスパッタリング
装置であり、スパー/鼾二源としてのターゲットにマグ
ネトロン6により特殊な磁界をかけ、スパッター粒子を
その磁場の中に閉じ込め、電離効率を上げてプラズマ密
度を上げることにより高付着速度が得られ、又導入され
る気体の圧力を下げることができるようにしたものであ
るが、勿論これに限定されることなく他の方式のスパッ
ター装置も利用できる。
本発明におけるスパッタリングガスとしては通常使用さ
れているアルゴンガスが使用され。
又、反応性ガスとしては酸素ガスが使用される。又、タ
ーゲットとしては、形成する薄膜に応じた金属単体又は
、金属合金が使用される。
本発明によって、好ましく形成される透明電導性酸化物
膜としてはsbがドーピングされた5n02、Snがド
ーピングされたIn2O3などの酸化物の透明電導薄膜
が代表的である。
例えば、酸化錫透明電導薄膜の場合には5n−sb金合
金らなるターゲットと反応性ガスとして酸素ガスを用い
て反応性スパッタリングを行なd sbのドーピングさ
れた透明電導性徴化錫薄膜を形成し、又、酸化インジウ
ム透明電導薄膜の場合には、In−5+金合金らなるタ
ーゲットと反応性ガスとして酸素ガスを用いて反応性ス
パッタリングを行なわせ、Snのドーピングされた透明
電導性酸化インジウム薄膜を形成する。
第1図に示した電子エミッター5は、基板3とターゲッ
ト4との間に置かれ、熱電子を放出スルフィラメント7
、熱電子を反射するりフレフタ−8,電子を引き出し、
加速し、運動方向を規制するアノード9から構成されて
いる。かかる電子エミッター5により熱電子は真空室2
の中心方向に引き出され、上から飛んでくるスパッター
粒子、及び/又は真空室内の雰囲気ガスの一部を3オン
化、活性化する。このような雰囲気の中でスパッター粒
子と反応性ガスとが反応し、反応性スパッタリングによ
り金属酸化物膜が基板面に形成される。このように、ス
パッター粒子及び/又は雰囲気ガスの一部がイオン化さ
れ、活性化されているため、基板が比較的低温でも一部
のない透明な低抵抗の透明電導性金属酸化物膜が形成さ
れる。なお、電子エミッターから放出される電子の電流
量は、フィラメントに流れる電子量と電圧とによって決
まり、電子のエネルギーは主にアノードとフィラメント
の間の電位差によって決められる。
また1本発明において、スパッタリングによる薄膜形成
時の真空室の圧力は3 X 1O−3Torr以下の真
空度とし、この真空度で薄膜形成を行なうことが好まし
い。
また、ターゲットの表面からターゲットの原子を叩き出
すための陽イオンを発生させるための方式としては、陽
極と陰極とを対向させ、アルゴン等の不活性ガスを導入
して、陽極と陰極との間に直流電圧、又は高周波電圧を
加えて、放電を起させ、陽イオンを発生させる方式など
が利用できる0例えば、陰極を構成するターゲットが電
導性の場合には、極間に直流電圧、又は高周波電圧を加
え、又、ターゲットが絶縁性の場合には、高周波電圧が
加えられる。
本発明による薄膜乞脛誠するに当っては、まずガラス、
プラスチック、セラミック等の各種材料から選ばれる所
定の基板3を真空室2内の基板ホルダーにセットし、真
空室2内を10−6〜1O−5Torr程度減圧にした
後、真空室z内にアルゴンなどのスパッターガスと反応
性ガスとして酸素をを所定量導入し、更に所定の真空度
例えば2 X 10−’〜3×10弓程度の真空度に調
整する。
次いでターゲット4に高周波電圧、あるいは直流電圧を
印加するとともに、電子エミッター5に電流、電圧を加
え、テレスパッタリングを行なった後、シャッター10
を開いてスパッタリングを行ない、上記基板3面上に薄
膜を形成する。
[実施例] 第1図のようなマグネトロン型スパッタリング装置を用
いて次のような方法により酸化インジウム透明電導性被
膜を形成した。ターゲット源のターゲットとしてはIn
−In−9OSn−10wt$の合金を用いた。膜形成
に当っては真空室を5×1O−6Torrに減圧した後
、酸素とアルゴンの混合ガスを真空室内に導入し、該室
ケタ圧力を1×1O−3Torrに保ち、直流マグネト
ロンターゲットの放電を開始させ、ついで電子エミッタ
ーのタングステンフィラメントに電流を流して、電子エ
ミッターから放出される熱電子によりアルゴンガスと酸
素ガスと、スパッター粒子の一部をイオン化し、活性化
して基板とターゲットとの間のプラズマ密度を増加させ
た雰囲気下において、室温のガラス基板上に約80八/
分程度の付着速度で酸化インジウム透明導電性被膜(膜
厚1000人)を形成した。
このようにして得られた膜は同一条件で作成した比較法
(電子エミッターなし)と比べ透明で吸収がなく、比抵
抗も2 X 10−4Ω箇と高温基板(300℃以上)
に形成した膜のそれと同程度であった・ [効 果〕 本発明によれば、電子エミッターからに熱電子放出量(
エミッション電流)により基板とターゲットとの間のプ
ラズマ密度を増加させることがで二泗る。又、このプラ
ズマ密度の制御は電子エミッターにより行なうことがで
きるので。
ターゲットに加える電力とは独立にプラズマ密度の制御
を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施するためのスパッタ装置の一具体
例の概略図であり、lはスパッター装置、2は真空室、
3は基板、4はターゲット、5は電子エミッター、7は
フィラメント、8はリフレクタ−19はアノードを示す

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)金属単体あるいは金属合金をターゲットとし、反
    応性ガスとして酸素を含む雰囲気中で反応性スパッタリ
    ング法により基板面上に透明電導性金属酸化物質を形成
    する方法において、基板とターゲットとの間に電子エミ
    ッターを配置し、該電子エミッターからの熱電子により
    雰囲気ガス、及び/又はスパッター粒子をイオン化して
    基板とターゲットとの間のプラズマ密度を増加させた雰
    囲気下において透明電導性金属酸化物膜を基板面上に被
    着することを特徴とする透明電導性金属酸化物膜の形成
    方法。
  2. (2)透明電導性金属酸化物膜が錫を含む酸化インジウ
    ム透明電導性薄膜であることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の透明電導性金属酸化物膜の形成方法。
  3. (3)透明電導性金属酸化物膜がアンチモンを含む酸化
    錫透明電導性薄膜であることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の透明電導性金属酸化物膜の形成方法。
JP13399185A 1985-06-21 1985-06-21 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 Expired - Lifetime JPH06101252B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13399185A JPH06101252B2 (ja) 1985-06-21 1985-06-21 透明電導性金属酸化物膜の形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13399185A JPH06101252B2 (ja) 1985-06-21 1985-06-21 透明電導性金属酸化物膜の形成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61292817A true JPS61292817A (ja) 1986-12-23
JPH06101252B2 JPH06101252B2 (ja) 1994-12-12

Family

ID=15117829

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13399185A Expired - Lifetime JPH06101252B2 (ja) 1985-06-21 1985-06-21 透明電導性金属酸化物膜の形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06101252B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6372875A (ja) * 1986-09-17 1988-04-02 Hitachi Ltd スパツタリング装置
JP2017066483A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 神港精機株式会社 マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法
JP2018115356A (ja) * 2017-01-17 2018-07-26 神港精機株式会社 マグネトロンスパッタ法による反応膜の形成装置および形成方法
JP2018119185A (ja) * 2017-01-26 2018-08-02 神港精機株式会社 マグネトロンスパッタ法による装飾被膜の形成方法
JP2020117787A (ja) * 2019-01-25 2020-08-06 神港精機株式会社 マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6372875A (ja) * 1986-09-17 1988-04-02 Hitachi Ltd スパツタリング装置
JP2017066483A (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 神港精機株式会社 マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法
JP2018115356A (ja) * 2017-01-17 2018-07-26 神港精機株式会社 マグネトロンスパッタ法による反応膜の形成装置および形成方法
JP2018119185A (ja) * 2017-01-26 2018-08-02 神港精機株式会社 マグネトロンスパッタ法による装飾被膜の形成方法
JP2020117787A (ja) * 2019-01-25 2020-08-06 神港精機株式会社 マグネトロンスパッタ法による成膜装置および成膜方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06101252B2 (ja) 1994-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4392931A (en) Reactive deposition method and apparatus
US4046660A (en) Sputter coating with charged particle flux control
EP0385475A2 (en) Method of forming a transparent conductive film
KR100336621B1 (ko) 고분자 기판 위의 인듐산화물 또는 인듐주석산화물 박막증착 방법
US4428810A (en) Method and apparatus for depositing conducting oxide on a substrate
JPS61292817A (ja) 透明電導性金属酸化物膜の形成方法
JPH02101160A (ja) イオンプレーティング方法
JP3615647B2 (ja) 透明導電膜の製造方法およびその透明導電膜
JPH08232064A (ja) 反応性マグネトロンスパッタ装置
JPS6210269A (ja) 真空蒸着装置及び薄膜の製造方法
JP3261049B2 (ja) スパッタリング成膜方法
JPH058527B2 (ja)
JPH0273963A (ja) 低温基体への薄膜形成方法
JPS628409A (ja) 透明電導性金属酸化物膜の形成方法
JP3095232B2 (ja) 透明導電膜の製造方法
JPS61294714A (ja) 透明電導性金属酸化物膜の形成方法
JPS628408A (ja) 改良されたスパツタリング法
JP2878299B2 (ja) イオンプレーティング方法
JP2971541B2 (ja) 薄膜形成装置
JPS6320302B2 (ja)
JP2905512B2 (ja) 薄膜形成装置
JPS6017070A (ja) 薄膜形成方法及びその装置
JPS63121653A (ja) 透明導電膜の形成方法
JPS6329396B2 (ja)
JP3174313B2 (ja) 薄膜形成装置