JPS628409A - 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 - Google Patents
透明電導性金属酸化物膜の形成方法Info
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- JPS628409A JPS628409A JP14585785A JP14585785A JPS628409A JP S628409 A JPS628409 A JP S628409A JP 14585785 A JP14585785 A JP 14585785A JP 14585785 A JP14585785 A JP 14585785A JP S628409 A JPS628409 A JP S628409A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、改良された真空蒸着法により透明電導性金属
酸化物膜を形成する方法に関するものである。
酸化物膜を形成する方法に関するものである。
[従来の技術及びその問題点]
従来より、透明電導性金属酸化物膜の製造方法の中で、
抵抗加熱蒸発源又は電子ビーム蒸発源を用いた真空蒸着
法は、比較的容易に品質の優れた透明電導性金属酸化物
膜が得られることから巾広く用いられてきた。
抵抗加熱蒸発源又は電子ビーム蒸発源を用いた真空蒸着
法は、比較的容易に品質の優れた透明電導性金属酸化物
膜が得られることから巾広く用いられてきた。
しかし、従来法では、全屈あるいは、金属合金、あるい
は金Ii1酸化物のいずれを出発原料としても高品質(
低抵抗、高i過率)の透明主導性金属酸化物膜を得るた
、5゛めには、高い基板温度(400℃以上)を必要と
していた。
は金Ii1酸化物のいずれを出発原料としても高品質(
低抵抗、高i過率)の透明主導性金属酸化物膜を得るた
、5゛めには、高い基板温度(400℃以上)を必要と
していた。
また材料によっては、比較的低温の基板にでも、その出
発原料の選択、蒸着条件の厳密な制御により、低抵抗の
膜が得られることもあるが、その膜品質は、十分とは言
えなかった。
発原料の選択、蒸着条件の厳密な制御により、低抵抗の
膜が得られることもあるが、その膜品質は、十分とは言
えなかった。
本発明は、比較的低温の基板にでも、従来法によるもの
よりも特性の優れた透明電導性金属酸化物膜の熱的蒸発
源を用いた製造方法を新規に提供することを目的とする
ものである。
よりも特性の優れた透明電導性金属酸化物膜の熱的蒸発
源を用いた製造方法を新規に提供することを目的とする
ものである。
[問題点を解決するための手段]
本発明は、前述の問題点を解決すべくなされたものであ
り、真空槽内で蒸発源を加熱して蒸発粒子を生成せしめ
、該蒸発粒子を基体上に被着せしめて透明主導性金属酸
化物膜を形成する方法において基板に高周波電力を供給
して基板周辺にガスプラズマを形成し、かかるガスプラ
ズマ中でイオン化が促進された蒸発粒子を基板面に被着
せしめることを特徴とする透明主導性金属酸化物膜の形
成方法及び、さらに、基板と、万全源との間に電子エミ
ッター5設け、該電子エミ−7ターの電子電流量により
法発粒子をイオン化し、活性化させることを特徴とする
透明主導性金属酸化物膜の形成方法を提供するものであ
る。
り、真空槽内で蒸発源を加熱して蒸発粒子を生成せしめ
、該蒸発粒子を基体上に被着せしめて透明主導性金属酸
化物膜を形成する方法において基板に高周波電力を供給
して基板周辺にガスプラズマを形成し、かかるガスプラ
ズマ中でイオン化が促進された蒸発粒子を基板面に被着
せしめることを特徴とする透明主導性金属酸化物膜の形
成方法及び、さらに、基板と、万全源との間に電子エミ
ッター5設け、該電子エミ−7ターの電子電流量により
法発粒子をイオン化し、活性化させることを特徴とする
透明主導性金属酸化物膜の形成方法を提供するものであ
る。
以下、本発明を第1.2図に従って詳細に説明する。
第1.2図は、本発明を実施するために使用する真空蒸
着装置の具体例の概略図を示したものであり、1は真空
蒸着装置、2は真空室、3は基板、4は蒸発源、5は基
板3と蒸発源との間に配置された電子エミッター、6は
フィラメント、7はリフレクタ−18はアノード、9は
基板ホルダー、lOはシャッター、 11は高周波電源
を示す。
着装置の具体例の概略図を示したものであり、1は真空
蒸着装置、2は真空室、3は基板、4は蒸発源、5は基
板3と蒸発源との間に配置された電子エミッター、6は
フィラメント、7はリフレクタ−18はアノード、9は
基板ホルダー、lOはシャッター、 11は高周波電源
を示す。
図示した蒸発源4は、ルツボに蒸発物質を入れ、かかる
蒸発物質が電子ビームガンにより、発せられた電子ビー
ムによって加熱され、蒸発しうる様にしたものであるが
、このタイプに限らず、抵抗加熱方式、誘電加熱方式、
あるいはレーサービーム加熱方式により蒸発物質が加熱
され、蒸発しうる様にしたものであってもよい、蒸発源
に供給される蒸発物質としては、所望の透明電導性金属
酸化物膜に応じて金属単体、金属合金、又は金属酸化物
が使用される。
蒸発物質が電子ビームガンにより、発せられた電子ビー
ムによって加熱され、蒸発しうる様にしたものであるが
、このタイプに限らず、抵抗加熱方式、誘電加熱方式、
あるいはレーサービーム加熱方式により蒸発物質が加熱
され、蒸発しうる様にしたものであってもよい、蒸発源
に供給される蒸発物質としては、所望の透明電導性金属
酸化物膜に応じて金属単体、金属合金、又は金属酸化物
が使用される。
いずれの蒸発源を用いる場合にも、金属酸化物膜が形成
される様に真空室2内に反応性ガスとして酸素を導入し
、かかる酸素と蒸発粒子が反応して膜形成が行なわれる
反応性真空蒸着法がとられる。
される様に真空室2内に反応性ガスとして酸素を導入し
、かかる酸素と蒸発粒子が反応して膜形成が行なわれる
反応性真空蒸着法がとられる。
本発明により好ましく形成される透明電導性金属酸化物
膜としては、Sbがドーピングされた5n02. Sn
がドーピングされたIn2O3,Sn とPがドーピン
グされたIn2O3,PがドーピングされたIn2O3
,AIがドーピングされたZnO,又はBがドーピング
された5n02などからなる透明電導性金属酸化物膜が
代表的である。
膜としては、Sbがドーピングされた5n02. Sn
がドーピングされたIn2O3,Sn とPがドーピン
グされたIn2O3,PがドーピングされたIn2O3
,AIがドーピングされたZnO,又はBがドーピング
された5n02などからなる透明電導性金属酸化物膜が
代表的である。
例えば、酸化錫透明電導薄膜の場合には。
5n−Sb合金からなる蒸発源と反応性ガスとして酸素
ガスを用いて反応性蒸着を行なわせる方法、め:るいは
、 5lllとsbからなる別々の蒸発源と反応性ガス
として8gガスを用いて反応性蒸着を行なわせる方法、
あるいはsbを含む5n02からなる蒸発源を用いて反
応性蒸着する方法によりsbのドーピングされた透明電
導性酸化錫を形成し、又、酸化インジウム透明電導薄膜
の場合には、In−9n合金からなる蒸発源と反応性ガ
スとして酸素ガスを用いて反応性蒸着を行なわせる方法
、あるいは、InとSnからなる別々の蒸発源と反応性
ガスとして酸素ガスを用いて反応性蒸着を行なわせる方
法、あるいはSnを含むIn2O3からなる蒸発源を用
いて反応性蒸着する方法によすSnのドーピングされた
透明電導性酸化インジウム薄膜を形成する。
ガスを用いて反応性蒸着を行なわせる方法、め:るいは
、 5lllとsbからなる別々の蒸発源と反応性ガス
として8gガスを用いて反応性蒸着を行なわせる方法、
あるいはsbを含む5n02からなる蒸発源を用いて反
応性蒸着する方法によりsbのドーピングされた透明電
導性酸化錫を形成し、又、酸化インジウム透明電導薄膜
の場合には、In−9n合金からなる蒸発源と反応性ガ
スとして酸素ガスを用いて反応性蒸着を行なわせる方法
、あるいは、InとSnからなる別々の蒸発源と反応性
ガスとして酸素ガスを用いて反応性蒸着を行なわせる方
法、あるいはSnを含むIn2O3からなる蒸発源を用
いて反応性蒸着する方法によすSnのドーピングされた
透明電導性酸化インジウム薄膜を形成する。
本発明においては、基板に高周波電力を印加して基板周
辺に高周波プラズマを形成し、かかるガスプラズマ中で
更に蒸発粒子のイオン化を促進し、この活性化された蒸
発粒子により被膜形成が行なわれる様にする。第1図は
この高周波バイアス法の装置の概略図を示したものであ
る、第1図にお、−いて、基板ホルダー9は基板3を支
持するためと、かつ、高周波印加のための基板裏面電極
をかねる。基板裏面電極は、基板の裏側に配置される。
辺に高周波プラズマを形成し、かかるガスプラズマ中で
更に蒸発粒子のイオン化を促進し、この活性化された蒸
発粒子により被膜形成が行なわれる様にする。第1図は
この高周波バイアス法の装置の概略図を示したものであ
る、第1図にお、−いて、基板ホルダー9は基板3を支
持するためと、かつ、高周波印加のための基板裏面電極
をかねる。基板裏面電極は、基板の裏側に配置される。
真空室2の中に活性ガスを導入し、2 X 10−’T
arr以上の圧力下で基板ホルタ−9に高周波を印加す
ると基板9近傍に高周波プラズマが形成される。
arr以上の圧力下で基板ホルタ−9に高周波を印加す
ると基板9近傍に高周波プラズマが形成される。
また本発明においては、高周波バ・fアスと組み合せて
基板3と蒸発源4との間に電子エミッター5を設け、電
子エミッター5から放出される熱電子と蒸発粒子とが衝
突し、これにより蒸発粒子がさらにイオン化し活性化さ
れる様にしてもよい、なお、真空室内に反応性ガス、例
えば酸素が導入されている場合には、この反応性ガスも
電子エミッター5から放出される熱電子によりイオン化
され、活性化される。かかる電子エミッターによる蒸発
粒子及び/又は反応性ガスのイオン化の密度は電子エミ
ッターから放出される電子電流量によりコントロールさ
れる。第2図に示した電子エミッター5は、基板3とタ
ーゲット4との間に訝かれ、熱電子を放出するフィラメ
ント6、熱電子を反射するりフレクター7.電子を引き
出し、加速し、運動方向を規制する7ノード8から構成
されている。
基板3と蒸発源4との間に電子エミッター5を設け、電
子エミッター5から放出される熱電子と蒸発粒子とが衝
突し、これにより蒸発粒子がさらにイオン化し活性化さ
れる様にしてもよい、なお、真空室内に反応性ガス、例
えば酸素が導入されている場合には、この反応性ガスも
電子エミッター5から放出される熱電子によりイオン化
され、活性化される。かかる電子エミッターによる蒸発
粒子及び/又は反応性ガスのイオン化の密度は電子エミ
ッターから放出される電子電流量によりコントロールさ
れる。第2図に示した電子エミッター5は、基板3とタ
ーゲット4との間に訝かれ、熱電子を放出するフィラメ
ント6、熱電子を反射するりフレクター7.電子を引き
出し、加速し、運動方向を規制する7ノード8から構成
されている。
かかる電子エミッター5により熱電子は真空室2の中心
方向に引き出され、下から飛んでくる蒸発粒子の一部、
又反応性真空蒸着法の場合には更に反応性ガスの一部も
イオン化され、活性化される。この様な雰囲気で活性化
された蒸発粒子が基板まで到着し、被膜が形成される。
方向に引き出され、下から飛んでくる蒸発粒子の一部、
又反応性真空蒸着法の場合には更に反応性ガスの一部も
イオン化され、活性化される。この様な雰囲気で活性化
された蒸発粒子が基板まで到着し、被膜が形成される。
こ ゛の様に蒸発粒子、又は蒸発粒子と反応性ガスの一
部がイオン化され、活性化されているため。
部がイオン化され、活性化されているため。
基板が比較的低温でも吸収のない透明な低抵抗の透明電
導性金属酸化物膜が形成される。なお、電子エミッター
から放出される電子の電流量は、フィラメントに流れる
電流と電圧とによって決まり、電子のエネルギーは主に
アノードとフィラメントの間の電位差によって決められ
る。
導性金属酸化物膜が形成される。なお、電子エミッター
から放出される電子の電流量は、フィラメントに流れる
電流と電圧とによって決まり、電子のエネルギーは主に
アノードとフィラメントの間の電位差によって決められ
る。
第2 I2Iに示すように電子エミッター5は、電子ビ
ーム加熱蒸発源より蒸発させら杵−た金属蒸気の蒸発粒
子、又は金属酸化物の蒸発粒子のイオン化、活性化を促
す、金属性の基板ホルダー9に印加される高周波により
誘起される高周波プラズマは、蒸発粒子、又は蒸発粒子
と反応性ガス等のイオン化活性化を更に一層促し、かつ
、基板に入射するイオンの加速もかねる。高周波バイア
ス法を利用することの大きな利点は、基板が絶縁基板の
場合や、形成する被膜が絶縁被膜の場合などでも、チャ
ージアップなしで加速効果を得ることができることであ
る。
ーム加熱蒸発源より蒸発させら杵−た金属蒸気の蒸発粒
子、又は金属酸化物の蒸発粒子のイオン化、活性化を促
す、金属性の基板ホルダー9に印加される高周波により
誘起される高周波プラズマは、蒸発粒子、又は蒸発粒子
と反応性ガス等のイオン化活性化を更に一層促し、かつ
、基板に入射するイオンの加速もかねる。高周波バイア
ス法を利用することの大きな利点は、基板が絶縁基板の
場合や、形成する被膜が絶縁被膜の場合などでも、チャ
ージアップなしで加速効果を得ることができることであ
る。
第1図に示した様な真空蒸着装置を用いて本発明の透明
電導性金属酸化物膜を形成するに当っては、まずガラス
、プラスチック、セラミック、金属、Siウェハー等の
各種材料から選ばれる所定の基板3を真空室2内の基板
ホルダー9にセットするとともに蒸発源4に所定の蒸着
物質を用意し、真空室2内を所定の真空度に:J:4整
し、又反応性蒸着法を利用する場合には更に反応性ガス
として酸素を所定量導入して所定の真空度に調整し、次
いで法発源4を電子ビームにより加熱し、落着物質を蒸
発するとともに高周波導入用電極9に電圧を加えて基板
近傍に高周波プラズマを形成し、基板面に蒸着せしめる
。
電導性金属酸化物膜を形成するに当っては、まずガラス
、プラスチック、セラミック、金属、Siウェハー等の
各種材料から選ばれる所定の基板3を真空室2内の基板
ホルダー9にセットするとともに蒸発源4に所定の蒸着
物質を用意し、真空室2内を所定の真空度に:J:4整
し、又反応性蒸着法を利用する場合には更に反応性ガス
として酸素を所定量導入して所定の真空度に調整し、次
いで法発源4を電子ビームにより加熱し、落着物質を蒸
発するとともに高周波導入用電極9に電圧を加えて基板
近傍に高周波プラズマを形成し、基板面に蒸着せしめる
。
又、第2図に示した様な真空蒸着装置を用いて本発明の
透明電導性金属酸化物膜を形成するに当っては、まず、
ガラス、プラスチック、セラミック、金属、Siウェハ
ー等の各種材料から選ばれる所定の基板3を真空室2内
の電極兼基板ホルダー9にセットし、真空室2内を減圧
にした後、真空室2内に所定のプラズマ発生ガス(例え
ば、O、N 、 Ar、 etc) を所定量導入し
、電極兼基板ホルダー9に高周波電力を印加して基板3
の近傍に高周波放電を誘起せしめるとともに、所定の1
浸形成用のTA着源4を電子線ビームにより加熱する一
方、電子エミッター5を作動させ、更に諸条件を調整し
た後シャッター10を開いて基板3面に蒸着せしめる。
透明電導性金属酸化物膜を形成するに当っては、まず、
ガラス、プラスチック、セラミック、金属、Siウェハ
ー等の各種材料から選ばれる所定の基板3を真空室2内
の電極兼基板ホルダー9にセットし、真空室2内を減圧
にした後、真空室2内に所定のプラズマ発生ガス(例え
ば、O、N 、 Ar、 etc) を所定量導入し
、電極兼基板ホルダー9に高周波電力を印加して基板3
の近傍に高周波放電を誘起せしめるとともに、所定の1
浸形成用のTA着源4を電子線ビームにより加熱する一
方、電子エミッター5を作動させ、更に諸条件を調整し
た後シャッター10を開いて基板3面に蒸着せしめる。
本発明において、膜を形成する場合の真空室の圧力;は
2〜5 X 10−’Torr程度とする。又、本発明
においては、基板を室温以上の温度に加熱してもよいが
、室温の温度においても品質の優れた低抵抗の得を得る
ことができる。
2〜5 X 10−’Torr程度とする。又、本発明
においては、基板を室温以上の温度に加熱してもよいが
、室温の温度においても品質の優れた低抵抗の得を得る
ことができる。
出発原料として、金属あるいは合金を用いる反応性真空
蒸着法は、酸化物を出発原料とした場合の分解による蒸
発速度の経時変化、原料の酸化状態の変化、基板上で膜
成長する際の自由度が小さいことによる構造的欠陥の導
入などの問題を低減することができる利点がある。すな
わち、蒸発速度は一定であり、かつ蒸発源は常に金属で
あり、かつまた反応は基板面上で行なわれるが、酸化物
に比べて結合の自由度が大きいため、基板表面での移動
度1反応性が十分であれば欠陥の少ない膜が得られる9
本発明においては、特にかかる反応性真空蒸着法に高周
波バイアス法、電子エミッターによる活性化法とを阻み
合わせることにより、基板表面での蒸発粒子の移動度、
つまり運動エネルギーは高周波のバイアスレベルで制御
され、また1反応性は高周波励起又は1.電子二ミツタ
ーによるイオン化、活性化により付与され、これらによ
って品質の優れた膜を安定して形成することができる。
蒸着法は、酸化物を出発原料とした場合の分解による蒸
発速度の経時変化、原料の酸化状態の変化、基板上で膜
成長する際の自由度が小さいことによる構造的欠陥の導
入などの問題を低減することができる利点がある。すな
わち、蒸発速度は一定であり、かつ蒸発源は常に金属で
あり、かつまた反応は基板面上で行なわれるが、酸化物
に比べて結合の自由度が大きいため、基板表面での移動
度1反応性が十分であれば欠陥の少ない膜が得られる9
本発明においては、特にかかる反応性真空蒸着法に高周
波バイアス法、電子エミッターによる活性化法とを阻み
合わせることにより、基板表面での蒸発粒子の移動度、
つまり運動エネルギーは高周波のバイアスレベルで制御
され、また1反応性は高周波励起又は1.電子二ミツタ
ーによるイオン化、活性化により付与され、これらによ
って品質の優れた膜を安定して形成することができる。
[実施例]
実施例1
第1図の様な真空蒸着装置を用いて次のような方法によ
り薄膜を形成した。蒸発源の蒸発物質として、 In:
90wt%、Sn:10wt%の合金ヲ用イた。膜形成
に当っては、真空室を5 X 1O−6Torrに減圧
した後、酸素ガスを真空室内に導入し。
り薄膜を形成した。蒸発源の蒸発物質として、 In:
90wt%、Sn:10wt%の合金ヲ用イた。膜形成
に当っては、真空室を5 X 1O−6Torrに減圧
した後、酸素ガスを真空室内に導入し。
該室内の圧力を3X lo”丁orrに保ち、蒸発源を
電子ビームガンにより電子ビームをあてて蒸発物質を加
熱し、蒸発させて、この雰囲気中で20℃のガラス基板
上にSnを含む酸化インジウムの透明電導膜を形成した
。なお、膜形成時、基板に150讐の高周波を印加して
基板近傍に高周波プラズマを形成することにより金属の
蒸発粒子と酸素ガスとの一部をイオン化、活性化し、さ
らに加速して行なった。基若速度は約50人/分でめっ
た。この様にして得られた酸化インジウム透明電導膜は
、同一条件で作成した従来法による膜(電子エミッター
を作動させない場合)と比べ、透明で吸収がなく、硬く
ち密で付着力も著しく強く、比抵抗も3XlG−4ΩC
11と従来法の高温基板に作成した膜と同程度の値が達
成された。
電子ビームガンにより電子ビームをあてて蒸発物質を加
熱し、蒸発させて、この雰囲気中で20℃のガラス基板
上にSnを含む酸化インジウムの透明電導膜を形成した
。なお、膜形成時、基板に150讐の高周波を印加して
基板近傍に高周波プラズマを形成することにより金属の
蒸発粒子と酸素ガスとの一部をイオン化、活性化し、さ
らに加速して行なった。基若速度は約50人/分でめっ
た。この様にして得られた酸化インジウム透明電導膜は
、同一条件で作成した従来法による膜(電子エミッター
を作動させない場合)と比べ、透明で吸収がなく、硬く
ち密で付着力も著しく強く、比抵抗も3XlG−4ΩC
11と従来法の高温基板に作成した膜と同程度の値が達
成された。
実施例2
第2図の様な真空蒸着装置を用いて次のような方法によ
り薄膜を形成した。蒸発源の蒸発物質としテIn :
90wt%、Sn:10vt%の合金を用いた。膜形成
に当っては、真空室を5 X 1O−6Tartに減圧
した後、酸素ガスを真空室内に導入し、該室内の圧力を
3X 1G−’Tarrに保ち、蒸発源を電子ビームガ
ンにより電子ビームをあてて蒸発物質を加熱し蒸発させ
、この雰囲気中で150℃のガラス基板上にSnを含む
酸化インジウムの透明電導膜を形成した。なお、膜形成
時、電極兼基板ホルダーに高周波電圧150 ’dを加
えて高周波バイアスにより高周波プラズマを発生させる
とともに電子エミッターに一500Vの電圧i印加して
電子エミッターから放出される熱電子により金属の蒸発
粒子と酸素ガスとの一部をイオン化、活性化して基板と
ターゲットとの間のイオン化密度を増加させた雰囲気に
おいて行なった。蒸着速度は130人/分であった。こ
の様にして得られた酸化インジウム透明電導膜は同一条
件で作成した従来法による膜(高周波バイアス及び電子
エミッターを作動させない場合)と比べ透明で吸収がな
く、硬くち密で付着力も著しく強く比抵抗も2X10−
4ΩCff1と従来法の高温基板に作成した膜と同程度
の値が達成された。
り薄膜を形成した。蒸発源の蒸発物質としテIn :
90wt%、Sn:10vt%の合金を用いた。膜形成
に当っては、真空室を5 X 1O−6Tartに減圧
した後、酸素ガスを真空室内に導入し、該室内の圧力を
3X 1G−’Tarrに保ち、蒸発源を電子ビームガ
ンにより電子ビームをあてて蒸発物質を加熱し蒸発させ
、この雰囲気中で150℃のガラス基板上にSnを含む
酸化インジウムの透明電導膜を形成した。なお、膜形成
時、電極兼基板ホルダーに高周波電圧150 ’dを加
えて高周波バイアスにより高周波プラズマを発生させる
とともに電子エミッターに一500Vの電圧i印加して
電子エミッターから放出される熱電子により金属の蒸発
粒子と酸素ガスとの一部をイオン化、活性化して基板と
ターゲットとの間のイオン化密度を増加させた雰囲気に
おいて行なった。蒸着速度は130人/分であった。こ
の様にして得られた酸化インジウム透明電導膜は同一条
件で作成した従来法による膜(高周波バイアス及び電子
エミッターを作動させない場合)と比べ透明で吸収がな
く、硬くち密で付着力も著しく強く比抵抗も2X10−
4ΩCff1と従来法の高温基板に作成した膜と同程度
の値が達成された。
実施例3
第1図の様な真空蒸着装置を用いて次のような方法によ
り薄膜を形成した。蒸発源の蒸発物質としてSn:95
讐t%、Sb: 5wt%の合金を用いた。膜形成に
当っては、真空室を5 X 1O−6Torrに減圧し
た後、酸素ガスを真空室内に導入し、該室内の圧力を3
X 10−’Tarrに保ち、基発源をビームガンによ
り電子ビームをあてて蒸発物質を加熱し蒸発させ、この
雰囲気中で150℃のガラス基板上にsbを含む酸化錫
の透明主導膜を形成した。なお、膜形成時、電極兼基板
ボルダ−に−500V、高周波電力150貿を印加して
高周波プラズマを形成し、金属の蒸発粒子と酸素ガスと
の一部をイオン化、活性化して基板し、かつ加速して行
なった。蒸着速度は約50人/分であった。この様にし
て得られた酸化錫、透明電導は同一条件で作成した従来
法による膜(電子エミッターを作動させない場合)と比
べ、透明で吸収が纒〈、硬くち密で付着力も著しく強く
、比抵抗も2X10−3Ωcmと従来法の高温基板に作
成した膜と同程度の値が達成された。
り薄膜を形成した。蒸発源の蒸発物質としてSn:95
讐t%、Sb: 5wt%の合金を用いた。膜形成に
当っては、真空室を5 X 1O−6Torrに減圧し
た後、酸素ガスを真空室内に導入し、該室内の圧力を3
X 10−’Tarrに保ち、基発源をビームガンによ
り電子ビームをあてて蒸発物質を加熱し蒸発させ、この
雰囲気中で150℃のガラス基板上にsbを含む酸化錫
の透明主導膜を形成した。なお、膜形成時、電極兼基板
ボルダ−に−500V、高周波電力150貿を印加して
高周波プラズマを形成し、金属の蒸発粒子と酸素ガスと
の一部をイオン化、活性化して基板し、かつ加速して行
なった。蒸着速度は約50人/分であった。この様にし
て得られた酸化錫、透明電導は同一条件で作成した従来
法による膜(電子エミッターを作動させない場合)と比
べ、透明で吸収が纒〈、硬くち密で付着力も著しく強く
、比抵抗も2X10−3Ωcmと従来法の高温基板に作
成した膜と同程度の値が達成された。
実施例4
第2図の様な真空蒸着装置を用いて次のような方法によ
り薄膜を形成した。蒸発源の蒸発物質としてSn:95
wt%、Sb:5wt%の合金を用いた。膜形成に当っ
ては、真空室を5X 1O−6Tarrに減圧した後、
酸素ガスを真空室内に導入し。
り薄膜を形成した。蒸発源の蒸発物質としてSn:95
wt%、Sb:5wt%の合金を用いた。膜形成に当っ
ては、真空室を5X 1O−6Tarrに減圧した後、
酸素ガスを真空室内に導入し。
該室内の圧力を3X 1O−4Torrに保ち、蒸発減
をt圧子ビームガンにより電子ビームをあてて蒸発物質
を加熱し蒸発させ、この雰囲気中で150℃のガラス基
板上にsbを含む酸化錫の透明主導膜を形成した。なお
、膜形成時、電極兼基板ホルダーに高周波電力150−
を加えて高周波バイアスにより高周波プラズマを発生さ
せるとともに電子エミッターに一500Vの電圧を印加
して電子エミッターから放出される熱電子により金属の
蒸発粒子とアルゴンガスと酸素ガスとの一部をイオン化
、活性化して基作成した従来法による膜(高周波バイア
ス及び電子エミッターを作動させない場合)と比べ、透
明で吸収がなく、硬くち密で付着力も著しく強く、比抵
抗も LX 10−)Ωc11と従来法の高温基板に作
成した膜と同程度の値が達成された。
をt圧子ビームガンにより電子ビームをあてて蒸発物質
を加熱し蒸発させ、この雰囲気中で150℃のガラス基
板上にsbを含む酸化錫の透明主導膜を形成した。なお
、膜形成時、電極兼基板ホルダーに高周波電力150−
を加えて高周波バイアスにより高周波プラズマを発生さ
せるとともに電子エミッターに一500Vの電圧を印加
して電子エミッターから放出される熱電子により金属の
蒸発粒子とアルゴンガスと酸素ガスとの一部をイオン化
、活性化して基作成した従来法による膜(高周波バイア
ス及び電子エミッターを作動させない場合)と比べ、透
明で吸収がなく、硬くち密で付着力も著しく強く、比抵
抗も LX 10−)Ωc11と従来法の高温基板に作
成した膜と同程度の値が達成された。
[作用、効果]
本発明によれば、電子のエミッター5を基板3と蒸発源
4との間に設け、エミッター5への電子″Ff、流量を
!!整することにより、蒸発粒子、又は蒸発粒子と反応
性ガスの運動エネルギーを独立して、イオンイヒした蒸
発粒子又は蒸発粒子と反応性ガスのイオン密度をコント
ロールすることができる。高周波バイアス真空蒸着法に
本発明の方法を適用することにより、高周波電力の印加
による放電の放電圧力範囲を広げること、特に放電圧力
を下げることが可崗となり、従来の高周波バイアス真空
蒸着法に比べ、高品質の膜を得ることができる。又必要
とされる最適ノイオンの運動エネルギーとイオン密度は
。
4との間に設け、エミッター5への電子″Ff、流量を
!!整することにより、蒸発粒子、又は蒸発粒子と反応
性ガスの運動エネルギーを独立して、イオンイヒした蒸
発粒子又は蒸発粒子と反応性ガスのイオン密度をコント
ロールすることができる。高周波バイアス真空蒸着法に
本発明の方法を適用することにより、高周波電力の印加
による放電の放電圧力範囲を広げること、特に放電圧力
を下げることが可崗となり、従来の高周波バイアス真空
蒸着法に比べ、高品質の膜を得ることができる。又必要
とされる最適ノイオンの運動エネルギーとイオン密度は
。
膜材料、基板、出発蒸発物質、導入ガス等によって異な
るから、イオンのN!hエネルギーとイオン密度を独立
にコントロールでき、これによっては、高品質膜を得や
すくなる。
るから、イオンのN!hエネルギーとイオン密度を独立
にコントロールでき、これによっては、高品質膜を得や
すくなる。
第1,2図は本発明を実施するために使用する真空蒸着
装置の概略図を示す。 1:真空蒸着装置、2:真空室、3:基板。 4:扉発源、5:電子エミッター、6ニフイラメント、
7:リフレクタ−,8は7ノード。
装置の概略図を示す。 1:真空蒸着装置、2:真空室、3:基板。 4:扉発源、5:電子エミッター、6ニフイラメント、
7:リフレクタ−,8は7ノード。
Claims (4)
- (1)真空槽内で、蒸発源を加熱して蒸発粒子を生成せ
しめ、該蒸発粒子を基体上に被着せしめて透明電導性金
属酸化物膜を形成する方法において、基板に高周波電力
を供給して基板周辺にガスプラズマを形成し、かかるガ
スプラズマ中でイオン化が促進された蒸発粒子を基板面
に被着せしめることを特徴とする透明電導性金属酸化物
膜の形成方法。 - (2)基板と蒸発源との間に電子エミッターを設け、該
電子エミッターの電子電流量により蒸発粒子をイオン化
し、活性化させることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の透明電導性金属酸化物膜の形成方法。 - (3)透明電導性金属酸化物膜が錫を含む酸化インジウ
ムからなることを特徴とする特許請求の範囲第1項及び
第2項記載の透明電導性金属酸化物膜の形成方法。 - (4)透明電導性金属酸化物膜がアンチモンを含む酸化
錫からなることを特徴とする特許請求の範囲第1項及び
第2項記載の透明電導性金属酸化物の形成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14585785A JPS628409A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14585785A JPS628409A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS628409A true JPS628409A (ja) | 1987-01-16 |
Family
ID=15394683
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14585785A Pending JPS628409A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | 透明電導性金属酸化物膜の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS628409A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01179473A (ja) * | 1988-01-06 | 1989-07-17 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光を用いた膜形成方法 |
| US7491057B2 (en) | 2004-08-10 | 2009-02-17 | Ibiden Co., Ltd. | Firing furnace, manufacturing method of a ceramic member using the firing furnace, ceramic member, and ceramic honeycomb filter |
| JP2011021214A (ja) * | 2009-07-14 | 2011-02-03 | Toppan Printing Co Ltd | 成膜装置およびガスバリア性積層体ならびに光学部材 |
-
1985
- 1985-07-04 JP JP14585785A patent/JPS628409A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01179473A (ja) * | 1988-01-06 | 1989-07-17 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光を用いた膜形成方法 |
| US7491057B2 (en) | 2004-08-10 | 2009-02-17 | Ibiden Co., Ltd. | Firing furnace, manufacturing method of a ceramic member using the firing furnace, ceramic member, and ceramic honeycomb filter |
| JP2011021214A (ja) * | 2009-07-14 | 2011-02-03 | Toppan Printing Co Ltd | 成膜装置およびガスバリア性積層体ならびに光学部材 |
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