JPH0260770A - 画像処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の属する分野］ 本発明は画像処理方式、詳しくは誤差拡散法に基づいて
出力画素データを生成する画像処理方式％式％ ］ 従来より、デジタルプリンタ、デジタルファクシミリ等
の像形成部で中間調を再現するために用いられる常套手
段として、デイザ処理が挙げられる。

通常、デイザ処理ではｍＸｎのデイザマトリクスを用意
し、各々のマトリクス要素中の閾値と比較しｍＸｎの２
値化ブロツクを形成する。これによって、疑似的に中間
調画像を再現するものである。

ところが、この手法で再現できる階調数はデイザマトリ
クスのマトリクス要素数に制限されてしまい、例えば１
６階調（４×４デイザマトリクス等）である場合には、
出力画像中に疑似輪郭が発生してしまうことがあって、
良好な出力画像を得ることはできないという問題がある
。

これに対して、最近、特に注目されている手法として誤
差拡散法がある。

これは１９７５年にＦｌｏｉｄと　Ｓｔｅｉｎｂｅｒｇ
により”ＡｎＡｄａｐｔｉｖｅ　Ａｌｇｏｒｉｔｈｍ　
ｆｏｒ　５ｐｅｃｉａｌ　ＧｒａｙＳｃａｌｅＳＩＤ　
ＤＩＧＥＳＴという論文のなかで提案されたもので、解
像度・階調共にデイザ法よりも優れた手法である。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、この誤差拡散法では、処理始めの画像濃
度に低い部分がある場合にはドツトが打たれず白く抜け
るという現象が発生してしまうという欠点があると共に
、エツジ部付近の低濃度部においても同様の事が発生し
ていた。

これに対して、誤差を拡散するときの基礎となる閾値を
変動させるよりにすることも考えられるが、エツジ部、
特に文字や線画等の周辺のドツトがノツチとなってしま
い、文字及び線画品位を著しく低下させていた。更には
、−様な低濃度部ではドツトが打たれず、再生画像に目
障りな粒状感が現れてしまうという問題も発生する。

本発明はかかる課題に鑑みなされたものであり、入力画
像の状態によらず高品位な再生画像を得ることを可能な
らしめる画像処理方式を提供しようとするものである。

［課題を解決するための手段及び作用コこの課題を解決
すために本発明は以下に示す構成を備える。

すなわち、 誤差拡散法に基づいて出力画素データを生成する画像処
理方式であって、原画素データを入力する入力手段と、
誤差拡散法に基づいた２値出力画素を出力する出力手段
と、少なくとも前記入力手段で六カされる注目画素デー
タの周辺に位置する前記２値出力画素群を複数記憶する
記憶手段と、記憶された２値出力画素群中の所定領域に
おける２値状態を検出する検出手段と、前記注目画素デ
ータ近傍が画像エツジ部にあるか否かを判別する判別手
段と、少なくとも前記注目画素データの濃度値に応じた
変動閾値及び固定閾値を発生する閾値発生手段と、前記
判別手段の判別結果に基づいて、前記変動閾値と前記固
定閾値の一方を選択する選択手段と、該選択手段により
選択された閾値、前記検出手段、前記判別手段及び前記
閾値発土手段に従って、前記注目画素データに対する２
値出力画素データを発生する２値化手段とを備え、該２
値化手段で発生した２値出力画素データを前記出力手段
で出力するものである。

［実施例］ 以下、添付図面に従って、本発明に係る実施例を詳細に
説明する。尚、実施例では複写機を例にして説明する。

く構成概略の説明（第１図）〉 第１図は本実施例における複写機のブロック構成図であ
る。

以下、個々の構成要素をその処理順序に従って説明する
。

ＣＯＤ等の光電変換素子及びこれを走査する駆動系から
構成される入力部１でもって読み取られた画像は、次の
Ａ／Ｄ変換器２によって濃度に対応じた電圧レベル信号
から８ビツトのデジタルデータ（２５６階調）に変換さ
れ、量子化される。そして、この変換後のデジタルデー
タは、入力部１のセンサの感度ムラや照明系の照明ムラ
等による入力データをシェーディング補正するため、補
正回路３に入力され補正される。

補正後のデータ（８ビツトデジタルデータ）はデータ線
１０１を介してラインメモリ（ＦＩＦＯ）４とエツジ検
出回路５に出力される。尚、ラインメモリ４はエツジ検
出回路５．２値化回路６、閾値設定回路７とのタイミン
グをとるための遅延用である。

さて、エツジ検出回路５は、注目画素とその周囲の画素
との間から、その注目画素がエツジにあるか否かを検出
し、その判定結果に対応する信号を信号線２００に出力
する。また、閾値設定回路７はデータ線１００上に出力
された補正済みデータとエツジ検出信号に応じた閾値を
設定し、その設定した閾値なデータ線３００に出力する
。そして、２値化回路６は注目画素のデータ（ラインメ
モリ４よりのデータ））を、信号線２００上のエツジ検
出信号と閾値設定回路７より出力されてきた閾値（デー
タ線２０１）、そして後述する信号線４００上の信号に
基づいて２値化し、その結果を信号線５００上に出力す
る。この信号線５００に出力された“１”か“Ｏ゛の信
号に基づいて出力部９（レーザビームプリンタやインク
ジェットプリンタ等）が可視画像を形成することになる
が、この信号線５００の信号は判定回路８にも供給され
ている。

判定回路８は２値化回路６から出力された信号（信号線
５００）とラインメモリ４から出力された補正済データ
に基づいて、注目画素周辺の既に２値化された領域を参
照してその中にオン（１”）になっているドツトが存在
するか否かを判定し、その判定結果を信号線４００上に
出力し、２値化回路６にフィードバックする。

以上の構成からなる本実施例の複写機のエツジ検出回路
５〜判定回路８の詳細を以下に示す。

尚、補正回路３はルックアップテーブルを内蔵したＲＯ
Ｍでもって容易になされるので、説明は省略する。

〈エツジ検出回路の説明（第２図〜第４図）〉第２図に
実施例におけるエツジ検出回路５の具体的な構成例を示
し、以下、第３図を用いて説明する。

画像のエツジ部とは、濃度が低い部分から高い部分、或
いは高い部分から低い部分へ移るときの傾きが急峻であ
る場合と判断して良い。換言すれば、注目画素がエツジ
部近傍にあるか否かの検出は、注目画素付近の画素群の
濃度差が大きいか否かを検出すれば良い。

そこで、実施例では第３図に示す様に、注目画素（図中
の“＊”印）位置の濃度を画素（ｉ、　ｊ）としたとき
、 １画素（Ｌ　ｊ）一画素（ｉｌｌ、ｊ）　　Ｉ　　・・
・■１画素（ｉ、ｊ）一画素（ｉ−１，ｊ＋１）　　ｌ
・・・０画素（ｉ、　ｊ）一画素（ｉ、　ｊ＋１）　　
ｌ　　・・・■１画素（ｉ、　ｊ）一画素（ｉｌｌ、ｊ
＋１）　　ｌ・・・■を算出しく但し、Ｉ・・・１は絶
対値を示す）、これらの中の最も大きい値が予め設定さ
れた閾値Ｔより大きいときに、注目画素はエツジ部にな
ると判断する様にした。

第２図を用いて説明すれば、フリップフロップ１０ａ〜
１０ｅにはそれぞれ画素位置として、（ｉ、　ｊ）、　
（ｉｌｌ、　ｊ）、　（ｉ−１，ｊ＋１）、　（ｉ、　
ｊ＋１）、　（ｉｌｌ、　ｊ＋１３のデータがラッチさ
れ、減算器１１ａ〜ｌｉｄで先に示した式■〜■中の減
算をし、絶対値回路１２ａ〜１２ｄで各々の絶対値を得
る。そして続く最大値検出回路１３でそれらの最大値を
検出し、比較器１４で閾値Ｔ（実施例ではこの値を“５
０”としている）と比較することで達成される。そして
、比較器１４は、最大値検出回路１３から出力された値
が閾値下より大きいときに（エツジ部のときに）、その
出力信号２００に“ｌ”、そうでないときに（非エツジ
部のときに）“Ｏ゛°を出力する。

以上の構成で処理を行うことにより、注目画素とその周
囲の画素との間のエツジを検出することができる。

尚、詳細は後述するが、本実施例における誤差拡散処理
では、誤差拡散する画素位置を注目画素（ｉ、　ｊ）　
　としたとき、（ｉｌｌ、　ｊ）　、　（ｉ−１，ｊ＋
１）　、　（ｉ、　ｊ＋１）　。

（ｉｌｌ、　ｊ＋１）　としている。そして、上述した
様に、これに対応するように注目画素とその周囲の画素
とでエツジを検出した。しかし、これに限定されるもの
ではなく、例えば、第４図に示すように注目画素、　（
ｉ、ｊ）と周囲の（ｉ−１，ｊ−１）　、　（ｊ÷Ｉ、
ｊ−１）。

（ｉ−１，ｊ＋１）　、　（ｉｌｌ、　ｊ＋１）画素と
のそれぞれの差分をとってエツジ検出を行ってもよい。

尚、第４図の画素位置でもってエツジ部を検出するので
あればラインメモリをもう１つ追加（ラインメモリを２
つにする）して、タイミングを取る様にすれば達成でき
る。また、上記に限らずエツジの検出ができるものであ
ればよいので、エツジ検出対象の画素の取り方は第３図
や第４図にも限定されるものではない。

く２値化回路の説明（第５図、第６図）〉第５図に実施
例における２値化回路６の構造の一例を示し、以下にそ
の動作を説明する。

図中、１５ａ〜１５ｄはデータをラッチするフリップフ
ロップ、１６ａ〜１６ｄは加算器、１７は１ライン遅延
用のラインメモリである。また、１８Ｌｔ比較器、１９
はＡＮＤ’ｌ−ト、２ｏは誤差配分制御回路である。

先ず、データ線１００を介して入力した補正法データ（
注目画素位置（ｉ、　ｊ）に対応する原画像データ）は
画素位置（ｉ、ｊ）に配分される誤差の総和と加算器１
６ｄで加算され、その値は比較器１８と誤差配分制御回
路２ｏに出力される。そして、比較器１８においては、
データ線３５５上のデータを閾値設定回路７よりの閾値
データ（信号線３００）でもって２値化する。尚、この
比較器１８はデータ線３５５上のデータが閾値より大き
ければ”１”、小さければＯ”を信号線３１１に出力す
る。さて、次のＡＮＤゲート１９においては、２値化さ
れた信号（信号線３１１）と判定回路８から出力されて
くる信号（信号線４００）を論理積がとられ、信号線５
００を介して出力部９及び誤差配分制御回路２０に出力
される。

ところで、判定回路８から出力される信号の詳細は後述
するが、注目画素の濃度が低く、且つ注目画素周辺の出
力部９に出力済み画素群の中に１　（ドツト有り）゛が
あるときには０”　それ以外のときには°“ｌ°゛レベ
ルの状態になる。

さて、誤差配分制御回路２０では２値化処理前の信号３
５５と２値信号５００の２５５倍（すなわち、“０°°
か“２５５”）した値との差分（誤差）が計算され、そ
の画素の正負とエツジ信号２００により周囲の画素に配
分する誤差量号３５１〜３５４を制御する。誤差量信号
３５１〜３５４は注目画素位置を（ｉ、ｊ）としたとき
、（ｉ−１，ｊ＋Ｉ）　。

（ｉ、　ｊ＋１）　、　（ｉ＋１．　ｊ＋１）　、　（
ｉ＋１．　ｊ）に既に配分された誤差量と加算器１６ａ
〜１６ｄで加算される。またここでは誤差を配分する画
素数を注目画素の周囲４画素としているが、周囲１２画
素でもよく上記に限らない。

ここで、誤差配分制御回路２０の詳細を第６図に示し、
以下に説明する。

図中、２１は減算器、２２は入力信号の正負を判断する
正負判定回路、２３はセレクタ、２４はＡＮＤゲート、
２５ａ〜２５ｄは重み付は回路である。

さて、減算器２１においては、２値化処理前の信号３５
５と２値信号５００を２５５倍した値との差分（誤差）
を算出する。

すなわち、 （誤差）＝（信号３５５　）　−２５５ｘ　（信号５０
０）この算出された値は正負判定回路２２及びセレクタ
２３に出力される。

正負判定回路２２では入力されたデータ（算出値）が正
ならば“Ｏ°′、負ならば１°゛を出力する。ＡＮＤゲ
ート２４では正負判定回路２２からの信号と信号２００
　（エツジ検出回路５よりの信号）との論理積がとられ
、その結果がセレクタ２３に出力される。すなわち、２
値化回路６内の比較器１８で２値化する以前の注目画素
の誤差加算済みデータが対応する出力データ線３５５上
下であって、その注目画素がエツジ部にあるときにＡＮ
Ｄゲート２４の出力は“１”になり、それ以外のときに
は“ｏｏｏになろ。

セレクタ２３は、このＡＮＤゲート２４の出力が“１“
であれば信号６００（論理レベルが“０”）を選択し、
“０”であれは減算器２１からの減算結果（誤差）を選
択し、重み付は回路２５８〜２５ｄに出力する。

ここで、重み付は回路２５ａ〜２５ｄは注目画素位置（
ｉ、　ｊ）に対して、周辺画素位置（ｉ＋１．　ｊ＋］
）　。

（ｉ、　ｊ＋１）　、　（ｉ−１，ｊ＋１）に対応して
いて、それら周辺画素位置への重み付は係数でもって配
分するものである。

具体的には、重み付は回路２５ａ、２５ｃはセレクタ２
３の出力である誤差量の１／６を算出して信号３５１，
３５３に出力し、重み付は回路２５ｂ、２５ｄは誤差量
の１／３を算出して信号３５２．３５４に出力する。勿
論、ＡＮＤゲート２４の出力が“１”であるときには、
信号６００が選択されるので各々の周辺画素への誤差配
分量は“Ｏ”になる。

以上の処理でもって、エツジ部での負の誤差量を周囲の
画素に配分しないことにより、エツジ部の濃度の低い部
分で発生していた“ドツトが打たれず白く抜ける現象”
を防止できる様になる。

尚、重み付は回路２５ａ〜２５ｄにおける重み付は係数
を１／６や１／３としたが、これに限定されるものでは
なく、任意に変更しても構わない。例えば、ｌ　／　２
　’　　（ｍ　＝　０　、　１　、２　、−”　）とす
れば、簡単なシフト回路でもって達成でき、処理速度も
向上させることが可能となる。

く閾値設定回路の説明（第７図）〉 第７図に実施例における閾値設定回路の構造の一例を示
し、以下にその動作を説明する。

図中、２６は閾値群を格納しているＲＯＭであって、ク
ロックに同期して−１２７〜＋１２７までの値を１個ず
つ出力する。また、振幅制御回路２７では信号１００（
ラインメモリ４よりの出力データ）の値に応じてＲＯＭ
２６から出力された閾値の値を制御する。具体的には、
信号１００の値に応じて次表に示す値（ＡＬ）をＲＯＭ
２６から出力された値に乗じ、その結果を信号１５０と
して出力する。

信号１５０は加算器２８において信号１６０（＝固定値
“１２７”）と加算され、信号１７０として出力される
。

さて、信号１７０上の加算結果は次のセレクタ２９の一
方の入力端子に出力され、他方には信号１６０が入力さ
れている。そして、これら２つの信号（データ）の１つ
をエツジ検出回路５よりの検出信号２００でもって検出
信号２００で選択し、閾値データとして信号３００に出
力する。すなわち、検出信号２００が“Ｏ（非エツジ部
）”である場合には、加算結果である信号１７０を閾値
信号３００として出力し、“ｌ（エツジ部）”であると
きには、固定値“１２７”を閾値信号３００として出力
する。

以上のような制御を行うことにより、略−様な濃度の低
い部分において、ある確率で小さな閾値を発生させる事
ができる。これにより、画像濃度の低い部分において、
ドツトが打たれずに白く抜けていた現象を防止すること
ができる。

また、エツジ部のあるときには固定閾値が選択される、
すなわち、閾値変動及び小さな閾値を発生することもな
くなるので、文字線画等のエツジ部でドツトが打たれる
現象（文学部周辺のノツチ）を除去することが可能とな
る。

尚、ここではＲＯＭ２６に格納されている値は−１２７
から１２７までのデイザ信号としたが、これは−１２７
から１２７までの一様乱数でもよく、上記の例に限らな
い。またＡＬの値（但しＡＬの値は０以上１以下）は濃
度の低い部分ではＡＬの値を大きく、濃度の低い部分で
はＡＬの値を小さく設定してあればこの表の値に限らな
い。また信号１００を６段階に分割しているが、これも
任意の分割数でよく、上記の例に限らない。さらに乗算
回路の規模を小さくするためにＡＬの値を２のべき乗、
あるいは２のべき乗の和で表現できる値にしてもよい。

く判定回路の説明（第８図）〉 次に第８図を用いて実施例の判定回路８を説明する。

図中、３４は比較器、３０及び３１はラインメモリ（Ｆ
ＩＦＯ）、３２はＯＲ回路、３３はＮＡＮＤゲートであ
る。

２値信号５００はラインメモリ３１に入力されると同時
にラッチされる。またラインメモリ３１から読み出され
た信号もラインメモリ３０に入力されると同時にラッチ
される。つまり、今から処理しようとする注目画素の位
置を（ｉ、　ｊ）とすると、各々のフリップフロップ（
Ｆ／Ｆ）にはその回りの画素位置、 （ｉ−２，ｊ−２）　、　（ｉ−１，ｊ−２）　、　（
ｉ、　ｊ−２）　、　（ｉ＋１．　ｊ−２）　。

（ｉ＋２．　ｊ−２）　、　（ｉ−２，ｊ−１）　、　
（ｉ−１，ｊ−１）　、　（ｉ、、ｊ−１）　。

（ｉ＋１．　ｊ−１）　、　（ｉ＋２．　ｊ−１）　、
　（ｉ−２，ｊ）　、　（ｉ−１，ｊ）の１２画素分の
２値化済データがラッチされることになる。ラッチされ
た１２画素分のデータはＯＲ回路３２に入力される。こ
こで１２画素分のデータの論理和がとられ、結果が信号
５２０として出力される。補正済信号１００は比較器２
９に入力されて、閾値Ｄ＝３０と比較され、信号１００
が閾値りよりの大きいならば、“０”、小さいならば°
゛ｌ”が信号５１０として出力される。そして、信号５
１０と信号５２０はＮＡＮＤゲートに入力され、その結
果が信号４００　（判定回路８の判定結果）として出力
される。

この結果、濃度の低い部分においては、ドツトの打たれ
た周囲にはドツトが打たれない様にすることが可能とな
る。つまり、極端に近接してドツト同士が打たれたり、
離れて打たれたりすることがなくなり、濃度の低い部分
において発生していたノイズ感を減少させる事ができる
様になる。

く第２の実施例の説明（第９図〜第１３図）〉第９図は
上述した第１の実施例のエツジ検出回路５と２値化回路
６と判定回路８の一部を変更した場合のブロック図であ
る。尚、以下の説明に先立ち、第１の実施例と重複する
箇所（同符号部等）の説明は省略する。

さて、この構成における処理概略を説明すると以下の如
くである。

エツジ検出回路４０では第１の実施例と同様にエツジ検
出信号２００を閾値設定回路７に出力すると共に、注目
画素（ｉ、ｊ）と画素位置（ｉ＋１．　ｊ）注目画素（
ｉ、　ｊ）と画素位置、　（ｉ−１，ｊ＋１）、注目画
素（ｉ、　ｌ　と画素位置（ｉ、　ｊ＋１）　、注目画
素（ｉ、　ｊ）と画素位置、　（ｉ＋１．　ｊ＋ｌ）の
個々の画素間のエツジ判定が行われ、それぞれの結果が
信号２０１〜２０４として２値化回路４１に出力される
。

２値化回路４１では、注目画素に配分される誤差の総和
と信号１００（注目画素の濃度データ）の和を閾値下で
２値化し、その結果と判定信号４００によって、２値出
力信号５００を出力する。

また２値化回路４１では２値化のときに発生した誤差の
正負判定を行い、信号２０１〜２０４とその判定の結果
によって周囲の画素に配分する誤差の量を決定する。

第１０図はエツジ検出回路４０のブロック図である。図
中、１０ａ〜１０ｅ、１１ａ〜１１ｄそして１２ａ〜１
２ｄは第２図に示したものと同じである。４３ａ〜４３
ｄは入力信号を閾値Ｔ、〜Ｔ４　（ここでは“５０”と
している）と比較する比較器である。さて、絶対値回路
１２ａ〜１２ｄから出力された値はそれぞれ閾値Ｔ１〜
Ｔ４と比較され、入力信号が閾値Ｔよりも大きければ“
１”、小さければ“０”が信号２０１〜２０４としてそ
れぞれ出力される。また、これらの信号の論理和をＯＲ
ゲート４４でとり、その結果を信号２００としている。

このような構成にすることにより画素単位でエツジ検出
ができる。その結果、エツジのない部分の負の誤差はそ
のまま配分されるので、濃度平坦部での濃度の上昇を防
止できる。

第１１図は２値化回路４１のブロック図であって、先の
第１の実施例と異なるのは、誤差配分制御回路４４であ
る。

本第２の実施例の誤差配分制御回路４４では２値化処理
前の信号３５５と２値化号５００を２５５倍した値との
差分（誤差）が計算され、その誤差の正負とエツジ信号
２０１〜２０４により周囲の画素に配分する誤差量信号
３５１〜３５４を制御する。誤差量信号３５１〜３５４
は注目画素位置を（ｉ、　ｊ）としたときの画素位置（
ｉ−１，ｊ＋１）　。

（ｉ、ｊ＋１）、　（ｉ＋１．ｊ＋１）、　（ｉ＋１．
ｊ）の既に配分済誤差量と加算される。尚、ここでは誤
差を配分する画素数を注目画素の周囲４画素としている
が、周囲１２画素でもよく上記に限らない。

第１２図に、この誤差配分制御回路４４のブロック構成
図を示す。

減算器２１において２値データ５００を２５５倍した値
と２値処理前のデータ３５５の差分がとられ、その結果
は正負判定回路２２と重み付は回路２５ａ〜２５ｄに入
力される。正負判定回路２２では入力されたデータが正
ならば“０”、負ならば°１”を出力する。ＡＮＤ回路
４６ａ〜４６ｄでは正負判定回路２２からの信号と信号
２０１〜２０４のそれぞれの論理積がとられ、その結果
がセレクタ４７ａ〜４７ｄに出力される。

セレクタ４７ａではＡＮＤ回路４６ａからの信号が°°
１′°であれば信号６００　（＝Ｏ）を、°゛０”であ
れば重み付は回路２５ａからの信号を選択し、信号３５
１として出力する。セレクタ４５ｂ〜セレクタ４５ｄに
おいても同様で、各々のセレクタに入力されるＡＮＤゲ
ートからの信号が”　ｏ　”であれば、重み付は回路２
５ｂ〜２５ｄの値を選択し出力し、“１”であれば信号
６００（＝“０”）を選択する。そして、これらは信号
３５１と同様に信号３５２〜３５４として出力されるこ
とになる。

上記のような構成で、エツジ部で負の誤差量を周囲の画
素に配分しないことにより、エツジ部の濃度の低い部分
で発生していた画像の欠ける現象を防止できる。また上
記構成により注目画素と誤差が配分される個々の画素と
のエツジの判定ができ、その結果、エツジのない部分に
おいて負の誤差をカットする（つまり、正の誤差を加え
る）ことがなくなるので、平坦部での濃度の上昇防止で
きる。

第１３図に、本第２の実施例における判定回路４２のブ
ロック構成図を示す。

２値化号５００はラインバッファ３１に入力されると同
時にラッチされ。またラインバッファ３１から読み出さ
れた信号もラインバッファ３０に人力されると同時にラ
ッチされる。つまり、今から処理しようとする注目画素
の位置を（ｉ、　ｊ）　とすると、各々のラッチにはそ
の回りの画素位置、（ｉ−２，ｊ−２）　、　（ｉ−１
，ｊ−２）　、　（ｉ、　Ｊ−２）　、　（ｉｌｌ、　
ｊ−２）　。

（ｉ＋２．　ｊ−２）　、　（ｉ−２，ｊ−１）　、　
（ｉ−１，ｊ−１）　、　（ｔ、　ｊ−１）　。

（ｉｌｌ、　ｊ−１）　、　（ｉ＋２．　ｊ−１）　、
　（ｉ−２，ｊ）　、　（ｉ−１，ｊ）の１２画素分の
２値化済データが保持されることになる。

ＯＲ回路４日では画素位置、 （ｉ−１，ｊ−１）　、　（ｉ、　ｊ−１）　、　（ｉ
ｌｌ、　ｊ−１）　、　（ｉ−１，ｊ）の４画素分の２
値化済データのＯＲがとられ、その結果として信号６２
０が出力される。

また、ＯＲ回路４９では画素位置、 （ｉ−２，ｊ−２）、　（ｉ−１，ｊ−２）　、　（ｉ
、　ｊ−２）　、　（ｉｌｌ、　ｊ−２）　。

（ｉ＋２．　ｊ−２）　、　（ｉ−２，ｊ−１）　、　
（ｉ＋２．　ｊ−１）　、　（＋−２，ｊ）の８画素分
の２値化済データの論理がとられ、その結果として信号
６３０が出力される。

ＬＵＴ　（ルックアップテーブル）４９では入力された
補正済信号１００に応じて３レベルの切替信号６１０が
出力される。切替信号６１０は、補正済信号１００が１
以上２０以下のとき”１”２１以上５０以下のとき“２
”　５１以上または０のとき”０”としている。

選択的ＯＲ回路５０ではＬＵＴ４９から出力された切替
信号６１０に応じ、その切替信号６１０が“Ｏ”ならば
“０”を、”２”ならば信号６２０（ＯＲ回路４８の出
力）の値を、“ｌ”ならば信号６２０と信号６３０　（
ＯＲ回路４９の出力）のＯＲをとったものを判定信号４
００として出力する。

例えば、補正済信号１００の値が“３６”ならば切替信
号６１０は“２”となる。そしてこのとき信号６２０が
“０”で信号６３０が“１°°であるならば判定信号４
００は”０”となる。

換言すれば、補正済信号１０ｏの値に対して参照する領
域を３段階（つまり注目画素の周囲を全く調べないか、
周囲４画素分調べるか、周囲１２画素分調べるかの３段
階）に設定することになる。尚、必要に応じてラインバ
ッファ、ラッチ、ＯＲ回路を増やすことにより、参照す
る領域を多段階に設定することができる。

因に、４段階にする場合は以下のように考えれば良い。

また、処理しようとする注目画素の位置を（ｉ、　ｊ）
　　とする。

そして、その回りの画素位置、 （ｉ−３，ｊ−３）　、　（ｉ−２，ｊ−３）　、　（
ｉ−１，ｊ−３）　、　（ｉ、　ｊ−３）　。

（ｉｌｌ、ｊ−３）、（ｉ＋２．ｊ−３）、（ｉ＋３．
ｊ−３）、（ｉ−３，ｊ−２）。

（ｉ−２，ｊ−２）　、　（ｉ−１，ｊ−２）　、　（
ｉ、　ｊ−２）　、　（ｉｌｌ、　ｊ−２）　。

（ｉ÷２．　ｊ−２）　、　（ｉ＋３．　ｊ−２）　、
　（ｉ−３，ｊ−１）、　（ｉ−２，ｊ−１）　。

（ｉ−１，ｊ−１）　、　（ｉ、　ｊ−１）　、　（ｉ
◆１．　ｊ−１）　、　（ｉ＋２．　ｊ−１）　。

（ｉ＋３．　ｊ−１）　、　（ｉ−３，ｊ）　、　（ｉ
−２，ｊ）、　（ｉ−１，ｊ）の２４画素分の２値化済
データを保持するのに必要なラインバッファとラッチが
あるとする。そして３個のＯＲ回路ａ　−ｃと選択的Ｏ
Ｒ回路ｄを１個持つとする。このとき、ＯＲ回路ａでは
画素位置（ｉ−１，ｊ−１）　、　（ｉ、　ｊ−１）　
、　（ｉｌｌ、　ｊ−１）　、　（ｉ−１，ｊ）の４画
素分の２値化済データの論理和がとられ、その結果とし
て信号ｅが出力される。また、ＯＲ回路すでは画素位置
（ｉ−２，ｊ−２）　、　（ｉ−１，ｊ−２）　、　（
ｉ、　ｊ−２）　。

（ｉ十１．ｊ−２）、（ｉ＋２．ｊ−２）、（ｉ−２，
ｊ−１）、（ｉ＋２．ｊ−１）。

（ｉ−２，ｊ）の８画素分の２値化済データの論理和が
とられ、その結果として信号ｆが出力される。そして、
ＯＲ回路Ｃでは、画素位置（ｉ−３，ｊ−３）　。

（ｉ−２，ｊ−３）　、　（ｉ−１，ｊ−３）　、　（
ｉ、　ｊ−３）　、　（ｉ÷１．　ｊ−３）　、　（ｉ
＋２．　ｊ−３）、（ｉ÷３．　ｊ−３）　、　（ｉ−
３，ｊ−２）　、　（ｉ＋３．　ｊ−２）　、　（ｉ−
３，ｊ−１）　。

（ｉ＋３．　ｊ−１）　、　（ｉ−３，ｊ）の１２画素
分の２値化済デー夕の論理和がとられ、その結果として
信号ｇが出力される。

選択的ＯＲ回路ｄでは、補正法信号１００が２１以上５
０以下ならば信号ｅを、補正法信号１００が１１以上２
０以下ならば信号ｅと信号ｆの論理和をとった結果を、
補正法信号１００が１以上１０以下ならば信号ｅと信号
ｆと信号ｇの論理和をとった結果を、そして、補正法信
号１００が５１以上または０ならば“Ｏ”を判定信号と
して出力するようにすれば良い。尚、補正法信号１００
のレベルを１以上１０以下、１１以上２Ｑ以下、２１以
上５０以下、５１以上またはＯの４段階にとっであるが
、これはほんの−例であって、これ以外の段階の取り方
であっても全く構わない。

以上説明した様に本実施例によれば、低濃度部での白ぬ
け及び粒状感を抑え、しかも、エツジ部における再現性
を良好にすることが可能となる。

特に、エツジ部（正確にはエツジ部の濃度の薄い箇所）
にドツトが打たれてしまうことがなくなるので、文字線
画等が混在した画像も良好に再現できることになる。

また、入力画素濃度に応じて閾値の大きさを制御するこ
とにより、画像の処理始めにおいて閾値が大きすぎるた
めにドツトが打たれずに白く抜ける現象を防止できる。

尚、実施例では複写機に応用した場合を説明したが、こ
れに限定されるものではない。

また、カラー画像に対しては本実施例に示した回路を所
定色分持つことで実現できる。

［発明の効果］ 以上説明した様に本発明によれば、低濃度部での白ぬけ
及び粒状感を抑えことを可能にすると共に、文字線画等
のエツジ部におけるノツチ発生を抑制することが可能と
なる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本実施例における複写機の全体ブロック構成図
、 第２図は実施例におけるエツジ検出回路のブロック構成
図、 第３図及び第４図は注目画素とエツジ検出をする画素と
の位置関係を示す図、 第５図は実施例における２値化回路のブロック構成図、 第６図は第５図中の誤差配分制御回路のブロック構成図
、 第７図は実施例における閾値設定回路のブロック構成図
、 第８図は実施例における判定回路のブロック構成図、 第９図は第２の実施例における複写機の全体ブロック構
成図、 第１０図は第２の実施例におけるエツジ検出回路のブロ
ック構成図、 第１１図は第２の実施例における２値化回路のブロック
構成図、 第１２図は第１１図における誤差配分制御回路のブロッ
ク構成図、 第１３図は第２の実施例における判定回路のブロック構
成図である。 図中、１・・・人力部、２・・・Ａ／Ｄ変換機、３・・
・補正回路、４・・・ラインメモリ、５・・・エツジ検
出回路、６・・・２値化回路、７・・・閾値設定回路、
８・・・判定回路、９・・・出力部である。 特許出願人　　キャノン株式会社

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 誤差拡散法に基づいて出力画素データを生成する画像処
   理方式であつて、 原画素データを入力する入力手段と、 誤差拡散法に基づいた２値出力画素を出力する出力手段
   と、 少なくとも前記入力手段で入力される注目画素データの
   周辺に位置する前記２値出力画素群を複数記憶する記憶
   手段と、 記憶された２値出力画素群中の所定領域における２値状
   態を検出する検出手段と、 前記注目画素データ近傍が画像エッジ部にあるか否かを
   判別する判別手段と、 少なくとも前記注目画素データの濃度値に応じた変動閾
   値及び固定閾値を発生する閾値発生手段と、 前記判別手段の判別結果に基づいて、前記変動閾値と前
   記固定閾値の一方を選択する選択手段と、 該選択手段により選択された閾値、前記検出手段、前記
   判別手段及び前記閾値発生手段に従つて、前記注目画素
   データに対する２値出力画素データを発生する２値化手
   段とを備え、 該２値化手段で発生した２値出力画素データを前記出力
   手段で出力することを特徴とする画像処理方式。