JPH0248872B2 - - Google Patents
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- JPH0248872B2 JPH0248872B2 JP54072074A JP7207479A JPH0248872B2 JP H0248872 B2 JPH0248872 B2 JP H0248872B2 JP 54072074 A JP54072074 A JP 54072074A JP 7207479 A JP7207479 A JP 7207479A JP H0248872 B2 JPH0248872 B2 JP H0248872B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 60
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 38
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000001962 electrophoresis Methods 0.000 description 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 2
- 238000000326 densiometry Methods 0.000 description 2
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 210000002966 serum Anatomy 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00009—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with a sample supporting tape, e.g. with absorbent zones
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/416—Systems
- G01N27/447—Systems using electrophoresis
- G01N27/44704—Details; Accessories
- G01N27/44717—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones
- G01N27/44721—Arrangements for investigating the separated zones, e.g. localising zones by optical means
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は特定方向に移送される支持体上の検体
位置を検出するための方法で特に電気泳動法にお
いて血清の分画像の定量の際に使用される検体検
出方法に関するものである。
位置を検出するための方法で特に電気泳動法にお
いて血清の分画像の定量の際に使用される検体検
出方法に関するものである。
電気泳動法においてはセルロースアセテート紙
等よりなる支持体上に検体を塗布しその分画像を
形成せしめた後にこれを着色、脱色した上で透明
化してから検体を比色計にて定量する。この比色
計を用いての検体の定量を自動的に行なうには光
源部と受光部との間に支持体を移送させ、支持体
上の各検体が光源部と受光部との間に来た時に支
持体を停止せしめ、支持体の移動方向と直角な方
向に例えば光源部と受光部とを一体に移動させて
検体上を走査して測光する。そのために支持体上
の検体が光源部と受光部との間に来たことを正し
く検出するための検体検出装置が必要となる。
等よりなる支持体上に検体を塗布しその分画像を
形成せしめた後にこれを着色、脱色した上で透明
化してから検体を比色計にて定量する。この比色
計を用いての検体の定量を自動的に行なうには光
源部と受光部との間に支持体を移送させ、支持体
上の各検体が光源部と受光部との間に来た時に支
持体を停止せしめ、支持体の移動方向と直角な方
向に例えば光源部と受光部とを一体に移動させて
検体上を走査して測光する。そのために支持体上
の検体が光源部と受光部との間に来たことを正し
く検出するための検体検出装置が必要となる。
近年前記の電気泳動の検体塗布からデンシトメ
トリーまでの各工程が自動的に行い得るようにな
つた自動電気泳動装置が開発されている。この電
気泳動装置で、支持体上に検体を塗布する場合は
各検体が一定間隔にて塗布されるが、途中の工程
で例えば泳動条件の多少の相違や、乾燥時の支持
体の縮小などによつてデンシトメトリーの時には
ピツチ間隔が異なつて来る。この間隔のばらつき
は２mm程度であつて、定ピツチ送り時には各泳動
像間のピツチの縮み量は一ピツチでは僅かである
が、一般に一連の支持体上で多検体（10〜30検
体）が処理される場合は累積誤差で最後の検体に
おいては中心を測光できなくなり、像の中心部に
て正しく測光するためにはこれを補正する必要が
ある。特に検体中後の方で測光される検体はその
影響が大きい。
トリーまでの各工程が自動的に行い得るようにな
つた自動電気泳動装置が開発されている。この電
気泳動装置で、支持体上に検体を塗布する場合は
各検体が一定間隔にて塗布されるが、途中の工程
で例えば泳動条件の多少の相違や、乾燥時の支持
体の縮小などによつてデンシトメトリーの時には
ピツチ間隔が異なつて来る。この間隔のばらつき
は２mm程度であつて、定ピツチ送り時には各泳動
像間のピツチの縮み量は一ピツチでは僅かである
が、一般に一連の支持体上で多検体（10〜30検
体）が処理される場合は累積誤差で最後の検体に
おいては中心を測光できなくなり、像の中心部に
て正しく測光するためにはこれを補正する必要が
ある。特に検体中後の方で測光される検体はその
影響が大きい。
このような必要性から最近開発された検体検出
装置として第１図に示すようなものがある。即ち
第１図において１はその上に各検体の泳動像２，
２′，２″，……が形成されている支持体で矢印方
向に移動する。１０は第１のオプチカルフアイバ
ー群であつて１１，１２，……の複数のオプチカ
ルフアイバー（図示するものだ８ケ）よりなり、
その一端１１ａ，１２ａ，……はそれより出射す
る光が支持体面に垂直に入射するように配置され
ると共に各オプチカルフアイバーは支持体の移動
方向と直角な方向（Ｘ方向）に一列に並び配置さ
れている。又各オプチカルフアイバーの他端１１
ｂ，１２ｂ，……には夫々発光ダイオード３１，
３２，３３，……が配置されている。２０は第２
のオプチカルフアイバー群で第１のオプチカルフ
アイバー群１０と同数のオプチカルフアイバー２
１，２２，……よりなりその一端２１ａ，２２
ａ，……は第１のオプチカルフアイバー群１０の
各オプチカルフアイバーの端部１１ａ，１２ａ，
……を対向させ配置されオプチカルフアイバー端
１１ａ，１２ａ，……より出射する光を夫々入射
せしめる位置に一列に並べ配置してある。又第２
のオプチカルフアイバー群２０の各オプチカルフ
アイバーの他端２１ｂ，２２ｂ，……は一束にま
とめてある。４０は束ねられたオプチカルフアイ
バー端２１ｂ，２２ｂ，……に近接させ配置され
た受光素子、４１はプリアンプである。尚３は光
源４，レンズ５，フイルター６，スリツト７等よ
りなる光源部，８は受光部でこれらによつて支持
体１上の泳動像を支持体１の移動方向に対し直角
な方向に走査して測光を行なう測光系を構成して
いる。そして上述の両オプチカルフアイバー群１
０，２０の相対して一列に配置されたオプチカル
フアイバー端１１ａ，１２ａ，……と２１ａ，２
２ａ，……，の位置はこの測光系の位置から検体
の１ピツチ分ｌだけへだてて配置され、従つて支
持体上の検体２が測光系の位置にある時は次の検
体２′が上記のフアイバー端の位置にある。
装置として第１図に示すようなものがある。即ち
第１図において１はその上に各検体の泳動像２，
２′，２″，……が形成されている支持体で矢印方
向に移動する。１０は第１のオプチカルフアイバ
ー群であつて１１，１２，……の複数のオプチカ
ルフアイバー（図示するものだ８ケ）よりなり、
その一端１１ａ，１２ａ，……はそれより出射す
る光が支持体面に垂直に入射するように配置され
ると共に各オプチカルフアイバーは支持体の移動
方向と直角な方向（Ｘ方向）に一列に並び配置さ
れている。又各オプチカルフアイバーの他端１１
ｂ，１２ｂ，……には夫々発光ダイオード３１，
３２，３３，……が配置されている。２０は第２
のオプチカルフアイバー群で第１のオプチカルフ
アイバー群１０と同数のオプチカルフアイバー２
１，２２，……よりなりその一端２１ａ，２２
ａ，……は第１のオプチカルフアイバー群１０の
各オプチカルフアイバーの端部１１ａ，１２ａ，
……を対向させ配置されオプチカルフアイバー端
１１ａ，１２ａ，……より出射する光を夫々入射
せしめる位置に一列に並べ配置してある。又第２
のオプチカルフアイバー群２０の各オプチカルフ
アイバーの他端２１ｂ，２２ｂ，……は一束にま
とめてある。４０は束ねられたオプチカルフアイ
バー端２１ｂ，２２ｂ，……に近接させ配置され
た受光素子、４１はプリアンプである。尚３は光
源４，レンズ５，フイルター６，スリツト７等よ
りなる光源部，８は受光部でこれらによつて支持
体１上の泳動像を支持体１の移動方向に対し直角
な方向に走査して測光を行なう測光系を構成して
いる。そして上述の両オプチカルフアイバー群１
０，２０の相対して一列に配置されたオプチカル
フアイバー端１１ａ，１２ａ，……と２１ａ，２
２ａ，……，の位置はこの測光系の位置から検体
の１ピツチ分ｌだけへだてて配置され、従つて支
持体上の検体２が測光系の位置にある時は次の検
体２′が上記のフアイバー端の位置にある。
このような構成の検体検出装置においてまず支
持体を矢印方向に移動させると同時に各発光ダイ
オード３１，３２，……を第２図に示すような発
光タイミングにて順次高速にて点灯する。この図
において、横軸は時間を示す。すべての発光ダイ
オードが点灯すると、再び発光ダイオード３１，
３２，……の順に発光させくり返される。このよ
うにして発光された光は第１のオプチカルフアイ
バー群１０の各オプチカルフアイバー１１，１
２，……を通つてその端部１１ａ，１２ａ，……
より出射し支持体を通過した後に第２のオプチカ
ルフアイバー群２０の対応する各オプチカルフア
イバー２１，２２，……にて伝送されてその出射
端部２１ｂ，２２ｂ，……より出射して受光素子
４０にて受光される。この受光量は支持体上の検
体濃度に応じたもので、それにもとづく受光素子
よりの出力の一例を示すと第３図の通りである。
この図において、横軸は時間，縦軸は受光素子の
出力を示す。これを総合したプリアンプ４１の出
力は第４図に示す通りである。この図において、
横軸は時間，縦軸はプリアンプの出力を示す。
持体を矢印方向に移動させると同時に各発光ダイ
オード３１，３２，……を第２図に示すような発
光タイミングにて順次高速にて点灯する。この図
において、横軸は時間を示す。すべての発光ダイ
オードが点灯すると、再び発光ダイオード３１，
３２，……の順に発光させくり返される。このよ
うにして発光された光は第１のオプチカルフアイ
バー群１０の各オプチカルフアイバー１１，１
２，……を通つてその端部１１ａ，１２ａ，……
より出射し支持体を通過した後に第２のオプチカ
ルフアイバー群２０の対応する各オプチカルフア
イバー２１，２２，……にて伝送されてその出射
端部２１ｂ，２２ｂ，……より出射して受光素子
４０にて受光される。この受光量は支持体上の検
体濃度に応じたもので、それにもとづく受光素子
よりの出力の一例を示すと第３図の通りである。
この図において、横軸は時間，縦軸は受光素子の
出力を示す。これを総合したプリアンプ４１の出
力は第４図に示す通りである。この図において、
横軸は時間，縦軸はプリアンプの出力を示す。
ここで支持体は透明化されていて検体のない部
分を通つた光を光量が大であるのでアンプよりの
出力は大であり、検体が両オプチカルフアイバー
群１０，２０の互いに向かい合わせて配置した端
部１１ａ，１２ａ，……２１ａ，２２ａ，……間
を通る時には検体の濃度に応じて出力が低下す
る。例えばその出力は第５図のようになり（横軸
の１，２，……８はオプチカルフアイバーを示
す）検体のない場合はＡのように又、検体のある
場合Ｂのようになる。ここで第５図に点線ａにて
示す検体検出レベルを設定すれば、検体のない場
合には測光された出力のすべてがこのレベル以上
となり、又検体がある場合には少なくとも一つの
出力がこのレベル以下になるようなレベルを設定
し得る。そしてこのレベルを基準にして検体があ
るか否かを判断することが可能である。すべての
オプチカルフアイバーよりの光による出力が設定
したレベルよりも高いレベルにある時点から何れ
か一本のオプチカルフアイバーよりの光による出
力が設定したレベル以下になつた時点が検体が一
列に並べられたオプチカルフアイバー端に来た時
点である。続いてすべてのオプチカルフアイバー
からの光による出力が設定レベル以上になつた時
点が検体が一列に並べられたオプチカルフアイバ
ー端から出た時点である。このようにして検体の
両端のエツジを検出することが出来る。このよう
に検体の位置が検出されれば、測光計との間隔に
よつて決められる所定時間後に支持体を停止させ
て、検体を測光系の位置に正しく停止させること
ができる。
分を通つた光を光量が大であるのでアンプよりの
出力は大であり、検体が両オプチカルフアイバー
群１０，２０の互いに向かい合わせて配置した端
部１１ａ，１２ａ，……２１ａ，２２ａ，……間
を通る時には検体の濃度に応じて出力が低下す
る。例えばその出力は第５図のようになり（横軸
の１，２，……８はオプチカルフアイバーを示
す）検体のない場合はＡのように又、検体のある
場合Ｂのようになる。ここで第５図に点線ａにて
示す検体検出レベルを設定すれば、検体のない場
合には測光された出力のすべてがこのレベル以上
となり、又検体がある場合には少なくとも一つの
出力がこのレベル以下になるようなレベルを設定
し得る。そしてこのレベルを基準にして検体があ
るか否かを判断することが可能である。すべての
オプチカルフアイバーよりの光による出力が設定
したレベルよりも高いレベルにある時点から何れ
か一本のオプチカルフアイバーよりの光による出
力が設定したレベル以下になつた時点が検体が一
列に並べられたオプチカルフアイバー端に来た時
点である。続いてすべてのオプチカルフアイバー
からの光による出力が設定レベル以上になつた時
点が検体が一列に並べられたオプチカルフアイバ
ー端から出た時点である。このようにして検体の
両端のエツジを検出することが出来る。このよう
に検体の位置が検出されれば、測光計との間隔に
よつて決められる所定時間後に支持体を停止させ
て、検体を測光系の位置に正しく停止させること
ができる。
第５図には両オプチカルフアイバー群の間に支
持体の検体のない透明な部分が位置している時の
出力を一定の値にして示してある。しかし実際上
は各発光ダイオードの発光量の違いやオプチカル
フアイバーを通過する際の各オプチカルフアイバ
ーの透過率のばらつき等によつて出力は多少異な
つて来る。そのため検体検出前に各発光ダイオー
ドを発光させて夫々に対する出力を測定し、この
値に基づいて各オプチカルフアイバー毎に適正な
レベルを設定して記憶させておき、このレベルを
基準にして検体があるか否かを判断しても良い。
このように各オプチカルフアイバー毎の出力を測
定することは、各発光ダイオードの発光量や各オ
プチカルフアイバーの透過率の補正を行なうばか
りでなく、ドリフト等の電気回路の変動を含めた
検体機構全体のばらつきを補正することが出来る
ので、より精度の高い検出が可能となる。
持体の検体のない透明な部分が位置している時の
出力を一定の値にして示してある。しかし実際上
は各発光ダイオードの発光量の違いやオプチカル
フアイバーを通過する際の各オプチカルフアイバ
ーの透過率のばらつき等によつて出力は多少異な
つて来る。そのため検体検出前に各発光ダイオー
ドを発光させて夫々に対する出力を測定し、この
値に基づいて各オプチカルフアイバー毎に適正な
レベルを設定して記憶させておき、このレベルを
基準にして検体があるか否かを判断しても良い。
このように各オプチカルフアイバー毎の出力を測
定することは、各発光ダイオードの発光量や各オ
プチカルフアイバーの透過率の補正を行なうばか
りでなく、ドリフト等の電気回路の変動を含めた
検体機構全体のばらつきを補正することが出来る
ので、より精度の高い検出が可能となる。
以上の検出装置によるデータの処理はコンピユ
ータプログラムによつて行われる。第６図はその
ための手段を示すブロツクダイヤフラムで、４４
はコンピユータ４３の像検出指令によつて動作す
る発振器で、その出力は変換器４５にて各発光ダ
イオードを順次点灯させるための信号に変換され
てドライバー４６に入り、ドライバー４６により
各発光ダイオード３１，３２，……は一定時間間
隔毎に順次点灯されて行く、又、受光素子４０に
よつて光電変換された像信号はプリアンプ４１に
より増幅されその出力はＡ／Ｄ変換ユニツト４２
によりデジタル値に変換されてコンピユータ４３
に送られ記憶される。
ータプログラムによつて行われる。第６図はその
ための手段を示すブロツクダイヤフラムで、４４
はコンピユータ４３の像検出指令によつて動作す
る発振器で、その出力は変換器４５にて各発光ダ
イオードを順次点灯させるための信号に変換され
てドライバー４６に入り、ドライバー４６により
各発光ダイオード３１，３２，……は一定時間間
隔毎に順次点灯されて行く、又、受光素子４０に
よつて光電変換された像信号はプリアンプ４１に
より増幅されその出力はＡ／Ｄ変換ユニツト４２
によりデジタル値に変換されてコンピユータ４３
に送られ記憶される。
一方発振器４４よりの出力はワンシヨツト４７
へも入力され、ワンシヨツト４７からの出力は
Ａ／Ｄ変換指令としてＡ／Ｄ変換ユニツト４２に
与えられる。Ａ／Ｄ変換ユニツト４２にて作成さ
れるＡ／Ｄ変換終了信号Ｅがコンピユータ４３に
入力され、その時点でデータをとりこむようにな
つている。発光ダイオードは順次点灯されるの
で、各発光ダイオードとそのデータとは１対１に
対応でき、データがどの発光ダイオードのもので
あるか認識することが出来る。
へも入力され、ワンシヨツト４７からの出力は
Ａ／Ｄ変換指令としてＡ／Ｄ変換ユニツト４２に
与えられる。Ａ／Ｄ変換ユニツト４２にて作成さ
れるＡ／Ｄ変換終了信号Ｅがコンピユータ４３に
入力され、その時点でデータをとりこむようにな
つている。発光ダイオードは順次点灯されるの
で、各発光ダイオードとそのデータとは１対１に
対応でき、データがどの発光ダイオードのもので
あるか認識することが出来る。
この第６図に示したブロツク図の各部における
信号のタイムチヤートを第７図に示してある。こ
の図ではＡは発振器４４よりの発振信号、Ｂは発
振信号Ａの立下がりでトリガーされるワンシヨツ
トよりの出力信号である。又C1，C2，……は発
振信号を入力として変換器にて作成される各発光
ダイオードの駆動信号で、これによつて発光ダイ
オードを点灯させる。この点灯により受光素子４
０にて受光された像信号はプリアンプ４１にて増
幅されＤに示すような出力を得る。この出力デー
タをＥに示すＡ／Ｄ変換ユニツト４２により作ら
れる変換終了信号に基づくタイミツグでコンピユ
ータ４３によりとりこむようにすれば、各発光ダ
イオードの発光に対応した出力信号をとりこむこ
とが出来る。
信号のタイムチヤートを第７図に示してある。こ
の図ではＡは発振器４４よりの発振信号、Ｂは発
振信号Ａの立下がりでトリガーされるワンシヨツ
トよりの出力信号である。又C1，C2，……は発
振信号を入力として変換器にて作成される各発光
ダイオードの駆動信号で、これによつて発光ダイ
オードを点灯させる。この点灯により受光素子４
０にて受光された像信号はプリアンプ４１にて増
幅されＤに示すような出力を得る。この出力デー
タをＥに示すＡ／Ｄ変換ユニツト４２により作ら
れる変換終了信号に基づくタイミツグでコンピユ
ータ４３によりとりこむようにすれば、各発光ダ
イオードの発光に対応した出力信号をとりこむこ
とが出来る。
以上述べたような構成の検体検出装置にて検体
位置を検出する場合、検体の濃度が高いと検体の
泳動像は幅が広くなり、つまり支持体の移送方向
に広くなり、隣接して塗布された検体とつながつ
たようになる。これを図示したのが第８図及び第
９図であつて、濃度の低い検体２ａに比べて濃度
の高い検体２′ａ，２″ａ，２ａは次第に検体の
幅が広くなつている。従つて検体位置検出のため
の基準レベルａに対応する各検体の位置２ｂ，
２′ｂ，２″ｂ，２ｂが何れも異なつた位置にな
る。そのため検体の濃度差によつて検出される検
体の位置が異なることになり好ましくない。更に
検体２ａ等のように非常に濃い検体の場合は検
体幅も極めて広くなり第８図に示すように隣接す
る検体2″″aと完全に接続してその接続点２ｃが基
準レベルａよりも高い濃度（暗レベル側）にな
り、検体位置の検出が不能となる場合もある。又
逆に第９図の検体２ａのように濃度の低い検体も
最も濃い部分でも基準レベルに近い値になるので
検体検出が不安定になる。
位置を検出する場合、検体の濃度が高いと検体の
泳動像は幅が広くなり、つまり支持体の移送方向
に広くなり、隣接して塗布された検体とつながつ
たようになる。これを図示したのが第８図及び第
９図であつて、濃度の低い検体２ａに比べて濃度
の高い検体２′ａ，２″ａ，２ａは次第に検体の
幅が広くなつている。従つて検体位置検出のため
の基準レベルａに対応する各検体の位置２ｂ，
２′ｂ，２″ｂ，２ｂが何れも異なつた位置にな
る。そのため検体の濃度差によつて検出される検
体の位置が異なることになり好ましくない。更に
検体２ａ等のように非常に濃い検体の場合は検
体幅も極めて広くなり第８図に示すように隣接す
る検体2″″aと完全に接続してその接続点２ｃが基
準レベルａよりも高い濃度（暗レベル側）にな
り、検体位置の検出が不能となる場合もある。又
逆に第９図の検体２ａのように濃度の低い検体も
最も濃い部分でも基準レベルに近い値になるので
検体検出が不安定になる。
本発明は以上の実情に鑑みなされたもので、支
持体の移動方向に直角な方向に配置された複数の
検出部を備え、これらの検出部により検出された
各検出値のうち高レベルと低レベルを求めると共
に検体検出に使用する検出部を選択し、その検出
部により検出された検出値（検体濃度）の範囲内
の適切な値を検体の位置検出の基準レベルとして
設定し、検体検出部の出力を前記基準レベルと比
較して、検体の位置を検出した後、支持体を所定
距離移動させて、測光系の位置に検体のほぼ中央
を位置させるようにした検体検出方法を提供する
ことにある。
持体の移動方向に直角な方向に配置された複数の
検出部を備え、これらの検出部により検出された
各検出値のうち高レベルと低レベルを求めると共
に検体検出に使用する検出部を選択し、その検出
部により検出された検出値（検体濃度）の範囲内
の適切な値を検体の位置検出の基準レベルとして
設定し、検体検出部の出力を前記基準レベルと比
較して、検体の位置を検出した後、支持体を所定
距離移動させて、測光系の位置に検体のほぼ中央
を位置させるようにした検体検出方法を提供する
ことにある。
次に本発明の検体検出方法の一実施例を説明す
る。第１図に示す装置と同じ検体検出装置におい
て支持体１を移送し第１の検体２の測光系の位置
に来た時に支持体１の送りを停止する。尚支持体
１の先端から第１の検体２までの間隔は、検体塗
布位置が正確であればその他の工程での支持体の
縮み等によつて間隔が変化したとしてもそれは僅
かな量である。従つて支持体１を初め移送する時
にはその位置を検出して一定量送つたところで停
止すれば、第１の検体２のほぼ中央が測光系の位
置に来たところで停止させることが出来る。これ
によつて測光系より検体間隔ｌだけ離れた位置に
おかれた第２の検体2′のほぼ中央y1がオプチカル
フアイバー群１０及び２０の夫々の端部１１ａ，
１２ａ，……と２１ａ，２２ａ，……との間に位
置することになる。同様に定ピツチｌで支持体を
送つていくわけであるが、検体数が多くなるに従
い各検体の中心間の距離のズレが累積されて多く
なつて、最後の方の検体では中心を測光できなく
なる。そこで支持体の第１の検体２が測光系の位
置に来るまでの間に、各発光ダイオード３１，３
２，……を前述の方法にて順次点灯させて支持体
の検体がない透明な部分で受光素子４０にて受光
させた光量に応じた出力を測定してコンピユータ
４３に記憶させる。その時のデータを夫々Va1，
Va2，……Va8とする。これを図示すれば第１０
図Ａのように各オプチカルフアイバーの透過率の
差等によつて異なつている。
る。第１図に示す装置と同じ検体検出装置におい
て支持体１を移送し第１の検体２の測光系の位置
に来た時に支持体１の送りを停止する。尚支持体
１の先端から第１の検体２までの間隔は、検体塗
布位置が正確であればその他の工程での支持体の
縮み等によつて間隔が変化したとしてもそれは僅
かな量である。従つて支持体１を初め移送する時
にはその位置を検出して一定量送つたところで停
止すれば、第１の検体２のほぼ中央が測光系の位
置に来たところで停止させることが出来る。これ
によつて測光系より検体間隔ｌだけ離れた位置に
おかれた第２の検体2′のほぼ中央y1がオプチカル
フアイバー群１０及び２０の夫々の端部１１ａ，
１２ａ，……と２１ａ，２２ａ，……との間に位
置することになる。同様に定ピツチｌで支持体を
送つていくわけであるが、検体数が多くなるに従
い各検体の中心間の距離のズレが累積されて多く
なつて、最後の方の検体では中心を測光できなく
なる。そこで支持体の第１の検体２が測光系の位
置に来るまでの間に、各発光ダイオード３１，３
２，……を前述の方法にて順次点灯させて支持体
の検体がない透明な部分で受光素子４０にて受光
させた光量に応じた出力を測定してコンピユータ
４３に記憶させる。その時のデータを夫々Va1，
Va2，……Va8とする。これを図示すれば第１０
図Ａのように各オプチカルフアイバーの透過率の
差等によつて異なつている。
次に検体検出のために利用する発光ダイオード
選定を行なう。つまり第１の検体２が測光系の位
置に来て又第２の検体２′がオプチカルフアイバ
ー１１ａ，１２ａ，……上に来た時点で各発光ダ
イオードを順次１回発光させて、その出力を記憶
して、それをVb1，Vb2，……Vb8とする。これを
図示したのが第１０図Ｂであつて、各値のうち出
力の高い方（濃度の低い方）が検体のない場合
（第１０図Ａと同じ高さ）で出力の低い方（濃度
の高い方）が第２の検体２′のある場合である。
従つて、斜線部分が夫々検体濃度の低下による光
量の低下を示している。この光量の低下の場合 Vao−Vbo／Vao（ｎ＝１，２，……，８） の最大のものを求め、これを検体検出に用いる発
光ダイオードとする。例えば第１０図Ｂのような
例の場合には５番目の発光ダイオード３５に対応
する出力が光量低下の割合が最大で、これが検体
検出のための発光ダイオードになる。
選定を行なう。つまり第１の検体２が測光系の位
置に来て又第２の検体２′がオプチカルフアイバ
ー１１ａ，１２ａ，……上に来た時点で各発光ダ
イオードを順次１回発光させて、その出力を記憶
して、それをVb1，Vb2，……Vb8とする。これを
図示したのが第１０図Ｂであつて、各値のうち出
力の高い方（濃度の低い方）が検体のない場合
（第１０図Ａと同じ高さ）で出力の低い方（濃度
の高い方）が第２の検体２′のある場合である。
従つて、斜線部分が夫々検体濃度の低下による光
量の低下を示している。この光量の低下の場合 Vao−Vbo／Vao（ｎ＝１，２，……，８） の最大のものを求め、これを検体検出に用いる発
光ダイオードとする。例えば第１０図Ｂのような
例の場合には５番目の発光ダイオード３５に対応
する出力が光量低下の割合が最大で、これが検体
検出のための発光ダイオードになる。
次に検体検出基準レベルの選定を行なう。今発
光ダイオード３５を検体検出用として選定した場
合、検出基準レベルVrは次のようにして定める。
光ダイオード３５を検体検出用として選定した場
合、検出基準レベルVrは次のようにして定める。
Vr＝Vb5＋（Va5−Vb5）×Ａ
ここでＡは０＜Ａ＜１の範囲内の一定値（例えば
0.5）の設定値である。つまり第１０図において
は線Ａのところが検出基準レベルとなる。
0.5）の設定値である。つまり第１０図において
は線Ａのところが検出基準レベルとなる。
このようにして検出用発光ダイオードの選定と
検出基準レベルを設定した後に位置の検出を行な
う。
検出基準レベルを設定した後に位置の検出を行な
う。
第１図に示すように両オプチカルフアイバー群
１０，２０のオプチカルフアイバー１１ａ，１２
ａ，……２１ａ，２２ａ，……列は初期にはy1の
位置にある。続いて支持体１を矢印方向に移動さ
せ又発光ダイオード３１，３２，……を順次点灯
させて行くと、検体検出発光ダイオード３５の出
力は第１１図に示すように順次変化する。このよ
うにして支持体１が移動して第１図y2の位置で検
体２′からオプチカルフアイバー列１１ａ，１２
ａ，……２１ａ，２２ａ，……が抜け出る。この
時の検体検出発光ダイオード３５の出力に注目す
れば第１１図にように検体検出レベルを境にして
低い出力側（暗レベル側）から高に出力側（明レ
ベル側）に変化するので、この点が検体検出時点
つまり検体の終端である。従つてこの終端y2から
支持体が矢印方向へ移動して、距離ｌから、検体
中央y1から終端y2までの距離をひいた分だけ進ん
だ点で支持体の移動を停止すれば測光系の位置に
検体のほぼ中央が来るので、ここでｘ方向の走査
を行えば検体の測光が出来る。尚、検体中央y1か
ら終端y2までの距離の求め方としては、過去のデ
ータから複数検体の平均の幅を求めておき、その
幅の1/2を検体中央y1から終端y2までの距離と設
定して置く方法がある。
１０，２０のオプチカルフアイバー１１ａ，１２
ａ，……２１ａ，２２ａ，……列は初期にはy1の
位置にある。続いて支持体１を矢印方向に移動さ
せ又発光ダイオード３１，３２，……を順次点灯
させて行くと、検体検出発光ダイオード３５の出
力は第１１図に示すように順次変化する。このよ
うにして支持体１が移動して第１図y2の位置で検
体２′からオプチカルフアイバー列１１ａ，１２
ａ，……２１ａ，２２ａ，……が抜け出る。この
時の検体検出発光ダイオード３５の出力に注目す
れば第１１図にように検体検出レベルを境にして
低い出力側（暗レベル側）から高に出力側（明レ
ベル側）に変化するので、この点が検体検出時点
つまり検体の終端である。従つてこの終端y2から
支持体が矢印方向へ移動して、距離ｌから、検体
中央y1から終端y2までの距離をひいた分だけ進ん
だ点で支持体の移動を停止すれば測光系の位置に
検体のほぼ中央が来るので、ここでｘ方向の走査
を行えば検体の測光が出来る。尚、検体中央y1か
ら終端y2までの距離の求め方としては、過去のデ
ータから複数検体の平均の幅を求めておき、その
幅の1/2を検体中央y1から終端y2までの距離と設
定して置く方法がある。
又、上記の支持体の停止位置においては、次の
検体のほぼ中央に両オプチカルフアイバー群１
０，２０の端部が位置するようになる。そこで、
上記次の検体の終端を検出するために、この検体
についてVb1，Vb2，……Vboの値を求めて基準レ
ベルｒを選定し、この基準レベルに基づいて検体
の終端を求めて、前述のように距離ｌから検体中
央1から終端y2までの距離を減じた分だけ移動さ
せる。この移動によつて、上記の次の検体のほぼ
中央が測光系の位置に来るようになる。
検体のほぼ中央に両オプチカルフアイバー群１
０，２０の端部が位置するようになる。そこで、
上記次の検体の終端を検出するために、この検体
についてVb1，Vb2，……Vboの値を求めて基準レ
ベルｒを選定し、この基準レベルに基づいて検体
の終端を求めて、前述のように距離ｌから検体中
央1から終端y2までの距離を減じた分だけ移動さ
せる。この移動によつて、上記の次の検体のほぼ
中央が測光系の位置に来るようになる。
かくして、上記の検体検出方法を順次に行なう
ことにより、順次検体のほぼ中央を測光系の位置
に移送させることができる。
ことにより、順次検体のほぼ中央を測光系の位置
に移送させることができる。
尚、上記の一実施例の説明では出力の高低差が
最大の発光ダイオードを検体検出用として選定し
ているが、任意の発光ダイオードを検体検出に使
用しても良い。又、オプチカルフアイバーや発光
素子等の検体検出部が８ケの場合について示した
がこれに限ることなく、検体のｘ方向を十分カバ
ーする数にすれば良い。又検体検出部を設定した
後もすべての発光ダイオードを順次点灯しそのう
ちの選定された検出部の発光ダイオードに対応す
る出力のみに注目して検体位置を検出しても良
く、或は選定後は選定された検出部の発光ダイオ
ードのみを一定の時間間隔で点灯して検体位置の
検出を行つても良い。
最大の発光ダイオードを検体検出用として選定し
ているが、任意の発光ダイオードを検体検出に使
用しても良い。又、オプチカルフアイバーや発光
素子等の検体検出部が８ケの場合について示した
がこれに限ることなく、検体のｘ方向を十分カバ
ーする数にすれば良い。又検体検出部を設定した
後もすべての発光ダイオードを順次点灯しそのう
ちの選定された検出部の発光ダイオードに対応す
る出力のみに注目して検体位置を検出しても良
く、或は選定後は選定された検出部の発光ダイオ
ードのみを一定の時間間隔で点灯して検体位置の
検出を行つても良い。
以上説明したように本発明の検体検出方法によ
れば、支持体移送方向に対して直角な方向に並べ
られた複数の検体検出部の検出値の高レベルと低
ベルを求めると共に検体検出に使用する検出部を
選択し、その検出部により検出された検出値の範
囲内の適切な値を検体の検出の基準レベルとして
設定しているので、検体の濃度にバラツキがあつ
ても常に安定した検体検出が可能であり、この検
体の位置検出に基づいて、支持体を所定距離移動
させることによつて、測光系の位置に検体のほぼ
中心を位置させることができる。その上、検体が
ない場合その位置を飛ばして測光できるから、処
理時間の短縮も可能である。
れば、支持体移送方向に対して直角な方向に並べ
られた複数の検体検出部の検出値の高レベルと低
ベルを求めると共に検体検出に使用する検出部を
選択し、その検出部により検出された検出値の範
囲内の適切な値を検体の検出の基準レベルとして
設定しているので、検体の濃度にバラツキがあつ
ても常に安定した検体検出が可能であり、この検
体の位置検出に基づいて、支持体を所定距離移動
させることによつて、測光系の位置に検体のほぼ
中心を位置させることができる。その上、検体が
ない場合その位置を飛ばして測光できるから、処
理時間の短縮も可能である。
第１図は本発明の方法にて用いる検体検出装置
と同種のものの構成を示す図、第２図は上記検体
検出装置における発光素子の発光タイミングを示
す図、第３図は第２図に対応する受光素子よりの
出力を示す図、第４図は第３図の出力を総合して
示した図、第５図は第１図に示す検体検出装置に
よる支持体上の検体のない部分と検体のある部分
との出力を比べて示した図、第６図は第１図の検
体検出装置のデータ処理のための回路のブロツク
図、第７図は第６図の回路の各部における出力等
を示す図、第８図は隣接した二つの検体に対して
の出力の一例を示す図、第９図は検体の濃度差に
よる出力の相違を示す図、第１０図は本発明の方
法による検体検出部の選定方法並びに基準レベル
設定方法を説明するための図、第１１図は本発明
の方法による検体の終端位置の検出例を示す図で
ある。 １……支持体、２……検体、３……光源部、８
……受光部、１０，２０……オプチカルフアイバ
ー群、３１，３２……発光素子、４０……受光素
子。
と同種のものの構成を示す図、第２図は上記検体
検出装置における発光素子の発光タイミングを示
す図、第３図は第２図に対応する受光素子よりの
出力を示す図、第４図は第３図の出力を総合して
示した図、第５図は第１図に示す検体検出装置に
よる支持体上の検体のない部分と検体のある部分
との出力を比べて示した図、第６図は第１図の検
体検出装置のデータ処理のための回路のブロツク
図、第７図は第６図の回路の各部における出力等
を示す図、第８図は隣接した二つの検体に対して
の出力の一例を示す図、第９図は検体の濃度差に
よる出力の相違を示す図、第１０図は本発明の方
法による検体検出部の選定方法並びに基準レベル
設定方法を説明するための図、第１１図は本発明
の方法による検体の終端位置の検出例を示す図で
ある。 １……支持体、２……検体、３……光源部、８
……受光部、１０，２０……オプチカルフアイバ
ー群、３１，３２……発光素子、４０……受光素
子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 支持体の移動方向と直角な方向に並べて配置
された複数の検体検出部によつて支持体上の検体
位置を検出するための検体検出方法において、前
記検体検出部が前記支持体に対向して配置された
光学的手段から成り、該検体検出部が支持体の検
体のない部分に位置する時の各検出部の出力
Va1，Va2，……，Vaoを求め、次いで前記検体検
出部が検体のある部分に位置する時の各検体検出
部の出力Vb1，Vb2，……，Vboを求め、検体検出
に利用する検体検出部の出力の基準レベルVrを Vr＝Vbi＋（Vai−Vbi）×Ａ 〔Ａ（０＜Ａ＜１）は予め設定した定数〕 と設定し、該検体検出部の出力を前記基準レベル
と比較して、検体の終端位置を検出した後、支持
体を検体の１ピツチ分の距離から、検体中央から
検体の終端までの距離を減じた分だけ移動させ
て、測光系の位置に検体のほぼ中央を位置させる
ようにした検体検出方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7207479A JPS55164336A (en) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | Inspecting material detecting method |
| DE3020729A DE3020729C2 (de) | 1979-06-08 | 1980-05-31 | Verfahren zum Erfassen der Positionen von Proben auf einem Träger |
| US06/155,384 US4329591A (en) | 1979-06-08 | 1980-06-02 | Method for detecting samples |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7207479A JPS55164336A (en) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | Inspecting material detecting method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55164336A JPS55164336A (en) | 1980-12-22 |
| JPH0248872B2 true JPH0248872B2 (ja) | 1990-10-26 |
Family
ID=13478887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7207479A Granted JPS55164336A (en) | 1979-06-08 | 1979-06-08 | Inspecting material detecting method |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4329591A (ja) |
| JP (1) | JPS55164336A (ja) |
| DE (1) | DE3020729C2 (ja) |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5627638A (en) * | 1979-08-16 | 1981-03-18 | Olympus Optical Co Ltd | Method for detecting inspected object |
| DE3247355A1 (de) * | 1982-12-22 | 1984-06-28 | Merck Patent Gmbh, 6100 Darmstadt | Geraet zur quantitativen auswertung von duennschichtchromatogrammen |
| JPS60100035A (ja) * | 1983-11-04 | 1985-06-03 | Kyoto Daiichi Kagaku:Kk | 散乱光を用いる測定方法及び測定装置 |
| US4717258A (en) * | 1985-12-31 | 1988-01-05 | Smith College | 3-channel microdensitometer for analysis of plate spectra |
| US4811218A (en) * | 1986-06-02 | 1989-03-07 | Applied Biosystems, Inc. | Real time scanning electrophoresis apparatus for DNA sequencing |
| JPH0820357B2 (ja) * | 1986-06-25 | 1996-03-04 | 株式会社島津製作所 | １〜２次元測光装置 |
| JPS635235A (ja) * | 1986-06-25 | 1988-01-11 | Shimadzu Corp | 測光装置 |
| DE3752148T2 (de) * | 1987-06-09 | 1998-09-17 | Perkin Elmer Corp | Echtzeitabtastvorrichtung in einem Elektrophoreseapparat zur DNS-Sequenzbestimmung |
| DE3833064A1 (de) * | 1988-09-29 | 1990-04-05 | Dynatech Ag Branch Denkendorf | Leseeinheit fuer eine mikrotestplatte |
| JPH0678978B2 (ja) * | 1990-05-25 | 1994-10-05 | スズキ株式会社 | 凝集パターン検出装置 |
| US6014213A (en) * | 1994-12-12 | 2000-01-11 | Visible Genetics Inc. | High dynamic range apparatus for separation and detection of polynucleotide fragments |
| US5710628A (en) * | 1994-12-12 | 1998-01-20 | Visible Genetics Inc. | Automated electrophoresis and fluorescence detection apparatus and method |
| US5617213A (en) * | 1995-03-22 | 1997-04-01 | Shih; Sun-Fu | Spot microdensitometer for spectral density analysis of film |
| US5916747A (en) | 1995-06-30 | 1999-06-29 | Visible Genetics Inc. | Method and apparatus for alignment of signals for use in DNA based-calling |
| US5981186A (en) * | 1995-06-30 | 1999-11-09 | Visible Genetics, Inc. | Method and apparatus for DNA-sequencing using reduced number of sequencing mixtures |
| US5754524A (en) * | 1996-08-30 | 1998-05-19 | Wark; Barry J. | Computerized method and system for analysis of an electrophoresis gel test |
| DE19912500A1 (de) * | 1999-03-19 | 2000-09-21 | Voith Sulzer Papiertech Patent | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Eigenschaften einer laufenden Materialbahn |
| US7222059B2 (en) * | 2001-11-15 | 2007-05-22 | Siemens Medical Solutions Diagnostics | Electrophoretic trace simulator |
| DE10338108B4 (de) | 2003-08-19 | 2013-01-24 | Minebea Co., Ltd. | Vorrichtung zur Detektion von einzelnen sich bewegenden Objekten mit sehr kleinen Abmessungen |
| US7619786B2 (en) * | 2005-03-24 | 2009-11-17 | Carestream Health, Inc. | Linear illumination apparatus and method |
| CN103868597B (zh) * | 2014-03-03 | 2016-06-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 色度机测量方法及色度机 |
| GB2541689B (en) * | 2015-08-26 | 2020-04-15 | Rolls Royce Plc | Apparatus and methods for determining location of at least a part of an object |
| CN108345770A (zh) * | 2018-01-11 | 2018-07-31 | 华南理工大学 | 一种加样指示和信息记录方法、装置、介质及移动终端 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3994593A (en) * | 1974-10-07 | 1976-11-30 | Olympus Optical Co., Ltd. | Apparatus for automatic quantitative analysis of blood serum specimens by cataphoretic process |
| US4067760A (en) * | 1976-03-24 | 1978-01-10 | General Foods Corporation | Gate control for printed web scanner |
| JPS55156840A (en) * | 1979-05-25 | 1980-12-06 | Olympus Optical Co Ltd | Specimen detector |
-
1979
- 1979-06-08 JP JP7207479A patent/JPS55164336A/ja active Granted
-
1980
- 1980-05-31 DE DE3020729A patent/DE3020729C2/de not_active Expired
- 1980-06-02 US US06/155,384 patent/US4329591A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3020729A1 (de) | 1980-12-11 |
| US4329591A (en) | 1982-05-11 |
| DE3020729C2 (de) | 1984-02-23 |
| JPS55164336A (en) | 1980-12-22 |
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