JPS62226038A - 測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は自動化学分析装置や分光光度計におけるセルの
透過光を検出してセル内に収納された反応試料の吸光度
を測定する測光装置に関する。

（従来の技術） 自動化学分析装置や分光光度計は、例えば液体試料の含
有化学成分を分析する場合に、特定の化学成分に対して
反応を起こす試薬を注入して反応させ、その反応後の液
体試料について特定波長の吸光度を測定し、その測定値
より当該試薬に反応した化学物質の含有量等を調べるも
のである。

ところで、このような装置において、液体試料の吸光度
を測定するものとしては反応した液体試料を測光光路内
に送ってその透過光を検出し、これより反応した液体試
料の吸光度を測定する直Ｉ測光方式による測光装置があ
る。

従来、この種の測光装置はランプの出射光をレンズで集
光して絞りにより絞られた光路中に液体試料が収納され
た多数のセルを移動させて順次横断させ、該セルの透過
光を検出器により検出してセル内で反応した液体試料の
吸光度を測定するようにしていた。

しかし、このような構成の測光装置においてはセル内で
反応した液体試料の吸光度を測定する場合、ランプが断
線したり、劣化したりしていても光路中を横断する時の
セルの透過度が液体試料の反応促進により小さくなって
いるため、吸光度の異常なのかランプの断線又は劣化な
のかの判断が出来なかった。

（発明が解決しようとする問題点） このように従来の測光装置では反応液体試料の吸光度を
測定している時、ランプが断線又は劣化していてもその
ことを検出できないため、特にランプが断線している時
には誤った測定結果となる。

そこで、本発明の目的はランプの断線又は劣化を特別な
検出系を必要としないで検出することが可能となり、反
応液体試料の吸光度を常に高精度で測定することができ
る測光装置を提供するにある。

［発明の構成１ （問題点を解決するための手段） 本発明は上記目的を達成するため、適宜の間隔を存して
配設され且つ反応試料が収納された多数のセルを間欠的
に一定速度で移動させてランプによる測光光路内を順次
横断させ、該セルの透過光を検出器により検出して前記
反応試料の吸光度を測定する測光＠置において、前記検
出器の検出出力をデータとして取込む取込手段と、この
取込手段により前記セル相互間の間隙が前記測光光路内
に位置した時に取込まれたデータから前記セル相互間の
間隙の透過レベルが所定のレベルに達しているか否かを
判定し、所定のレベルに達していれば前記反応試料の吸
光度測定に移行させ所定のレベルに達していなければ前
記ランプが断線又は劣化状態にある旨の情報を出力する
判定手段とを備えたものである。

（作用） 従って、かかる構成の測光装置にあっては測光光路内に
セル相互間の間隙が位置した時の透過光を検出してその
検出データを取込み、該データからセル相互間の間隙の
透過光のレベルが所定のレベルに達しているか否かを判
定し、所定のレベルに達していないと判定された場合に
はその旨の情報からランプの断線又は劣化の検出が可能
となる。

（実施例） 以下本発明の一実施例を図面を参照して説明する。

第１図は本発明による測光装置の概略的な構成例を示す
ものである。第１図１こみいて、１は等間隔を存して配
設され且つ反応試料が収納された多数の透明の円筒状の
セルで、これらセル１は間欠的に供給、Ｗｉ送され、測
光光路横断時はセルを等速又は等加速度移動するように
なっている。

前記セル１の搬送移動経路を挟み、一方にランプ２．集
光レンズ３．絞り４を配して測光光路５を形成し、相対
する側の測光光路５に補正レンズ６、干渉フィルタ７、
検出器８を配し、この検出器８により検出された光量に
対応した電気信号をプリアンプ９により増幅する。そし
て、このプリアンプ９の出力電圧をＡ／Ｄ変換器１０に
よりディジタル値に変換し、中央処理装置（ＣＰＵ）１
１へ送る。このＣＰＵ１１では送られてきたデータから
セル１の特定部位の透過光に基いて反応試料の吸光度を
測定できるようになっている。

一方、１２は各セル１相互間の間隙が測光光路５内に位
置したことを例えば光学的に検出する位置検出器で、こ
の位置検出器１２の検出信号をＣＰＵ１１にデータ判別
信号として与えている。

第２図はＣＰＵ１１の部分構成を示すものである。第２
図に示すように、ＣＰＵ１１はＡ／Ｄ変換器１０から送
られてくるデータを収集するデータ収集部２１とこの収
集部２１で収集されたデータからセル１の特定部位を透
過したときのデータおよびセル１相互間の間隙が測光光
路５内に位置したときのデータを取出すデータ取出部２
２とを備えている。この場合、セル１相互間の間隙が測
光光路５内に位置したときのデータは位置検出器１２か
ら位置検出信号がＣＰＵ１１に入力された時に収集され
たデータをデータ取出部２２より取出せるようになって
いる。

次に上記のように構成された測光装置の動作について説
明する。

ランプ２からの光は集光レンズ３で集光され、絞り４に
よりビーム径が絞られて測光光路５上に照射される。こ
の測光光路５上の光量はセル１の搬送経路を介して補正
レンズ６、干渉フィルタ７を通ってその後方に設けられ
た検出器８により検出される。この検出器８で検出され
た光量は電圧信号としてプリアンプ９に出力され、ここ
で増幅された電圧信号はＡ／Ｄ、変換器１０によりディ
ジタル信号に変換されてＣＰＵ１１に入力される。

ここで、ＣＰＵ１１の動作を第３図に示すフローチャー
トを参照しながら述べる。プログラムが起動されると、
先ずステップＡでセル１相互間の間隙が測光光路５内に
位置しているか否かを判定し、位置していなければ待機
状態とし、位置していればステップＢによりその時のデ
ータをＡ／Ｄ変換器１０から収集する。このデータはス
テップＣにより取出され、ステップＤでそのデータのレ
ベルが所定のレベルに達しているか否かを判定し、所定
のレベルに達していればス宇ツブＥによりセル１の吸光
度測定開始へ移行させる。またステップＤで所定のレベ
ルに達していないと判定されると、ステップＦによりそ
のレベル差の度合いからランプ２の断線か、又は劣化か
を判定し、断線と判定されればステップＧにより警報表
示出力を出させ、劣化と判定されればステップＨにより
その劣化度合からランプの交換の有無を判定する。

そして、ステップＨでランプの交換の必要がないと判定
されればステップＥへ進め、交換の必要があると判定さ
れればステップＧにより警報表示出力を出させる。

上記データのレベルは、第４図に示すように測光光路上
をセルの特定部位が横切る時とセル相互間の間隙が位置
している時とでは光の透過度が異なっているので、間隙
ピーク測定時点での透過度のレベルが所定レベル（真新
しいランプを使用した時の透過度を基準にして定まるレ
ベル）に達しているかどうかを調べることによりレベル
判定を行なうことができる。

なお、セル１の吸光度測定が開始されるとＣＰＬＪｌｌ
では送られてきたデータからセル１の特定部位の透過光
に基いて反応試料の吸光度を測定すことになるが、ここ
では特に要旨と直接関係がないので、その動作説明につ
いては省略する。

このように本実施例では測光光路５内にセル相互間の間
隙が位置したことが位置検出器１２により検出されると
、その時のデータをＡ／Ｄ変換器１０から取込んで、該
データからセル相互間の間隙の透過光のレベルが所定の
レベルに達しているか否かを判定するだけでランプの断
線又は劣化を検出することができるので、従来のように
ランプ２が断線又は劣化していることを知らないで反応
液体試料の吸光度を測定するようなことがなくなり、反
応液体試料の吸光度を常に高精度で測定することができ
る。また、ランプ１の断線を検出するための光学系や電
気回路を必要としないので、装置全体の構成が複雑にな
るようなこともない。

上記実施例では測光光路５内にセル相互間の間隙が位置
したこと位置検出器１２により検出し、その検出信号を
データ判別用としてＣＰＵ１１に入力するようにしたが
、測光光路内に間欠的に搬送されるセル１の移動タイミ
ングからセル相互間の間隙が測光光路内に位置するとき
のタイミングを判定してデータを判別するようにしても
よい。

［発明の効果］ 以上述べたように本発明によれば、セル相互間の間隙が
測光光路内に位置した時に取込まれたデータからセル相
互間の間隙の透過レベルが所定のレベルに達しているか
否かを判定し、所定のレベルに達していれば反応試料の
吸光度測定に移行させ、所定のレベルに達していなけれ
ばランプが断線又は劣化状態にある旨の情報を出力する
ようにしたので、ランプの断線又は劣化を特別な検出系
を必要としないで検出することが可能となり、反応試料
の吸光度を常に高精度で測定することができる測光装置
を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による測光装置の一実施例を示す概略構
成図、第２図は同実施例におけるＣＰＵの部分構成図、
第３図は同実施例の作用を説明するためのフローチャー
トを示す図、第４図はセルおよびセル相互間の間隙が測
光光路を横切るときの時間に対する光の透過度の変化状
態を示す波形図である。 １・・・・・・セル、２・・・・・・ランプ、３・・・
・・・集光レンズ、４・・・・・・絞り、５・・・・・
・測光光路、６・・・・・・補正レンズ、７・・・・・
・干渉フィルタ、８・・・・・・光量検出器、９・・・
・・・プリアンプ、１０・・・・・・Ａ／Ｄ変換器、］
１・・・・・・ＣＰＵ、１２・・・・・・位置検出器、
２１・・・・・・データ収集部、２２・・・・・・デー
タ取出部。 出願代理人　弁理士　鈴　江　武　彦 第１図 第２図 第３図 第４図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 適宜の間隔を存して配設され且つ反応試料が収納された
   多数のセルを間欠的に一定速度で移動させてランプによ
   る測光光路内を順次横断させ、該セルの透過光を検出器
   により検出して前記反応試料の吸光度を測定する測光装
   置において、前記検出器の検出出力をデータとして取込
   む取込手段と、この取込手段により前記セル相互間の間
   隙が前記測光光路内に位置した時に取込まれたデータか
   ら前記セル相互間の間隙の透過レベルが所定のレベルに
   達しているか否かを判定し、所定のレベルに達していれ
   ば前記反応試料の吸光度測定に移行させ、所定のレベル
   に達していなければ前記ランプが断線又は劣化状態にあ
   る旨の情報を出力する判定手段とを備えたことを特徴と
   する測光装置。