JPH024866B2 - - Google Patents
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- JPH024866B2 JPH024866B2 JP54152532A JP15253279A JPH024866B2 JP H024866 B2 JPH024866 B2 JP H024866B2 JP 54152532 A JP54152532 A JP 54152532A JP 15253279 A JP15253279 A JP 15253279A JP H024866 B2 JPH024866 B2 JP H024866B2
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- signal
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 10
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60R—VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B60R21/00—Arrangements or fittings on vehicles for protecting or preventing injuries to occupants or pedestrians in case of accidents or other traffic risks
- B60R21/01—Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents
- B60R21/017—Electrical circuits for triggering passive safety arrangements, e.g. airbags, safety belt tighteners, in case of vehicle accidents or impending vehicle accidents including arrangements for providing electric power to safety arrangements or their actuating means, e.g. to pyrotechnic fuses or electro-mechanic valves
- B60R21/0173—Diagnostic or recording means therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Air Bags (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Alarm Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、給電電圧の投入接続によりトリガ信
号を含んでいる試験プログラムを試験回路に進行
せしめかつ試験プログラムの間安全装置のトリガ
を防止する手段を設けた、事故の際に自動車の乗
員を保護するのに用いられる安全装置のトリガ装
置用の試験回路に関する。
号を含んでいる試験プログラムを試験回路に進行
せしめかつ試験プログラムの間安全装置のトリガ
を防止する手段を設けた、事故の際に自動車の乗
員を保護するのに用いられる安全装置のトリガ装
置用の試験回路に関する。
非常に簡単な試験プログラムの間安全装置のト
リガ用の出力段が遮断されるこの種の試験回路は
既にドイツ連邦共和国特許出願公告第2222038号
公報から公知である。この公知の回路は、出力段
に欠陥があつても試験プログラムによつて識別で
きないという欠点を有している。例えばこの種の
安全装置を、自動車の障害物への衝突の際乗員を
保護するために自動的に少なくとも1つの空気枕
が膨脹する所謂エアバツク−システムとして構成
されているときは、システムの全要素の試験が必
要である。その理由は機能が発揮されないのと同
様に誤つたトリガも不快な結果を招く可能性があ
るからである。
リガ用の出力段が遮断されるこの種の試験回路は
既にドイツ連邦共和国特許出願公告第2222038号
公報から公知である。この公知の回路は、出力段
に欠陥があつても試験プログラムによつて識別で
きないという欠点を有している。例えばこの種の
安全装置を、自動車の障害物への衝突の際乗員を
保護するために自動的に少なくとも1つの空気枕
が膨脹する所謂エアバツク−システムとして構成
されているときは、システムの全要素の試験が必
要である。その理由は機能が発揮されないのと同
様に誤つたトリガも不快な結果を招く可能性があ
るからである。
これに対して、トリガ防止手段を半導体スイツ
チによつて構成し、この半導体スイツチをトリガ
装置の出力段−半導体スイツチ並びに安全装置に
対して直列に接続し、かつ試験プログラムによつ
て2つの半導体スイツチが同時に導通状態になる
のを防止するようにした本発明の試験回路は、事
故の際に生じる検出信号の識別のために用いられ
る電子装置の試験のほかに、出力段、例えば導通
接続されると安全装置の点火素子を介して電流が
流れるようにトリガする出力段トランジスタも試
験されるという利点を有する。これによりトリガ
装置の動作信頼度が高められる。
チによつて構成し、この半導体スイツチをトリガ
装置の出力段−半導体スイツチ並びに安全装置に
対して直列に接続し、かつ試験プログラムによつ
て2つの半導体スイツチが同時に導通状態になる
のを防止するようにした本発明の試験回路は、事
故の際に生じる検出信号の識別のために用いられ
る電子装置の試験のほかに、出力段、例えば導通
接続されると安全装置の点火素子を介して電流が
流れるようにトリガする出力段トランジスタも試
験されるという利点を有する。これによりトリガ
装置の動作信頼度が高められる。
本発明の実施例において試験プログラムの第1
の時間間隔で出力段−半導体スイツチ並びにこれ
に直列に接続されている半導体スイツチを遮断
し、その間に加えられる電位を監視信号として評
価すると有利である。これにより作動電圧の印加
の際の誤つたトリガに対する安全性が高められ
る。その理由は誤信号のための出力段−半導体ス
イツチの導通接続はこの時点では効力がないから
である。更に両半導体スイツチ間の電圧値を2つ
の閾値段によつて評価することも特に有利であ
る。何故ならばこれによりスイツチの機能のみな
らず、印加される電圧も試験することができるか
らである。
の時間間隔で出力段−半導体スイツチ並びにこれ
に直列に接続されている半導体スイツチを遮断
し、その間に加えられる電位を監視信号として評
価すると有利である。これにより作動電圧の印加
の際の誤つたトリガに対する安全性が高められ
る。その理由は誤信号のための出力段−半導体ス
イツチの導通接続はこの時点では効力がないから
である。更に両半導体スイツチ間の電圧値を2つ
の閾値段によつて評価することも特に有利であ
る。何故ならばこれによりスイツチの機能のみな
らず、印加される電圧も試験することができるか
らである。
次に本発明を図面を用いて詳細に説明する。
第1図の、安全装置11用のトリガ装置10
は、加速度検出器12を有している。この検出器
の出力側には加速度に比例した信号かまたは所定
の値に定めることができる加速度を越えたときに
はじめて生じる信号があらわれる。この信号は電
子評価装置13に供給され、引続いてこの信号は
そこで、この信号の原因が事故、即ち障害物にぶ
つかつたことにあるのか、または例えば急激なブ
レーキまたは石にあたつたことによるような加速
過程が信号の発生を招いたのかが検査される。事
故だと識別されると、信号が生じ、この信号によ
つて後置接続されている出力段トランジスタ14
のベースを介してこのトランジスタは導通状態に
切換えられる。これにより給電電圧源のプラス極
に接続されている端子から、トランジスタ14の
スイツチング区間を介してこれと直列に接続され
ている安全装置11に電流が流れる。この安全装
置11は、例えば発熱線材から構成することがで
きる。即ちこの発熱部材によつて爆発性の化学的
な混合物を点火することができ、これにより空気
袋(エアバツク)に充てんされる。この種のトリ
ガ装置10の実施例は冒頭に述べた公知技術に詳
細に記載してある。
は、加速度検出器12を有している。この検出器
の出力側には加速度に比例した信号かまたは所定
の値に定めることができる加速度を越えたときに
はじめて生じる信号があらわれる。この信号は電
子評価装置13に供給され、引続いてこの信号は
そこで、この信号の原因が事故、即ち障害物にぶ
つかつたことにあるのか、または例えば急激なブ
レーキまたは石にあたつたことによるような加速
過程が信号の発生を招いたのかが検査される。事
故だと識別されると、信号が生じ、この信号によ
つて後置接続されている出力段トランジスタ14
のベースを介してこのトランジスタは導通状態に
切換えられる。これにより給電電圧源のプラス極
に接続されている端子から、トランジスタ14の
スイツチング区間を介してこれと直列に接続され
ている安全装置11に電流が流れる。この安全装
置11は、例えば発熱線材から構成することがで
きる。即ちこの発熱部材によつて爆発性の化学的
な混合物を点火することができ、これにより空気
袋(エアバツク)に充てんされる。この種のトリ
ガ装置10の実施例は冒頭に述べた公知技術に詳
細に記載してある。
安全装置11は、トランジスタ16と抵抗17
との並列回路を介して接地されている。出力段−
トランジスタ14のスイツチング区間と並列に、
同様に抵抗18が接続されている。抵抗17,1
8は、安全装置11の抵抗値と比較する高抵抗で
ある。安全装置は、それが抵抗17,18と直列
に接続されたときに生じる電流が安全装置11を
点火するのに十分でないように構成されている。
との並列回路を介して接地されている。出力段−
トランジスタ14のスイツチング区間と並列に、
同様に抵抗18が接続されている。抵抗17,1
8は、安全装置11の抵抗値と比較する高抵抗で
ある。安全装置は、それが抵抗17,18と直列
に接続されたときに生じる電流が安全装置11を
点火するのに十分でないように構成されている。
安全装置11と抵抗17との接続点には2つの
閾値段19,20の入力側が接続されている。閾
値段19の出力側は一方ではORゲート21(お
よび必要に応じてこのゲートに後置接続されてい
る増幅器)を介して監視灯22に接続されてお
り、更に他方ではAND−ゲート23を介して第
1の電流源24の入力側に接続されている。閾値
スイツチ20の出力側は一方でAND−ゲート2
5を介して第2の電流源26の入力側に接続され
ており、他方でインバータ27を介して前記
AND−ゲート23の他方の入力側およびAND−
ゲート28の入力側に接続されており、また
AND−ゲート29の入力側に接続されている。
AND−ゲート28の出力側は、第3の電流源3
0の入力側に接続されている。AND−ゲート2
9の出力側は、トランジスタ16のベースに接続
されている。端子15は閾値段41を経て一方で
ANDゲート29の別の入力側に接続されており、
他方で閾値段41およびインバータ31を介して
OR−ゲート21の別の入力側並びに放電電流源
32の制御入力側に接続されている。
閾値段19,20の入力側が接続されている。閾
値段19の出力側は一方ではORゲート21(お
よび必要に応じてこのゲートに後置接続されてい
る増幅器)を介して監視灯22に接続されてお
り、更に他方ではAND−ゲート23を介して第
1の電流源24の入力側に接続されている。閾値
スイツチ20の出力側は一方でAND−ゲート2
5を介して第2の電流源26の入力側に接続され
ており、他方でインバータ27を介して前記
AND−ゲート23の他方の入力側およびAND−
ゲート28の入力側に接続されており、また
AND−ゲート29の入力側に接続されている。
AND−ゲート28の出力側は、第3の電流源3
0の入力側に接続されている。AND−ゲート2
9の出力側は、トランジスタ16のベースに接続
されている。端子15は閾値段41を経て一方で
ANDゲート29の別の入力側に接続されており、
他方で閾値段41およびインバータ31を介して
OR−ゲート21の別の入力側並びに放電電流源
32の制御入力側に接続されている。
電流源24,26,30の出力側および放電電
流源32の入力側はコンデンサ33を介して接地
されている。電流源24,26,30,32はコ
ンデンサ33とともに、3つの積分定数を有する
積分器を形成する。この積分器34は更に、3つ
の後置接続されている閾値段35乃至37と一緒
に、時限素子系を形成する。閾値段35の出力側
は一方でAND−ゲート25の別の入力側に接続
されており、他方でAND−ゲート38を介して
トリガ装置10の電子評価装置13の入力側に接
続されている。閾値段36の出力側は、一方で
AND−ゲート28の別の入力側に接続されてお
り、他方でインバータ39を介してAND−ゲー
ト38の別の入力側に接続されている。閾値段3
7の出力側は、一方ではAND−ゲート29の別
の入力側に接続されており、他方ではインバータ
40を介してOR−ゲート21の別の入力側に接
続されている。
流源32の入力側はコンデンサ33を介して接地
されている。電流源24,26,30,32はコ
ンデンサ33とともに、3つの積分定数を有する
積分器を形成する。この積分器34は更に、3つ
の後置接続されている閾値段35乃至37と一緒
に、時限素子系を形成する。閾値段35の出力側
は一方でAND−ゲート25の別の入力側に接続
されており、他方でAND−ゲート38を介して
トリガ装置10の電子評価装置13の入力側に接
続されている。閾値段36の出力側は、一方で
AND−ゲート28の別の入力側に接続されてお
り、他方でインバータ39を介してAND−ゲー
ト38の別の入力側に接続されている。閾値段3
7の出力側は、一方ではAND−ゲート29の別
の入力側に接続されており、他方ではインバータ
40を介してOR−ゲート21の別の入力側に接
続されている。
次に第1図に示した実施例の動作を第2図に示
す信号ダイヤグラムに基づいて説明する。その際
図示の電圧は、相応の符号を付す構成部分の出力
電圧または同じく相応の符号を付す構成部分に加
えられる電圧である。
す信号ダイヤグラムに基づいて説明する。その際
図示の電圧は、相応の符号を付す構成部分の出力
電圧または同じく相応の符号を付す構成部分に加
えられる電圧である。
時点toで端子15に電圧U15が加えられると、
最初両トランジスタ14,16は遮断されてい
る。2つの閾値段19,20の入力側には、給電
電圧の値と関連した抵抗17,18の分圧比によ
つて決められる電圧が加えられる。安全装置11
の抵抗値は非常に低いので、それがこの給電電圧
に影響を及ぼすことは実際にない。抵抗17,1
8の値を例えば同じ大きさにすると、閾値段1
9,20の入力側には給電電圧の半分が加えられ
る。この場合閾値段19の閾値は、給電電圧の半
分よりやゝ下にある値S19に調節され、閾値段2
0の閾値は、給電電圧の半分よりやゝ上にある値
S20に調節される。両トランジスタ14,16が
正常状態にある、即ち両方とも遮断されている
と、閾値段19のみが応動することができる。閾
値段19の出力側および閾値段20の出力側並び
にこの出力側に接続されているインバータ27を
介してAND−ゲート23の両入力側には1−信
号が加えられるので、これにより電流源24が投
入接続される。コンデンサ33は、時点t1で閾値
段35が閾値S35に達するまで充電される。この
時間は、電流源24の電流の調節または閾値段3
5の閾値の調節によつて、給電電圧の投入接続の
際発生するのが常であるあらゆる投入接続妨害が
前以つて減衰されているように調節しなければな
らない。この妨害は従来のトリガ装置10では場
合によつては安全装置のトリガを招くおそれがあ
つた。電流源24は、コンデンサ33の充電を
S35の丁度上の電圧値に制限する制限装置を備え
ている。これによりS36またはS37の超過は、電
流源26または30を制御することなしに回避さ
れる。
最初両トランジスタ14,16は遮断されてい
る。2つの閾値段19,20の入力側には、給電
電圧の値と関連した抵抗17,18の分圧比によ
つて決められる電圧が加えられる。安全装置11
の抵抗値は非常に低いので、それがこの給電電圧
に影響を及ぼすことは実際にない。抵抗17,1
8の値を例えば同じ大きさにすると、閾値段1
9,20の入力側には給電電圧の半分が加えられ
る。この場合閾値段19の閾値は、給電電圧の半
分よりやゝ下にある値S19に調節され、閾値段2
0の閾値は、給電電圧の半分よりやゝ上にある値
S20に調節される。両トランジスタ14,16が
正常状態にある、即ち両方とも遮断されている
と、閾値段19のみが応動することができる。閾
値段19の出力側および閾値段20の出力側並び
にこの出力側に接続されているインバータ27を
介してAND−ゲート23の両入力側には1−信
号が加えられるので、これにより電流源24が投
入接続される。コンデンサ33は、時点t1で閾値
段35が閾値S35に達するまで充電される。この
時間は、電流源24の電流の調節または閾値段3
5の閾値の調節によつて、給電電圧の投入接続の
際発生するのが常であるあらゆる投入接続妨害が
前以つて減衰されているように調節しなければな
らない。この妨害は従来のトリガ装置10では場
合によつては安全装置のトリガを招くおそれがあ
つた。電流源24は、コンデンサ33の充電を
S35の丁度上の電圧値に制限する制限装置を備え
ている。これによりS36またはS37の超過は、電
流源26または30を制御することなしに回避さ
れる。
給電電圧が投入接続されると同時にその値は閾
値段41によつて試験される。給電電圧U15が最
小許容量S41以下だと、閾値段41は応動せず、
AND−ゲート29は遮断状態にとどまつたまゝ
で、一方でインバータ31を介して放電電流源3
2が投入接続され、これによりコンデンサ33の
充電を妨げる。この閾値段41は、付加的な安全
装置のために用いられ、かつ給電電圧U15が後で
落込んだ場合にもトランジスタ16が遮断されて
いるように作用し、これにより給電電圧の落込み
による誤つたトリガが回避される。
値段41によつて試験される。給電電圧U15が最
小許容量S41以下だと、閾値段41は応動せず、
AND−ゲート29は遮断状態にとどまつたまゝ
で、一方でインバータ31を介して放電電流源3
2が投入接続され、これによりコンデンサ33の
充電を妨げる。この閾値段41は、付加的な安全
装置のために用いられ、かつ給電電圧U15が後で
落込んだ場合にもトランジスタ16が遮断されて
いるように作用し、これにより給電電圧の落込み
による誤つたトリガが回避される。
閾値段35が応動し、AND−ゲート38を介
してシミユレートされたトリガのためのトリガ信
号が電子評価装置13に供給されることによつて
第2のプログラム段階が始まる。電子評価装置1
3並びに出力段トランジスタ14の正常な機能時
には出力段トランジスタは所定の時間遅延後に導
通状態に移行する。これにより閾値段19,20
の入力側の電圧値はほぼ、完全な給電電圧の値に
飛躍する。閾値S20を越えることによつて両閾値
段19,20の出力側には1−信号が生じる。電
流源24は遮断されて、かわつて電流源26が投
入接続される。コンデンサ33は、電流源26か
ら供給される電流に相応して、時点t2で閾値段3
6が閾値S36に達するまでに更に充電される。第
2のプログラム段階が終了し、シミユレートされ
たトリガ信号U38はインバータ39によつて遮
断される。電流源26は電流源24のように、コ
ンデンサ33の充電をS36の丁度上の値に制限す
る制限装置を含んでいる。これにより正常な機能
時には出力段トランジスタ14は所定の時間遅延
後再び遮断状態に移行するはずで、これにより電
圧U17は再び給電電圧の半分に降下する。このた
めに閾値段20の出力側には再び0−信号が生
じ、この信号により電流源26は遮断され、更に
インバータ27およびAND−ゲート28を介し
て電流源30が投入接続される。電流源30から
供給される電流に依存してコンデンサ33は更
に、時点t3で閾値段37が閾値S37に達するまで
充電される。閾値段37の出力信号により、トラ
ンジスタ16はこの時点から給電電圧が遮断され
るかまたは時点t4で示すように閾値S41以下に降
下するまでその状態にとどまつてからAND−ゲ
ート29を介して導通状態に切換えられる。試験
プログラムはこゝでで終了し、トリガ装置は作動
準備状態にある。
してシミユレートされたトリガのためのトリガ信
号が電子評価装置13に供給されることによつて
第2のプログラム段階が始まる。電子評価装置1
3並びに出力段トランジスタ14の正常な機能時
には出力段トランジスタは所定の時間遅延後に導
通状態に移行する。これにより閾値段19,20
の入力側の電圧値はほぼ、完全な給電電圧の値に
飛躍する。閾値S20を越えることによつて両閾値
段19,20の出力側には1−信号が生じる。電
流源24は遮断されて、かわつて電流源26が投
入接続される。コンデンサ33は、電流源26か
ら供給される電流に相応して、時点t2で閾値段3
6が閾値S36に達するまでに更に充電される。第
2のプログラム段階が終了し、シミユレートされ
たトリガ信号U38はインバータ39によつて遮
断される。電流源26は電流源24のように、コ
ンデンサ33の充電をS36の丁度上の値に制限す
る制限装置を含んでいる。これにより正常な機能
時には出力段トランジスタ14は所定の時間遅延
後再び遮断状態に移行するはずで、これにより電
圧U17は再び給電電圧の半分に降下する。このた
めに閾値段20の出力側には再び0−信号が生
じ、この信号により電流源26は遮断され、更に
インバータ27およびAND−ゲート28を介し
て電流源30が投入接続される。電流源30から
供給される電流に依存してコンデンサ33は更
に、時点t3で閾値段37が閾値S37に達するまで
充電される。閾値段37の出力信号により、トラ
ンジスタ16はこの時点から給電電圧が遮断され
るかまたは時点t4で示すように閾値S41以下に降
下するまでその状態にとどまつてからAND−ゲ
ート29を介して導通状態に切換えられる。試験
プログラムはこゝでで終了し、トリガ装置は作動
準備状態にある。
給電電圧の投入接続による試験プログラムの開
始時に監視灯22が投入接続される。その理由
は、この時点で閾値段37の出力側に0−信号が
加えられるからである。閾値段37が応動して試
験プログラムが終了してはじめて、信号U20乃至
21の信号の終りで監視灯22が遮断される。この
遮断は勿論給電電圧が値U41より上にありかつ半
分の給電電圧が値S19より上にあるときにのみ行
なわれる。機能に欠陥がありプログラムが最後ま
で遂行されないときには、監視灯22は更にその
まゝ点灯しつづけ、運転者に、装置に欠陥がある
ことを知らせる。装置の正常な機能は運転者に監
視灯22の短い閃光によつて知らされる。
始時に監視灯22が投入接続される。その理由
は、この時点で閾値段37の出力側に0−信号が
加えられるからである。閾値段37が応動して試
験プログラムが終了してはじめて、信号U20乃至
21の信号の終りで監視灯22が遮断される。この
遮断は勿論給電電圧が値U41より上にありかつ半
分の給電電圧が値S19より上にあるときにのみ行
なわれる。機能に欠陥がありプログラムが最後ま
で遂行されないときには、監視灯22は更にその
まゝ点灯しつづけ、運転者に、装置に欠陥がある
ことを知らせる。装置の正常な機能は運転者に監
視灯22の短い閃光によつて知らされる。
1個所に複数の安全装置を設ける場合には、回
路を多重に利用できるようにすることができ、ま
たは複数の安全装置11を互いに並列に接続する
こともできる。更に異なつた出力段14によつて
互いに別々に制御される複数の安全装置のそれぞ
れ1つの接続端子をトランジスタ16のコレクタ
に接続し、共通に監視するようにすることもでき
る。
路を多重に利用できるようにすることができ、ま
たは複数の安全装置11を互いに並列に接続する
こともできる。更に異なつた出力段14によつて
互いに別々に制御される複数の安全装置のそれぞ
れ1つの接続端子をトランジスタ16のコレクタ
に接続し、共通に監視するようにすることもでき
る。
試験回路のデジタル形式の実施例も同様に簡単
に実現可能である。その際電流源の代わりに、例
えばAND−ゲート23,25,28の出力側お
よびインバータ31の出力側によつて制御され
る、種々異なつた計数周波数が供給される計数器
が使用される。閾値段35乃至37に代わつて相
応して、所定の計数状態に対するデコーダ段乃至
デジタルなコンパレータが使用される。図示しか
つ説明した回路の機能はマイクロプロセツサによ
つても効果的に実現される。
に実現可能である。その際電流源の代わりに、例
えばAND−ゲート23,25,28の出力側お
よびインバータ31の出力側によつて制御され
る、種々異なつた計数周波数が供給される計数器
が使用される。閾値段35乃至37に代わつて相
応して、所定の計数状態に対するデコーダ段乃至
デジタルなコンパレータが使用される。図示しか
つ説明した回路の機能はマイクロプロセツサによ
つても効果的に実現される。
最後に、シミユレートされるトリガ信号U38の
長さが、電子評価装置13の試験にとつて重要で
あることを挙げておく。この信号U38の長さは例
えば、電子評価装置13によるトリガが正常な機
能時ではこの長さの信号において丁度行なわれる
ように選択することができる。このためにAND
−回路38に単安定マルチバイブレータを後置接
続することができる。電子評価装置において評価
信号の正確な長さの識別に関して欠陥がある場合
には、例えばトリガが行なわれないようにするこ
とができる。試験プログラムはこれにより停止
し、欠陥は監視灯22によつて指示される。
長さが、電子評価装置13の試験にとつて重要で
あることを挙げておく。この信号U38の長さは例
えば、電子評価装置13によるトリガが正常な機
能時ではこの長さの信号において丁度行なわれる
ように選択することができる。このためにAND
−回路38に単安定マルチバイブレータを後置接
続することができる。電子評価装置において評価
信号の正確な長さの識別に関して欠陥がある場合
には、例えばトリガが行なわれないようにするこ
とができる。試験プログラムはこれにより停止
し、欠陥は監視灯22によつて指示される。
第1図は、本発明の試験回路の実施例の回路略
図、第2図は動作を説明するための信号ダイヤグ
ラムである。 10……トリガ装置、11……安全装置、12
……加速度検出器、13……電子評価装置、1
4,16……半導体スイツチ、19,20,3
5,36,37,41……閾値段、22……監視
灯、24,26,30……電流源、27,31,
39,40……インバータ、34……積分器。
図、第2図は動作を説明するための信号ダイヤグ
ラムである。 10……トリガ装置、11……安全装置、12
……加速度検出器、13……電子評価装置、1
4,16……半導体スイツチ、19,20,3
5,36,37,41……閾値段、22……監視
灯、24,26,30……電流源、27,31,
39,40……インバータ、34……積分器。
Claims (1)
- 1 給電電圧の投入接続によりトリガ信号を含ん
でいる試験プログラムを試験回路にて進行せしめ
かつ試験プログラムの間安全装置のトリガを防止
する手段を設けた、事故の際に自動車の乗員を保
護するのに用いられる安全装置のトリガ装置用の
試験回路において、前記のトリガ防止手段を半導
体スイツチ16によつて構成し、該半導体スイツ
チをトリガ装置10の出力段−半導体スイツチ1
4並びに安全装置11に対して直列に接続し、か
つ試験プログラムによつて2つの半導体スイツチ
14,16が同時に導通状態になるのを防止する
ようにしたことを特徴とする試験回路。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782851333 DE2851333A1 (de) | 1978-11-28 | 1978-11-28 | Pruefschaltung fuer die ausloesevorrichtung einer den schutz der insassen eines fahrzeugs waehrend eines unfalles dienenden sicherheitseinrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5576727A JPS5576727A (en) | 1980-06-10 |
JPH024866B2 true JPH024866B2 (ja) | 1990-01-30 |
Family
ID=6055690
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15253279A Granted JPS5576727A (en) | 1978-11-28 | 1979-11-27 | Testing circuit for trigger of safety device for protecting automobile passenger in accident |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
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EP (1) | EP0011680B1 (ja) |
JP (1) | JPS5576727A (ja) |
DE (2) | DE2851333A1 (ja) |
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1978
- 1978-11-28 DE DE19782851333 patent/DE2851333A1/de not_active Withdrawn
-
1979
- 1979-08-08 EP EP79102850A patent/EP0011680B1/de not_active Expired
- 1979-08-08 DE DE7979102850T patent/DE2961250D1/de not_active Expired
- 1979-10-09 US US06/082,572 patent/US4243971A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-11-27 JP JP15253279A patent/JPS5576727A/ja active Granted
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Publication number | Publication date |
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DE2961250D1 (en) | 1982-01-14 |
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JPS5576727A (en) | 1980-06-10 |
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