JPH0246969B2 - - Google Patents

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JPH0246969B2
JPH0246969B2 JP58214651A JP21465183A JPH0246969B2 JP H0246969 B2 JPH0246969 B2 JP H0246969B2 JP 58214651 A JP58214651 A JP 58214651A JP 21465183 A JP21465183 A JP 21465183A JP H0246969 B2 JPH0246969 B2 JP H0246969B2
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JP
Japan
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evaluation
chip
program
evaluation chip
debugging
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP58214651A
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English (en)
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JPS60107146A (ja
Inventor
Hisashi Saito
Mikio Takuwa
Toshibumi Nakai
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP58214651A priority Critical patent/JPS60107146A/ja
Publication of JPS60107146A publication Critical patent/JPS60107146A/ja
Publication of JPH0246969B2 publication Critical patent/JPH0246969B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36Preventing errors by testing or debugging software

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〈技術分野〉 この発明はワンチツプマイクロコンピユータの
プログラム開発におけるデバツグシステムに関す
るものである。
〈従来技術〉 従来、ワンチツプマイクロコンピユータのデバ
ツグシステムは、IC及びその他Tr等で作製され
たマイクロコンピユータと同等の機能をもつLSI
に、更にLSI内の各レジスタ等の状況を表示する
機能等を加えたモツクアツプか、又はワンチツプ
マイクロコンピユータの機能に内部各レジスタ出
力及びその他デバツグ機能を加えて作られたLSI
(エバリユエーシヨンチツプ)を使用したシステ
ムが用いられていた。
しかし、上記双方のシステムとも、プログラム
のデバツグが終了した後、マイクロコンピユータ
の周辺回路との調整を図かるため、改めて実装用
エバリユエーシヨンチツプ(ピギーバツクタイ
プ)を入手し、実装テストを行なわなければなら
ず、デバツキング及び実装テストに夫々のシステ
ムが必要となり、マイクロコンピユータを完成す
るためのプログラム開発システムが複雑であるば
かりでなく、作業に手間が掛るという問題があつ
た。
〈発明の目的〉 本発明は、上記従来のマイクロコンピユータプ
ログラム開発システムの問題点に鑑みてなされた
もので、プログラム開発から実装テストまで1つ
のシステムで実行することができるデバツグシス
テムを提供する。
〈実施例〉 4ビツトワンチツプマイクロコンピユータのデ
バツグシステムを実施例に挙げて説明する。
本実施例においては、4ビツトワンチツプマイ
クロコンピユータのための同一構成からなるエバ
リユエーシヨンチツプを2個使用する。第1図に
おいて、第1のエバリユエーシヨンチツプ1はデ
バツクのためのCPUとなり、ワンチツプマイク
ロコンピユータ1として本来具備する端子1aに
加えてデバツクのための周辺回路との結合端子が
設けられている。第2のエバリユエーシヨンチツ
プ2はピギーバツクタイプに搭載され、同一ピギ
ーバツク3に搭載されたプログラムメモリ4によ
つて制御される。ピギーバツク3には、ワンチツ
プマイクロコンピユータの機能を備えた上記エバ
リユエーシヨンチツプ2がデバツク実行によつて
取り込んだワンチツプマイクロコンピユータのレ
ジスタ等の内容を表示するための出力端子3aが
設けられている。該出力端子3aはワンチツプマ
イクロコンピユータが本来具備する出力端子が流
用される。
上記第1のエバリユエーシヨンチツプ1とピギ
ーパツク3の間は信号ライン5で結合される。プ
ログラムメモリ6はデバツクすべきプログラムが
書き込まれてなり、第1エバリユエーシヨンチツ
プ1からのアドレス指定に基いて書き込まれた内
容からデバツクすべきプログラムが順次出力さ
れ、ゲート回路7を介して第1エバリユエーシヨ
ンチツプ1に入力されて、第1エバリユエーシヨ
ンチツプ1はプログラムを実行する。デバツク時
点は、メモリ或いはキー入力等から構成されたブ
レイクポイント設定装置8によつて入力され、該
ポイント設定入力は排他的OR回路9を介してホ
ールド入力として第1エバリユエーシヨンチツプ
1に与えられる。尚デバツクのためのホールド入
力はピギーバツク3に設けられたホールド入力端
子3bからも端子5eを通じて供給し得る。
次に上記構成のデバツクシステムにおけるデバ
ツクのための動作を第2図のフローチヤートと共
に説明する。まずデバツクスタートに続いて、ス
テツプ1としてピギーバツク3にコントロール用
プログラムメモリ4がセツトされ、上記第1図に
示したシステムが組まれる(ステツプ2)。次に
ステツプ3によりデバツクすべきプログラムをプ
ログラムメモリ6に書き込み、書き込まれたデバ
ツクプログラムに従つてシステムの動作を確認す
る(ステツプ4)。ステツプ5の判定回路でシス
テムのプログラム実行が正常と判定されれば、ピ
ギーバツク3のコントロールメモリ4を取り外し
(ステツプ6)、代つてプログラムメモリ6の内容
を搭載し(ステツプ7)、ワンチツプマイクロコ
ンピユータをセツトする回路基板等に第2エバリ
ユエーシヨンチツプ2及びプログラムメモリ6を
搭載したピギーバツク3を取り付けて(ステツプ
8)実装テストに移る。次のステツプ9で外部回
路とのマツチングを観察し、異常なしと判定され
ればデバツクは終了する。一方判定(ステツプ
10)の結果異常が検出されればプログラム6を修
正するステツプ11を経て、この修正プログラムに
対して上述のステツプ1以降の動作が実行されて
再度プログラムの検討が実行される。また上記ス
テツプ4のシステム動作確認過程の実行におい
て、判定ステツプ6で動作に異常が検出されれ
ば、ステツプ12においてブレイクポイントが設定
され、ホールドキー3bによりレジスタの内容の
観測が実行され、観測結果に基いて適宜プログラ
ムの修正が実行される(ステツプ13)。修正され
たプログラム内容はステツプ3でプログラムメモ
リ6に書き込まれて、上述のデバツキングが再び
実行される。
次に上記デバツキング動作フローのステツプ4
における動作異常検出時に第1及び第2エバリユ
エーシヨンチツプが行なう動作について第3図の
フローチヤートを用いて説明する。
エバリユエーシヨンチツプ1がステツプ14(第
2図のステツプ4)でプログラムメモリ6を実行
している過程で、プログラムのアドレスがブレイ
クポイント設定装置8によつて予め設定されたア
ドレスに達すると排他的OR回路9から、或いは
端子3bに与えられる外部からのいずれかにより
ホールド信号が与えられ、該ホールド信号の判別
ステツプ15を経て第1エバリユエーシヨンチツプ
1は入力されたホールド信号により一旦ホールド
状態になる(ステツプ16)。第1エバリユエーシ
ヨンチツプ1がホールド状態になると信号ライン
中のCPUホールド出力5aによりホールド信号
が加えられたことを第2エバリユエーシヨンチツ
プ2に知らせる。プログラムメモリ4によつて制
御される第2エバリユエーシヨンチツプ2はホー
ルド信号を検出して(ステツプ17)、コントロー
ル用プログラムメモリ4の内容を実行し、一方信
号ライン5g及びゲート回路7により第1エバリ
ユエーシヨンチツプ1をプログラムメモリ6から
の指令と切り離し(ステツプ18)、第2エバリユ
エーシヨンチツプ2を搭載したピギーバツク3の
出力5cによつて第1エバリユエーシヨンチツプ
1を制御する。このときの第1エバリユエーシヨ
ンチツプ1のホールドアドレスを信号ライン5d
を経て第2エバリユエーシヨンチツプ2内に設け
られたRAM等に記憶させ(ステツプ19)ホール
ド時点の状態を保持させる。第2エバリユエーシ
ヨンチツプ2は、第1エバリユエーシヨンチツプ
1に対して、ステツプ20及びステツプ21で示す如
く信号ライン5fを通してワンステツプ動作さ
せ、ワンチツプマイクロコンピユータのための各
レジスタ、RAM及びフラツグ等の内容が、第1
エバリユエーシヨンチツプ1からピギーバツク3
側に信号ライン5bを通して取り込まれる。この
ときレジスタ、RAM、フラツグ等の内容などデ
バツクに有用なホールド時の状態の取り込みは、
エバリユエーシヨンチツプ1及び2を、デバツク
中の動作を制御するプログラムメモリ6による制
御から、ピギーバツク3に搭載されたコントロー
ル用プログラムメモリ4からの信号による制御に
切換えて行われる。取り込まれた内容の出力はス
テツプ入力端子3cからの読み出し信号により、
ピギーバツク3の出力端子3aから表示等のため
に出力される(ステツプ22)。表示内容に応じて
誤り訂正が施こされ、メモリ6に書き込まれる。
上述のようにエバリユエーシヨンチツプを制御す
るためのプログラムメモリの切換えが実行される
ため、第1エバリユエーシヨンチツプはステツプ
16〜21の間はホールド状態にあり、またこの間本
来マイクロコンピユータとして用意されている端
子1aの出力信号は変化せず、この変化がない状
態でホールド時の状態を第2エバリユエーシヨン
チツプ側に取り込むことができる。
全レジスタの内容を出力したことがステツプ23
で検出された後、第2エバリユエーシヨン2側の
全レジスタの内容がホールド直後の状態に戻され
る(ステツプ24)と共に、信号ライン5c,5f
を経て第1エバリユエーシヨン1側のレジスタの
内容も元の状態に戻される(ステツプ25)。更に
第2エバリユエーシヨン側からホールドアドレス
を戻すべく信号ライン5fを経て第1エバリユエ
ーシヨン側にアドレス復帰信号が与えられ(ステ
ツプ26,27)、続いて動作を制御するためのプロ
グラムメモリが、ピギーバツク3に搭載されてい
たメモリ4からプログラムメモリ6に切換えられ
(ステツプ28)、この指令が信号ライン5gを経て
第1エバリユエーシヨンチツプ1に入力され、ス
テツプ29で再度プログラムメモリ6の支配下とな
る。第1エバリユエーシヨンテツプ1はホールド
が切れるまで一応ホールド状態が保持される。第
2エバリユエーシヨンチツプ側はホールド信号の
解除が判定されて、再びスタート状態に戻る。
次に上記動作によつてデバツクを終了したコン
トロール用プログラムメモリ4はシステムより取
り外され、第2図のフローチヤートで説明した如
く、コントロール用プログラム4に代えてデバツ
クの結果を書き込んせメモリ6がピギーバツク3
に搭載される。ピギーバツク3にはワンチツプマ
イクロコンピユータのエバリユエーシヨンチツプ
2が搭載されているため、デバツク結果と併せて
実際に使用する回路構成になると共に、実装状態
においても実際に使用するLSIと同じ形態にな
り、同じピギーバツク3によつて上記デバツクに
続いて実装テストが実行できる。
〈効果〉 以上本発明によれば、エバリユエーシヨンチツ
プに更にピギーバツクタイプのエバリユエーシヨ
ンチツプを使用するため、プログラムのデバツグ
終了後、同じピギーバツクによつて実装テストを
行うことができ、従来システムのようなワンチツ
プマイクロコンピユータのデバツグシステムの他
に実装テスト用のピギーバツクタイプのエバリユ
エーシヨンチツプの入手が不要となり、プログラ
ム開発から実装テストまでが一つのデバツグシス
テムで行うことができる。
また、チツプは双方とも同一エバリユエーシヨ
ンチツプを使用する(パツケージ及びボンデイン
グのみ異る)システムである為、システム開発が
エバリユエーシヨンチツプの開発のみで済み、手
間が軽減されると共に経済性にすぐれたシステム
を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による一実施例を示すブロツク
図、第2図及び第3図は本発明の動作を説明する
ためのフローチヤートである。 1,2……エバリユエーシヨンチツプ、3……
ピギーバツク、4……コントロール用プログラム
メモリ、5……信号ライン、6……プログラムメ
モリ、8……ブレイクポイント設定装置、9……
排他的OR回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 ワンチツプマイクロコンピユータの機能を備
    えると共に、ワンチツプマイクロコンピユータに
    内蔵されたレジスタの内容を表示させ得る機能を
    備えた少なくとも2個のエバリユエーシヨンチツ
    プと、一方のエバリユエーシヨンチツプ及びデバ
    ツクコントロール用プログラムメモリが搭載され
    たピギーバツクと、該ピギーバツクと他方のエバ
    リユエーシヨンチツプ間を結合する信号ライン
    と、上記エバリユエーシヨンチツプにホールド入
    力を供給するブレイクポイント設定手段と、上記
    エバリユエーシヨンチツプに結合されたデバツク
    するためのプログラムが書き込まれてなるメモリ
    とからなることを特徴とするLSIのデバツグシス
    テム。
JP58214651A 1983-11-14 1983-11-14 Lsiのデバッグシステム Granted JPS60107146A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58214651A JPS60107146A (ja) 1983-11-14 1983-11-14 Lsiのデバッグシステム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58214651A JPS60107146A (ja) 1983-11-14 1983-11-14 Lsiのデバッグシステム

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JPS60107146A JPS60107146A (ja) 1985-06-12
JPH0246969B2 true JPH0246969B2 (ja) 1990-10-18

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JP58214651A Granted JPS60107146A (ja) 1983-11-14 1983-11-14 Lsiのデバッグシステム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH07104801B2 (ja) * 1988-11-02 1995-11-13 日本電気株式会社 プログラム開発装置

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JPS60107146A (ja) 1985-06-12

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