JPH0243396A - 金属フタロシアニン化合物錯体薄膜の製造方法 - Google Patents
金属フタロシアニン化合物錯体薄膜の製造方法Info
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- JPH0243396A JPH0243396A JP19215688A JP19215688A JPH0243396A JP H0243396 A JPH0243396 A JP H0243396A JP 19215688 A JP19215688 A JP 19215688A JP 19215688 A JP19215688 A JP 19215688A JP H0243396 A JPH0243396 A JP H0243396A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は金属フタロシアニン化合物錯体薄膜の製造方法
に関し、詳しくはマグネシウム、アルミニウムあるいは
バナジウムからなる金属のフタロシアニン化合物錯体を
素材として、特定のミセル化剤を用いると共に電気化学
的手法を講じることにより、近赤外領域に吸収を有し、
半導体レーザー用記憶媒体等に応用できる金属フタロシ
アニン化合物錯体の薄膜を効率よく製造する方法に関す
る。
に関し、詳しくはマグネシウム、アルミニウムあるいは
バナジウムからなる金属のフタロシアニン化合物錯体を
素材として、特定のミセル化剤を用いると共に電気化学
的手法を講じることにより、近赤外領域に吸収を有し、
半導体レーザー用記憶媒体等に応用できる金属フタロシ
アニン化合物錯体の薄膜を効率よく製造する方法に関す
る。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする課題〕一般に
、マグネシウムを特徴とする特定の金属のフタロシアニ
ン化合物錯体は、近赤外領域に極大吸収を有するため、
半導体レーザー用記憶媒体等としての応用が可能であり
、その実用化が期待されている。また、この金属フタロ
シアニン化合物錯体を半導体レーザー用記憶媒体等とし
て実用に供するためには、薄膜化することが効果的であ
り、今までにいくつかの試みがなされている。
、マグネシウムを特徴とする特定の金属のフタロシアニ
ン化合物錯体は、近赤外領域に極大吸収を有するため、
半導体レーザー用記憶媒体等としての応用が可能であり
、その実用化が期待されている。また、この金属フタロ
シアニン化合物錯体を半導体レーザー用記憶媒体等とし
て実用に供するためには、薄膜化することが効果的であ
り、今までにいくつかの試みがなされている。
従来から、波長800 nm前後の領域に吸収を有する
フタロシアニン化合物のマグネシウム錯体の粉末は製造
されている。しかし、これを膜形成の一般的手法である
蒸着法で膜化すると、吸収領域が680nm前後にシフ
トしたマグネシウム錯体に変化してしまうという大きな
問題がある。
フタロシアニン化合物のマグネシウム錯体の粉末は製造
されている。しかし、これを膜形成の一般的手法である
蒸着法で膜化すると、吸収領域が680nm前後にシフ
トしたマグネシウム錯体に変化してしまうという大きな
問題がある。
また、上述のフタロシアニン化合物のマグネシウム錯体
粉末を、溶媒に溶かして基体に塗布する場合にも、溶媒
の種類によっては680nm前後に吸収ピークを有する
結晶に変化してしまい、半導体レーザー用記憶媒体等に
は不適当なものとなるという問題がある。
粉末を、溶媒に溶かして基体に塗布する場合にも、溶媒
の種類によっては680nm前後に吸収ピークを有する
結晶に変化してしまい、半導体レーザー用記憶媒体等に
は不適当なものとなるという問題がある。
本発明者はこのような状況下で、フタロシアニン化合物
の金属錯体、特にマグネシウム錯体、アルミニウム錯体
およびバナジウム錯体を、近赤外領域に吸収を有する結
晶状態を変化させることなく、そのまま薄膜化する方法
を開発すべく鋭意研究を重ねた。
の金属錯体、特にマグネシウム錯体、アルミニウム錯体
およびバナジウム錯体を、近赤外領域に吸収を有する結
晶状態を変化させることなく、そのまま薄膜化する方法
を開発すべく鋭意研究を重ねた。
その結果、先般、本発明者らのグループが開発した所謂
ミセル電解法(特願昭62−75930号明細書等)を
適用すると、容易に薄膜化が可能であるとともに、得ら
れるフタロシアニン化合物の金属錯体の薄膜が、所望す
る近赤外領域に極大吸収を有するものとなり、これが半
導体レーザー用記憶媒体等に応用できることを見出した
。
ミセル電解法(特願昭62−75930号明細書等)を
適用すると、容易に薄膜化が可能であるとともに、得ら
れるフタロシアニン化合物の金属錯体の薄膜が、所望す
る近赤外領域に極大吸収を有するものとなり、これが半
導体レーザー用記憶媒体等に応用できることを見出した
。
本発明はかかる知見に基いて完成したものである。すな
わち本発明は、マグネシウム、アルミニウムおよびバナ
ジウムから選ばれた一種の金属のフタロシアニン化合物
錯体を、水性媒体中でフェロセン誘導体よりなるミセル
化剤にて可溶化し、得られるミセル溶液を電解して電極
上に前記金属フタロシアニン化合物錯体の薄膜を形成す
ることを特徴とする金属フタロシアニン化合物錯体薄膜
の製造方法を提供するものである。
わち本発明は、マグネシウム、アルミニウムおよびバナ
ジウムから選ばれた一種の金属のフタロシアニン化合物
錯体を、水性媒体中でフェロセン誘導体よりなるミセル
化剤にて可溶化し、得られるミセル溶液を電解して電極
上に前記金属フタロシアニン化合物錯体の薄膜を形成す
ることを特徴とする金属フタロシアニン化合物錯体薄膜
の製造方法を提供するものである。
本発明の方法は、所謂ミセル電解法の原理にしたがって
進行し、電極(陽極)上に金属フタロシアニン化合物錯
体の薄膜が形成される。つまり、水に必要に応じて支持
電解質等を加えて電気伝導度を調節した水性媒体に、フ
ェロセン誘導体よりなるミセル化剤と金属フタロシアニ
ン化合物錯体の微粒子を加えて充分に混合撹拌して分散
させると、該金属フタロシアニン化合物錯体を内部にと
り込んだミセルが形成され、これを電解処理するとミセ
ルが陽極に引き寄せられて陽極上でミセル中ノフェロセ
ン誘導体が電子e−を失い(フェロセン中のF e”が
F e 3 +に酸化される)、それとともにミセルが
崩壊して内部の金属フタロシアニン化合物錯体が陽極上
に析出して薄膜を形成する。
進行し、電極(陽極)上に金属フタロシアニン化合物錯
体の薄膜が形成される。つまり、水に必要に応じて支持
電解質等を加えて電気伝導度を調節した水性媒体に、フ
ェロセン誘導体よりなるミセル化剤と金属フタロシアニ
ン化合物錯体の微粒子を加えて充分に混合撹拌して分散
させると、該金属フタロシアニン化合物錯体を内部にと
り込んだミセルが形成され、これを電解処理するとミセ
ルが陽極に引き寄せられて陽極上でミセル中ノフェロセ
ン誘導体が電子e−を失い(フェロセン中のF e”が
F e 3 +に酸化される)、それとともにミセルが
崩壊して内部の金属フタロシアニン化合物錯体が陽極上
に析出して薄膜を形成する。
一方、酸化されたフェロセン誘導体は陰極に引き寄せら
れて電子e−を受は取り、再びミセルを形成する。
れて電子e−を受は取り、再びミセルを形成する。
このようなミセルの形成と崩壊が繰返される過程で、金
属フタロシアニン化合物錯体の粒子が陽極上に析出して
薄膜状のものとなり、目的とする薄膜が形成されるので
ある。
属フタロシアニン化合物錯体の粒子が陽極上に析出して
薄膜状のものとなり、目的とする薄膜が形成されるので
ある。
本発明の方法で用いるミセル化剤は、フェロセン誘導体
よりなるものである。ここでフェロセン誘導体としては
各種のものがあるが、大きく分けて下記の(1)、 (
2)および(3)の三種をあげることができる。
よりなるものである。ここでフェロセン誘導体としては
各種のものがあるが、大きく分けて下記の(1)、 (
2)および(3)の三種をあげることができる。
まず(1)炭素数4〜16(好ましくは8〜14)の主
鎖を有するアンモニウム型(好ましくは第四級アンモニ
ウム型)のカチオン性界面活性剤にフェロセン化合物(
フェロセンあるいはフェロセンに適当な置換基(アルキ
ル基、アセチル基など)が結合したもの)が結合したも
のがあげられる。
鎖を有するアンモニウム型(好ましくは第四級アンモニ
ウム型)のカチオン性界面活性剤にフェロセン化合物(
フェロセンあるいはフェロセンに適当な置換基(アルキ
ル基、アセチル基など)が結合したもの)が結合したも
のがあげられる。
ここで主鎖の炭素数が少ないものでは、ミセルを形成せ
ずまた多すぎるものでは、水に溶解しなくなるという不
都合がある。
ずまた多すぎるものでは、水に溶解しなくなるという不
都合がある。
この界面活性剤にフェロセン化合物が結合する態様は様
々であり、大別して界面活性剤の主鎖の末端に結合した
もの、主鎖の途中に直接あるいはアルキル基を介して結
合したもの、主鎖中に組み込まれたものなどの態様があ
げられる。
々であり、大別して界面活性剤の主鎖の末端に結合した
もの、主鎖の途中に直接あるいはアルキル基を介して結
合したもの、主鎖中に組み込まれたものなどの態様があ
げられる。
このようなアンモニウム型のフェロセン誘導体としては
、一般式 (式中、R1,R1はそれぞれ水素または炭素数1〜4
(但し、後述の整数mを超えない)のアルキル基を示し
、z、 z’はそれぞれ水素または置換基(メチル基
、エチル基、メトキシ基あるいはカルボメトキシ基など
)を示し、Xはハロゲンを示す。また、m、nはm≧0
.n≧Oでありかつ4≦m十n≦16を満たす整数を示
す。)。
、一般式 (式中、R1,R1はそれぞれ水素または炭素数1〜4
(但し、後述の整数mを超えない)のアルキル基を示し
、z、 z’はそれぞれ水素または置換基(メチル基
、エチル基、メトキシ基あるいはカルボメトキシ基など
)を示し、Xはハロゲンを示す。また、m、nはm≧0
.n≧Oでありかつ4≦m十n≦16を満たす整数を示
す。)。
一般式
(式中、R1,R”、X、Y、Z、Z’は前記と同じ(
但し、Rl 、 R2の炭素数は後述の整数rを超えな
い。)である。また、r、s、tはr≧0.s≧0゜t
≧1でありかつ4≦r+s+t≦16を満たす整数を示
す。) あるいは 一般式 (式中、R’、R”、X、Z、Z’は前記と同しく但し
、Rl 、 R2の炭素数は後述の整数りを超えない。
但し、Rl 、 R2の炭素数は後述の整数rを超えな
い。)である。また、r、s、tはr≧0.s≧0゜t
≧1でありかつ4≦r+s+t≦16を満たす整数を示
す。) あるいは 一般式 (式中、R’、R”、X、Z、Z’は前記と同しく但し
、Rl 、 R2の炭素数は後述の整数りを超えない。
)である。また、h、j、にはh≧0.j≧0゜k≧1
でありかつ3≦hfj十に≦15を満たす整数を示し、
pは0≦p≦に−1を満たす整数を示す。) 一般式 (式中、R’、R2,X、Y、Z、Z’、r、s、tは
前記と同じである。) で表わされるものがあげられる。
でありかつ3≦hfj十に≦15を満たす整数を示し、
pは0≦p≦に−1を満たす整数を示す。) 一般式 (式中、R’、R2,X、Y、Z、Z’、r、s、tは
前記と同じである。) で表わされるものがあげられる。
このミセル化剤としてのフェロセン誘導体の具体例を示
せば、 式 一般式 などがあげられる。
せば、 式 一般式 などがあげられる。
次に、(2)他のタイプのフェロセン誘導体としては、
で表わされるエーテル型のフェロセン誘導体かあげられ
る。ここで、aは2〜18の整数を示し、またbは2.
0〜50.0の実数である。aは上述の如く2〜18の
整数であるから、環員炭素原子とYとの間にエチレン基
、プロピレン基等の炭素数2〜1日のアルキレン基が介
在したものとなる。
る。ここで、aは2〜18の整数を示し、またbは2.
0〜50.0の実数である。aは上述の如く2〜18の
整数であるから、環員炭素原子とYとの間にエチレン基
、プロピレン基等の炭素数2〜1日のアルキレン基が介
在したものとなる。
また、bは2.0〜50.0の間の整数のみならず、こ
れらを含む実数を意味するが、これはフェロセン誘導体
を構成するオキシエチレン基 (−CH,CH20−)の繰返し数の平均値を示すもの
である。さらに、上記一般式中のYは、酸素(−C)−
)あるいはオキシカルボニル基(−0−Cを示し、z、
z’はそれぞれ前述の如く水素あるいは置換基を示す。
れらを含む実数を意味するが、これはフェロセン誘導体
を構成するオキシエチレン基 (−CH,CH20−)の繰返し数の平均値を示すもの
である。さらに、上記一般式中のYは、酸素(−C)−
)あるいはオキシカルボニル基(−0−Cを示し、z、
z’はそれぞれ前述の如く水素あるいは置換基を示す。
これらのエーテル型のフェロセン誘導体は、特願昭6’
2−212718号明細書に記載された方法等によって
製造することができる。
2−212718号明細書に記載された方法等によって
製造することができる。
さらに、(3)他のタイプのフェロセン誘導体としては
、一般式 で表わされるピリジニウム型フェロセン誘導体をあげる
ことができる。この式中、z、z’、xは前記と同じで
あり、R3は炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4
のアルコキシ基、炭素数1〜5のカルボアルコキシ基、
水酸基、カルボキシル基、スルホン酸基などを示し、ま
たC、、R2,、は炭素数1〜16の直鎖または分岐鎖
アルキレン基を示す。このC,R2,は具体的には、テ
トラメチレン基、ペンタメチレン基、オクタメチレン基
、ウンデカメチレン基、ドデカメチレン基、ヘキサデカ
メチレン基等のポリメチレン基(CH2)−をはじめと
する直鎖アルキレン基、あるいは2−メチルウンデカメ
チレン基、4−エチルウンデカメチレン基などの分岐鎖
アルキレン基をあげることができる。
、一般式 で表わされるピリジニウム型フェロセン誘導体をあげる
ことができる。この式中、z、z’、xは前記と同じで
あり、R3は炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4
のアルコキシ基、炭素数1〜5のカルボアルコキシ基、
水酸基、カルボキシル基、スルホン酸基などを示し、ま
たC、、R2,、は炭素数1〜16の直鎖または分岐鎖
アルキレン基を示す。このC,R2,は具体的には、テ
トラメチレン基、ペンタメチレン基、オクタメチレン基
、ウンデカメチレン基、ドデカメチレン基、ヘキサデカ
メチレン基等のポリメチレン基(CH2)−をはじめと
する直鎖アルキレン基、あるいは2−メチルウンデカメ
チレン基、4−エチルウンデカメチレン基などの分岐鎖
アルキレン基をあげることができる。
これらのピリジニウム型フェロセン誘導体は、特願昭6
3−52696号明細書に記載された方法等によって製
造することができる。
3−52696号明細書に記載された方法等によって製
造することができる。
本発明の方法で用いるミセル化剤としては、上述した(
1)、 (2)あるいは(3)のフェロセン誘導体が好
適に用いられる。
1)、 (2)あるいは(3)のフェロセン誘導体が好
適に用いられる。
本発明の方法では、まず水性媒体中に上記のフェロセン
誘導体よりなるミセル化剤、支持塩ならびに金属フタロ
シアニン化合物錯体を入れて、超音波、ホモジナイザー
あるいは撹拌機等により充分に分散させてミセルを形成
せしめ、その後必要に応じて過剰の該金属フタロシアニ
ン化合物錯体を除去し、得られたミセル溶液を静置した
ままあるいは若干の撹拌を加えながら上述の電極を用い
て電解処理する。また、電解処理中に金属フタロシアニ
ン化合物錯体をミセル溶液に補充添加してもよく、ある
いは陽極近傍のミセル溶液を系外へ抜き出し、抜き出し
たミセル溶液に金属フタロシアニン化合物錯体を加えて
充分に混合撹拌し、しかる後にこの液を陰極近傍へ戻す
循環回路を併設してもよい。この際のミセル化剤の濃度
は、限界ミセル濃度以上、具体的には約0.1mM以上
であればよい。また電解条件は、各種状況に応じて適宜
選定すればよいが、通常は液温0〜70°C1好ましく
は20〜30’C,電圧0.03〜1.00V、好まし
くは0.1〜0.5vとし、電流密度10mA/ cl
以下、好ましくは1〜300μA / cJとする。
誘導体よりなるミセル化剤、支持塩ならびに金属フタロ
シアニン化合物錯体を入れて、超音波、ホモジナイザー
あるいは撹拌機等により充分に分散させてミセルを形成
せしめ、その後必要に応じて過剰の該金属フタロシアニ
ン化合物錯体を除去し、得られたミセル溶液を静置した
ままあるいは若干の撹拌を加えながら上述の電極を用い
て電解処理する。また、電解処理中に金属フタロシアニ
ン化合物錯体をミセル溶液に補充添加してもよく、ある
いは陽極近傍のミセル溶液を系外へ抜き出し、抜き出し
たミセル溶液に金属フタロシアニン化合物錯体を加えて
充分に混合撹拌し、しかる後にこの液を陰極近傍へ戻す
循環回路を併設してもよい。この際のミセル化剤の濃度
は、限界ミセル濃度以上、具体的には約0.1mM以上
であればよい。また電解条件は、各種状況に応じて適宜
選定すればよいが、通常は液温0〜70°C1好ましく
は20〜30’C,電圧0.03〜1.00V、好まし
くは0.1〜0.5vとし、電流密度10mA/ cl
以下、好ましくは1〜300μA / cJとする。
この電解処理を行うと、ミセル電解法の原理にしたがっ
た反応が進行する。これをフェロセン誘導体中のFeイ
オンの挙動に着目すると、陽極ではフェロセンのFe”
がFe”となって、ミセルが崩壊し、金属フタロシアニ
ン化合物錯体の粒子(300〜2000人程度)が陽極
上に析出する。
た反応が進行する。これをフェロセン誘導体中のFeイ
オンの挙動に着目すると、陽極ではフェロセンのFe”
がFe”となって、ミセルが崩壊し、金属フタロシアニ
ン化合物錯体の粒子(300〜2000人程度)が陽極
上に析出する。
一方、陰極では陽極で酸化されたp e 3 +がFe
t +に還元されてもとのミセルに戻るので、繰返し
同じ溶液で製膜操作を行うことができる。
t +に還元されてもとのミセルに戻るので、繰返し
同じ溶液で製膜操作を行うことができる。
このような電解処理により、陽極上には所望する金属フ
タロシアニン化合物錯体の300〜2000人程度の粒
子による薄膜が形成される。
タロシアニン化合物錯体の300〜2000人程度の粒
子による薄膜が形成される。
上記本発明の方法で用いる支持塩(支持電解質)は、水
性媒体の電気伝導度を調節するために必要に応じて加え
るものである。この支持塩の添加量は、可溶化している
金属フタロシアニン化合物錯体の析出を妨げない範囲で
あればよく、通常は上記ミセル化剤の10〜300倍程
度の濃度、好ましくは50〜200倍程度の濃度を目安
とする。
性媒体の電気伝導度を調節するために必要に応じて加え
るものである。この支持塩の添加量は、可溶化している
金属フタロシアニン化合物錯体の析出を妨げない範囲で
あればよく、通常は上記ミセル化剤の10〜300倍程
度の濃度、好ましくは50〜200倍程度の濃度を目安
とする。
この支持塩を加えずに電解を行うこともできるが、この
場合支持塩を含まない純度の高い薄膜が得られる。また
、支持塩を用いる場合、その支持塩の種類は、ミセルの
形成や電極への前記金属フタロシアニン化合物錯体の析
出を妨げることなく、水性媒体の電気伝導度を調節しう
るちのであれば特に制限はない。
場合支持塩を含まない純度の高い薄膜が得られる。また
、支持塩を用いる場合、その支持塩の種類は、ミセルの
形成や電極への前記金属フタロシアニン化合物錯体の析
出を妨げることなく、水性媒体の電気伝導度を調節しう
るちのであれば特に制限はない。
具体的には、一般に広く支持塩として用いられている硫
酸塩(リチウム、カリウム、ナトリウム。
酸塩(リチウム、カリウム、ナトリウム。
ルビジウム、アルミニウムなどの塩)、酢酸塩(リチウ
ム カリウム、ナトリウム、ルビジウムへリリウム、マ
グネシウム、カルシウム、ストロンチウム、バリウム、
アルミニウムなどの塩)。
ム カリウム、ナトリウム、ルビジウムへリリウム、マ
グネシウム、カルシウム、ストロンチウム、バリウム、
アルミニウムなどの塩)。
ハロゲン化物塩(リチウム、カリウム、ナトリウム、ル
ビジウム、カルシウム、マグネシウム、アルミニウムな
どの塩)、水溶性酸化物塩(リチウム、カリウム、ナト
リウム、ルビジウム、カルシウム、マグネシウム、アル
ミニウムなどの塩)が好適である。
ビジウム、カルシウム、マグネシウム、アルミニウムな
どの塩)、水溶性酸化物塩(リチウム、カリウム、ナト
リウム、ルビジウム、カルシウム、マグネシウム、アル
ミニウムなどの塩)が好適である。
また、本発明の方法で用いる電極は、フェロセンの酸化
電位(+0.15 V対飽和甘コウ電極)より責な金属
もしくは導電体であればよい。具体的にはITO(酸化
インジウムと酸化スズとの混合酸化物)、白金、金、銀
、グラジ−カーボン、導電性金属酸化物、有機ポリマー
導電体などがあげられる。
電位(+0.15 V対飽和甘コウ電極)より責な金属
もしくは導電体であればよい。具体的にはITO(酸化
インジウムと酸化スズとの混合酸化物)、白金、金、銀
、グラジ−カーボン、導電性金属酸化物、有機ポリマー
導電体などがあげられる。
本発明の方法において、薄膜の製造原料である金属フタ
ロシアニン化合物錯体としては、フタロシアニンのマグ
ネシウム錯体、フタロシアニンのアルミニウム錯体、フ
タロシアニンのバナジウム錯体をはじめ、フタロシアニ
ン基に各種の置換基の導入されたフタロシアニン誘導体
のマグネシウム アルミニウム、バナジウム錯体など様
々なものがあるが、例えばPcをフタロシアニン基とし
て表示するとPc−Al!、CI!、、Pc−VO(V
Oはバナジル基)、Pc−Mg、Mg−PcXn (X
は塩素原子、臭素原子、メチル基、t−ブチル基カルボ
キシル基を示し、nは1〜16の整数である。)、Aj
2Cf−PcXn、 VO−PcXn(Xおよびnは
前記と同じ。)などをあげることができる。
ロシアニン化合物錯体としては、フタロシアニンのマグ
ネシウム錯体、フタロシアニンのアルミニウム錯体、フ
タロシアニンのバナジウム錯体をはじめ、フタロシアニ
ン基に各種の置換基の導入されたフタロシアニン誘導体
のマグネシウム アルミニウム、バナジウム錯体など様
々なものがあるが、例えばPcをフタロシアニン基とし
て表示するとPc−Al!、CI!、、Pc−VO(V
Oはバナジル基)、Pc−Mg、Mg−PcXn (X
は塩素原子、臭素原子、メチル基、t−ブチル基カルボ
キシル基を示し、nは1〜16の整数である。)、Aj
2Cf−PcXn、 VO−PcXn(Xおよびnは
前記と同じ。)などをあげることができる。
次に、本発明を実施例によりさらに詳しく説明する。
実施例1
100戚の水に非イオン系ミセル化剤としてを0.09
9 gを溶かして濃度1mMとし、さらに支持塩として
LiBrを0.52g溶かして濃度0.1mMとした。
9 gを溶かして濃度1mMとし、さらに支持塩として
LiBrを0.52g溶かして濃度0.1mMとした。
次いで、この溶液に過剰量(1,0g )のマグネシウ
ムフタロシアニン(Pc−Mg)を添加し、10分間超
音波処理した。その後、−昼夜攪拌し、さらにこの操作
を繰り返した後、200Orpmで1時間遠心分離して
ミセル溶液を調製した。この上澄液の可視吸収スペクト
ルを第1図(実線)に示す。このことからPc−Mgが
ミセル溶液に可溶化することが確認された。なお、上記
Pc−Mgのエタノール溶液の可視吸収スペクトルを併
せて第1図(破線)に示す。
ムフタロシアニン(Pc−Mg)を添加し、10分間超
音波処理した。その後、−昼夜攪拌し、さらにこの操作
を繰り返した後、200Orpmで1時間遠心分離して
ミセル溶液を調製した。この上澄液の可視吸収スペクト
ルを第1図(実線)に示す。このことからPc−Mgが
ミセル溶液に可溶化することが確認された。なお、上記
Pc−Mgのエタノール溶液の可視吸収スペクトルを併
せて第1図(破線)に示す。
続いて、上記ミセル溶液(Pc−Mgの飽和可溶化水溶
液)を、ITOガラス透明電極上で参照電極 (SCE)に対して+0.5■印加し、2時間電解処理
を行った。
液)を、ITOガラス透明電極上で参照電極 (SCE)に対して+0.5■印加し、2時間電解処理
を行った。
上記操作によりITOガラス透明電極上に生成した薄膜
の可視吸収スペクトルを第2図(実線)に示す。また、
上澄液の可視吸収スペクトルを第2図(破線)(これは
、第1図の実線と同じもの)に示す。
の可視吸収スペクトルを第2図(実線)に示す。また、
上澄液の可視吸収スペクトルを第2図(破線)(これは
、第1図の実線と同じもの)に示す。
さらに、得られた薄膜の表面構造の走査型電子顕微鏡(
SEM)写真(日本電子■製、JSMT220使用)を
第3図に示す。
SEM)写真(日本電子■製、JSMT220使用)を
第3図に示す。
実施例2
100dの水に、非イオン系ミセル化剤として上記実施
例1と同じFPEGを0.198 g熔かして、濃度2
mMとし、さらに支持塩としてLiBrを0.52g溶
かして濃度0.1mMとした。
例1と同じFPEGを0.198 g熔かして、濃度2
mMとし、さらに支持塩としてLiBrを0.52g溶
かして濃度0.1mMとした。
次いで、この溶液に過剰量(1,0g )の塩素含有ア
ルミニウムフタロシアニン(Pc−AffiCりを添加
し、10分間超音波処理した。その後、昼夜攪拌し、さ
らにこの操作を繰り返した後、200Orpmで1時間
遠心分離してミセル溶液を調製した。
ルミニウムフタロシアニン(Pc−AffiCりを添加
し、10分間超音波処理した。その後、昼夜攪拌し、さ
らにこの操作を繰り返した後、200Orpmで1時間
遠心分離してミセル溶液を調製した。
続いて、上記ミセル溶液(Pc−AfC1!の飽和可溶
化水溶液)を、ITOガラス透明電極上で参照電極(S
CE)に対して+〇、5■印加し、2時間電解処理を行
った。
化水溶液)を、ITOガラス透明電極上で参照電極(S
CE)に対して+〇、5■印加し、2時間電解処理を行
った。
上記操作によりITOガラス透明電極上に生成した薄膜
の可視吸収スペクトルを第4図(実線)に示す。また、
上記ミセル溶液の上澄液の可視吸収スペクトルを第4図
(破線)に示す。
の可視吸収スペクトルを第4図(実線)に示す。また、
上記ミセル溶液の上澄液の可視吸収スペクトルを第4図
(破線)に示す。
軟土の如く本発明の方法によれば、金属フタロシアニン
化合物錯体の薄膜を容易に形成することができると同時
に、形成される薄膜は、波長800nm程度の近赤外領
域に吸収極大を有するものである。
化合物錯体の薄膜を容易に形成することができると同時
に、形成される薄膜は、波長800nm程度の近赤外領
域に吸収極大を有するものである。
このように、本発明の方法によれば、有機溶媒に浸漬あ
るいは接触させることなしに、マグネシウム、アルミニ
ウム、バナジウムの金属のフタロシアニン化合物錯体の
薄膜を作製することが可能である。
るいは接触させることなしに、マグネシウム、アルミニ
ウム、バナジウムの金属のフタロシアニン化合物錯体の
薄膜を作製することが可能である。
また、この金属フタロシアニン化合物錯体の薄膜は、近
赤外領域に吸収極大を有するため、半導体レーザーを用
いた記憶媒体をはじめとして、光電変換素子、感光材料
、カラーフィルター等として有効な利用が期待される。
赤外領域に吸収極大を有するため、半導体レーザーを用
いた記憶媒体をはじめとして、光電変換素子、感光材料
、カラーフィルター等として有効な利用が期待される。
第1図は実施例1で得られた上澄液の可視吸収スペクト
ル(実線)及びPc−Mgのエタノール溶液の可視吸収
スペクトル(破線)である。第2図は実施例1で形成さ
れた薄膜の可視吸収スペクトル(実線)及び上澄液の可
視吸収スペクトル(破線)である。第3図は実施例1で
得られた薄膜の表面構造を示すSEM写真(倍率100
00倍)である。第4図は実施例2で形成された薄膜の
可視吸収スペクトル(実線)及び上澄液の可視吸収スペ
クトル(破線)である。
ル(実線)及びPc−Mgのエタノール溶液の可視吸収
スペクトル(破線)である。第2図は実施例1で形成さ
れた薄膜の可視吸収スペクトル(実線)及び上澄液の可
視吸収スペクトル(破線)である。第3図は実施例1で
得られた薄膜の表面構造を示すSEM写真(倍率100
00倍)である。第4図は実施例2で形成された薄膜の
可視吸収スペクトル(実線)及び上澄液の可視吸収スペ
クトル(破線)である。
Claims (1)
- (1)マグネシウム、アルミニウムおよびバナジウムか
ら選ばれた一種の金属のフタロシアニン化合物錯体を、
水性媒体中でフェロセン誘導体よりなるミセル化剤にて
可溶化し、得られるミセル溶液を電解して電極上に前記
金属フタロシアニン化合物錯体の薄膜を形成することを
特徴とする金属フタロシアニン化合物錯体薄膜の製造方
法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19215688A JPH0243396A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 金属フタロシアニン化合物錯体薄膜の製造方法 |
CA 595431 CA1329622C (en) | 1988-06-17 | 1989-03-31 | Ferrocene derivatives, surfactants containing them and process for producing organic thin film |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19215688A JPH0243396A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 金属フタロシアニン化合物錯体薄膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0243396A true JPH0243396A (ja) | 1990-02-13 |
Family
ID=16286628
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19215688A Pending JPH0243396A (ja) | 1988-06-17 | 1988-08-02 | 金属フタロシアニン化合物錯体薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0243396A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE38979E1 (en) | 1992-12-02 | 2006-02-14 | Mitsui Chemicals, Inc. | Optical information recording medium and composition for optical information recording film |
-
1988
- 1988-08-02 JP JP19215688A patent/JPH0243396A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE38979E1 (en) | 1992-12-02 | 2006-02-14 | Mitsui Chemicals, Inc. | Optical information recording medium and composition for optical information recording film |
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