JPH0238830A - 接触覚センサ - Google Patents
接触覚センサInfo
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- JPH0238830A JPH0238830A JP63186959A JP18695988A JPH0238830A JP H0238830 A JPH0238830 A JP H0238830A JP 63186959 A JP63186959 A JP 63186959A JP 18695988 A JP18695988 A JP 18695988A JP H0238830 A JPH0238830 A JP H0238830A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[従来の技術]
近年、産業用ロボットの技術進歩にはめざましいものが
ある。特にロボットのハンドに接触覚センサを取付けて
ロボットを知能化する傾向が益々高まっている。
ある。特にロボットのハンドに接触覚センサを取付けて
ロボットを知能化する傾向が益々高まっている。
接触覚センサに要求される性能・条件として次のものが
挙げられる。
挙げられる。
■高感度二力を検出する感度が高いこと。Sつの素子で
数グラムを検出できることが望ましい。
数グラムを検出できることが望ましい。
■高分解能:センサの素子は小型で、密度の高いものが
望まれる。
望まれる。
■広いダイナミックレンジ:できるだけ動作範囲が広く
とれること。
とれること。
■高信頼性・高耐久性:過酷な環境、長時間の使用に耐
えること。
えること。
■直線性とヒステリシス:圧力と出力が比例し、ヒステ
リシスがないこと。
リシスがないこと。
■応答速度:物を把握したとき、その信号が制御部へ早
く伝わること。
く伝わること。
■柔軟性二人間の手の皮膚のように軟らかいことが好ま
しい。
しい。
■すべり感覚:圧力だけでなく、すべりも検出すること
。
。
■小を・舟価:薄くて小型で廉価なこと。
これらのいくつかを満足する接触覚センサがいろいろ提
案ないし開発されてきた0例えば、押ボタン方式や導電
ゴム方式などの接触覚センサがある。押ボタン方式の接
触覚センサは、コイルばねで支えられた金属製押ボタン
が通常加圧のない状態では電気的にOFFとなっている
が、加圧されると接点が閉じてONとなるものである。
案ないし開発されてきた0例えば、押ボタン方式や導電
ゴム方式などの接触覚センサがある。押ボタン方式の接
触覚センサは、コイルばねで支えられた金属製押ボタン
が通常加圧のない状態では電気的にOFFとなっている
が、加圧されると接点が閉じてONとなるものである。
しかし、この方式はONとOFFの状態しか分からず、
連続的な力の検出には不向きであるという欠点がある。
連続的な力の検出には不向きであるという欠点がある。
一方、導電ゴム方式の接触覚センサは、導電ゴムシート
の両面を電極で挟み、センナ表面に力が加わると導電ゴ
ムの電気抵抗(導電率)が低下するのを利用したもので
ある。しかし、この方式にも力とゴムの導電率との間に
非直線性やヒステリシスが生ずるという問題がある。
の両面を電極で挟み、センナ表面に力が加わると導電ゴ
ムの電気抵抗(導電率)が低下するのを利用したもので
ある。しかし、この方式にも力とゴムの導電率との間に
非直線性やヒステリシスが生ずるという問題がある。
これら以外に提案されている各種方式の接触覚センサも
それぞれに一長一短があり、十分に満足されていないば
かりか、圧力の方向がいずれも一方向、すなわち接触面
に垂直な方向のみを感するものであり、接触面に平行な
力をも検出するものは極めて少ないのが現状である。
それぞれに一長一短があり、十分に満足されていないば
かりか、圧力の方向がいずれも一方向、すなわち接触面
に垂直な方向のみを感するものであり、接触面に平行な
力をも検出するものは極めて少ないのが現状である。
[発明が解決しようとする課題1
最近、3分力を検出できる接触覚センサが開発される傾
向にある0例えば、水出願人が提案した先願の特願昭f
i2−0499!16号などである。しかし、このよう
な従来の接触覚センナでは、感度および配線の信頼性と
いう点で十分な配慮がなされていなかった。すなわち、
従来の接触覚センサは、感度が低く、かつクロスオーバ
ー(配線の重なり)による断線の心配があり、上記■〜
■に示した諸要求の全てを満足するには至らなかった。
向にある0例えば、水出願人が提案した先願の特願昭f
i2−0499!16号などである。しかし、このよう
な従来の接触覚センナでは、感度および配線の信頼性と
いう点で十分な配慮がなされていなかった。すなわち、
従来の接触覚センサは、感度が低く、かつクロスオーバ
ー(配線の重なり)による断線の心配があり、上記■〜
■に示した諸要求の全てを満足するには至らなかった。
本発明は、上述した従来の欠点を解消し、薄型構造で、
しかも3方向の力をより高い感度で検出し、かつ配線上
もクロスオーバーのない高い信頼性のある接触覚センサ
を提供することを目的とする。
しかも3方向の力をより高い感度で検出し、かつ配線上
もクロスオーバーのない高い信頼性のある接触覚センサ
を提供することを目的とする。
[Li!題を解決するための手段1
かかる目的を達成するために、未発明においては、3方
向の力に対応して3組の歪ゲージが配設されているセン
サセルの中央部に受圧柱を設け、受圧柱の上面に力が作
用した時にモーメントの作用によって3組の歪ゲージに
高い応力を発生させるように受圧柱の寸法を設定し、か
つセンサセルに配設された3組の歪ゲージの配線が互い
に瓜なって交叉することのないように構成したことを特
徴とするものである。
向の力に対応して3組の歪ゲージが配設されているセン
サセルの中央部に受圧柱を設け、受圧柱の上面に力が作
用した時にモーメントの作用によって3組の歪ゲージに
高い応力を発生させるように受圧柱の寸法を設定し、か
つセンサセルに配設された3組の歪ゲージの配線が互い
に瓜なって交叉することのないように構成したことを特
徴とするものである。
[作 用]
本発明によれば、接触覚センサセル内に3分力F工、F
Y、F、に対応させて歪ゲージをPJ単な構造で配置し
、かつセンサセルの中央部に突出させた受圧柱の高さを
その直径の2倍以上に長くして、受圧柱を介してF、、
FY、F、によるモーメントを作用させるようにしたの
で、受圧柱の上面に水平方向の力が加わったとき、モー
メントの作用によって歪ゲージに大きな歪を発生させて
検出感度を高めることができるので、小型で薄く、高い
感度で3分力を検出でき、かつクロスオーバーのない配
線にしたので断線などの心配が不要となる。
Y、F、に対応させて歪ゲージをPJ単な構造で配置し
、かつセンサセルの中央部に突出させた受圧柱の高さを
その直径の2倍以上に長くして、受圧柱を介してF、、
FY、F、によるモーメントを作用させるようにしたの
で、受圧柱の上面に水平方向の力が加わったとき、モー
メントの作用によって歪ゲージに大きな歪を発生させて
検出感度を高めることができるので、小型で薄く、高い
感度で3分力を検出でき、かつクロスオーバーのない配
線にしたので断線などの心配が不要となる。
〔実施ff1l
以下5図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図(A)〜(C)は、本発明による接触覚センサの
基本動作を説明する図であり、同図(^)は上面図、(
B)は断面図、(C)は歪ゲージの応力分布図である。
基本動作を説明する図であり、同図(^)は上面図、(
B)は断面図、(C)は歪ゲージの応力分布図である。
ここで、1はセンサセル(接触覚センサセル)であり、
その外形は正方形で、その中央部には円柱状の受圧柱3
が一体的に突出して形成されている。4はセンサセル1
の外縁部全周に沿って突出させた固定部、5は受圧柱3
と固定部4間に形成された環状溝形の薄肉部である。f
11内5には本図に図示するような直径方向の位置の2
ケ所に半導体ウェハプロセス等の何らかの方法で歪ゲー
ジ2^、2Bが形成されている。
その外形は正方形で、その中央部には円柱状の受圧柱3
が一体的に突出して形成されている。4はセンサセル1
の外縁部全周に沿って突出させた固定部、5は受圧柱3
と固定部4間に形成された環状溝形の薄肉部である。f
11内5には本図に図示するような直径方向の位置の2
ケ所に半導体ウェハプロセス等の何らかの方法で歪ゲー
ジ2^、2Bが形成されている。
今、受圧柱3の上面(受圧面)にその面と平行な力Fが
作用すると、受圧柱3の腕の長さ1によって受圧柱3に
はモーメントFXj2が働く、このモーメントによって
、一方の歪ゲージ2^には圧縮応力(−δ)が、他方の
歪ゲージ2Bには引張応力(◆δ)が作用する。そのた
め、このときの両者の歪ゲージ2^、2Bの応力分布は
第1図(C)に示すようになる。
作用すると、受圧柱3の腕の長さ1によって受圧柱3に
はモーメントFXj2が働く、このモーメントによって
、一方の歪ゲージ2^には圧縮応力(−δ)が、他方の
歪ゲージ2Bには引張応力(◆δ)が作用する。そのた
め、このときの両者の歪ゲージ2^、2Bの応力分布は
第1図(C)に示すようになる。
第2図は、本発明による接触覚センサにおいて3方向の
力Fx、F、、F、を検出するための歪ゲージの配列例
と、各歪ゲージの応力分布を示す。×1とX。
力Fx、F、、F、を検出するための歪ゲージの配列例
と、各歪ゲージの応力分布を示す。×1とX。
はX方向の力F、を検出するための歪ゲージで、薄肉部
5の同−直径上にあり、それぞれ長手方向を半径方向に
揃えである。YlとY、はX方向の力F7を検出するた
めの歪ゲージで、歪ゲージX1.X2と直、交する方向
に配設される。zlと22は垂直方向の力F2を検出す
るための歪ゲージで、XI、Xi、Y++Yzとそれぞ
れ45°の方向に配設される。
5の同−直径上にあり、それぞれ長手方向を半径方向に
揃えである。YlとY、はX方向の力F7を検出するた
めの歪ゲージで、歪ゲージX1.X2と直、交する方向
に配設される。zlと22は垂直方向の力F2を検出す
るための歪ゲージで、XI、Xi、Y++Yzとそれぞ
れ45°の方向に配設される。
今、第2図(A)においてFXの力が本図の矢印のX方
向に働いたとすると、第1図と同じように×。
向に働いたとすると、第1図と同じように×。
とX、の中心線上での応力分布は第2図(C)のように
なる、すなわち、歪ゲージX、側では引張応力(+6)
が作用し、歪ゲージ×2側では圧縮応力(−6)が作用
する。同様に、第2図(^)においてFyO力が本図の
矢印のX方向に働いた場合には、歪ゲージY、、Y、は
本図(Ill のような応力分布になる。さらに、hの
力が第2図(B)の矢印のX方向(垂直方向)に働いた
場合には、歪ゲージ2..22は第2図(E)のような
応力分布になる。
なる、すなわち、歪ゲージX、側では引張応力(+6)
が作用し、歪ゲージ×2側では圧縮応力(−6)が作用
する。同様に、第2図(^)においてFyO力が本図の
矢印のX方向に働いた場合には、歪ゲージY、、Y、は
本図(Ill のような応力分布になる。さらに、hの
力が第2図(B)の矢印のX方向(垂直方向)に働いた
場合には、歪ゲージ2..22は第2図(E)のような
応力分布になる。
ただし、いずれも受圧柱3や固定部4での応力は歪ゲー
ジに比べて相対的に極めて小さいので、ゼロとして表示
されている。このような応力分布の最大のとコロニ各歪
ゲージX+、lh、Y+、Y2.Zl、Ztjrr配設
すれば、最大の検出感度が得られる。
ジに比べて相対的に極めて小さいので、ゼロとして表示
されている。このような応力分布の最大のとコロニ各歪
ゲージX+、lh、Y+、Y2.Zl、Ztjrr配設
すれば、最大の検出感度が得られる。
次に、上述の原理に基づいて具体的に実施する場合の配
線等について以下に説明する。特に、第2図(A)に示
すように1つのセンサセル1内に3対の歪ゲージX1.
X2.YI、’h、Zl、Z2が共存しテいルので、相
互干渉の問題がある。この問題を解消するために接触覚
センサに加えられる力をどのように分離するかというこ
とと、配線をどのようにするかということについて述べ
る。
線等について以下に説明する。特に、第2図(A)に示
すように1つのセンサセル1内に3対の歪ゲージX1.
X2.YI、’h、Zl、Z2が共存しテいルので、相
互干渉の問題がある。この問題を解消するために接触覚
センサに加えられる力をどのように分離するかというこ
とと、配線をどのようにするかということについて述べ
る。
まず、上述のり、Fv、Fzの力がそれぞれ単独に作用
した場合の検出方法について説明する。第3図(^)
、 (B) 、 (C)はX方向の力FXの検出を説明
する図である。同図(A)は第2図(^)に示した歪ゲ
ージのうちXI、Xiの配線を示し、同図(8)は同図
(^)ニyF< t カF Wが受圧柱3に作用するこ
とによって生じる各歪ゲージ(XI 、;X2.YI
、Y2.Zl 、Z2)でのゲージ抵抗の変化を示し、
同図(C)は歪ゲージXI、X2で構成されるハーフブ
リッジの等価回路を示す、センサセル1は半導体シリコ
ンで作られ、各歪ゲージは半導体ウェハプロセスで形成
される。また、Xi(接続端子)6.7.9はこぶ状の
はんだで形成され、各電極6,7.9と歪ゲージXI、
>hを接続する配線8はアルミで形成される。電Fi6
は出力電圧vxの電極、電極7は接地(アース)Gの電
極、電極9はブリッジ電圧(入力電圧)Eの電極である
。
した場合の検出方法について説明する。第3図(^)
、 (B) 、 (C)はX方向の力FXの検出を説明
する図である。同図(A)は第2図(^)に示した歪ゲ
ージのうちXI、Xiの配線を示し、同図(8)は同図
(^)ニyF< t カF Wが受圧柱3に作用するこ
とによって生じる各歪ゲージ(XI 、;X2.YI
、Y2.Zl 、Z2)でのゲージ抵抗の変化を示し、
同図(C)は歪ゲージXI、X2で構成されるハーフブ
リッジの等価回路を示す、センサセル1は半導体シリコ
ンで作られ、各歪ゲージは半導体ウェハプロセスで形成
される。また、Xi(接続端子)6.7.9はこぶ状の
はんだで形成され、各電極6,7.9と歪ゲージXI、
>hを接続する配線8はアルミで形成される。電Fi6
は出力電圧vxの電極、電極7は接地(アース)Gの電
極、電極9はブリッジ電圧(入力電圧)Eの電極である
。
第3図(8)は同図(^)に示すX方向の力Fヶが受圧
柱3「作用した時に各歪ゲージの抵抗値の変化を示す、
当然のことながら、X方向の歪ゲージXにはその長手方
向に加わる引張応力+δに対応する抵抗値変化FXIが
生じ、またX方向の歪ゲージX、にはその長手方向に加
わる圧縮圧カーδに対応する抵抗値変化−FX2が生ず
る。この時、X方向の歪ゲージY1とY2にはほとんど
抵抗値の変化は見られない。しかし、垂直方向の歪ゲー
ジz1と2.にはF8によるみかけ上の抵抗値の変化、
すなわち中FBIと−Fχ2が現われる。
柱3「作用した時に各歪ゲージの抵抗値の変化を示す、
当然のことながら、X方向の歪ゲージXにはその長手方
向に加わる引張応力+δに対応する抵抗値変化FXIが
生じ、またX方向の歪ゲージX、にはその長手方向に加
わる圧縮圧カーδに対応する抵抗値変化−FX2が生ず
る。この時、X方向の歪ゲージY1とY2にはほとんど
抵抗値の変化は見られない。しかし、垂直方向の歪ゲー
ジz1と2.にはF8によるみかけ上の抵抗値の変化、
すなわち中FBIと−Fχ2が現われる。
このような抵抗値の変化から、X方向の力Fつが生じた
ことを読み取るには、単純に十FXIと−F12の抵抗
値の変化を検知すればよい、一方、みかけ上の抵抗値の
変化◆Fi+と−FK2はpit−pziであるから、
(◆Fz+)と(−pzi)の和をとれば相殺してゼロ
になり、F8によるみかけ上のF2は検出されない。
ことを読み取るには、単純に十FXIと−F12の抵抗
値の変化を検知すればよい、一方、みかけ上の抵抗値の
変化◆Fi+と−FK2はpit−pziであるから、
(◆Fz+)と(−pzi)の和をとれば相殺してゼロ
になり、F8によるみかけ上のF2は検出されない。
上述のような抵抗値の変化は、例えば第3図(C) に
示すようなハーフブリッジ回路において、電圧(入力電
圧)Eをかけておき、歪ゲージX1と歪ゲージX、の抵
抗値が変化すれば、出力電圧vXが変化するから、この
出力電圧vxの変化から検知することができる。
示すようなハーフブリッジ回路において、電圧(入力電
圧)Eをかけておき、歪ゲージX1と歪ゲージX、の抵
抗値が変化すれば、出力電圧vXが変化するから、この
出力電圧vxの変化から検知することができる。
第4図(^)、(B>、fc)はY方向の力FYの検出
を説明する図である。なお、同図(^)と同図(C)は
前述の第3図(^)、(C)と同じような構成であるの
で、その説明は省略する。第4図(8)において、X方
向の歪ゲージ×1とX、には抵抗値の変化はほとんど生
じない、Y方向の歪ゲージY、とY、には当然のことな
がらそれぞれ◆Flと−FY2の顕著な抵抗値の変化を
生じる。この時、垂直方向の歪ゲージz1と72にも◆
Fzlと−FZ2の抵抗値の変化が生ずるが、(◆Fz
+lと(−Fz21は相殺されるので、垂直方向の力F
2はみかけ上検出されない、従って、Y方向の力FYの
検、出は歪ゲージY、とY2の接点とアース0間の電圧
vYを測定するのみで可能である。
を説明する図である。なお、同図(^)と同図(C)は
前述の第3図(^)、(C)と同じような構成であるの
で、その説明は省略する。第4図(8)において、X方
向の歪ゲージ×1とX、には抵抗値の変化はほとんど生
じない、Y方向の歪ゲージY、とY、には当然のことな
がらそれぞれ◆Flと−FY2の顕著な抵抗値の変化を
生じる。この時、垂直方向の歪ゲージz1と72にも◆
Fzlと−FZ2の抵抗値の変化が生ずるが、(◆Fz
+lと(−Fz21は相殺されるので、垂直方向の力F
2はみかけ上検出されない、従って、Y方向の力FYの
検、出は歪ゲージY、とY2の接点とアース0間の電圧
vYを測定するのみで可能である。
第5図(A) 、 (8) 、 (C)は受圧柱3の表
面に垂直(歪ゲージ設置面に垂直)な力F2が働いた場
合の検出を説明する図である。同図(^)は歪ゲージの
配置と#!線を示し、第2図で説明した歪ゲージZ、、
Z、の他に、円周方向に長手方向をもつダミーゲージZ
s 、 Zaが配設され、各ゲージ11〜z4で同図(
C) に示すようなフルブリッジ回路を構成している。
面に垂直(歪ゲージ設置面に垂直)な力F2が働いた場
合の検出を説明する図である。同図(^)は歪ゲージの
配置と#!線を示し、第2図で説明した歪ゲージZ、、
Z、の他に、円周方向に長手方向をもつダミーゲージZ
s 、 Zaが配設され、各ゲージ11〜z4で同図(
C) に示すようなフルブリッジ回路を構成している。
9は入力電圧Eの電極、11は出力電圧v2の電極であ
る。歪ゲージZlと12は同じ方向の抵抗値の変化を示
す、歪ゲージ2.と14は温度補償を32ねて、かつ歪
が発生しない、すなわち抵抗値の変化のないダミーゲー
ジである。
る。歪ゲージZlと12は同じ方向の抵抗値の変化を示
す、歪ゲージ2.と14は温度補償を32ねて、かつ歪
が発生しない、すなわち抵抗値の変化のないダミーゲー
ジである。
また、垂直方向の力F、が作用した場合の応力分布は同
図(8)に示すようになる。すなわち、各歪ゲージXI
+X2.YI +Y2+ZI +Z2は同じ方向で等
しい大ぎさの抵抗値変化を示す。しかし、X方向の歪ゲ
ージXlとX、およびY方向の歪ゲージY、とY2の抵
抗値変化は相殺してゼロにすればよい、なぜなら、X方
向の力F8やY方向の力F、が働けば、歪ゲージX、と
X、および歪ゲージY1とY、はそれぞれ異なる方向の
抵抗値変化を示すからである。従って、垂直方向の力F
2が作用した場合は垂直方向の歪ゲージz1と2.の抵
抗値変化、すなわち同図(C)のブリッジ回路で示す出
力電圧v2を測定すればよいことになる。
図(8)に示すようになる。すなわち、各歪ゲージXI
+X2.YI +Y2+ZI +Z2は同じ方向で等
しい大ぎさの抵抗値変化を示す。しかし、X方向の歪ゲ
ージXlとX、およびY方向の歪ゲージY、とY2の抵
抗値変化は相殺してゼロにすればよい、なぜなら、X方
向の力F8やY方向の力F、が働けば、歪ゲージX、と
X、および歪ゲージY1とY、はそれぞれ異なる方向の
抵抗値変化を示すからである。従って、垂直方向の力F
2が作用した場合は垂直方向の歪ゲージz1と2.の抵
抗値変化、すなわち同図(C)のブリッジ回路で示す出
力電圧v2を測定すればよいことになる。
次に、2つ以上の力が受圧柱3の表面に同時に作用した
場合のFx、Fy、Fzの検出について説明する。
場合のFx、Fy、Fzの検出について説明する。
第6図(^)〜(D)は2つ以上の力が受圧柱3の″表
面に同時に作用した場合の各歪ゲージの抵抗値変化を示
す、同図(^)はF、とFV、同図(8)はF、とF2
、同図(CンはF2とFX、同図([1)はF8とFY
とF2が同時に作用した場合である。
面に同時に作用した場合の各歪ゲージの抵抗値変化を示
す、同図(^)はF、とFV、同図(8)はF、とF2
、同図(CンはF2とFX、同図([1)はF8とFY
とF2が同時に作用した場合である。
まず、第6図(^)において、力Fxとhが同時に作用
するから歪ゲージx1と×2には抵抗値変化FXIとF
X2が現われるので、第3図(C)のハーフブリッジを
用いてFXI とFX2の和から力F、が求められる。
するから歪ゲージx1と×2には抵抗値変化FXIとF
X2が現われるので、第3図(C)のハーフブリッジを
用いてFXI とFX2の和から力F、が求められる。
同時に、歪ゲージY1とY2には抵抗値変化Fy+とF
V2が現われるから、第4図(C)のハーフブリッジを
用いてF□とFY□の和から力F、tを求めることがで
きる。歪ゲージz1とz2の抵抗値変化はFZIとF2
2であって、出力の方向が異なるので、第5図(C)の
ブリッジを用いてFZI とF22を相殺すれば出力が
ゼロ、すなわち力F2はみかけ上検出されないことにな
る。なお、同図(^)において、斜線部は本来の真の出
力、白枠部分は他の力の影響によるみかけの出力を意味
する。このことは同図(81、(C1、(D)において
も同様である。
V2が現われるから、第4図(C)のハーフブリッジを
用いてF□とFY□の和から力F、tを求めることがで
きる。歪ゲージz1とz2の抵抗値変化はFZIとF2
2であって、出力の方向が異なるので、第5図(C)の
ブリッジを用いてFZI とF22を相殺すれば出力が
ゼロ、すなわち力F2はみかけ上検出されないことにな
る。なお、同図(^)において、斜線部は本来の真の出
力、白枠部分は他の力の影響によるみかけの出力を意味
する。このことは同図(81、(C1、(D)において
も同様である。
第6図(B)では力FYとF2が同時に作用した場合で
あるので、X方向の歪ゲージXIとX、に垂直方向の力
F2の影響が現われているが、これは第3図(C)のハ
ーフブリッジで相殺してゼロとする。Y方向の歪ゲージ
Y、とY2には本来の真の出力(FYIとFyz)とみ
かけの出力F2が現われているが、Y、測値をFYl”
F2. Y2側値をFIG−FZと考えて、両者の和を
とれば、和= (Fyt+FzJ十(Fyz−Fz)”
h++Fyz となってF2の項が消えるので、第4図
(C)のハーフブリッジで純粋にFYI とFV2を検
出することができる、垂直方向の歪ゲージ2.と2.に
ついても同様であり、z1側の抵抗値変化pz+”Fy
と2.側の抵抗値変化F22−FTの和をとれば、和”
(Fzt”Fy)” (Fzz−Fy)・FX1すF
X2どなってFYが消え、第5図(C)のフルブリッジ
で純粋にF、とF2を検出することができる。
あるので、X方向の歪ゲージXIとX、に垂直方向の力
F2の影響が現われているが、これは第3図(C)のハ
ーフブリッジで相殺してゼロとする。Y方向の歪ゲージ
Y、とY2には本来の真の出力(FYIとFyz)とみ
かけの出力F2が現われているが、Y、測値をFYl”
F2. Y2側値をFIG−FZと考えて、両者の和を
とれば、和= (Fyt+FzJ十(Fyz−Fz)”
h++Fyz となってF2の項が消えるので、第4図
(C)のハーフブリッジで純粋にFYI とFV2を検
出することができる、垂直方向の歪ゲージ2.と2.に
ついても同様であり、z1側の抵抗値変化pz+”Fy
と2.側の抵抗値変化F22−FTの和をとれば、和”
(Fzt”Fy)” (Fzz−Fy)・FX1すF
X2どなってFYが消え、第5図(C)のフルブリッジ
で純粋にF、とF2を検出することができる。
さらに第6図(C1は力F2とF、が同時に作用した場
合であるので、上述のFzとF、が同時に作用した場合
と同じようにして、力F2とFアをそれぞれ検出するこ
とができる。すなわち、X方向の歪ゲージ×1とX、に
はそれぞれFWl”FZとFX2−FZが生ずるので、
第3図(C)のハーフブリッジでこれらの和をとれば、
和= (Fzt”Fz)÷(Fxz−Fz)−FXI舎
FX2となり、F8が検出される。また、Y方向の歪ゲ
ージY1とY、では垂直方向の力F7による影響が同じ
方向に出ているので、第4図(C)のハーフブリッジで
相殺し・てゼロにできる。垂直方向の歪ゲージzlと1
2ではそれぞれFZI◆F、とF22−Fxが出ている
ので、第5図(C)のフルブリッジでこれらの和をとれ
ば、和= (FzrFx)÷(Fx2−Fx) ”Fz
+◆FZ2となって、垂直方向のF、のみが検出できる
。
合であるので、上述のFzとF、が同時に作用した場合
と同じようにして、力F2とFアをそれぞれ検出するこ
とができる。すなわち、X方向の歪ゲージ×1とX、に
はそれぞれFWl”FZとFX2−FZが生ずるので、
第3図(C)のハーフブリッジでこれらの和をとれば、
和= (Fzt”Fz)÷(Fxz−Fz)−FXI舎
FX2となり、F8が検出される。また、Y方向の歪ゲ
ージY1とY、では垂直方向の力F7による影響が同じ
方向に出ているので、第4図(C)のハーフブリッジで
相殺し・てゼロにできる。垂直方向の歪ゲージzlと1
2ではそれぞれFZI◆F、とF22−Fxが出ている
ので、第5図(C)のフルブリッジでこれらの和をとれ
ば、和= (FzrFx)÷(Fx2−Fx) ”Fz
+◆FZ2となって、垂直方向のF、のみが検出できる
。
最後に、第6図(D)はX方向のF、とY方向のFvと
垂直方向のF2の3つの力が同時に受圧柱3の表面に作
用した場合の抵抗値変化を示す、この場合も以下のよう
にしてFXとF、とF2の3つの力をそれぞれ分離して
検出できる。
垂直方向のF2の3つの力が同時に受圧柱3の表面に作
用した場合の抵抗値変化を示す、この場合も以下のよう
にしてFXとF、とF2の3つの力をそれぞれ分離して
検出できる。
X方向の歪ゲージXIと×2ニおいT、(F++++F
z)と(FX2−F2)の抵抗値変化が出ているので、
その和をとれば、和= (Fxr”Fz)”(FY2−
Fz)−Fzt”Fxzによって、X方向の力F、が求
まる。この場合FYの影響は現われない。
z)と(FX2−F2)の抵抗値変化が出ているので、
その和をとれば、和= (Fxr”Fz)”(FY2−
Fz)−Fzt”Fxzによって、X方向の力F、が求
まる。この場合FYの影響は現われない。
Y方向の歪ゲージY1とY2においても同じように、F
Xの影響が現われないから、抵抗値変化(FYI”FZ
)と(Fyt−Fz)の和をとれば、和= (Fy++
Fz)+(Fyt−Fz)−Fy+◆FY2となって、
Y方向の力FYのみを検出できる。
Xの影響が現われないから、抵抗値変化(FYI”FZ
)と(Fyt−Fz)の和をとれば、和= (Fy++
Fz)+(Fyt−Fz)−Fy+◆FY2となって、
Y方向の力FYのみを検出できる。
垂直方向の歪ゲージz1とz2も同様であるが、FXと
FYが同時に影響しているので、このことを考慮して(
Fz+◆Fy”Fxl と(Fzz−Fx−Fv)の和
をとれば、和−(Fzt”Fy”Fx)+(ha−h−
Fy)−Fzt十F22 となり、垂直方向の力F、の
みが検出できる。
FYが同時に影響しているので、このことを考慮して(
Fz+◆Fy”Fxl と(Fzz−Fx−Fv)の和
をとれば、和−(Fzt”Fy”Fx)+(ha−h−
Fy)−Fzt十F22 となり、垂直方向の力F、の
みが検出できる。
要するに、いずれの場合も出力の方向を示す符号(プラ
スとマイナス)を考えて、歪ゲージから出てきた信号の
和をブリッジ電圧(出力電圧)としてとれば、不要な部
分(他の力に影響されて出てくるみかけ上の信号)は除
かれるので、2つ以上の力が同時に加わっても分離して
検出できる。
スとマイナス)を考えて、歪ゲージから出てきた信号の
和をブリッジ電圧(出力電圧)としてとれば、不要な部
分(他の力に影響されて出てくるみかけ上の信号)は除
かれるので、2つ以上の力が同時に加わっても分離して
検出できる。
第7図は1つのセンサセル内に、3方向の力F、、F、
、F、に対応する歪ゲージを有する本発明実施例の接触
覚センサの構造を示す、センサセル1は半導体シリコン
のウェハから形成され、半導体プロセスによって上述の
X+、×2.Y+、’h、L〜Z4ノ歪ゲージ2が形成
される。また、上述の各電極6,7,9゜10.11を
代表して13の符号で示すと、配線8と電極13を接続
するためのはんだバンブ12も半導体プロセスのメツキ
工程で形成することができる。受圧柱3は上述の半導体
シリコンウェハに環状の溝をドライエツチングまたはウ
ェットエツチングによって形成することで得られる。
、F、に対応する歪ゲージを有する本発明実施例の接触
覚センサの構造を示す、センサセル1は半導体シリコン
のウェハから形成され、半導体プロセスによって上述の
X+、×2.Y+、’h、L〜Z4ノ歪ゲージ2が形成
される。また、上述の各電極6,7,9゜10.11を
代表して13の符号で示すと、配線8と電極13を接続
するためのはんだバンブ12も半導体プロセスのメツキ
工程で形成することができる。受圧柱3は上述の半導体
シリコンウェハに環状の溝をドライエツチングまたはウ
ェットエツチングによって形成することで得られる。
この場合、受圧柱3は硬脆なシリコンとなるので5その
受圧柱3の表面を保護するためのコーチ面を表皮15で
覆う必要があるが、このためにセンサセルlの固定部4
の厚さを受圧柱3よりも少し薄くする。そして、表皮1
5とセンサセル1の固定部4とを接着層17で接着する
。
受圧柱3の表面を保護するためのコーチ面を表皮15で
覆う必要があるが、このためにセンサセルlの固定部4
の厚さを受圧柱3よりも少し薄くする。そして、表皮1
5とセンサセル1の固定部4とを接着層17で接着する
。
一方、はんだバンブ12は配線基板14上の各電極13
の位置と対応させて、はんだ付けにて各アルミ配線8と
接合し、これによりセンサセル1の歪ゲージブリッジか
らの信号をこのはんだバンブ12の接合部を介して配線
基板14へ送るように構成する。配線基板14の上面と
センサセル1の下面の間隙には公知の製造方法により軟
質の接合層18を充填させ、受圧柱3に作用する力をこ
の接合層18で支えるようにする。
の位置と対応させて、はんだ付けにて各アルミ配線8と
接合し、これによりセンサセル1の歪ゲージブリッジか
らの信号をこのはんだバンブ12の接合部を介して配線
基板14へ送るように構成する。配線基板14の上面と
センサセル1の下面の間隙には公知の製造方法により軟
質の接合層18を充填させ、受圧柱3に作用する力をこ
の接合層18で支えるようにする。
ここで、受圧柱3の長さを1とし、受圧柱3の直径をd
とすると、受圧柱3はρ/dの比で規制される、すなわ
ち、高感度にするには望ましくは長さ1ができるだけ大
きく、直径dができるだけ小さいほうがよいのであるが
、受圧柱3は薄肉部5や固定部4といフしょに半導体シ
リコンで作成されるので、実際的には3≧ld≧2の範
囲に規制される。なぜなら、J2/d>3では受圧柱3
が根元で折れやすくなる。また、f/d<2ではモーメ
ントの効果が薄くなるからである。
とすると、受圧柱3はρ/dの比で規制される、すなわ
ち、高感度にするには望ましくは長さ1ができるだけ大
きく、直径dができるだけ小さいほうがよいのであるが
、受圧柱3は薄肉部5や固定部4といフしょに半導体シ
リコンで作成されるので、実際的には3≧ld≧2の範
囲に規制される。なぜなら、J2/d>3では受圧柱3
が根元で折れやすくなる。また、f/d<2ではモーメ
ントの効果が薄くなるからである。
第8図は第7図のセンサセルi内の配線および端子の配
置構成を示す、この配線のパターンも本発明の特徴のひ
とつであり、ハーフブリッジ2組とフルブリッジ1組が
共存していて、それぞれに3〜4個の電極が必要である
が、ブリッジ電圧Eと接地Gは電i7と9を用いて共有
とし、VX、VY。
置構成を示す、この配線のパターンも本発明の特徴のひ
とつであり、ハーフブリッジ2組とフルブリッジ1組が
共存していて、それぞれに3〜4個の電極が必要である
が、ブリッジ電圧Eと接地Gは電i7と9を用いて共有
とし、VX、VY。
v2を出力電圧として電極6.10.11から取り出せ
るようにしたものである。さらに、配線8はこれらの電
極6,7.9jO,IIをまわりこみながら、配線同士
がクロスオーバーしないように配置されている。すなわ
ち、クロスオーバーを生じない配線にしたことが本発明
の大きな特徴の1つであり、これによりクロスオーバー
した場合の電気特性の信頼性低下を解消することができ
る。第9図は第8図の配線に対応する等価回路を示す。
るようにしたものである。さらに、配線8はこれらの電
極6,7.9jO,IIをまわりこみながら、配線同士
がクロスオーバーしないように配置されている。すなわ
ち、クロスオーバーを生じない配線にしたことが本発明
の大きな特徴の1つであり、これによりクロスオーバー
した場合の電気特性の信頼性低下を解消することができ
る。第9図は第8図の配線に対応する等価回路を示す。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、接触覚センサセ
ル内に3分力FX、FY、F2に対応させて歪ゲージを
簡単な構造で配置し、かつセンサセルの受圧柱をその直
径よりも2倍以上に長くしたので、モーメントによる力
の作用が歪ゲージに生じ、その結果3分力の感度の高い
検出が可能となる。また、セル内配線もクロスオーバー
のないようにすることにより、断線などの心配も解消し
た。このため、小型で、薄く、高密度化できて、かつ高
感度で配線上の信頼性も向上するので、この接触覚セン
サをロボットのハンドに取付ければ、ロボットの知能化
を図る上で極めて育効となる。
ル内に3分力FX、FY、F2に対応させて歪ゲージを
簡単な構造で配置し、かつセンサセルの受圧柱をその直
径よりも2倍以上に長くしたので、モーメントによる力
の作用が歪ゲージに生じ、その結果3分力の感度の高い
検出が可能となる。また、セル内配線もクロスオーバー
のないようにすることにより、断線などの心配も解消し
た。このため、小型で、薄く、高密度化できて、かつ高
感度で配線上の信頼性も向上するので、この接触覚セン
サをロボットのハンドに取付ければ、ロボットの知能化
を図る上で極めて育効となる。
第1図(A)およびfB)は本発明の接触覚センサD基
本原理を示す上面図および断面図、同図(C)(まその
歪センサの応力分布を示す図、第2図(^)〜(ε)は
3分力に対する本発明の基本動作を説明するための図で
、同図(A)および(B)は3分力に対応する歪ゲージ
の配置位1を示す下面図および断面図、同図(C)〜(
E)は各歪ゲージの応力分布を示す図、 第3図(^) 、 (B) 、 (C)はX方向の力の
検出、第42(^J 、 (81、(C)はY方向の力
の検出、第5図(^)。 (B) 、 fc)は2方向の力の検出を説明する図で
あり、 第3図(^)、第4図(^)および第5図(^)は歪ゲ
ージの配置と結線を示す図、第3図(B)、第4図(B
)および第5図(B)は各歪ゲージの抵抗値の変1ヒを
示す図、第3図(C)、第4図(C1および第5図(C
)は歪ゲージで構成したホイートストンブリッジ回路図
、 第6図(八) 、 CB) 、 (C)および(0)は
それぞれX方向とY方向、Y方向と2方向、2方向とX
方向、およびX方向とY方向とX方向の力が加わった時
の各歪ゲージの抵抗値の変化を示す図、第7図は本発明
実店例の接触覚センサの構造を示す断面図、 第8図は第7図のセル内における歪ゲージの配置と結線
を示すセンサセルの下面図、 第9図は第8図の構成の等価回路図である。 1・・・センサセル、 2.2^、2B・・・歪ゲージ、 XI、X21YI、YIX+、21ZIZ4 ・=歪ゲ
ージ、3・・・受圧柱、 4・・・固定部、 5・・・薄肉部、 6.7,9,10.11.13・・・電極、8・・・配
線、 12・・・はんだバンブ、 14・・・配線基板、 15・・・表皮、 16・・・コーティング、 17・・・接着層、 丘縮免力(−σ〕 第 ■ 図 第3 図 第2図 第4 図 第5 図 実権イ列の酢合図 第7図 を権府りの下面図 第8図 第9 図
本原理を示す上面図および断面図、同図(C)(まその
歪センサの応力分布を示す図、第2図(^)〜(ε)は
3分力に対する本発明の基本動作を説明するための図で
、同図(A)および(B)は3分力に対応する歪ゲージ
の配置位1を示す下面図および断面図、同図(C)〜(
E)は各歪ゲージの応力分布を示す図、 第3図(^) 、 (B) 、 (C)はX方向の力の
検出、第42(^J 、 (81、(C)はY方向の力
の検出、第5図(^)。 (B) 、 fc)は2方向の力の検出を説明する図で
あり、 第3図(^)、第4図(^)および第5図(^)は歪ゲ
ージの配置と結線を示す図、第3図(B)、第4図(B
)および第5図(B)は各歪ゲージの抵抗値の変1ヒを
示す図、第3図(C)、第4図(C1および第5図(C
)は歪ゲージで構成したホイートストンブリッジ回路図
、 第6図(八) 、 CB) 、 (C)および(0)は
それぞれX方向とY方向、Y方向と2方向、2方向とX
方向、およびX方向とY方向とX方向の力が加わった時
の各歪ゲージの抵抗値の変化を示す図、第7図は本発明
実店例の接触覚センサの構造を示す断面図、 第8図は第7図のセル内における歪ゲージの配置と結線
を示すセンサセルの下面図、 第9図は第8図の構成の等価回路図である。 1・・・センサセル、 2.2^、2B・・・歪ゲージ、 XI、X21YI、YIX+、21ZIZ4 ・=歪ゲ
ージ、3・・・受圧柱、 4・・・固定部、 5・・・薄肉部、 6.7,9,10.11.13・・・電極、8・・・配
線、 12・・・はんだバンブ、 14・・・配線基板、 15・・・表皮、 16・・・コーティング、 17・・・接着層、 丘縮免力(−σ〕 第 ■ 図 第3 図 第2図 第4 図 第5 図 実権イ列の酢合図 第7図 を権府りの下面図 第8図 第9 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)3方向の力に対応して3組の歪ゲージが配設されて
いるセンサセルの中央部に受圧柱を設け、該受圧柱の上
面に力が作用した時にモーメントの作用によって前記3
組の歪ゲージに高い応力を発生させるように前記受圧柱
の寸法を設定し、かつ前記センサセルに配設された前記
3組の歪ゲージの配線が互いに重なって交叉することの
ないように構成したことを特徴とする接触覚センサ。 2)前記受圧柱の高さが、該受圧柱の直径の2倍以上な
いし3倍以下であることを特徴とする請求項1記載の接
触覚センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63186959A JPH073379B2 (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | 接触覚センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63186959A JPH073379B2 (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | 接触覚センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0238830A true JPH0238830A (ja) | 1990-02-08 |
JPH073379B2 JPH073379B2 (ja) | 1995-01-18 |
Family
ID=16197720
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63186959A Expired - Lifetime JPH073379B2 (ja) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | 接触覚センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH073379B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003004561A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | K-Tech Devices Corp | 応力センサ及びその製造法 |
JP2007292677A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Nitta Ind Corp | 歪みゲージ型センサ |
JP2008116319A (ja) * | 2006-11-03 | 2008-05-22 | Minebea Co Ltd | 3軸力センサ |
JP2012141190A (ja) * | 2010-12-28 | 2012-07-26 | Alps Electric Co Ltd | 荷重センサ及びその製造方法 |
WO2018131354A1 (ja) * | 2017-01-11 | 2018-07-19 | ヤマハ株式会社 | 触覚センサー |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63111677A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-16 | Ricoh Co Ltd | 力検出装置 |
-
1988
- 1988-07-28 JP JP63186959A patent/JPH073379B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63111677A (ja) * | 1986-10-30 | 1988-05-16 | Ricoh Co Ltd | 力検出装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003004561A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | K-Tech Devices Corp | 応力センサ及びその製造法 |
JP2007292677A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-08 | Nitta Ind Corp | 歪みゲージ型センサ |
JP2008116319A (ja) * | 2006-11-03 | 2008-05-22 | Minebea Co Ltd | 3軸力センサ |
JP2012141190A (ja) * | 2010-12-28 | 2012-07-26 | Alps Electric Co Ltd | 荷重センサ及びその製造方法 |
WO2018131354A1 (ja) * | 2017-01-11 | 2018-07-19 | ヤマハ株式会社 | 触覚センサー |
JPWO2018131354A1 (ja) * | 2017-01-11 | 2019-11-07 | ヤマハ株式会社 | 触覚センサー |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH073379B2 (ja) | 1995-01-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |