JPH0237755A - 樹脂封止形半導体装置 - Google Patents

樹脂封止形半導体装置

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Publication number
JPH0237755A
JPH0237755A JP18881288A JP18881288A JPH0237755A JP H0237755 A JPH0237755 A JP H0237755A JP 18881288 A JP18881288 A JP 18881288A JP 18881288 A JP18881288 A JP 18881288A JP H0237755 A JPH0237755 A JP H0237755A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor element
semiconductor device
buffer
resin
recessed grooves
Prior art date
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Pending
Application number
JP18881288A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuya Hirose
哲也 広瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP18881288A priority Critical patent/JPH0237755A/ja
Publication of JPH0237755A publication Critical patent/JPH0237755A/ja
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は樹脂封止部がモールド成形されてなる半導体装
置に関するものである。
(従来の技術〕 従来のこの種の半導体装置は第4図に示すように構成さ
れている。
第4図は従来の樹脂封止形半導体装置を示す断面図で、
同図において1は半導体素子、2はアイランドで、この
アイランド2はリードフレーム(図示せず)から分断さ
れてなり、接着剤3によってこのアイランド2上に前記
半導体素子1が固着されている。4は前記アイランド2
と同様にしてリードフレームから分断されたリードで、
このリード4は前記半導体素子1の表面電極(図示せず
)にワイヤ5を介して接続されたインナーリード部4a
と、後述する封止樹脂より半導体装置外に突出されたア
ウターリード部4bとから構成されている。6は前記半
導体素子1.ワイヤ5およびインナーリード部4a等を
封止するための封止樹脂で、この封止樹脂6は、リード
フレーム上に半導体素子l、ワイヤ5等が接合された状
態でリードフレームをモールド金型(図示せず)内に型
締めし、このモールド金型内に加熱溶融された封止樹脂
を圧入することによって成形される。
このように構成された樹脂封止形半導体装置においては
、外部機器(図示せず)からの信号はアウターリード部
4b、  インナーリード部4aおよびワイヤ5を介し
て半導体素子1に伝達され、この信号は半導体素子lの
表面に形成された回路によって処理される。処理結果に
対応した信号はワイヤ5.インナーリード部4aおよび
アウターリード部4bを介して外部機器へ伝達される。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかるに、このように構成された樹脂封止形半導体装置
においては、樹脂封止時に、封止樹脂6の注入圧力によ
り半導体素子1に応力が生じ、このため半導体素子1の
特性が劣化されることがあった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明に係る樹脂封止形半導体装置は、半導体素子の表
面側に周縁部に沿って凹溝を途切れることなく一連に形
成することによって半導体素子の側部に緩衝片を形成し
、前記凹溝内に緩衝材を充填したものである。
〔作 用〕
緩衝片が、半導体素子の側面に加えられる力を撓むよう
にして吸収し、外力が半導体素子の主面側へ伝達される
のを阻止する。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図ないし第3図によって
詳細に説明する。
第1図は本発明に係る樹脂封止形半導体装置を示す断面
図、第2図は本発明の樹脂封止形半導体装置の半導体素
子を示し、同図(a)は平面図、同図(b)は(a)図
中1」線断面図である。
これらの図において前記第4図で説明したものと同一も
しくは同等部材については同一符号を付し、ここにおい
て詳細な説明は省略する。これらの図において、11は
凹溝で、この凹/#11は半導体素子Iの表面1a側に
エツチング等の化学的方法によって形成されており、半
導体素子lの周縁部に沿って途切れることなく一連に形
成されている。
12は緩衝片で、この緩衝片12は半導体素子1に前記
凹溝11を形成することによって半導体素子lの側部に
半導体素子1の表面1aを四方から囲むように一体的に
形成されており、自らの弾性によって半導体素子1に対
して揺動自在に設けられている。13は前記緩衝片12
が基部12aを中心として弾性変形する際に半導体素子
lの表面la側に外力が伝達されるのを阻止するための
緩衝剤で、前記凹溝11内に充填されており、封止樹脂
6が前記凹/#Il内に流入されるのを防止している。
したがって、このように構成された樹脂封止形半導体装
置においては、樹脂封止時に封止樹脂6の注入圧力が半
導体素子1に加えられても、緩衝片11が半導体素子1
の側面に加えられる力を撓むようにして吸収するから、
半導体素子1の表面la側へ伝達される外力が減少され
ることになる。
なお、前記実施例では凹溝11を平面視略口字状に形成
した例を示したが、本発明はこのような限定にとられれ
ることなく、例えば第3図に示すように形成することも
できる。第3図は他の実施例を示す図で、同図(a)は
半導体素子の平面図を示し、同図(b)は(a)図中■
−■線断面図を示す。第3図において、凹溝11は半導
体素子lの周縁部に各辺と平行に直線的に形成されてお
り、これによって半導体素子lの表面1aの四方を囲む
緩衝片12が形成されている。また、この凹溝11は前
記実施例と同様にしてエツチングによって形成したり、
あるいはカッター等によって機械的に形成することがで
きる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、半導体素子の表面
側に周縁部に沿って凹溝を途切れることなく一連に形成
することによって半導体素子の側部に緩衝片を形成し、
前記凹溝内に緩衝材を充填したため、緩衝片が、半導体
素子の側面に加えられる力を撓むようにして吸収し、外
力が半導体素子の主面側へ伝達されるのを阻止する。し
たがって、封止樹脂により半導体素子に応力が生じても
半導体素子の特性が劣化されることがなく、信頼性の高
い半導体装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る樹脂封止形半導体装置を示す断面
図、第2図は本発明の樹脂封止形半導体装置の半導体素
子を示し、同図(a)は平面図、同図(b)は断面図で
ある。第3図は他の実施例を示す図で、同図(a)は半
導体素子の平面図を示し、同図(b)は同じく断面図を
示す。第4図は従来の樹脂封止形半導体装置を示す断面
図である。 1・・・半導体素子、la・・・表面、6・・・封止樹
脂、11・・・凹溝、12・・・緩衝片、13・・・緩
衝材。 代 理 人 大 石 増 雄 ヨー Nへ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 樹脂封止部がモールド成形されてなる半導体装置におい
    て、半導体素子の表面側に周縁部に沿って凹溝を途切れ
    ることなく一連に形成することによって半導体素子の側
    部に緩衝片を形成し、前記凹溝内に緩衝材を充填したこ
    とを特徴とする樹脂封止形半導体装置。
JP18881288A 1988-07-27 1988-07-27 樹脂封止形半導体装置 Pending JPH0237755A (ja)

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JP18881288A JPH0237755A (ja) 1988-07-27 1988-07-27 樹脂封止形半導体装置

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JP18881288A JPH0237755A (ja) 1988-07-27 1988-07-27 樹脂封止形半導体装置

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JPH0237755A true JPH0237755A (ja) 1990-02-07

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