JPH0232615A - 出力回路 - Google Patents
出力回路Info
- Publication number
- JPH0232615A JPH0232615A JP63182943A JP18294388A JPH0232615A JP H0232615 A JPH0232615 A JP H0232615A JP 63182943 A JP63182943 A JP 63182943A JP 18294388 A JP18294388 A JP 18294388A JP H0232615 A JPH0232615 A JP H0232615A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- gate
- output
- voltage
- source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/09448—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET in combination with bipolar transistors [BIMOS]
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/003—Modifications for increasing the reliability for protection
- H03K19/00369—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters
- H03K19/00384—Modifications for compensating variations of temperature, supply voltage or other physical parameters in field effect transistor circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は低電圧出力信号をレベルシフトして高電圧出
力信号として出力する高耐圧の出力回路に関する。
力信号として出力する高耐圧の出力回路に関する。
(従来の技術)
一般にエレクトロ・ルミネッセンス(EL)・デイスプ
レィやプラズマ拳デイスプレィ・パネル(FDP)等の
発光型デイスプレィの駆動用ICは、高い駆動電圧を必
要とするため、高耐圧の駆動用ICが使用されている。
レィやプラズマ拳デイスプレィ・パネル(FDP)等の
発光型デイスプレィの駆動用ICは、高い駆動電圧を必
要とするため、高耐圧の駆動用ICが使用されている。
この駆動用ICにおける出力回路では、高耐圧に加えて
スイッチング時間の短縮、消費電力の低減化が要求され
ている。このため、入力信号をCMO3回路で受け、低
電圧信号を出力し、これをレベルシフトした高電圧信号
をプッシュプル型の出力段から出力するようにしている
。
スイッチング時間の短縮、消費電力の低減化が要求され
ている。このため、入力信号をCMO3回路で受け、低
電圧信号を出力し、これをレベルシフトした高電圧信号
をプッシュプル型の出力段から出力するようにしている
。
第2図は上記したような駆動用ICに使用される従来の
出力回路を示す回路図である。低電圧電源VD D +
接地電圧vss間には、PチャネルMOSトランジス
タ31とNチャネルMOSトランジスタ32で構成され
、入力信号Inが供給されるCMOSインバータ回路3
3が挿入されている。また、高電圧電源VCCには高耐
圧用のPNPトランジスタ34のエミッタが接続されて
いる。このトランジスタ34はマルチコレクタ構造にな
っており、一方のコレクタはこのトランジスタ34のベ
ースに接続されている。PNPトランジスタ34のベー
スは、ゲートが上記CMOSインバータ回路33の出力
ノードに接続され、ソースが接地電圧VSSに接続され
たNチャネルDMO8(Doublediffused
MOS) トランジスタ35のドレインに接続さ
れている。PNP トランジスタ34の他方のコレクタ
は、出力プルダウン用NチャネルDMO8)ランスタ3
Bのドレインに接続されている。このトランジスタ3B
のゲートには上記入力信号Inが供給されるようになっ
ており、そのソースは接地電圧VSSに接続されている
。さらに、上記トランジスタ34の他方のコレクタは、
出カブルアツブ用のNチャネルDMOSトランスタ37
のゲートに接続されている。このトランジスタ37のド
レインは高電圧電IWLVccに接続され、ゲート−ソ
ー2間にはツェナーダイオード38のカソード・アノー
ド間が接続されている。そして、上記NチャネルDMO
Sトランスタ37のソースから出力信号Outが取出さ
れるようになっている。
出力回路を示す回路図である。低電圧電源VD D +
接地電圧vss間には、PチャネルMOSトランジス
タ31とNチャネルMOSトランジスタ32で構成され
、入力信号Inが供給されるCMOSインバータ回路3
3が挿入されている。また、高電圧電源VCCには高耐
圧用のPNPトランジスタ34のエミッタが接続されて
いる。このトランジスタ34はマルチコレクタ構造にな
っており、一方のコレクタはこのトランジスタ34のベ
ースに接続されている。PNPトランジスタ34のベー
スは、ゲートが上記CMOSインバータ回路33の出力
ノードに接続され、ソースが接地電圧VSSに接続され
たNチャネルDMO8(Doublediffused
MOS) トランジスタ35のドレインに接続さ
れている。PNP トランジスタ34の他方のコレクタ
は、出力プルダウン用NチャネルDMO8)ランスタ3
Bのドレインに接続されている。このトランジスタ3B
のゲートには上記入力信号Inが供給されるようになっ
ており、そのソースは接地電圧VSSに接続されている
。さらに、上記トランジスタ34の他方のコレクタは、
出カブルアツブ用のNチャネルDMOSトランスタ37
のゲートに接続されている。このトランジスタ37のド
レインは高電圧電IWLVccに接続され、ゲート−ソ
ー2間にはツェナーダイオード38のカソード・アノー
ド間が接続されている。そして、上記NチャネルDMO
Sトランスタ37のソースから出力信号Outが取出さ
れるようになっている。
上記構成でなる回路において、入力信号Inが“L”レ
ベルのとき、CMOSインバータ回路33内のトランジ
スタ31がオンし、トランジスタ32がオフする。よっ
て、CMOSインバータ回路33の出力端からはvDD
レベルの信号が出力され、トランジスタ35がオンする
。これにより、レベルシフト用のトランジスタ34がオ
ンし、このオン電流によりツェナーダイオード38に電
圧降下が発生してトランジスタ37がオンする。この結
果、出力信号Outは“H”すなわちVCCレベルとな
る。
ベルのとき、CMOSインバータ回路33内のトランジ
スタ31がオンし、トランジスタ32がオフする。よっ
て、CMOSインバータ回路33の出力端からはvDD
レベルの信号が出力され、トランジスタ35がオンする
。これにより、レベルシフト用のトランジスタ34がオ
ンし、このオン電流によりツェナーダイオード38に電
圧降下が発生してトランジスタ37がオンする。この結
果、出力信号Outは“H”すなわちVCCレベルとな
る。
入力信号Inが“H“レベルのとき、CMOSインバー
タ回路33内のトランジスタ31がオフ、トランジスタ
32がオンし、トランジスタ35がオフする。これによ
りトランジスタ37がオフする。他方、トランジスタ3
6がオンし、出力信号Outは“L2レベルとなる。
タ回路33内のトランジスタ31がオフ、トランジスタ
32がオンし、トランジスタ35がオフする。これによ
りトランジスタ37がオフする。他方、トランジスタ3
6がオンし、出力信号Outは“L2レベルとなる。
上記第2図回路では、出カブルアツブ用のトランジスタ
37のゲート・ソース間電圧VGSはツェナーダイオー
ド38のツェナ電圧VZによって決定される。そして、
この電圧がトランジスタ37の閾値電圧vthを越える
ようにツェナ電圧vZを設定することによってトランジ
スタ37がオンするようにしている。ここで、電子の移
動度をμ、このトランジスタ37におけるゲート酸化膜
の誘電率をε。X、ゲート酸化膜厚をtox及びチャネ
ル幅、チャネル長をそれぞれW、Lとすると、このMO
Sトランジスタ37のドレイン電流I、は次式により表
される。
37のゲート・ソース間電圧VGSはツェナーダイオー
ド38のツェナ電圧VZによって決定される。そして、
この電圧がトランジスタ37の閾値電圧vthを越える
ようにツェナ電圧vZを設定することによってトランジ
スタ37がオンするようにしている。ここで、電子の移
動度をμ、このトランジスタ37におけるゲート酸化膜
の誘電率をε。X、ゲート酸化膜厚をtox及びチャネ
ル幅、チャネル長をそれぞれW、Lとすると、このMO
Sトランジスタ37のドレイン電流I、は次式により表
される。
(ε0:真空の誘電率
ε0−8.854 Xl0−” F/ cm)このよう
にIDは2乗特性を示すからvthがばらつくことによ
り、その値は大きく変化してしまう。また、出力プルダ
ウン用のトランジスタ3Bでも同様に、閾値電圧のばら
つきによりドレイン電流が変化する。このように製造プ
ロセスにおいての所望する閾値電圧値とのずれは、出力
トランジスタのドレイン電流を変動させ、出力トランジ
スタの飽和電圧値がばらつくことになるので、出力トラ
ンジスタの飽和領域にて動作するこの出力回路では、出
力の立上がり、立下がりでの動作遅延時間が異なってし
まう。
にIDは2乗特性を示すからvthがばらつくことによ
り、その値は大きく変化してしまう。また、出力プルダ
ウン用のトランジスタ3Bでも同様に、閾値電圧のばら
つきによりドレイン電流が変化する。このように製造プ
ロセスにおいての所望する閾値電圧値とのずれは、出力
トランジスタのドレイン電流を変動させ、出力トランジ
スタの飽和電圧値がばらつくことになるので、出力トラ
ンジスタの飽和領域にて動作するこの出力回路では、出
力の立上がり、立下がりでの動作遅延時間が異なってし
まう。
(発明が解決しようとする課題)
このように従来の出力回路では、出力トランジスタの閾
値電圧にばらつきが生じると出力トランジスタのドレイ
ン電流が変化してしまい、安定した立上がり、立下がり
特性が得られないという欠点があった。
値電圧にばらつきが生じると出力トランジスタのドレイ
ン電流が変化してしまい、安定した立上がり、立下がり
特性が得られないという欠点があった。
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもので
あり、その目的は、製造プロセス上の出力トランジスタ
の閾値電圧のばらつきに関係なく、安定した立上がり、
立下がり特性が得られる出力回路を提供することにある
。
あり、その目的は、製造プロセス上の出力トランジスタ
の閾値電圧のばらつきに関係なく、安定した立上がり、
立下がり特性が得られる出力回路を提供することにある
。
[発明の構成コ
(課題を解決するための手段)
この発明の出力回路は、ドレインφソース間が第1の電
位と出力端子との間に挿入された第1のMOSトランジ
スタと、この第1のMOSトランジスタのゲートψソー
ス間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートとドレイ
ンとが接続された第2のMOSトランジスタと、上記第
1のMOSトランジスタのゲートと上記出力端子との間
に挿入された定電圧素子と、上記第1の電位と上記第1
のMOSトランジスタのゲートとの間に挿入された第1
のレベルシフト用トランジスタと、ソース・ドレイン間
が上記第1のレベルシフト用トランジスタの制御端子と
第2の電位との間に挿入され、ゲートに第1の制御信号
が供給される第3のMOSトランジスタと、ドレイン・
ソース間が上記定電圧素子を介して上記出力端子と第2
の電位との間に挿入され、ゲートに上記第1の制御信号
が供給される第4のMOSトランジスタと、上記第4の
MOSトランジスタのゲート・ソース間にドレイン・ソ
ース間が接続され、ゲートとドレインとが接続された第
5のMOSトランジスタと、上記第1の電位と上記第4
のMOSトランジスタのゲートとの間に挿入された第2
のレベルシフト用トランジスタと、ドレインやソース間
が上記第2のレベルシフト用トランジスタの制御端子と
第2の電位との間に挿入され、ゲートに上記第1の制御
信号とは逆相の第2の制御信号が供給される第6のMO
Sトランジスタとから構成される。
位と出力端子との間に挿入された第1のMOSトランジ
スタと、この第1のMOSトランジスタのゲートψソー
ス間にドレイン・ソース間が接続され、ゲートとドレイ
ンとが接続された第2のMOSトランジスタと、上記第
1のMOSトランジスタのゲートと上記出力端子との間
に挿入された定電圧素子と、上記第1の電位と上記第1
のMOSトランジスタのゲートとの間に挿入された第1
のレベルシフト用トランジスタと、ソース・ドレイン間
が上記第1のレベルシフト用トランジスタの制御端子と
第2の電位との間に挿入され、ゲートに第1の制御信号
が供給される第3のMOSトランジスタと、ドレイン・
ソース間が上記定電圧素子を介して上記出力端子と第2
の電位との間に挿入され、ゲートに上記第1の制御信号
が供給される第4のMOSトランジスタと、上記第4の
MOSトランジスタのゲート・ソース間にドレイン・ソ
ース間が接続され、ゲートとドレインとが接続された第
5のMOSトランジスタと、上記第1の電位と上記第4
のMOSトランジスタのゲートとの間に挿入された第2
のレベルシフト用トランジスタと、ドレインやソース間
が上記第2のレベルシフト用トランジスタの制御端子と
第2の電位との間に挿入され、ゲートに上記第1の制御
信号とは逆相の第2の制御信号が供給される第6のMO
Sトランジスタとから構成される。
(作用)
出力トランジスタのゲート−ソース間電圧を、閾値電圧
のばらつきに対応して変化させるように出力トランジス
タのゲートφソース間にそれぞれ第2のMOSトランジ
スタ、第5のMOSトランジスタを挿入することにより
、出力トランジスタの閾値電圧がばらついていてもその
電圧降下分だけを出力トランジスタのゲートに印加する
ようにしているので、実際には出力トランジスタのオン
時、閾値電圧の降下分はキャンセルされることになり、
ドレイン電流は閾値電圧のばらつきには影響されない。
のばらつきに対応して変化させるように出力トランジス
タのゲートφソース間にそれぞれ第2のMOSトランジ
スタ、第5のMOSトランジスタを挿入することにより
、出力トランジスタの閾値電圧がばらついていてもその
電圧降下分だけを出力トランジスタのゲートに印加する
ようにしているので、実際には出力トランジスタのオン
時、閾値電圧の降下分はキャンセルされることになり、
ドレイン電流は閾値電圧のばらつきには影響されない。
(実施例)
以下、図面を参照してこの発明を実施例により説明する
。
。
第1図はこの発明の出力回路の構成を示す回路図である
。高電圧電源VCCには高耐圧用のPNPI!のマルチ
コレクタトランジスタ1のエミッタが接続されている。
。高電圧電源VCCには高耐圧用のPNPI!のマルチ
コレクタトランジスタ1のエミッタが接続されている。
このトランジスタ1の第1のコレクタ2はそのベースに
接続されている。
接続されている。
上記トランジスタ1のベースはNチャネル型のDMOS
トランジスタ3のドレインに接続されている。このトラ
ンジスタ3のゲートは入力信号Inが供給される入力端
子4に接続されており、ソースは接地電圧VSSに接続
されている。また、この入力端子4には低電圧電源VD
Dで動作するインバータ5の入力端が接続されている。
トランジスタ3のドレインに接続されている。このトラ
ンジスタ3のゲートは入力信号Inが供給される入力端
子4に接続されており、ソースは接地電圧VSSに接続
されている。また、この入力端子4には低電圧電源VD
Dで動作するインバータ5の入力端が接続されている。
上記トランジスタ1の第2のコレクタ6はNチャネル型
のDMOSトランジスタ7のゲートに接続されている。
のDMOSトランジスタ7のゲートに接続されている。
このトランジスタ7のゲートは上記インバータ5の出力
端に接続されており、ソースは接地電圧vssに接続さ
れている。また、トランジスタ7のゲートにはゲートと
ドレインとが接続されたNチャネル型のDMOSトラン
ジスタ8のゲートが接続されて、いる。このトランジス
タ8のソースと接地゛電圧VSSとの間にはダイオード
9.IOが図示の極性で直列に挿入されている。
端に接続されており、ソースは接地電圧vssに接続さ
れている。また、トランジスタ7のゲートにはゲートと
ドレインとが接続されたNチャネル型のDMOSトラン
ジスタ8のゲートが接続されて、いる。このトランジス
タ8のソースと接地゛電圧VSSとの間にはダイオード
9.IOが図示の極性で直列に挿入されている。
さらに上記インバータ5の出力端とトランジスタ8のゲ
ートとの間にはソースが接地されたNチャネルDMO8
トランジスタ11のゲート拳ドレイン間が挿入されてい
る。
ートとの間にはソースが接地されたNチャネルDMO8
トランジスタ11のゲート拳ドレイン間が挿入されてい
る。
また、上記高電圧電源VCCには高耐圧用のPNP型の
マルチコレクタトランジスタ12のエミッタが接続され
ている。このトランジスタ12の第1のコレクタ13は
そのベースに接続されている。
マルチコレクタトランジスタ12のエミッタが接続され
ている。このトランジスタ12の第1のコレクタ13は
そのベースに接続されている。
上記トランジスタ12のベースはNチャネル型のDMO
Sトランジスタ14のドレインに接続されている。この
トランジスタ14のゲートは上記インバータ5の出力端
に接続されており、ソースは接地電圧VSSに接続され
ている。
Sトランジスタ14のドレインに接続されている。この
トランジスタ14のゲートは上記インバータ5の出力端
に接続されており、ソースは接地電圧VSSに接続され
ている。
上記トランジスタ12の第2のコレクタ15は高電圧電
源VCCにドレインが接続されたNチャネル型のDMO
Sトランジスタ16のゲートが接続されている。このト
ランジスタ1Bのゲートにはゲートとドレインとが接続
されたNチャネル型のDMOSトランジスタ17のゲー
トが接続されている。このトランジスタ17のソースと
トランジスタIBのソースとの間にはダイオード18.
19が図示の極性で直列に挿入されている。そして、ト
ランジスタ16のソースは出力信号Outを得る出力端
子20に接続されている。また、トランジスタ1Bのゲ
ートと出力端子20との間にはツェナーダイオード21
が図示の極性で接続されている。そして、出力端子20
にはツェナーダイオード21を介して上記Nチャネル型
のDMOSトランジスタ7のドレインが接続されている
。
源VCCにドレインが接続されたNチャネル型のDMO
Sトランジスタ16のゲートが接続されている。このト
ランジスタ1Bのゲートにはゲートとドレインとが接続
されたNチャネル型のDMOSトランジスタ17のゲー
トが接続されている。このトランジスタ17のソースと
トランジスタIBのソースとの間にはダイオード18.
19が図示の極性で直列に挿入されている。そして、ト
ランジスタ16のソースは出力信号Outを得る出力端
子20に接続されている。また、トランジスタ1Bのゲ
ートと出力端子20との間にはツェナーダイオード21
が図示の極性で接続されている。そして、出力端子20
にはツェナーダイオード21を介して上記Nチャネル型
のDMOSトランジスタ7のドレインが接続されている
。
なお、回路を構成する各DMO8トランジスタはそれぞ
れ同じ工程で製造されるため、当然閾値電圧は一様にさ
れている。
れ同じ工程で製造されるため、当然閾値電圧は一様にさ
れている。
次に、上記構成でなる回路の動作を説明する。
まず、入力信号InがH”レベルからL”レベルに切替
わると、トランジスタ3がオフする。
わると、トランジスタ3がオフする。
このとき、インバータ5の出力信号は“L″ルベルら“
H”レベルに切替わるため、トランジスタ14がオンす
る。これにより、レベルシフト用のトランジスタ12が
オンし、第2のコレクタ15からツェナーダイオード2
1に電流が流れ、そのアノード・カソード間に一定の電
圧降下が発生する。これにより、トランジスタ16及び
17のゲートのノード22とソースのノード23との間
に所定の電圧降下が発生する。トランジスタ17はゲー
ト・ドレイン間が接続されているので、オンした場合、
ソース・ドレイン間電圧がこのトランジスタ17の閾値
電圧と等しくなる。また、トランジスタ16とトランジ
スタ17は同じ製造プロセスであるので、それぞれの閾
値電圧は等しくなっている。よって、トランジスタ17
がオンするときのソース拳ドレイン間に閾値電圧の電圧
降下が発生する。従って、トランジスタ16のゲートに
はその閾値電圧とダイオード2個分の順方向降下電圧と
の和の電圧が印加されることになる。これにより、トラ
ンジスタIBがオンし、出力端子20は高電圧電源VC
Cによって充電され、出力信号OutはVCCレベルに
設定される。さらに一方ではトランジスタ11がオンす
ることにより、トランジスタ7のゲートが接地に放電さ
れ、予めオンしていたトランジスタ7は急速にオフする
。
H”レベルに切替わるため、トランジスタ14がオンす
る。これにより、レベルシフト用のトランジスタ12が
オンし、第2のコレクタ15からツェナーダイオード2
1に電流が流れ、そのアノード・カソード間に一定の電
圧降下が発生する。これにより、トランジスタ16及び
17のゲートのノード22とソースのノード23との間
に所定の電圧降下が発生する。トランジスタ17はゲー
ト・ドレイン間が接続されているので、オンした場合、
ソース・ドレイン間電圧がこのトランジスタ17の閾値
電圧と等しくなる。また、トランジスタ16とトランジ
スタ17は同じ製造プロセスであるので、それぞれの閾
値電圧は等しくなっている。よって、トランジスタ17
がオンするときのソース拳ドレイン間に閾値電圧の電圧
降下が発生する。従って、トランジスタ16のゲートに
はその閾値電圧とダイオード2個分の順方向降下電圧と
の和の電圧が印加されることになる。これにより、トラ
ンジスタIBがオンし、出力端子20は高電圧電源VC
Cによって充電され、出力信号OutはVCCレベルに
設定される。さらに一方ではトランジスタ11がオンす
ることにより、トランジスタ7のゲートが接地に放電さ
れ、予めオンしていたトランジスタ7は急速にオフする
。
入力信号Inが″L″レベルから“H” レベルに切替
わると、トランジスタ3がオンする。このとき、インバ
ータ5の出力信号は“H”レベルから′L”レベルに切
替わるため、トランジスタ14がオフし、レベルシフト
用のトランジスタ12もオフする。さらに、トランジス
タ11もオフする。トランジスタ3がオンすることによ
り、レベルシフト用のトランジスタ1がオンし、第2の
コレクタ6からトランジスタ8及びダイオード9.lO
を介して電流が流れ、トランジスタ7のゲート・ソース
間にはトランジスタ8の閾値電圧とダイオード2個分の
順方向降下電圧との和の電圧降下が発生し、トランジス
タ7がオンする。よって、出力端子20がVSSに放電
され、出力信号OutはVSSに設定される。また、こ
のときトランジスタ7を介してトランジスタ1Bのゲー
トのノード22が放電されるため、トランジスタ1Bは
急速にオフする。
わると、トランジスタ3がオンする。このとき、インバ
ータ5の出力信号は“H”レベルから′L”レベルに切
替わるため、トランジスタ14がオフし、レベルシフト
用のトランジスタ12もオフする。さらに、トランジス
タ11もオフする。トランジスタ3がオンすることによ
り、レベルシフト用のトランジスタ1がオンし、第2の
コレクタ6からトランジスタ8及びダイオード9.lO
を介して電流が流れ、トランジスタ7のゲート・ソース
間にはトランジスタ8の閾値電圧とダイオード2個分の
順方向降下電圧との和の電圧降下が発生し、トランジス
タ7がオンする。よって、出力端子20がVSSに放電
され、出力信号OutはVSSに設定される。また、こ
のときトランジスタ7を介してトランジスタ1Bのゲー
トのノード22が放電されるため、トランジスタ1Bは
急速にオフする。
上記実施例回路の構成において、出カブルアツブ用及び
出力プルダウン用のトランジスタ16.17のゲート・
ソース間電圧Vaslはトランジスタ17もしくは8の
ゲート・ソース間電圧VGs2と2個のダイオード17
. lliもしくは9.10のPNN接合型電圧2vF
和であり、次式で表される。
出力プルダウン用のトランジスタ16.17のゲート・
ソース間電圧Vaslはトランジスタ17もしくは8の
ゲート・ソース間電圧VGs2と2個のダイオード17
. lliもしくは9.10のPNN接合型電圧2vF
和であり、次式で表される。
Va s l =Va s 2 +2VF −(
2)ただし、ツェナーダイオード21が発生するツェナ
電圧をvZとすると、 Vz >va s 2 +2Vp −(3)の
条件を満足する電流をレベルシフト用のトランジスタ1
2より流す必要がある。
2)ただし、ツェナーダイオード21が発生するツェナ
電圧をvZとすると、 Vz >va s 2 +2Vp −(3)の
条件を満足する電流をレベルシフト用のトランジスタ1
2より流す必要がある。
このような回路の構成にすることにより、出カブルアツ
ブ、プルダウン用の各トランジスタ18゜7のオン時、
その閾値電圧に相当する電圧を各トランジスタ17,8
によって形成し、各トランジスタ16.7のゲートに印
加するようにしているので、各出力トランジスタのドレ
イン電流は閾値電圧のばらつきには影響されず、一定な
出力電流が得られる。これにより、出力信号Outの立
上がり、立下がり遅延時間が一定となり、安定した特性
が得られる。
ブ、プルダウン用の各トランジスタ18゜7のオン時、
その閾値電圧に相当する電圧を各トランジスタ17,8
によって形成し、各トランジスタ16.7のゲートに印
加するようにしているので、各出力トランジスタのドレ
イン電流は閾値電圧のばらつきには影響されず、一定な
出力電流が得られる。これにより、出力信号Outの立
上がり、立下がり遅延時間が一定となり、安定した特性
が得られる。
なお、この発明の回路は種々の変形が可能である。例え
ば、この実施例回路ではレベルシフト用の回路として高
耐圧用のバイポーラトランジスタを使用したが、高耐圧
用のMO3型電界効果トランジスタを使用してもよい。
ば、この実施例回路ではレベルシフト用の回路として高
耐圧用のバイポーラトランジスタを使用したが、高耐圧
用のMO3型電界効果トランジスタを使用してもよい。
また、このような出力回路を制御する信号を発生する回
路は特に限定されることはない。
路は特に限定されることはない。
[発明の効果]
以上説明したようにこの発明によれば、閾値電圧のばら
つきに関係なく、安定した立上がり、立下がり特性が得
られる出力回路を提供することができる。
つきに関係なく、安定した立上がり、立下がり特性が得
られる出力回路を提供することができる。
第1図はこの発明の一実施例による構成の回路図、第2
図は従来の出力回路の構成を示す回路図である。 1.12・・・NPN トランジスタ、2. 6.18
゜15・・・NPN トランジスタの各コレクタ、3,
7゜8、11.14.18.17・・・NチャネルDM
O8トランジスタ、4・・・入力端子、5・・・インバ
ータ、9.10゜18、19・・・ダイオード、20・
・・出力端子、21・・・ツェナーダイオード、22.
23・・・ノード。
図は従来の出力回路の構成を示す回路図である。 1.12・・・NPN トランジスタ、2. 6.18
゜15・・・NPN トランジスタの各コレクタ、3,
7゜8、11.14.18.17・・・NチャネルDM
O8トランジスタ、4・・・入力端子、5・・・インバ
ータ、9.10゜18、19・・・ダイオード、20・
・・出力端子、21・・・ツェナーダイオード、22.
23・・・ノード。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ドレイン・ソース間が第1の電位と出力端子との間に挿
入された第1のMOSトランジスタと、上記第1のMO
Sトランジスタのゲート・ソース間にドレイン・ソース
間が接続され、ゲートとドレインとが接続された第2の
MOSトランジスタと、 上記第1のMOSトランジスタのゲートと上記出力端子
との間に挿入された定電圧素子と、上記第1の電位と上
記第1のMOSトランジスタのゲートとの間に挿入され
た第1のレベルシフト用トランジスタと、 ソース・ドレイン間が上記第1のレベルシフト用トラン
ジスタの制御端子と第2の電位との間に挿入され、ゲー
トに第1の制御信号が供給される第3のMOSトランジ
スタと、 ドレイン・ソース間が上記定電圧素子を介して上記出力
端子と第2の電位との間に挿入され、ゲートに上記第1
の制御信号が供給される第4のMOSトランジスタと、 上記第4のMOSトランジスタのゲート・ソース間にド
レイン・ソース間が接続され、ゲートとドレインとが接
続された第5のMOSトランジスタと、 上記第1の電位と上記第4のMOSトランジスタのゲー
トとの間に挿入された第2のレベルシフト用トランジス
タと、 ドレイン・ソース間が上記第2のレベルシフト用トラン
ジスタの制御端子と第2の電位との間に挿入され、ゲー
トに上記第1の制御信号とは逆相の第2の制御信号が供
給される第6のMOSトランジスタと を具備したことを特徴とする出力回路。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63182943A JPH0626309B2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 出力回路 |
DE89113450T DE68910413T2 (de) | 1988-07-22 | 1989-07-21 | Ausgangsschaltung. |
EP89113450A EP0351874B1 (en) | 1988-07-22 | 1989-07-21 | Output circuit |
KR1019890010405A KR920005356B1 (ko) | 1988-07-22 | 1989-07-22 | 출력회로 |
US07/723,662 US5113087A (en) | 1988-07-22 | 1991-06-26 | Output circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63182943A JPH0626309B2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 出力回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0232615A true JPH0232615A (ja) | 1990-02-02 |
JPH0626309B2 JPH0626309B2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=16127080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63182943A Expired - Fee Related JPH0626309B2 (ja) | 1988-07-22 | 1988-07-22 | 出力回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5113087A (ja) |
EP (1) | EP0351874B1 (ja) |
JP (1) | JPH0626309B2 (ja) |
KR (1) | KR920005356B1 (ja) |
DE (1) | DE68910413T2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0383053A (ja) * | 1989-08-28 | 1991-04-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 露光機能付き感光材料包装ユニット |
JPH0489950U (ja) * | 1991-10-31 | 1992-08-05 | ||
JPH0561157A (ja) * | 1991-06-17 | 1993-03-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | リーダー及び該リーダーを備えたフイルム |
JPH05188530A (ja) * | 1992-01-09 | 1993-07-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | レンズ付きフイルムユニット |
US5239324A (en) * | 1991-02-04 | 1993-08-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Underwater housing and an underwater taking camera |
JPH0581836U (ja) * | 1992-04-01 | 1993-11-05 | コニカ株式会社 | レンズ付フィルムユニット |
JPH05333474A (ja) * | 1992-05-27 | 1993-12-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | レンズ付きフイルムユニット及びその製造方法 |
US5325139A (en) * | 1991-05-31 | 1994-06-28 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Underwater housing and underwater taking camera |
WO1999048078A1 (en) * | 1998-03-18 | 1999-09-23 | Seiko Epson Corporation | Transistor circuit, display panel and electronic apparatus |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5399920A (en) * | 1993-11-09 | 1995-03-21 | Texas Instruments Incorporated | CMOS driver which uses a higher voltage to compensate for threshold loss of the pull-up NFET |
JP3386943B2 (ja) | 1995-10-30 | 2003-03-17 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
US5886563A (en) * | 1996-03-25 | 1999-03-23 | Nasila; Mikko J. | Interlocked half-bridge circuit |
FR2762727B1 (fr) * | 1997-04-24 | 1999-07-16 | Sgs Thomson Microelectronics | Circuit integre avec etage de sortie haute tension |
US6054888A (en) * | 1998-10-02 | 2000-04-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | Level shifter with protective limit of voltage across terminals of devices within the level shifter |
US6081152A (en) * | 1998-10-02 | 2000-06-27 | Advanced Micro Devices, Inc. | Output buffer with protective limit of voltage across terminals of devices within the output buffer |
US6674305B1 (en) * | 2002-07-08 | 2004-01-06 | Semiconductor Components Industries Llc | Method of forming a semiconductor device and structure therefor |
WO2005122373A1 (ja) * | 2004-06-09 | 2005-12-22 | Rohm Co., Ltd | レベルシフト回路及びこれを備えたスイッチングレギュレータ |
JP2008258939A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 多チャンネル半導体集積回路 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5690626A (en) * | 1979-12-24 | 1981-07-22 | Mitsubishi Electric Corp | Driving circuit with latch function |
US4477735A (en) * | 1980-12-20 | 1984-10-16 | Itt Industries, Inc. | Fast MOS driver stage for digital signals |
JPS583183A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の出力回路 |
EP0075915B1 (en) * | 1981-09-30 | 1987-08-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Logic circuit operable by a single power voltage |
US4634893A (en) * | 1983-01-10 | 1987-01-06 | Ncr Corporation | FET driver circuit with mask programmable transition rates |
US4504779A (en) * | 1983-03-11 | 1985-03-12 | Hewlett-Packard Company | Electrical load drive and control system |
FR2552575B1 (fr) * | 1983-09-27 | 1985-11-08 | Thomson Csf | Circuit de commande d'un panneau a plasma de type alternatif |
JPS6184112A (ja) * | 1984-10-02 | 1986-04-28 | Fujitsu Ltd | 論理ゲ−ト回路 |
FR2575013B1 (fr) * | 1984-12-14 | 1987-01-16 | Thomson Csf | Porte logique a coincidence, et circuits logiques sequentiels mettant en oeuvre cette porte a coincidence |
US4812683A (en) * | 1987-05-19 | 1989-03-14 | Gazelle Microcircuits, Inc. | Logic circuit connecting input and output signal leads |
US4855624A (en) * | 1988-02-02 | 1989-08-08 | National Semiconductor Corporation | Low-power bipolar-CMOS interface circuit |
-
1988
- 1988-07-22 JP JP63182943A patent/JPH0626309B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-07-21 DE DE89113450T patent/DE68910413T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-07-21 EP EP89113450A patent/EP0351874B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-07-22 KR KR1019890010405A patent/KR920005356B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1991
- 1991-06-26 US US07/723,662 patent/US5113087A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0383053A (ja) * | 1989-08-28 | 1991-04-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 露光機能付き感光材料包装ユニット |
US5239324A (en) * | 1991-02-04 | 1993-08-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Underwater housing and an underwater taking camera |
US5325139A (en) * | 1991-05-31 | 1994-06-28 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Underwater housing and underwater taking camera |
JPH0561157A (ja) * | 1991-06-17 | 1993-03-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | リーダー及び該リーダーを備えたフイルム |
JPH0489950U (ja) * | 1991-10-31 | 1992-08-05 | ||
JPH05188530A (ja) * | 1992-01-09 | 1993-07-30 | Fuji Photo Film Co Ltd | レンズ付きフイルムユニット |
JPH0581836U (ja) * | 1992-04-01 | 1993-11-05 | コニカ株式会社 | レンズ付フィルムユニット |
JPH05333474A (ja) * | 1992-05-27 | 1993-12-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | レンズ付きフイルムユニット及びその製造方法 |
WO1999048078A1 (en) * | 1998-03-18 | 1999-09-23 | Seiko Epson Corporation | Transistor circuit, display panel and electronic apparatus |
US6362798B1 (en) | 1998-03-18 | 2002-03-26 | Seiko Epson Corporation | Transistor circuit, display panel and electronic apparatus |
US7173584B2 (en) | 1998-03-18 | 2007-02-06 | Seiko Epson Corporation | Transistor circuit, display panel and electronic apparatus |
US8576144B2 (en) | 1998-03-18 | 2013-11-05 | Seiko Epson Corporation | Transistor circuit, display panel and electronic apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR900002558A (ko) | 1990-02-28 |
DE68910413D1 (de) | 1993-12-09 |
JPH0626309B2 (ja) | 1994-04-06 |
EP0351874A3 (en) | 1990-05-30 |
US5113087A (en) | 1992-05-12 |
KR920005356B1 (ko) | 1992-07-02 |
EP0351874A2 (en) | 1990-01-24 |
EP0351874B1 (en) | 1993-11-03 |
DE68910413T2 (de) | 1994-04-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0232615A (ja) | 出力回路 | |
US10627847B2 (en) | Bias current circuit operating at high and low voltages | |
JPH0229115A (ja) | 出力回路 | |
US4717847A (en) | TTL compatible CMOS input buffer | |
US4719367A (en) | Schmitt trigger circuit | |
JPH0693615B2 (ja) | ドライバ回路 | |
JPH09321586A (ja) | レベル比較器 | |
US6370066B1 (en) | Differential output circuit | |
KR930004351B1 (ko) | 레벨 변환회로 | |
US6304105B1 (en) | Level shifter circuit | |
JPH04273716A (ja) | アナログスイッチ | |
JPH025610A (ja) | 出力回路 | |
US5077492A (en) | Bicmos circuitry having a combination cmos gate and a bipolar transistor | |
US4814635A (en) | Voltage translator circuit | |
US10797703B2 (en) | Driving apparatus | |
US12130649B2 (en) | Bias current generation circuit and flash memory | |
JPH0220916A (ja) | 出力回路 | |
US20230095590A1 (en) | Bias current generation circuit and flash memory | |
JPH0799437A (ja) | 半導体装置の入出力回路 | |
JP2846338B2 (ja) | シュミットトリガ回路 | |
JPH02154516A (ja) | 出力回路 | |
JP2861717B2 (ja) | BiCMOS回路 | |
JP2687653B2 (ja) | 基準電圧発生回路 | |
JPH02105612A (ja) | シュミット回路 | |
JPH10107602A (ja) | 半導体回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |